標準解讀

《GB/T 35003-2018 非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法》是一項國家標準，主要針對非易失性存儲器（如閃存等）在不同條件下的性能測試提供了具體的方法指導。該標準適用于評估非易失性存儲器的使用壽命及其數據保持能力。

根據標準內容，首先明確了術語定義，包括但不限于非易失性存儲器、耐久性測試、數據保持測試等相關概念。接著，對測試環境進行了規定，要求在特定溫度范圍內以及指定的工作條件下進行測試，以確保結果的有效性和可比性。

對于耐久性測試部分，標準詳細描述了如何通過循環寫入/擦除操作來模擬實際使用情況，并監測在此過程中存儲器性能的變化，直至達到預設的最大允許錯誤率或完全失效為止。這一過程旨在量化非易失性存儲器能夠承受的最大編程/擦除次數。

關于數據保持能力的測試，則是通過對已知數據模式的存儲介質施加長時間的老化處理后，檢查其能否正確讀取這些信息來進行評估。這里涉及到的數據保留時間通常遠超正常預期的服務壽命，目的是驗證即使經過極端條件下的長期存放，存儲器仍能可靠地保存數據。


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....

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2018-03-15 頒布
  • 2018-08-01 實施
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GB/T 35003-2018非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31200

L56.

中華人民共和國國家標準

GB/T35003—2018

非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法

Testmethodsforenduranceanddataretentionofnon-volatilememory

2018-03-15發布2018-08-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T35003—2018

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC78)。

本標準起草單位中國電子技術標準化研究院上海復旦微電子集團股份有限公司中國電子科技

:、、

集團公司第五十八研究所北京兆易創新科技股份有限公司深圳國微電子有限公司成都華微電子科

、、、

技有限公司

。

本標準主要起草人羅曉羽董藝郭曉宇高碩劉妙謝休華

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T35003—2018

非易失性存儲器耐久和數據保持試驗方法

1范圍

本標準規定了非易失性存儲器耐久和數據保持試驗的方法

。

本標準適用于電可擦除可編程只讀存儲器快閃存儲器以及內嵌上述存儲器

(EEPROM)、(Flash)

的集成電路以下簡稱器件

()。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

半導體器件集成電路第部分數字集成電路

GB/T17574—19982:

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T17574—1998。

31

.

耐久endurance

器件經受連續多次數據重寫編程擦除循環的能力

(/)。

32

.

數據保持dataretention

在規定的時間內器件存儲單元在非偏置狀態下保持數據的能力

,。

4設備

溫度試驗箱可以將溫度穩定在規定溫度的之內

±3℃。

夾具應可放入溫度試驗箱中并提供可靠的電連接

,。

5程序

51通則

.

器件耐久和數據保持試驗應按表規定的程序進行

1。

如數據保持試驗的目的是驗證器件在未經過耐久試驗時的數據保持能力則采用程序如果數

,Ⅰ。

據保持試驗的目的是驗證器件經過耐久試驗后的數據保持能力則采用程序

,Ⅱ。

表1耐久和數據保持試驗程序

程序要求

耐久試驗和數據保持試驗采用不

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