標準解讀

《GB/T 34479-2017 硅片字母數字標志規范》是一項國家標準，主要針對半導體行業中的硅片標識方法進行了規定。該標準旨在通過統一的字母數字編碼系統來提高硅片管理的效率與準確性，適用于所有涉及單晶硅片生產、加工及使用的單位和個人。

根據文檔內容，其核心在于定義了一套用于識別不同類型硅片的信息編碼規則。這些信息包括但不限于硅片尺寸、電阻率范圍、導電類型（N型或P型）、摻雜元素種類等關鍵參數。每一種屬性都被賦予了特定的字母或者數字代碼，使得即便是在不同企業間流轉時也能保證信息傳遞的一致性與可讀性。

此外，《GB/T 34479-2017》還詳細列出了如何將上述各項指標組合成一個完整的編碼字符串，并給出了具體的示例說明。例如，對于某一特定規格的硅片而言，其完整的編碼可能由表示直徑大小、厚度等級、電阻率區間等多個部分組成。這種結構化的編碼方式不僅便于自動化設備讀取處理，也利于人工快速檢索和分類。


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....

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2017-10-14 頒布
  • 2018-07-01 實施
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文檔簡介

ICS29045

H80.

中華人民共和國國家標準

GB/T34479—2017

硅片字母數字標志規范

Specificationforalphanumericmarkingofsiliconwafers

2017-10-14發布2018-07-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T34479—2017

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會與全國半導體設備和材料標準

(SAC/TC203)

化技術委員會材料分技術委員會共同提出并歸口

(SAC/TC203/SC2)。

本標準起草單位有研半導體材料有限公司浙江省硅材料質量檢驗中心

:、。

本標準主要起草人張靜孫燕邊永智樓春蘭

:、、、。

Ⅰ

GB/T34479—2017

硅片字母數字標志規范

1范圍

本標準規定了硅片或其他半導體晶片上字母數字標志的編碼規范包括標志的形狀和尺寸字母數

,、

字代碼的定義要求和字母數字錯碼檢驗方法等

、。

本標準適用于在硅片及其他晶片正面或背面的編碼標志

。

注字母數字標志及關聯信息存入數據庫可被簡單的自動光學字符讀數儀或人工進行獨立快速識別確

:,(OCR)、,

保晶片制造商對晶片標記的一致性

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

半導體材料術語

GB/T14264

供應商識別碼列表

SEMIAUX001(Listofvendoridentificationcodes)

自動光學字符讀數字符概述

SEMIAUX015(SEMIOCRcharacteroutlines)

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T14264。

31

.

字符間隔characterseparation

任意字符的相鄰邊界之間的水平距離

。

32

.

字符間距characterspacing

相鄰字符的字符中心線之間的水平距離

。

33

.

字符傾斜度characterskew

字符的基線與字符的窗口底部平行線之間的字符傾斜度

。

34

.

相鄰字符未對準度charactermisalignment

Radj

同一行兩個相鄰字符的字符基線之間的垂直距離

。

35

.

行字符未對準度linespacingmisalignment

Rline

同一行中最高和最低字符的基線之間的垂直距離

。

4標志的形狀和尺寸

41寫入字符時可使用實線法或點陣法最小點陣尺寸應為水平方向個點垂直方向個點如圖

.

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