標準解讀

《GB/T 21649.1-2008 粒度分析 圖像分析法 第1部分:靜態圖像分析法》是中國國家標準之一,主要規定了使用靜態圖像分析技術進行粒度分析的方法。該標準適用于各種顆粒材料的尺寸分布測量,包括但不限于金屬粉末、陶瓷粉體及其他非金屬粉末等。

根據標準內容,靜態圖像分析法是指通過采集樣品的二維投影圖像,并利用計算機軟件對這些圖像中的顆粒進行識別和測量,以獲得顆粒大小及其分布信息的技術手段。整個過程涉及樣品制備、圖像獲取、數據處理等多個步驟。其中,對于樣品制備的要求非常嚴格,需要確保顆粒分散良好且無重疊現象;圖像獲取階段,則需采用合適的顯微鏡或相機設備來捕捉清晰的顆粒圖像;至于數據分析,則是基于特定算法自動完成顆粒邊界識別及尺寸計算等工作。


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  • 2008-04-16 頒布
  • 2008-10-01 實施
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文檔簡介

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中華人民共和國國家標準

犌犅/犜21649.1—2008

粒度分析圖像分析法

第1部分:靜態圖像分析法

犘犪狉狋犻犮犾犲狊犻狕犲犪狀犪犾狔狊犻狊—犐犿犪犵犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊—

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(ISO133221:2004,MOD)

20080416發布20081001實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局

發布

中國國家標準化管理委員會

犌犅/犜21649.1—2008

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅱ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術語、縮略語、定義與符號!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3.1術語、縮略語與定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3.2符號!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

4本方法要求的樣品制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

4.1總的推薦方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

4.2制樣方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

5圖像采集!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

5.1總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

5.2步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

5.3圖像采集儀的操作條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

6顯微鏡和圖像分析!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

6.1總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

6.2粒度分級和放大!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

6.3計數步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5

7粒度的計算結果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

8試驗報告!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9

附錄A(規范性附錄)用于評估樣品平均粒徑所需的顆粒尺寸的研究!!!!!!!!!!!!10

附錄B(規范性附錄)操作時的放大倍率!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!23

附錄C(規范性附錄)典型物鏡的分辨率和粒度區間!!!!!!!!!!!!!!!!!!!24

附錄D(資料性附錄)典型圖像分析法的流程圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!25

附錄E(資料性附錄)平均值和方差的統計檢驗(方差分析和多樣性比較)!!!!!!!!!!26

附錄F(資料性附錄)幾種制樣方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!28

參考文獻!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!30

犌犅/犜21649.1—2008

前言

GB/T21649《粒度分析圖像分析法》分為以下兩個部分:

———第1部分:靜態圖像分析法;

———第2部分:動態圖像分析法。

本部分是GB/T21649的第1部分。

本部分修改采用ISO133221:2004《粒度分析圖像分析法第1部分:靜態圖像分析法》(英文版)。

本部分與ISO133221比較,主要修改內容如下:

———在附錄B中增加了兩檔放大倍率,使測量范圍拓展到納米級。

———4.2條制樣方法的內容從正文移至附錄F(資料性附錄),并增加F.5“支持膜法”。

———對范圍進行了修改。

———對術語、縮略語、定義與符號進行了修改。

———對公式(4)進行了修改:

(犣1-犡F1)(犣2-犡F2)

犘i=

犣1犣2

———將ISO1332216.3.6.1條中示例改寫為“檢定過的標準格柵或粒度標準物質”。

本部分相對于ISO133221:2004刪除的內容如下:

———刪除5.2條中內容重復的b)、c)、d)、h)。

———將一些適用于國際標準的表述改寫為適用于我國標準的表述。

本部分的附錄A、附錄B、附錄C為規范性附錄,附錄D、附錄E、附錄F為資料性附錄。

本部分由全國篩網篩分和顆粒分檢方法標準化技術委員會(SAC/TC168)提出并歸口。

本部分起草單位:北京市理化分析測試中心、鋼鐵研究總院。

本部分主要起草人:周素紅、鄒濤、陳縈、盧慶新、鄭毅、方建鋒。

犌犅/犜21649.1—2008

引言

在采用圖像分析法測定粒度時,本標準旨在對測試方法以及適用范圍提供指導。

圖像分析技術已廣泛應用于分析各種性質的可成像材料。因而,當采用圖像分析法測定粒度時,本

標準僅限于規范該技術,并給出標準適用范圍,而不是提供精確的標準方法。

本標準包括了用檢定過的標準格柵、粒度標準物質來標定驗證的方法。通過測量已知尺寸的格柵

或顆粒可以合理地計算出由設備引入的系統不確定度。

為了確保數據的有效性,本標準推薦了一種有關顆粒數量分布的準確描述,并提供了一個分析

平臺。

采用顯微鏡法測量粒度分布簡單直接。但由于該技術僅測量樣品的一小部分,為了保證分析結果

具有代表性,建議將原始樣品分成若干份,測量其中的三份或更多份。如采用狋檢驗法對數據進行統計

分析,可以知道測量的樣品是否真實地代表全部原始樣品。

從樣品細分到得到最終結果的分析過程中,每一步產生的誤差累計到總的測量不確定度中。估計

每一步產生的不確定度是非常重要的。在本標準的適當位置給出了說明。

由于儀器的測量范圍不同,制樣技術各異,在此沒有給出統一的制樣方法,采用其他方法不會影響

數據的有效性。然而,為了保證所做的測量與本標準一致并能夠溯源,還是規定了一些基本步驟。

犌犅/犜21649.1—2008

粒度分析圖像分析法

第1部分:靜態圖像分析法

1范圍

GB/T21649.1的本部分規定了利用靜態圖像分析法測定顆粒粒度分布的方法。本部分適用于測

定能夠從顯微鏡中獲得圖像的顆粒的粒度分布。

本部分測量的顆粒尺寸范圍是小于10∶1的窄分布。為了獲得可重復的體積平均直徑,對符合正

態分布的、標準偏差為1.6的分布,需要測量6000多個顆粒。如果要得到可靠的百分數值時,如犇90或

其他百分數值,則必須至少測量61000個顆粒。詳見附錄A。

2規范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T21649的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨

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