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文檔簡介

1、新生兒低血糖腦損傷（hypoglycemic brain damage ，HBD ）導致腦癱或神經發育致殘的主要腦損傷因素：缺血缺氧、高膽紅素血癥、低血糖等。新生兒低血糖雖然是新生兒期最常見的代謝性疾病，但由于臨床癥狀常不典型，多為其他疾病的合并癥，常被原發病所掩蓋，在臨床工作中尚未引起醫務人員足夠的重視。目前公認大部分健康新生兒早期出現暫時性低血糖一般不會引起嚴重腦損傷，而持續或反復低血糖卻有可能導致腦損傷，遺留認知障礙、視覺障礙、枕葉癲癇、腦癱等神經系統后遺癥。高危因素： 早產兒、低出生體質量兒、巨大兒、小于胎齡兒、雙胎、孕母高危年齡、孕母糖尿病、孕母高血壓等。病理： 大腦皮層的神經細胞軟

2、化、腫脹、壞死，腦回萎縮、白質脫髓鞘，一般不伴有出血，常發生于頂枕葉，一般不累及小腦和腦干。 臨床表現可無癥狀，也可表現為精神萎靡、嗜睡、喂養困難、肌張力低下、抽搐等，無特異性。嚴重低血糖新生兒會遺留神經系統后遺癥, 包括智力運動發育落后、視聽障礙、腦癱、癲癇等。后遺癥出現與否及嚴重程度, 取決于新生兒低血糖的程度、持續時間, 以及并存的其他疾病和治療情況。影像表現超聲：低血糖性腦損傷急性期B超表現為損傷部位的高回聲, 隨著病情好轉, 高回聲會慢慢恢復。嚴重病例后期可表現為損傷部位的低回聲。敏感度不及MRI。CT：分辨率有限，而且有輻射損傷，不作為新生兒腦損傷的主要檢查手段。MRI：可準確、敏

3、感、無創地反應腦損傷部位、性質、范圍及組織學基礎，是評價新生兒腦損傷最佳影像學檢查方法。MRI表現特點雙側頂枕葉皮層可見對稱性T1低、T2高信號區；MRI表現特點雙側頂枕葉皮層可見對稱性T1低、T2高信號區；嚴重者可見彌漫性皮層受累，甚至累及基底節、丘腦和皮層下白質（后者可能與低血糖所致昏迷與呼吸衰竭有關，皮層損傷主要與低血糖有關）；MRI表現特點雙側頂枕葉皮層可見對稱性T1低、T2高信號區；嚴重者可見彌漫性皮層受累，甚至累及基底節、丘腦和皮層下白質（后者可能與低血糖所致昏迷與呼吸衰竭有關，皮層損傷主要與低血糖有關）。HBD早期時DWI表現為明顯高信號，ADC圖為低信號（此時T1、T2鈞改變不明顯）,提示細胞性腦水腫是早期低血糖腦損傷時重要改變。晚期DWI呈低信號，ADC圖為高信號提示局部腦軟化。頂枕葉皮層易損的機制可能與以下因素有關: 枕葉的視覺皮層的4層明顯增厚, 有較多的神經元和突觸, 并且軸突和突觸形成增加。新生兒大腦的發育有先后順序, 其中控制視覺和運動的頂枕葉最先發育, 負責抽象思維的區域遠遠落后。診斷要點有HBD高危因素；雙側頂枕葉，主要累及腦皮質，呈對稱性發生（有一定特征性）；早期DWI有診斷意義，呈高信號，慢性期主要表現為腦皮質萎縮，腦軟化。鑒別診斷缺血缺氧性腦損傷：常有圍生期窒息史；好發部位： 足月兒：大腦矢

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