PAGEPAGE14適用范圍本規(guī)程適用于鍋爐的安裝和維修及壓力管道安裝的焊接接頭處的無損檢驗(yàn)。焊接工藝評(píng)定及焊工考試焊接試件的無損檢驗(yàn)。本規(guī)程適用的檢測(cè)方法包括：射線檢測(cè)（RT）超聲波檢測(cè)（UT）磁粉檢測(cè)（MT）滲透檢測(cè)（PT）引用標(biāo)準(zhǔn)GB3323-87 《鋼熔化焊接接頭射線照相和質(zhì)量分級(jí)DL/T5069-96 《鋼制承壓管道對(duì)接接頭射線檢驗(yàn)篇》DL/T5048-95 《管道焊接接頭超聲波檢驗(yàn)篇》JB3965-85 《鋼制壓力容器磁粉探傷》JB/T6061-92《焊縫磁粉檢驗(yàn)方法和缺陷磁痕的分級(jí)》JB/T6062-92《焊縫滲透檢驗(yàn)方法和缺陷跡痕的分級(jí)》3人員要求檢測(cè)人員須持有國家有關(guān)部門頒發(fā)的資格證書，且在有效期內(nèi)。檢測(cè)人員應(yīng)按技術(shù)等級(jí)從事該等級(jí)范圍內(nèi)的檢測(cè)工作。射線透照底片的評(píng)判及質(zhì)量評(píng)定和檢驗(yàn)應(yīng)由Ⅱ級(jí)以上資格人員擔(dān)任。一般要求受檢工件必須經(jīng)外觀檢驗(yàn)合格后方可進(jìn)行其它方法的無損檢測(cè)。受檢工件受檢區(qū)域內(nèi)不得有藥皮、焊渣、焊痕、飛濺、油、銹等污物。射線探傷工藝透照工藝GB3323-87《鋼（鋼制承壓管道對(duì)接焊縫射線檢驗(yàn)篇》執(zhí)行；SD143-85AB條件做好透照工藝設(shè)計(jì)。AB有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。在使用中，膠片和增感屏，在透照過程中應(yīng)始終相互緊貼。GB5618-85R105-1表5-1要求達(dá)到的象質(zhì)指數(shù)線直徑單位：mm透照厚度（AB級(jí)）TA150.125≥6130.160>6～8130.200>8～12120.250>12～16110.320>16～20100.400>20～2590.500>25～3280.630>32～5070.800>50～8061.000>80～12051.250>120～15041.600>150～200透照前，應(yīng)對(duì)焊縫及熱影響區(qū)的表面質(zhì)量（包括余高高度）中的缺陷或與之相混，否則應(yīng)作適當(dāng)?shù)男拚＃ū粰z長(zhǎng)度的四分之一部位。鋼絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫方向垂直，細(xì)鋼絲置于外側(cè)。當(dāng)射線源一側(cè)指數(shù)值達(dá)到規(guī)定的要求。象質(zhì)計(jì)放在膠片一側(cè)工件表面上時(shí)，象質(zhì)計(jì)應(yīng)附加“F”標(biāo)記，以示區(qū)別。90°對(duì)比試驗(yàn)的作法：截取一個(gè)與被檢工件完全相同的短試塊，在被檢部位的內(nèi)外表端部各放一個(gè)象質(zhì)計(jì)，采用與工件相同的透照條件進(jìn)行透照，觀察所得到的底片以確定相應(yīng)的象質(zhì)指數(shù)。Φ76mm5mm。象質(zhì)計(jì)固定在Φ76mm20mm。透照法、環(huán)縫外透法、環(huán)縫內(nèi)透法、雙壁單影法和雙壁雙影法。進(jìn)行管道和容器焊縫的透照時(shí)，可采用內(nèi)透法或外透法。Φ76mm小于任一側(cè)焊縫寬度。Φ76mm照，以保證焊縫全長(zhǎng)不漏檢。小焦距的計(jì)算方法按下列公式：f=dσ/Ug+σ式中：f——Ug——幾何不清晰度，mm；d——射源焦點(diǎn)尺寸，mm；σ——焊件厚度，mm；對(duì)幾何不清晰度（Ug）X，Ug≤0.2mm。小管徑雙壁雙影透照時(shí)，射線源側(cè)焊縫的Ug≤0.4mm。幾何條件K，AB1.1，1.03。L1，L1/dL2GB3232-8734。一次透照長(zhǎng)度即每次曝光所檢驗(yàn)的焊縫長(zhǎng)度，應(yīng)滿足下列規(guī)定：位置中心表面的縱焊縫透照法。1.42180°1.84（1.8×2=3.645°（180÷4。6無論用何種透照方式進(jìn)行射線照相檢驗(yàn)，如檢測(cè)位置的影像是由兩張或兩張以1/1015mm。D1.2～3.5D。應(yīng)≤0.3。4.2.3定位標(biāo)記和標(biāo)識(shí)的放置底片上應(yīng)有表示工件被檢測(cè)范圍的定位標(biāo)記，定位標(biāo)記包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記（↑。應(yīng)放置在射線源一側(cè)的工件表面上，中心標(biāo)記應(yīng)放置在被檢焊縫中5mm（照相有效段內(nèi)，搭接標(biāo)記應(yīng)待第二次曝光后才可取下。識(shí)別標(biāo)記的內(nèi)容極其方式，應(yīng)在照相程序中規(guī)定，標(biāo)記至少包括：工件編R2……（1、2……指返修次數(shù)。識(shí)別標(biāo)記可以防止在射線源側(cè)暗盒表面的邊緣上，亦可放置在工件表面上，但應(yīng)保證標(biāo)記可以在照相底片上清晰完整的顯現(xiàn)，且不遮擋被檢焊縫的影像，其位置應(yīng)距焊縫邊緣至少5mm。曝光參數(shù)各種射線機(jī)和膠片均應(yīng)制作曝光曲線或采用相應(yīng)措施。焊縫透照時(shí)應(yīng)保證足夠的曝光量，以使底片達(dá)到規(guī)定的黑度。防止用短焦距高電壓。不同透照厚度所允許的最高電壓參照GB3323-87標(biāo)準(zhǔn)確定。無用射線及散射線的屏蔽當(dāng)工件較小（如管焊縫或型鋼焊縫）屏蔽方法（如設(shè)置鉛窗口）限制受監(jiān)部位的照射面積。盒背面放置鉛板，以防止背散射線影響。為檢查背散射，應(yīng)在暗盒背面貼附一個(gè)“B”字的鉛質(zhì)標(biāo)記（B13mm，1.6mm。若在較黑背景上出現(xiàn)“B”取防護(hù)措施后重照。如在較淡背景上出現(xiàn)“B”的較黑影像則不作為底片判廢的依據(jù)。暗盒和暗盒放置不被損壞，暗盒有與被透照工件緊密接觸的可能。的封口。的漏光處，如無修復(fù)可能應(yīng)予報(bào)廢。中暗盒固定良好，位置無移動(dòng)后，方可將盒取下，送交暗室處理。位移。處理。膠片的暗室處理暗室處理的一般要求：片的裝卸及處理。膠片的裝卸與處理宜在不同的工作臺(tái)上進(jìn)行，不得同時(shí)交叉進(jìn)行。膠或全棉細(xì)紗手套操作。濺溢出的藥液及水應(yīng)立即擦凈，以免在照相底片上造成斑點(diǎn)。膠片的暗室處理?xiàng)l件，必須符合相應(yīng)藥品的說明，并盡力減少變化范圍。內(nèi)完成沖洗工作的需要。1～2min燥，應(yīng)在有空調(diào)的密閉房間中進(jìn)行。如用干燥機(jī)應(yīng)先滴控幾分鐘再送入干燥。底片干燥后，應(yīng)進(jìn)行整理，檢查后方可交付觀察評(píng)定。暗室處理藥液藥液必須按膠片所配方進(jìn)行配制。藥液應(yīng)密封保存在避光的暗處。顯影：20℃5～8min。顯影過程中應(yīng)不時(shí)將膠片作垂直方向的上下移動(dòng)，以使膠片均勻顯影。停顯：1min，20℃左右。定影：10～15min，要根據(jù)藥液的新舊程度靈活控制。20℃定影。水沖洗30min，洗干凈。底片質(zhì)量0.3。5-2表5-2射線種類射線種類DD0XAB1.2～3.5≥0.35-1掩蓋被檢焊縫影像。成的可能妨礙底片評(píng)定的底片缺陷及黑度變化。驗(yàn)評(píng)標(biāo)準(zhǔn)：焊縫合格標(biāo)準(zhǔn)按“GB3323-87”或“DL/T5069-96”標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)要求的合格等級(jí)進(jìn)行評(píng)定。檢驗(yàn)報(bào)告：射線檢驗(yàn)報(bào)告內(nèi)容：委托單、工程名稱、工件編號(hào)。被檢工件材質(zhì)、規(guī)格、焊接方式、焊工代號(hào)。檢驗(yàn)方法及透照規(guī)范、檢驗(yàn)部位及工件草圖（示意圖。檢驗(yàn)結(jié)果、返修情況、缺陷性質(zhì)及檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。檢測(cè)人員、評(píng)選人員簽名及技術(shù)資格。檢驗(yàn)報(bào)告編號(hào)及檢測(cè)日期。施工現(xiàn)場(chǎng)射線照相防護(hù)（GB4792-84）的有關(guān)規(guī)定。行。的區(qū)域應(yīng)規(guī)定為禁止進(jìn)入?yún)^(qū)，透照時(shí)任何人不得進(jìn)入。定為管制區(qū)，透照時(shí)應(yīng)禁止非照相工作人員入內(nèi)。禁止進(jìn)入?yún)^(qū)及管制區(qū)都應(yīng)配置標(biāo)志，清楚的標(biāo)明界限。超聲波探傷工藝探傷儀和探頭10dB。探傷儀應(yīng)具有衰減量不少于50dB12dB±1dB，累計(jì)最大誤差不超過±1dB。CSK-IAX50X446dB。探頭主聲束偏離：CSK-IA90o±2o垂直方向：不應(yīng)有明顯的雙峰。K（βK=tgβ）定的試塊上進(jìn)行。K2N（N）以外進(jìn)行。試塊試塊采用與被探傷件相同或相近的材料制作，用直探頭探傷，不得有≥平底當(dāng)量的缺陷。SD-1SD-Ⅱ（a）SD-Ⅱ（b）6-1。表6-1 靈敏度試塊的適用范圍管道管道厚度 mm靈敏度試塊15～46SD-Ⅱ（a）>46～120SD-Ⅱ（b）SD-Ⅲ探管材制作。明。工藝要求及探傷準(zhǔn)備探頭移動(dòng)范圍內(nèi)的飛濺、銹蝕、氧化物及油垢等必須清除干凈，表面應(yīng)打磨平滑（應(yīng)先補(bǔ)焊4。焊縫兩側(cè)的打磨寬度至少等于探頭移動(dòng)范圍（6.4.3。每道被探焊縫兩側(cè)的母材，應(yīng)測(cè)量管壁厚度，至少每相隔90o發(fā)現(xiàn)焊縫缺陷時(shí)，則應(yīng)測(cè)量該處兩側(cè)的母材厚度。每道焊縫可按圓周方向分成若干區(qū)，以便標(biāo)記缺陷的位置。探傷后應(yīng)及時(shí)擦洗干凈。焊縫外觀及探傷面經(jīng)檢查合格后方可探傷。探傷板厚T（mm）K值8～253.0～2.0>25～462.5～1.5>46～1202.0～1.0采用的斜度頭K值見下表6-2。在條件允許下，盡量采用大板厚T（mm）K值8～253.0～2.0>25～462.5～1.5>46～1202.0～1.02.5MHz，5MHz。探傷位置及探頭移動(dòng)范圍：厚度8～46mmP1≥2TK+50mm式中：P1——探頭移動(dòng)區(qū)，mm；T——不探傷件厚度，mm。46～120mmP2≥TK+50mm式中：P2——探頭移動(dòng)區(qū)，mm；T——被探傷件厚度，mm。對(duì)于厚板焊縫如因條件限制，只能從一面或一側(cè)探傷時(shí)，還應(yīng)加大K頭探測(cè)。如需檢驗(yàn)橫向缺陷，應(yīng)將焊縫磨平后探測(cè)。管道焊縫一般要求從焊縫兩側(cè)探傷。對(duì)管道與鑄鋼件（三通等）頭進(jìn)行探傷，并在報(bào)告中注明。P3=2KT+50mm式中：P3——探頭移動(dòng)范圍，mm；T——管壁厚度，mm。當(dāng)管壁較厚時(shí)，可用一次波探傷，但還需增大探頭的K側(cè)移動(dòng)的范圍為：P4=KT+50mm式中：P4——探頭移動(dòng)范圍，mm；T——管壁厚度，mm。掃查方式：d10o～15o（10o～45o）作平行或斜平行移動(dòng)。但靈敏度要適當(dāng)提高。前后掃查、平行焊縫掃查、旋轉(zhuǎn)掃查、擺動(dòng)掃查等掃查方式。距離——波幅曲線1)距離——波幅曲線以所用探頭和儀器在CSK-Ⅱ或CSK-ⅢA試塊上室測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成。該曲線族由定量線、判廢線或測(cè)長(zhǎng)線組成，測(cè)長(zhǎng)線與定量線之間稱為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間稱為Ⅱ區(qū)，判廢線以上部分稱為Ⅲ區(qū)，不同板厚范圍的距離——波幅曲線的靈敏度如下表6-3。表6-3 距離——波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚（mm）測(cè)長(zhǎng)線定量線判廢線CSK-ⅢA8～46>46～120Ф1×40-18dBФ1×40-14dBФ2×40-12dBФ2×40-8dBФ2×40-4dBФ2×40+2dB158Ф1×6-12dBФ1×6-6dBФ1×6+2dBCSK-ⅣA>15～46Ф1×6-9dBФ1×6-3dBФ1×6+5dB>46～120Ф1×6-6dBФ1×6Ф1×6+10dB掃插速度的調(diào)節(jié)CSK-ⅢACSK-ⅠAJB1152-813。距離——波幅曲線的校驗(yàn)探傷靈敏度進(jìn)行綜合補(bǔ)償，綜合補(bǔ)償量必須計(jì)入距離——波幅曲線（補(bǔ)償方法參見JB1152-814SD67-832。對(duì)曲線半徑比較小的簡(jiǎn)體縱縫用曲面試塊進(jìn)行修正，修正范圍參見2。探傷靈敏度不得低于測(cè)長(zhǎng)線。探傷過程中應(yīng)注意對(duì)探傷靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)。現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)，允許使用攜帶型試塊對(duì)掃橫速度及靈敏度進(jìn)行校對(duì)。缺陷的定性。為了改進(jìn)焊接工藝、應(yīng)盡可能對(duì)缺陷性能進(jìn)行推斷。波形分析法，改變探頭角度或掃查方式，并結(jié)合焊接工藝等進(jìn)行綜合分析。幅相互交替變化時(shí)，定為密集性缺陷。缺陷的定量位于定量線和定量線以上的缺陷反射信號(hào)，應(yīng)進(jìn)行波幅和缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定；根部缺陷應(yīng)測(cè)量深度。確定它在距離——波幅曲線圖中的區(qū)域。缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定：（6dB指示長(zhǎng)度。用端點(diǎn)半波高度法測(cè)量缺陷的指示長(zhǎng)度。當(dāng)缺陷反射信號(hào)有多個(gè)高點(diǎn)，缺陷端部反射波幅射位于Ⅰ區(qū)時(shí)，可將的記錄指示長(zhǎng)度，并在報(bào)告中注明。當(dāng)缺陷反射波幅達(dá)到測(cè)量線及Ⅰ區(qū)時(shí)，只作記錄。水平程度或深度、探頭的折射角以及室測(cè)的探頭至焊縫距離。采用計(jì)算方法、查定位尺或作圖法確定。的折射角及探傷靈敏度后再進(jìn)行復(fù)探。焊縫質(zhì)量的評(píng)定板縫或管道焊縫的質(zhì)量以每道焊縫為評(píng)定單位。板縫中的缺陷存在下列情況之一時(shí)，該焊縫為不合格：當(dāng)缺陷反射波的高位于判廢線及Ⅲ區(qū)時(shí)。6-4表6-4級(jí)別最大允許的缺陷指示長(zhǎng)度條狀缺陷指示長(zhǎng)度ⅠⅡ級(jí)L=1/3T但最小可為10，最大不超過30Ⅲ級(jí)L=2/3T但最小可為12，最大不超過40注：板厚或管縫不等的對(duì)接焊縫，T取薄板或薄壁管的后度。級(jí) 別缺陷累度指示長(zhǎng)度Ⅰ 級(jí)10TTⅡ 級(jí)5TT級(jí) 別缺陷累度指示長(zhǎng)度Ⅰ 級(jí)10TTⅡ 級(jí)5TT在密集缺陷的反射信號(hào)中，有一個(gè)波幅達(dá)到定量線以上時(shí)。限制，該焊縫應(yīng)評(píng)為不合格。6.5.26.5.3探傷記錄和探傷報(bào)告探傷記錄包括下列內(nèi)容：工件名稱、編號(hào)、材質(zhì)、坡口形式、所使用的儀器探頭（值，試塊形式、耦合劑、探傷部位、返修部位、返修的長(zhǎng)度，深度和返修的次數(shù)、焊工號(hào)，操作者等。10mm位Ⅰ區(qū)，指示長(zhǎng)度較長(zhǎng)時(shí)，也應(yīng)加以記錄備案。試塊、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、探傷比例、部位示意圖、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、操作者、負(fù)責(zé)人或探傷日期等。滲透探傷工藝人員要求核組織頒發(fā)的等級(jí)資格證書。1.0，和色弱。傷，著色滲透探傷，干式顯像法，濕式顯像法和無影像顯像法。ZBJ04005-873ZBJ04005-87《滲透探傷方法》3.3.1～3.3.9ZBJ04003-87《控制滲透探傷材料質(zhì)量的方法》的有關(guān)規(guī)定。ZBJ04005-876.2ZBJ04005-877.1；7.27.3磁粉探傷工藝人員要求