ICS19100

J04.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T26643—2011

無(wú)損檢測(cè)

閃光燈激勵(lì)紅外熱像法導(dǎo)則

Non-destructivetesting—Infraredflashthermography—Guideline

2011-06-16發(fā)布2012-03-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T26643—2011

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語(yǔ)和定義………………

31

方法概要…………………

41

檢測(cè)系統(tǒng)…………………

52

試件………………………

63

檢測(cè)工藝規(guī)程……………

74

數(shù)據(jù)處理和缺陷分析……………………

86

安全性……………………

910

附錄資料性附錄缺陷的熱圖分析示例……………

A()11

附錄資料性附錄微分熱圖的應(yīng)用示例……………

B()12

附錄資料性附錄缺陷的曲線分析示例……………

C()13

GB/T26643—2011

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC56)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位北京維泰凱信新技術(shù)有限公司首都師范大學(xué)中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京航空

:、、

材料研究院北京理工大學(xué)航天材料及工藝研究所北京航空航天大學(xué)上海泰司檢測(cè)科技有限公司

、、、、、

上海材料研究所

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人陶寧王迅郭廣平李艷紅朱軍輝曾智金萬(wàn)平張存林伍耐明劉穎韜

:、、、、、、、、、、

金宇飛

。

Ⅰ

GB/T26643—2011

無(wú)損檢測(cè)

閃光燈激勵(lì)紅外熱像法導(dǎo)則

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了閃光燈激勵(lì)紅外熱像法無(wú)損檢測(cè)的一般原則適用于材料和結(jié)構(gòu)的表面及近表面缺

,

陷檢測(cè)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用導(dǎo)則

GB/T5616

無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)紅外檢測(cè)

GB/T12604.9

無(wú)損檢測(cè)通用術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T20737(ISO/TS18173)

3術(shù)語(yǔ)和定義

和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T12604.9GB/T20737。

31

.

閃光燈陣列flashlamparray

由nn個(gè)按一定規(guī)則排列的閃光燈構(gòu)成的熱激勵(lì)裝置

(≥1)。

32

.

閃光燈激勵(lì)紅外熱像法infraredflashthermography

利用閃光燈陣列作為熱激勵(lì)源的一種脈沖熱像法

。

33

.

閃光燈脈沖半高寬flashpulsewidthatthehalfpeakintensity

閃光燈光強(qiáng)度為最大值的一半時(shí)的脈沖寬度時(shí)域

()。

34

.

溫差-時(shí)間對(duì)數(shù)曲線logarithmictemperature-timeplot

Y軸為脈沖熱激勵(lì)前后溫度差值的自然對(duì)數(shù)X軸為時(shí)間自然對(duì)數(shù)的曲線

,。

35

.

一階微分熱圖thermogramoffirstderivat