1、 光澤儀，也叫光澤度儀，是用來測量物體表面的光澤程度的儀器。 光澤儀按照角度分為高光澤，中光澤和低光澤三種類型。 光澤儀操作簡便。一般在測量之前需要在隨機的標準板校準儀器，然后進行測量。 光澤儀的角度大多分為以下幾種，20，45，60，75，85等。不同廠家，會制作出雙角度或者三角度光澤度儀。85度為低光澤儀，20度為高光澤儀，依次類推。適用最多的是60度中光澤光澤儀。 1.測量原理 光澤度是在一組幾何規定條件下對材料表面反射光的能力進行評價的物理量。因此，它表述的是具有方向選擇的反射性質。根據光澤的特征，可將光澤分成幾類，我們通常說的光澤是指“鏡向光澤”，所以光澤度計，有時也叫鏡向光澤度計。

2、光澤度與機械加工行業的“光潔度”或“粗糙度”的概念完全不同，后者是對材料表面微小不平度的評定。 光源出射一束光經過透鏡L1到達被測面P，被測面P將光反射到透鏡L2，透鏡L2將光束會聚到位于光欄B處的光電池，光電池進行光電轉換后將電信號送往處理電路進行處理，然后儀器顯示測量結果。見下圖所示： 測量第一步：校準測量第一步：校準 在使用光澤度計之前，一定要校準儀器，首先，用已知光澤度值的校準板進行測量，設此校準板的光澤度值為a，光源發出的光光強為b,光電池檢測到的光強度為c。通過校準過程可知光源光強為： bc/a （1） 校準這一步非常重要，如果校準做的不好，測量就會受很大影響。所以在校準過程中，一

3、定要保證光澤度計底面和校準板接觸得非常緊密。 校準完成之后，即可以開始對待測平面進行測量。設被測平面光澤度值為，光電池檢測到的光強度為，光源光強為b。 b / （2） 聯合(1)(2)兩式，得到 / ca （3） 這里的即為我們要測量的被測平面光澤度值， 、c為通過測量可以得到的值, a為標準板光澤度值。 需要注意的是，此時所得出的光澤度的值和國家標準是有區別的，因為每種型號的光澤度儀的設定標準是不同的，理論上和國家標準會存在一個線性關系。在定標過程中，我們認為BYK的光澤度計是符合國家標準的一級光澤度計。事實上，在各個計量院的檢定工作中，都是采用BYK的光澤度計進行對光澤度校準板的檢定的。對

4、光澤度測量中，習慣分為高、中、低三個光澤度值范圍。理論上，我們只要用兩塊已知標準光澤度值的校準板進行測量就可以知道它的線性關系。但實際情況是理論值和實際值不一定保持如此理想的線性關系。所以我們要通過大量采集光澤度值來進行定標。使用前的注意事項測量主機裝有敏感且精密的光學和電子元件，切勿跌落在地，應避免碰撞和擠壓。把持儀器時，請勿用手接觸測量口。應避免任何外部物體進入測量口。請勿將儀器長時間的暴露在直射日光中。勿將儀器放置在高溫和多灰塵的環境中。儀器不用時，請放置在隨機供應的攜帶箱中。請避免長期的高濕度及水氣凝結請保護測量主機不接觸潮濕，化學品和腐蝕氣體。主機底座和外殼能耐數種溶劑。但我們不能保

5、證能耐所有溶劑。應該用柔軟的濕布來清潔。要清潔特別的污漬，請使用乙醇或清潔劑。不要使用任何酮類溶劑！如果長時間的不使用測量主機，請取出電池，防止電池漏液進而損壞儀器。1.模式滾輪：用來打開儀器和菜單選擇2.引導用戶使用和顯示測量值的顯示屏3.綠色指示燈：實施測量指示；紅色時：出錯4.操作按鈕（測量按鈕）：用來實施測量5.保護底座6.定標標準板7.測量位置標志8.連接到計算機的接口 Sample mode 樣品測量模式：不帶統計評估的測量 Statistics 統計測量模式：帶統計的多次測量 Continuous 連續測量模式：自動反復的測量 Basic mode 基本測量模式：沒有儲存/差值

6、Advanced mode 高級測量模式：重開”模式“菜單，激活所有菜單和功能 在統計測量模式中，你可以進行每個樣品上的多次測量。這些測量會被統計評估并顯示。 測量結果可被儲存和與標準作比較。這些功能必須預先選擇并被激活。啟用儲存功能時，在樣品上的所有測量后會提示名稱。你可直接確認或更改該名稱。 啟用統計功能時，在按下滾輪后根據場合可得到各種附加功能。 Main menu Mode Statistics 測量結果可被儲存和與標準（目標值）作比較，操作如下： Main menu Save Input name Difference Statistics Number of meas 確定 Dis

7、play Exit block Delete block Delete meas 該功能使你能連續進行多達99次的測量，測量間隔時間可調。當你在大面積樣品上評估表面一致性時可用該功能 如果選擇該功能，首先會要求你輸入測量間隔的時間。間隔的最長可能時間是9秒設置為0秒時指示為最短的測量間隔。設為1時，測量的間隔時間約為每一角度0.5秒 Main menu Mode Continuous Measuring interval 確定 在基本測量模式中，只有最基本的選項可供選擇。在該模式中最大程度的簡化了操作 你可以選擇角度和實施定標。另外，可得到所有設置菜單中的功能 選擇測量角度只能用在三角度光澤儀

8、上。你可以在測量顯示中選擇要顯示一個或多個Main menu Geometry 20 60 85 2060 60 85 20 6085 此功能能儲存多達999個測量值，儲存功能可用于樣品測量模式，統計測量模式和連續測量模式。在一個記憶區中，可以更改測量模式和標準（目標值），但是不能更改角度。（具體操作方法請參考技術說明書） Select memory 選擇記憶：從表中選擇記憶 Creat memory 創建記憶：能創建50個記憶 Delete memory 清除記憶：不能清除預設記憶（M60） Display memory 顯示記憶：喚出記憶內容（使用滾輪）Difference 差值：開啟或關

9、閉差值測量模式Measure reference 測量標準：測量標準（目標值）Select reference 選擇標準：從表中選擇標準選擇一個已有的標準 顯示目標值 最大值 最小值 如未設定則以0.0 或2000顯示Create reference 創建標準： 此項可以通過滾輪輸入標準值 最大值 最小值來定義一個標準值Delete reference 清除標準：清除個別標準Change reference 更改標準：輸入或改變合格/不合格的允差值 Main menu Difference Measure Reference 命名 確定 Main menu Difference Create

10、Reference 命名 Define reference 校標 安裝有玻璃標準板的底座用來校標。要始終將測量主機存放在底座里。這樣能保護測量光學系統并確保標準板隨時可用 假如你有數臺這種類型的儀器，你必須使用在攜帶箱內屬于這臺儀器的底座（可對照系列號）。當你將儀器放入底座時，請確保儀器緊密的平躺在里面。Calibration 校標 calibrate 校標 scale 標尺單位 change cal.values 更改校標值 state 狀態 Main menu calibration Change cal.values 選擇更改角度 輸入新的 校標值 確認 要確保正確的校標，要使用生產商供

11、應的標準板。他們都對照原始標準板定過標。請勿觸摸標準板的表面并必須加以保護以免劃傷。然而由于環境的影響，即使處理的非常得當，過一段時間后標準板的光澤值會發生變化，因此應該由生產商定期對標準版進行定標（一般需要一年進行一次）。 每次在底座里打開儀器時，他先進行自我測試。在測試中，對照已儲存的校標資料，對測量信號中的任何變化都進行測試。這能允許一個長時間的校標，即大約每周才需要一次新的校標。除此之外，當氣候有較大變化時才需要校標。建議每日進行一次在底座內的自我測試Date/time 日期/時間Display time 顯示持續時間(無操作關機 時間)Language 設置語言Info 信息(產品說明書編號/儀 器系列號/版本/生產商定標日期/上一次校標日期/上一次頒證日期) 根據標準，反射儀的值與一種黑色的玻璃標準板有關，這種玻璃板具有指定的反射率（通常為1.567），相等于100單位。 反射儀以光源入射的角度來區分。標準中設定的角度為20，60，85。 根據應用的領域，不同角度的使用按以下來劃分： 半光澤的表面用入射光為60來測量，光澤范圍應在10到70個光澤單位。 對于在60時測量值超過70單位的高反射表面，應該使用20來測量。 反之，對于平光的表面，光澤在10單位（60時）以下時，應該采用85來測量。 只有在平整的表面上才能實施合適的測量。 在污垢的，劃傷的或者其它