標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量》相比于其前版《GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量》,主要在以下幾個方面進(jìn)行了調(diào)整和完善:
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適用范圍與分類:2003版標(biāo)準(zhǔn)可能對電子顯微鏡的類型和應(yīng)用范圍進(jìn)行了更細(xì)致的劃分,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步帶來的新型電子顯微鏡設(shè)備,確保各類設(shè)備的X射線泄漏劑量測試更加準(zhǔn)確和有針對性。
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安全限值更新:隨著對輻射防護(hù)認(rèn)識的深入和技術(shù)的發(fā)展,2003版標(biāo)準(zhǔn)可能對X射線泄漏的安全限值進(jìn)行了修訂,以更好地保護(hù)操作人員和環(huán)境,確保符合最新的國際安全標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)踐。
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測試方法與技術(shù)要求:新版本可能引入了更先進(jìn)的測量技術(shù)和測試方法,包括但不限于更精確的劑量測量儀器、更嚴(yán)格的測試程序等,旨在提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
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防護(hù)措施與管理要求:考慮到技術(shù)進(jìn)步和操作實(shí)踐的變化,2003版標(biāo)準(zhǔn)可能對電子顯微鏡的使用、維護(hù)及X射線防護(hù)措施提出了更為具體和嚴(yán)格的要求,包括設(shè)備的定期檢測、人員培訓(xùn)、警示標(biāo)識設(shè)置等方面的規(guī)定。
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術(shù)語定義與解釋:為了與國際接軌并確保標(biāo)準(zhǔn)的清晰度,新版標(biāo)準(zhǔn)可能對相關(guān)專業(yè)術(shù)語進(jìn)行了更新或補(bǔ)充解釋,便于使用者準(zhǔn)確理解各項要求。
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合規(guī)性評估與認(rèn)證:2003版標(biāo)準(zhǔn)或許加強(qiáng)了對電子顯微鏡X射線泄漏控制的合規(guī)性評估要求,包括產(chǎn)品認(rèn)證、檢測報告的要求等,以確保市場上的設(shè)備符合國家最新的安全與健康標(biāo)準(zhǔn)。
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- 廢止
- 已被廢除、停止使用,并不再更新
- 2003-11-20 頒布
- 2004-05-01 實(shí)施



文檔簡介
CS37.020N33中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB7667-—2003電子顯微鏡X射線泄漏劑量ThedoseofX-raysleakagefromelectronmicroscope2003-11-20發(fā)布2004-05-01實(shí)施華人民共和國中發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
GB7667—2003前本標(biāo)準(zhǔn)的全部技術(shù)內(nèi)容為強(qiáng)制性的.本標(biāo)準(zhǔn)是對GB7667一1996《電子顯微鏡X射線泄漏劑量》的修訂。修訂時增加了前言:在3.1“試驗(yàn)設(shè)備”條款中增加了對試驗(yàn)設(shè)備必須經(jīng)過法定計量部門計量并取得合格證書才能使用的要求.本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國光學(xué)和光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(CSBTS/TC103)歸口本標(biāo)準(zhǔn)由上海電子光學(xué)技術(shù)研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-GB7667-1987、GB7667-1996。
GB7667—2003電子顯微鏡X射線泄漏劑量范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子顯微鏡(以下簡稱電鏡)X射線泄漏劑量、試驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射、掃描、反射掃描和電子探針等不同類型的電鏡。2要求電鏡X射線泄漏的空氣吸收劑量率不應(yīng)大于2.5″Gy/h.試驗(yàn)方法91試驗(yàn)設(shè)備帶有修正因子(指校正X射線)X射線劑量率儀,其等級為二級。最小擋刻度值不能大于1Gy/h用于檢測的X射線劑量率儀必須經(jīng)過法定計量部門的計量檢定,并取得合格證書。有效期內(nèi)的檢測儀器經(jīng)可能涉及計量精度的重大維修后,必須重新進(jìn)行計量檢定。3.2試驗(yàn)程序3.2.1將試驗(yàn)電鏡加速電壓調(diào)到最高擋,選用最大正常工作柬流和最大束斑3.2.2將聚光鏡調(diào)整到正常工作狀態(tài),放大倍率調(diào)到最低擋.并將活動光闌全部退出。對掃描電鏡和電子探針等則應(yīng)以鴿為樣品將吸收電流調(diào)到最大值。3.2.3試驗(yàn)部位為照相室、觀察室、樣品室、活動光闌、電子槍(電鏡加速電壓等于或大于400kV的電子槍被測部位指隔離層)、真空管道、顯像管、鏡簡及其附屬裝置。在試驗(yàn)樣品室以上的部位時,則應(yīng)將物鏡活動光闌插入電子束通道。3.2.4將X射線劑量率僅在離開試
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