ICS71.120.99:25.220.50G94中華人民共和國國」家標準GB/T7991-2003代替GB/T7991—1987塘玻璃層厚度測量電磁法Measurementofvitreousandporcelainenamelcoatingthickness-Magneticmethod(ISO2178:1982.No-magneticecoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness--Magneticmethod,MOD)2003-06-16發(fā)布2004-01-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

中華人民共和國國國家標準塘玻璃層厚度測量電磁法GB/T7991-2003中中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874472003年9月第一版2004年11月電子版制作書號：155066·1-19849版權專有侵權必究舉報電話：010)68533533

GB/T7991-2003前本標準修改采用ISO2178：1982《磁性金屬基體上的非磁性涂層厚度的測定磁性測量法》英文版）本標準根據ISO2178：1982重新起草本標準在采用ISO2178:1982時，依據塘玻璃設備的特點和磁性測厚儀目前的技術水平進行了修改。有關技術性差異已編入正文中并在它們所涉及的條款的頁邊空白處用垂直單線標識。在附錄A中給出了技術性差異及其原因一覽表.以供參考。為便于使用·對于ISO2178:1982本標準還做了下列編輯性修改：，“本國際標準”一詞改為"本標準”；刪除ISO2178：1982的前言；將一些適用于國際標準的表述改為適用于我國標準的表述本標準代替（B/T7991—1987《塘玻璃層的厚度測量電磁法》本標準與GB/T7991—1987相比主要有以下不同：刪刪除了GB/T7991—1987的第1章“定義”；依據ISO2178:1982,增加了本標準第3章中的3.6、3.7、3.8、3.10、3.12,第4章中的4.2、4.3.1、4.3.4.第5章中的5.3、5.5、5.6、5.7、5.8、5.9、5.10。本標準的附錄A為資料性附錄。本標準由中國石油和化學工業(yè)協(xié)會提出。本標準由全國塘玻璃設備標準化技術委員會歸口。本標準起草單位：天華化工機械及自動化研究設計院、溜博工業(yè)塘瓷廠、山東濟寧超聲電子儀器廠沈陽市東華檢測儀器廠。本標準主要起草人：桑臨春、沙慶謙、張品、楊長明、梁彩霞。本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T7991-1987.

GB/T7991-2003塘玻璃層厚度測量電磁法范圍本標準適用于用電磁法測量磁性基體上的塘玻璃層厚度的方法原理用電磁法測量通過覆蓋層與基體金屬磁路磁阻的變化而得到覆蓋層的厚度影響測量精度的因素31塘玻璃層厚度塘玻璃層厚度的變化會影響測量精度，與所選用的儀器有關。對薄的塘玻璃層這個精度是一個常數值,與厚度無關；對于厚的塘玻璃層.其精度隨塘玻璃層厚度的增加有所降低。3.2基體金屬的磁性磁性測厚儀受基體金屬磁性變化的影響(低碳鋼的磁性變化可以認為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響·應用與被測件基體金屬具有相同性質的標準樣來校準儀器。最好用未塘玻璃前的試件來校準。3.3基體金屬厚度每種儀器都對被測件的基體金屬有一個臨界厚度的要求，超過這個厚度，測定值不會受到基體金屬厚度增加的影響。如果儀器制造廠未提供本臺儀器的臨界厚度值，應通過試驗確定。3.4邊緣效應被測件表面形狀的突變會影響磁性測厚儀的準確性。因此·太靠近被測件邊緣或拐角處的測試數據是不可靠的.除非該儀器針對上述條件做了校準。這種影響可能延伸到距邊角15mm處。3.5曲率被測件的曲率半徑越小.影響越顯著。這與儀器的類型有相當大的關系。用雙極測頭測厚儀測量時.測頭與圓柱體的軸向平行或垂直放置，讀數會不同。。單極測頭如果測頭發(fā)生了不規(guī)則磨損，也會產生類似的現(xiàn)象。因此·在彎曲試樣上測量前儀器要針對這種情況進行專門校準，否則.測量數據不可靠。3.6表面粗糙度如果在被測件粗糙表面上同一參考面積內所測得的一系列數值明顯地超過儀器固有的重現(xiàn)性，則在某一點測量的次數至少應增加到5次3.7基體金屬機加工方向用雙極測頭或被磨損不平整的單極測頭的儀器測量時,儀器讀數會受到磁性基體金屬機械加工（如軋制)方向的影響,測量值會隨測頭在被測件表面上放置的方向而變化3.8剩磁基體金屬中的剩磁對恒定磁場測厚儀測量的準確性有影響。如果使用交變磁場磁阻型測厚儀