標準解讀
GB/T 16840.6-2012是一項中國國家標準,專注于電氣火災痕跡物證的技術鑒定方法,特別著重于掃描電子顯微鏡(SEM)微觀形貌分析法的應用。該標準為電氣火災調查提供了科學依據和技術手段,幫助確定起火原因、火災發展過程及與電氣系統相關的故障點。
標準概覽
-
標準范圍:規定了利用掃描電子顯微鏡對電氣火災現場殘留物進行微觀形貌分析的方法,旨在通過觀察和分析火災后電氣設備及線路的微觀結構變化,如熔痕、燒蝕形態等,來判斷電氣故障類型及火災起因。
-
術語和定義:明確了在SEM分析中涉及的關鍵術語,如掃描電子顯微鏡、微觀形貌、熔痕等,確保了專業術語使用的統一性和準確性。
-
原理:概述了SEM的工作原理,即通過電子束掃描樣品表面,收集二次電子或背散射電子信息,形成高分辨率的微觀形貌圖像,用于揭示材料的微觀結構特征及其變化。
-
儀器與設備:詳細說明了進行SEM分析所需儀器的性能要求和操作條件,包括掃描電子顯微鏡及其附件、樣品制備工具等,確保檢測的準確性和可靠性。
-
樣品采集與處理:規范了從火災現場采集電氣痕跡物證的程序,以及樣品的預處理、固定、切割、鑲嵌、磨拋和鍍膜等步驟,以保證樣品適合SEM觀察。
-
分析步驟:具體描述了使用SEM進行微觀形貌分析的操作流程,包括設置合適的放大倍數、工作距離、電壓等參數,進行形貌觀察和拍照記錄,以及如何根據微觀特征識別電氣故障模式。
-
結果判定與解釋:提供了根據SEM圖像分析結果判定電氣火災起因的方法,包括但不限于短路、過載、電弧放電等故障類型的微觀特征鑒別,有助于形成科學的鑒定結論。
-
質量控制與安全:強調了在SEM分析過程中應遵循的質量控制措施和實驗室安全規程,確保實驗過程的可靠性和人員安全。
-
記錄與報告:要求詳細記錄實驗過程、觀察結果和分析結論,并按照標準化格式編寫鑒定報告,以便于信息的交流和存檔。
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....
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- 現行
- 正在執行有效
- 2012-12-31 頒布
- 2013-10-01 實施




文檔簡介
ICS1322020
C82..
中華人民共和國國家標準
GB/T168406—2012
.
電氣火災痕跡物證技術鑒定方法
第6部分SEM微觀形貌分析法
:
Technicaldeterminationmethodsforelectricalfireevidence—
Part6Micro-morholoicalanalsismethodusin
:pgyg
scanningelectronmicroscope
2012-12-31發布2013-10-01實施
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布
中國國家標準化管理委員會
中華人民共和國
國家標準
電氣火災痕跡物證技術鑒定方法
第6部分SEM微觀形貌分析法
:
GB/T16840.6—2012
*
中國標準出版社出版發行
北京市朝陽區和平里西街甲號
2(100013)
北京市西城區三里河北街號
16(100045)
網址
:
服務熱線
/p>
年月第一版
20135
*
書號
:155066·1-46913
版權專有侵權必究
GB/T168406—2012
.
前言
電氣火災痕跡物證技術鑒定方法由以下部分組成
GB/T16840《》:
第部分宏觀法
———1:;
第部分剩磁檢測法
———2:;
第部分俄歇分析法
———3:;
第部分金相分析法
———4:;
第部分電氣火災物證識別和提取方法
———5:;
第部分微觀形貌分析法
———6:SEM。
本部分為的第部分
GB/T168406。
本部分依據給出的規則編寫
GB/T1.1—2009。
本部分由中華人民共和國公安部提出
。
本部分由全國消防標準化技術委員會火災調查分技術委員會歸口
(SAC/TC113/SC11)。
本部分起草單位公安部沈陽消防研究所
:。
本部分主要起草人邸曼張明趙長征夏大維齊梓博高偉吳瑩
:、、、、、、。
本部分為首次發布
。
Ⅰ
GB/T168406—2012
.
電氣火災痕跡物證技術鑒定方法
第6部分SEM微觀形貌分析法
:
1范圍
的本部分規定了電氣火災痕跡物證技術鑒定方法中掃描電子顯微鏡微觀形貌
GB/T16840(SEM)
分析法的術語和定義原理儀器設備試樣制備觀察部位和判據
、、、、。
本部分適用于火災調查中應用對火災現場金屬熔化痕跡的微觀形貌分析根據熔痕的微觀
SEM,
形貌特征鑒別熔痕的熔化性質
。
2規范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
分析儀器術語
GB/T13966
電氣火災痕跡物證技術鑒定方法第部分宏觀法
GB/T16840.11:
3術語和定義
和中界定的以及下列術語和定義適用于本文件
GB/T13966GB/T16840.1。
31
.
二次電子secondaryelectrons
樣品中原子的外層電子受入射電子的激發而發射到樣品以外的非彈性散射電子
。
32
.
二次電子成像secondaryelectronimage
二次電子被檢測器接收后成像
。
33
.
SEM的分辨本領solvingpowerforSEM
在二次電子圖像上測出能明顯分開的兩個物點之間的最小距離與放大倍率之比
。
34
.
放大倍率magnifyingpower
物體放大后的長度與原實物的長度的比值
。
35
.
有效放大倍率effectivemagnifyingpower
人眼的分辨率與儀器的分辨率的比值
。
36
.
熔痕meltedmark
在外界火焰或短路電弧高溫作用下在金屬表面特別是銅鋁導線上形成的圓狀凹坑狀瘤狀尖
,,、、、、
狀及其他不規則的微熔或全熔痕跡
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