標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 7167-1996 鍺γ射線探測器測試方法》是中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)之一,主要規(guī)定了鍺γ射線探測器性能參數(shù)的測量方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的高純鍺(HPGe)和鋰漂移鍺(Ge(Li))探測器的質(zhì)量檢測與評估。
在這一標(biāo)準(zhǔn)中,對探測效率、能量分辨率、峰康比等關(guān)鍵指標(biāo)進(jìn)行了詳細(xì)說明,并給出了相應(yīng)的測試條件及步驟。例如,在測量能量分辨率時(shí),推薦使用特定能量的γ射線源作為輸入信號,通過分析得到的能譜圖來確定全寬度半最大值(FWHM),以此評價(jià)探測器的能量分辨能力。
此外,《GB/T 7167-1996》還涉及到了關(guān)于背景計(jì)數(shù)率、非線性度等方面的測試要求,為確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠提供了指導(dǎo)。對于每個(gè)測試項(xiàng)目,都明確了所需設(shè)備、實(shí)驗(yàn)環(huán)境控制以及具體操作流程,旨在幫助用戶全面了解并正確執(zhí)行各項(xiàng)性能測試。
該標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了在整個(gè)測試過程中應(yīng)遵循的安全規(guī)范和技術(shù)細(xì)節(jié),以保證結(jié)果的有效性和可重復(fù)性。通過對這些內(nèi)容的學(xué)習(xí)與應(yīng)用,可以有效提高鍺γ射線探測器的研發(fā)水平及其在實(shí)際工作中的表現(xiàn)。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 7167-2008
- 1996-11-06 頒布
- 1997-08-01 實(shí)施



文檔簡介
ICS17.240.F80中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)CB/T7167-1996錯(cuò)》射線探測器測試方法Testproceduresforgermaniumgamma-raydetectors1996-11-06發(fā)布1997-08-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
CB/T7167-1996主題內(nèi)容與適用范圍2術(shù)語和符號3錯(cuò)探測器分類瀏試的一般要求45能譜性能測量深測效率61定定時(shí)性能…入射窗厚度測量…19儲探測器的溫度循環(huán)能力·
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T7167-1996錯(cuò)丫射線探測器測試方法代替GB7167-87Testproceduresforgermaniumgamma-raydetectors本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC973《錯(cuò)?射線探測器測試方法》1989年版)。主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了錯(cuò)?射線探測器分類、性能測試方法和溫度循環(huán)能力等.本標(biāo)準(zhǔn)適用于高純錯(cuò)和錯(cuò)(鋰)?射線探測器的性能測試,也適用于高純錯(cuò)低能光子探測器的主要性能測試。2術(shù)語和符號2.1術(shù)語2.1.1高純high-puritygermanium在室溫下,它的電活性雜質(zhì)是穩(wěn)定的,雜質(zhì)含最小于3×10"/cm'。由其單品制成的探測器在適當(dāng)?shù)钠珘合驴蛇_(dá)到全耗盡(或全靈敏)2.1.2平面型半導(dǎo)體探測器planarsemiconductordetector其靈敏體積為平板型的半導(dǎo)體探測器。2.1.3同軸型半導(dǎo)體探測器coaxialsemiconductordetector其其靈敏體積與中心軸同心的半導(dǎo)體探測器。中心電極的一端是封閉的稱為單開端同軸探測器,中心電極的兩端都是開放的稱為雙開端同軸探測器。2.1.4普通電極錯(cuò)同軸探測器conventional-electrodegermaniumcoaxialdetector用P型高純錯(cuò)為材料,外電極為N+接觸,內(nèi)電極為P接觸,正偏壓加在外電極上的同軸半導(dǎo)體探測器。2.1.5反電極錯(cuò)同軸探測器reverse-electrodegermaniumcoaxialdetector用N型高純錯(cuò)為材料,外電極為P+接觸,內(nèi)電極為N接觸,正偏壓加在內(nèi)電極上的同軸半導(dǎo)體探測器,2.1.6井型同軸探測器well-typecoaxialdetector在探測器靈敏體積中有個(gè)與電極同軸的井形中心孔,待測樣品放入井內(nèi)·測量的立體角近似于4元。2.1.7(半導(dǎo)體探測器的)偏壓bias(ofasemiconductordetector)半導(dǎo)體探測器兩電極間所施加的反向工作電壓。此電壓在探測器靈敏體內(nèi)形成一定的電場強(qiáng)度,使射線所產(chǎn)生的電荷被收集到兩電極處形成電信號。2.1.8(半導(dǎo)體探測器的)耗盡區(qū)depletionregion(ofasemiconductordetector)半導(dǎo)體探測器靈敏體積中的一個(gè)層,粒子在該層內(nèi)損失的能量的絕大部分都貢獻(xiàn)給了形成的信號。2.1.9(半導(dǎo)體探測器的)電荷收集時(shí)間chargecollectiontime(ofasemiconductordetector)電離粒子通過半導(dǎo)體探測器后,由電荷收集而形成積分電流
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