ICS19100

J04.

中華人民共和國國家標準

GB/T257585—2010

.

無損檢測工業X射線系統焦點特性

第5部分小焦點和微焦點X射線管的

:

有效焦點尺寸的測量方法

Non-destructivetesting—CharacteristicsoffocalspotsinindustrialX-ray

sstemsforuseinnon-destructivetestin—Part5Measurementof

yg:

theeffectivefocalspotsizeofminiandmicrofocusX-raytubes

2010-12-23發布2011-10-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T257585—2010

.

前言

無損檢測工業射線系統焦點特性分為五個部分

GB/T25758《X》:

第部分掃描方法

———1:;

第部分針孔照相機射線照相方法

———2:;

第部分狹縫照相機射線照相方法

———3:;

第部分邊緣方法

———4:;

第部分小焦點和微焦點射線管的有效焦點尺寸的測量方法

———5:X。

本部分為的第部分

GB/T257585。

本部分等同采用無損檢測工業射線系統焦點特性第部分小焦點和微

EN12543-5:1999《X5:

焦點射線管的有效焦點尺寸的測量方法英文版

X》()。

本部分等同翻譯

EN12543-5:1999。

為便于使用本部分作了下列編輯性修改

,:

本歐洲標準一詞改為本部分

———“”“”;

刪除標準的前言

———EN;

用小數點代替作為小數點的逗號

———“.”“,”;

用規定的引導語代替標準中的引導語

———GB/T1.1—2000EN。

本部分由全國無損檢測標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC56)。

本部分起草單位上海泰司檢測科技有限公司上海英華無損檢測技術有限公司上海材料研究所

:、、、

上海誠友實業有限公司上海威誠邦達檢測技術有限公司通用電氣傳感檢測科技上海有限公司丹

、、()、

東奧龍射線儀器有限公司山東輕工業學院

、。

本部分主要起草人孔凡琴李博章怡明金宇飛趙成丁鳴華李義彬孫寶江

:、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T257585—2010

.

引言

為了滿足焦點尺寸測量的不同需求在中描述了五種不同的方法

,GB/T25758.1~25758.5,。

掃描方法適用于強度分布和焦點尺寸恒定的場合例如用于校準及圖像處理

(GB/T25758.1),

過程

。

射線照相方法與是傳統的技術以驗證為主要目的適用于最高

(GB/T25758.2GB/T25758.3),,

至的場合

200kV。

當針孔和狹縫照相機無法使用時邊緣方法或許是有效的這種方法適用于簡易

,(GB/T25758.4),

的場合

。

為了兼顧到微焦點系統提出了一種特殊的方法

,GB/T25758.5。

Ⅱ

GB/T257585—2010

.

無損檢測工業X射線系統焦點特性

第5部分小焦點和微焦點X射線管的

:

有效焦點尺寸的測量方法

1范圍

的本部分規定了通過清晰邊緣的射線照片測量焦點尺寸的方法本方法要求焦點

GB/T25758X。

尺寸在之間射線管的管電壓最高可達

5μm~300μm,X225kV。

射線圖像的質量以及分辨力很大程度上取決于焦點的特性焦點成像質量基于目標平面的二維

X。

輻射強度分布

。

為了鑒定的目的采用射線照相技術

,X。

注若得到允許本測量方法可用于更高的千伏電壓系統但測量精度可能會降低

:,,。

2規范性引用文件

下列文件中的條款通過的本部分的引用而成為本部分的條款凡是注日期的引用文

GB/T25758。

件其隨后所有的修改單不包括勘誤的內容或修訂版均不適用于本部分然而鼓勵根據本部分達成

,(),,

協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本部分

。,。

無損檢測工業射線照相膠片第部分工業射線照相膠片系統的分類1)

GB/T19348.11:

(GB/T19348.1—2003,ISO11699-1:1998,IDT)

無損檢測工業射線系統焦點特性第部分掃描方法

GB/T25758.1X1:(GB/T25758.1—

2010,EN12543-1:1999,IDT)

3術語和定義

下列術語和定義適用于的本部分

GB/T25758。

31

.

焦點focalspot

從測量裝置中看到的射線管陽極上的射線發射區域

XX。

[GB/T25758.1]

4測試方法

41原理和設備

.

本方法是通過測量幾何不清晰度來得到焦點尺寸的間接測量方法為此采用相對較高的幾何放