ICS7104040

CCSG.04.

中華人民共和國國家標準

GB/T41076—2021

微束分析電子背散射衍射

鋼中奧氏體的定量分析

Microbeamanalysis—Electronbackscatterdiffraction—

Quantitativedeterminationofausteniteinsteel

2021-12-31發布2022-07-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T41076—2021

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

方法概述

4…………………2

設備

5………………………2

取樣和試樣制備

6…………………………3

測量步驟

7…………………3

數據處理

8…………………4

檢驗報告

9…………………6

附錄資料性鋼中奧氏體的定量分析實例

A()TRIP590EBSD………7

GB/T41076—2021

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1》

起草

。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位首鋼集團有限公司牛津儀器科技上海有限公司鋼鐵研究總院

:、()、。

本文件主要起草人孟楊鞠新華崔桂彬楊小鵬李繼康張玉成陳鷹尹立新任群嚴春蓮

:、、、、、、、、、、

其其格賈惠平

、。

Ⅰ

GB/T41076—2021

微束分析電子背散射衍射

鋼中奧氏體的定量分析

1范圍

本文件規定了采用電子背散射衍射法測量鋼中奧氏體體

(electronbackscatterdiffraction,EBSD)

積分數和形態的方法設備取樣和試樣制備測量步驟數據處理和檢驗報告

、、、、。

本文件適用于分析含有晶粒尺寸以上奧氏體的中低碳鋼及中低碳合金鋼

50nm、、。

本文件不適用于分析晶粒尺寸小于的奧氏體奧氏體晶粒尺寸小于會嚴重影響定量

50nm,50nm

分析結果的準確性

。

注晶粒尺寸下限是可觀察到的最小奧氏體晶粒尺寸晶粒尺寸下限取決于設備條件和操作參數

:。。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

金屬顯微組織檢驗方法

GB/T13298

微束分析電子背散射衍射分析方法通則

GB/T19501

微束分析掃描電子顯微術術語

GB/T23414

金相學術語

GB/T30067

微束分析電子背散射衍射取向分析方法導則

GB/T30703

微束分析電子背散射衍射金屬及合金的相分析方法

GB/T34172

微束分析電子背散射衍射平均晶粒尺寸的測定

GB/T38532

金屬試樣的電解拋光方法

YB/T4377

3術語和定義

和界定的以及下

GB/T19501、GB/T23414、GB/T30067、GB/T30703、GB/T34172GB/T38532

列術語和定義適用于本文件

。

31

.

等效圓直徑equivalentcirclediameterECD

;

與晶粒截面積等值的圓的直徑

。

32

.

橫縱比aspectratio

r

晶粒截面擬合橢圓的短軸與長軸之比

。