1、精選學習資料 - - - 歡迎下載材料分析試題庫挑選題：一.1. m 層電子回遷到k 層后,余外的能量放出的特點x 射線稱（b）a.k； b. k； c. k； d. l；2. 當 x 射線發生裝置為cu 靶,濾波片應選（c ）a cu； b. fe；c. ni； d. mo；3. 當電子把全部能量都轉換為x 射線時,該x 射線波長稱（a）a.短波限 0； b. 激發限 k；c.吸取限； d.特點 x 射線4. 當 x 射線將某物質原子的k 層電子打出去后,l 層電子回遷k 層,余外能量將另一個l 層電子打出核外,這整個過程將產生（d）a.光電子； b. 二次熒光； c. 俄歇電子； d. （

2、 a+c）二.1. 最常用的x 射線衍射方法為（b）；a.勞厄法； b.粉末法； c.周轉晶體法；d.德拜法；2. 射線衍射方法中,試樣為單晶體的為（d ）a.勞埃法b.周轉晶體法c.平面底片照相法d. a 和 b3. 晶體屬于立方晶系,一晶面截x 軸于 a/2 .y 軸于 b/3 .z 軸于 c/4 ,就該晶面的指標為（ b ）a.364b.234c .213d.4684. 立方晶系中,指數相同的晶面和晶向（b ）a.相互平行b.相互垂直c.成肯定角度范疇d.無必定聯系5. 晶面指數（ 111）與晶向指數（111）的關系為（c）；a. 垂直；b.平行；c.不肯定；6. 在正方晶系中,晶面指數

3、100 包括幾個晶面（b）；a. 6；b. 4；c. 2d. 1；7. 用來進行晶體結構分析的x 射線學分支為（b ）a.x 射線透射學； b.x 射線衍射學；c.x射線光譜學；d.其它三.1.對于簡潔點陣結構的晶體,系統消光的條件為（a）a.不存在系統消光b. h+k 為奇數c.h+k+l 為奇數d.h.k. l 為異性數2.立方晶系 100 晶面的多重性因子為（d）a.2b. 3c.4d.63.洛倫茲因子中,第一幾何因子反映的為（a ）a.晶粒大小對衍射強度的影響b.參與衍射晶粒數目對衍射強度的影響c.衍射線位置對衍射強度的影響d.試樣外形對衍射強度的影響4.洛倫茲因子中,其次幾何因子反映

4、的為（b ）a.晶粒大小對衍射強度的影響b.參與衍射晶粒數目對衍射強度的影響c.衍射線位置對衍射強度的影響d.試樣外形對衍射強度的影響5.洛倫茲因子中,第三幾何因子反映的為（c ）a.晶粒大小對衍射強度的影響b.參與衍射晶粒數目對衍射強度的影響c.衍射線位置對衍射強度的影響d.試樣外形對衍射強度的影響6.對于底心斜方晶體,產生系統消光的晶面有（c）a.112b.113 c .101d. 111精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載7.對于面心立方晶體,產生系統消光的晶面有（c）a.200 b . 220c.112d. 1118.熱振動對x-ray衍射的影響中不正確選項（e）a.溫度上升

5、引起晶胞膨脹b.使衍射線強度減小c.產生熱漫散射d.轉變布拉格角 e .熱振動在高衍射角所降低的衍射強度較低角下小9.將等同晶面個數對衍射強度的影響因子稱為（c）a.結構因子b.角因子c.多重性因子d.吸取因子四.1.衍射儀的測角儀在工作時,如試樣表面轉到與入射線成30 度角時, 計數管與入射線成多少度角 .（ b）a. 30度；b. 60度；c. 90度；2.不利于提高德拜相機的辨論率的為（d）；a. 采納大的相機半徑；b.采納 x 射線較長的波長；c.選用大的衍射角；d.選用面間距較大的衍射面；3.德拜法中有利于提高測量精度的底片安裝方法為（c）a.正裝法b.反裝法c.偏裝法d.以上均可4

6、.樣品臺和測角儀機械連動時,計數器與試樣的轉速關系為（b）a.11b.2 1c. 12d.沒有確定比例5.關于相機辨論率的影響因素表達錯誤選項（c）a.相機半徑越大,辨論率越高b.角越大,辨論率越高c.x 射線波長越小,辨論率越高d.晶面間距越大,辨論率越低6.粉末照相法所用的試樣外形為（c ）a.塊狀b.分散c.圓柱形d.任意外形7.低角的弧線接近中心孔,高角線靠近端部的底片安裝方法為（a）a.正裝法b.反裝法c.偏裝法d.任意安裝都可8.以氣體電離為基礎制造的計數器為（d ）a.正比計數器b.蓋革計數器c.閃耀計數器d.a 和 b9.利用 x 射線激發某種物質會產生可見的熒光,而且熒光的多

7、少與x 射線強度成正比的特性而制造的計數器為（c）a.正比計數器b.蓋革計數器c.閃耀計數器d.鋰漂移硅檢測器五.1.測定鋼中的奧氏體含量,如采納定量x 射線物相分析,常用方法為（c）；a. 外標法； b.內標法； c.直接比較法；d. k 值法；2.x 射線物相定性分析時,如已知材料的物相可以查（c）進行核對；a.哈氏無機數值索引；b.芬克無機數值索引；c. 戴維無機字母索引；d. a 或 b ；3.pdf卡片中,數據最牢靠的用（b ）表示a.ib.c.d.c4.pdf卡片中,數據牢靠程度最低的用（c ）表示a.ib.c.d.c5.將所需物相的純物質另外單獨標定,然后與多項混合物中待測相的相

8、應衍射線強度相比較而進行的定量分析方法稱為（a ）a.外標法b.內標法c.直接比較法d.k 值法6.在待測試樣中摻入肯定含量的標準物質,把試樣中待測相的某根衍射線條強度與摻入試樣中含量已知的標準物質的某根衍射線條相比較,從而獲得待測相含量的定量分析方法稱為（ b ）a.外標法b.內標法c.直接比較法d.k 值法九.1. 透射電子顯微鏡中可以排除的像差為（b ）； a球差； b. 像散 ； c. 色差；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載2.由于電磁透鏡中心區域和邊緣區域對電子折射才能不同而造成的像差稱為（a ）a.球差b.像散c.色差d.背散3.由于透鏡磁場非旋轉對稱而引起的像差稱為

9、（b ）a.球差b.像散c.色差d.背散4.由于入射電子波長的非單一性造成的像差稱為（c ）a.球差b.像散c.色差d.背散5.制造出世界上第一臺透射電子顯微鏡的為（b ）a.德布羅意b.魯斯卡c.德拜d.布拉格十.1.透射電鏡中電子槍的作用為（a ）a.電子源b.會聚電子束c.形成第一副高辨論率電子顯微圖像d.進一步放大物 鏡像2.透射電鏡中聚光鏡的作用為（b ）a.電子源b.會聚電子束c.形成第一副高辨論率電子顯微圖像d.進一步放大物 鏡像3.透射電鏡中物鏡的作用為（c ）a.電子源b.會聚電子束c.形成第一副高辨論率電子顯微圖像d.進一步放大物 鏡像4.透射電鏡中電中間鏡的作用為（d ）

10、a.電子源b.會聚電子束c.形成第一副高辨論率電子顯微圖像d.進一步放大物 鏡像5.能提高透射電鏡成像襯度的光闌為（b）a.其次聚光鏡光闌b.物鏡光闌c.選區光闌d.索拉光闌6.物鏡光闌安放在（c ）a.物鏡的物平面b.物鏡的像平面c.物鏡的背焦面d.物鏡的前焦面7.選區光闌在tem 鏡筒中的位置為（b ）a.物鏡的物平面b.物鏡的像平面c.物鏡的背焦面d.物鏡的前焦面8.電子衍射成像時為將（a）a.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合b.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合 c.關閉中間鏡d.關閉物鏡9.透射電鏡成形貌像時為將（b）a.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合b.中間鏡的物平面與與物鏡

11、的像平面重合c.關閉中間鏡d.關閉物鏡10.為了減小物鏡的球差,往往在物鏡的背焦面上安放一個（b ）a.其次聚光鏡光闌b.物鏡光闌c.選區光闌d.索拉光闌11.如 h-800 電鏡的最高辨論率為0.5nm ,那么這臺電鏡的有效放大倍數為（c）；a. 1000； b. 10000； c. 40000； d.600000；十二.1.單晶體電子衍射花樣為（a）；a. 規章的平行四邊形斑點；b. 同心圓環； c. 暈環； d.不規章斑點；2. 薄片狀晶體的倒易點外形為（c）；a. 尺寸很小的倒易點；b. 尺寸很大的球；c. 有肯定長度的倒易桿；d. 倒易圓盤；3. 當偏離矢量s<0 時,倒易點為

12、在厄瓦爾德球的（a）；a. 球面外； b. 球面上； c. 球面內； d. b+c；4. 能幫忙排除180o不唯獨性的復雜衍射花樣為（a ） ；a. 高階勞厄斑； b. 超結構斑點； c. 二次衍射斑； d. 孿晶斑點；5. 菊池線可以幫忙（d ） ；a. 估量樣品的厚度；b. 確定 180o不唯獨性； c. 鑒別有序固溶體；d. 精確測定晶體取向；6. 假如單晶體衍射花樣為正六邊形,那么晶體結構為（d）；a. 六方結構； b. 立方結構； c. 四方結構； d. a 或 b；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載7.有一倒易矢量為g2a2bc,與它對應的正空間晶面為（c）；a. （2

13、10）； b. （ 220）； c. （ 221）；d. （ 110）；十三.1.將某一衍射斑點移到熒光屏中心并用物鏡光欄套住該衍射斑點成像,這為（c ）；a. 明場像； b. 暗場像； c. 中心暗場像；d.弱束暗場像；2. 當 t=5s/2 時,衍射強度為（d）；a.ig=0； b. ig<0； c. ig>0； d. ig=imax；3. 已知一位錯線在挑選操作反射g1=（110）和 g2=（ 111）時,位錯不行見,那么它的布氏矢量為（b）；a. b=（ 0 -1 0）； b. b=（ 1 -1 0）；c. b=（ 0 -1 1）； d. b=（ 0 1 0）；4. 當其次

14、相粒子與基體呈共格關系時,此時的成像襯度為（c）；a. 質厚襯度； b. 衍襯襯度； c. 應變場襯度； d. 相位襯度；5.當其次相粒子與基體呈共格關系時,此時所看到的粒子大小（b）；a. 小于真實粒子大小；b. 為應變場大小；c. 與真實粒子一樣大小；d. 遠遠大于真實粒子；6.中心暗場像的成像操作方法為（c ） ；a以物鏡光欄套住透射斑；b以物鏡光欄套住衍射斑；c將衍射斑移至中心并以物鏡光欄套住透射斑；十四.1.僅僅反映固體樣品表面形貌信息的物理信號為（b）；a. 背散射電子； b. 二次電子； c. 吸取電子； d.透射電子；2.在掃描電子顯微鏡中,以下二次電子像襯度最亮的區域為（b

15、） ；a.和電子束垂直的表面；b. 和電子束成30o的表面； c. 和電子束成45o的表面； d. 和電子束成 60o的表面；3.可以探測表面1nm 層厚的樣品成分信息的物理信號為（d）；a. 背散射電子； b. 吸取電子； c. 特點 x 射線； d. 俄歇電子；十五.1.掃描電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器為（b ）；a. 波譜儀； b. 能譜儀； c. 俄歇電子譜儀；d. 特點電子能量缺失譜；2.波譜儀與能譜儀相比,能譜儀最大的優點為（a ） ；a. 快速高效； b. 精度高； c. 沒有機械傳動部件；d. 價格廉價；3.要分析基體中碳含量,一般應選用（a）電子探針儀,a. 波

16、譜儀型b.能譜儀型填空：一.1. 當 x 射線管電壓超過臨界電壓就可以產生連續x射線和標識x射線；2. 當 x 射線管電壓低于臨界電壓僅產生連續x 射線；當x 射線管電壓超過臨界電壓就可以產生連續x 射線和特點x 射線；3. 特點 x 射線的產生過程中,如k 層產生空位,由l 層和 m層電子向k 層躍遷產生的k 系特點輻射按次序稱k 射線和 k射線；4. x射線的本質既具有波動性也具有粒子性,具有波粒二象性；5. 短波長的x 射線稱硬 x 射線,常用于金屬部件的無損探傷；長波長的x 射線稱軟 x 射線,常用于醫學透視上；6. 連續譜短波限只與管電壓有關；7. 特點 x 射線譜的頻率或波長只取決

17、于陽極靶物質的原子能級結構；二.1.本質上說, x 射線的衍射為由大量原子參與的一種散射現象；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載2.布拉格方程在試驗上的兩種用途為結構分析和x 射線光譜學；3.粉末法中晶體為多晶體,不變化,變化；4.平面底片照相法可以分為透射和背射兩種方法；5.平面底片照相方法適用于討論晶粒大小.擇優取向以及點陣常數精確測定方面；三.1.原子序數z 越小,非相干散射越強；2.結構因子與晶胞的外形和大小無關；3.熱振動給x 射線的衍射帶來很多影響有：溫度上升引起晶胞膨脹.衍射線強度減小.產生向各個方向散射的非相干散射；4.衍射強度公式不適用于存在織構組織；5.結構因子

18、 =0 時,沒有衍射我們稱系統消光或 結構消光；對于有序固溶體,原本消光的地方會顯現弱衍射；6.影響衍射強度的因素除結構因子外仍有角因子,多重性因子, 吸取因子, 溫 度因子 ；四.1. 在肯定的情形下,90 度, sin 0；所以精確測定點陣常數應挑選 高角度衍射線；2. 德拜照相法中的底片安裝方法有:正裝法、 反裝法和偏裝法三種；3. 在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜 - 謝樂法. 聚焦照相法和 針 孔法；4. 德拜相機有兩種,直徑分別為57.3mm和 114.6mm；測量角時,底片上每毫米對應2o和1 o ；5. 衍射儀的核心為測角儀圓,它由輻射源.試樣臺和探測器共同組成；6. 可以用作

19、x 射線探測器的有正比計數器. 蓋革計數器和 閃耀計數器等；7. 影響衍射儀試驗結果的參數有狹縫光闌.時間常數和掃面速度等；五.1.x 射線物相分析包括定性分析和 定量分析,而定性分析更常用更廣泛；2.x 射線物相定量分析方法有外標法. 內標法. 直接比較法等；3.定量分析的基本任務為確定混合物中各相的相對含量；4.內標法僅限于粉末試樣；九.1.電磁透鏡的像差包括球差. 像散和 色差；2.透射電子顯微鏡的辨論率主要受衍射效應和球面像差兩因素影響；3.透射電子顯微鏡中用磁場來使電子聚焦成像的裝置為電磁透鏡；4.像差分為兩類,即幾何像差和色差；十.1.tem中的透鏡有兩種,分別為靜電透鏡和電磁透鏡

20、；2.tem 中的三個可動光欄分別為聚光鏡光欄位于其次聚光鏡焦點上,物鏡光欄位于物鏡的背焦面上,選區光欄位于物鏡的像平面上； 3.tem成像系統由物鏡.中間鏡和投影鏡組成；4.透射電鏡主要由電子光學系統、 電源與掌握系統和真空系統三部分組成；5.透射電鏡的電子光學系統分為三部分,即照明系統.成像系統和觀看記錄系統；十一.1.限制復型樣品的辨論率的主要因素為復型材料的粒子尺寸大小；2.今日復型技術主要應用于萃取復型來揭取其次相微小顆粒進行分析；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載3.質厚襯度為建立在非晶體樣品中原子對入射電子的散射和透射電子顯微鏡小孔徑角成像基礎上的成像原理,為說明非晶

21、態樣品電子顯微圖像襯度的理論依據；4.粉末樣品制備方法有膠粉混合法和 支持膜分散粉末法；5.透射電鏡的復型技術主要有一級復型.二級復型和萃取復型三種方法；十二.1.電子衍射和x 射線衍射的不同之處在于入射波長不同.試樣尺寸外形不同,以及樣品對電子和 x 射線的散射才能不同；2.電子衍射產生的復雜衍射花樣為高階勞厄斑.超結構斑點.二次衍射.孿晶斑點和菊池花樣；3.偏離矢量s 的最大值對應倒易桿的長度,它反映的為角偏離布拉格方程的程度；4.單晶體衍射花樣標定中最重要的一步為確定晶體結構；5.二次衍射可以使密排六方.金剛石結構的花樣中在本該消光的位置產生衍射花樣,但體心立方和面心立方結構的花樣中不會

22、產生余外衍射；6.倒易矢量的方向為對應正空間晶面的法線；倒易矢量的長度等于對應晶面間距的倒 數 ；7.只要倒易陣點落在厄瓦爾德球面上,就表示該晶面滿意布拉格條件,能產生衍射；十三.1.運動學理論的兩個基本假設為雙光束近似和柱體近似；2.對于抱負晶體, 當樣品厚度或 偏離矢量連續轉變時襯度像中會顯現等厚消光條紋或 等傾消光條紋；3.對于缺陷晶體,缺陷襯度為由缺陷引起的位移矢量導致衍射波振幅增加了一個附加位相角,但為如附加的位相角=2的整數倍時,缺陷也不產生襯度； 4.一般情形下, 孿晶與層錯的襯度像都為平行直線,但孿晶的平行線間距不等,而層錯的平行線為等間距的；5.實際的位錯線在位錯線像的一側,

23、其寬度也大大小于位錯線像的寬度,這為由于位錯線像的寬度為應變場寬度；十四.1.電子束與固體樣品相互作用可以產生背散射電子. 二次電子.透射電子. 特點 x 射線. 俄歇電子. 吸取電子等物理信號；2.掃描電子顯微鏡的放大倍數為陰極射線電子束在熒光屏上的掃描寬度與電子槍電子束在樣品表面的掃描寬度的比值；在襯度像上顆粒.凸起的棱角為亮 襯度,而裂紋. 凹坑就為暗 襯度；3.辨論率最高的物理信號為俄歇電子或二次電子為 5 nm ,辨論率最低的物理信號為特點 x 射線為 100nm以上；4.掃描電鏡的辨論率為指二次電子信號成像時的辨論率5.掃描電子顯微鏡可以替代金相顯微鏡進行材料金相觀看, 也可以對斷

24、口進行分析觀看； 6.掃描電子顯微鏡常用的信號為二次電子和背散射電子；7.掃描電子顯微鏡為電子光學系統,信號收集處理.圖像顯示和記錄系統,真空系統三個基本部分組成； 8. 電子光學系統包括電子槍.電磁透鏡.掃描線圈和樣品室；十五.1.電子探針的功能主要為進行微區成分分析；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載2.電子探針的信號檢測系統為x 射線譜儀, 用來測定特點波長的譜儀叫做波譜儀；用來測定x 射 線 特 征 能 量 的 譜 儀 叫 做 能 量 分 散 譜 儀 ；3.電子探針儀的分析方法有定性分析和定量分析；其中定性分析包括定點分析.線分析.面分析；4.電子探針包括能譜儀和 波 譜儀

25、兩種儀器；判定題：一.1. 激發限與吸取限為一回事,只為從不同角度看問題；（ ）2. 經濾波后的x 射線為相對的單色光； （ ）3. 產生特點 x 射線的前提為原子內層電子被打出核外,原子處于激發狀態；（）4. 挑選濾波片只要依據吸取曲線挑選材料,而不需要考慮厚度；（×）二.1.x 射線衍射與光的反射一樣,只要滿意入射角等于反射角就行；（ ×）2.干涉晶面與實際晶面的區分在于：干涉晶面為虛擬的,指數間存在公約數n；（）3.布拉格方程只涉及x 射線衍射方向,不能反映衍射強度；（）三.1.衍射方向在x 射線波長肯定的情形下取決與晶面間距（）2.在一個晶面族中,等同晶面越多,參與

26、衍射的概率就越大（ ）3.x 射線衍射線的峰寬可以反映出很多晶體信息,峰越寬說明晶粒越大（×）4.原子的熱振動可使x 射線衍射強度增大（× ）5.溫度肯定時,衍射角越大,溫度因子越小,衍射強度隨之減小（）6.布拉格方程只涉及x 射線衍射方向,不能反映衍射強度（）7.衍射角肯定時,溫度越高,溫度因子越小,衍射強度隨之減小（）8.原子的熱振動會產生各個方向散射的相干散射（× ）四.1.大直徑德拜相機可以提高衍射線接受辨論率,縮短嚗光時間；（ × ）2.在衍射儀法中,衍射幾何包括二個圓；一個為測角儀圓,另一個為輻射源.探測器與試樣三者仍必需位于同一聚焦圓；（

27、）3.德拜法比衍射儀法測量衍射強度更精確；（ × ）4. 衍射儀法和德拜法一樣,對試樣粉末的要求為粒度勻稱.大小適中, 沒有應力；（ ）5. 要精確測量點陣常數；必需第一盡量削減系統誤差,其次選高角度角,最終仍要用直線外推法或柯亨法進行數據處理；（ ）6.粉末照相法所用的粉末試樣顆粒越細越好（× ）7.德拜相機的底片安裝方式中,正裝法多用于點陣常數的確定（× ）8.依據不消光晶面的n 值比值可以確定晶體結構（ ）9.為了提高德拜相機的辨論率,在條件答應的情形下,應盡量采納波長較長的x-ray源（ ） 10.在分析大晶胞的試樣時,應盡可能選用波長較長的x-ray源,

28、 以便抵償由于晶胞過大對辨論率的不良影響（ ） 11.挑選小的接受光闌狹縫寬度,可以提高接受辨論率,但會降低接受強度（ ） 五 . 1.x 射線衍射之所以可以進行物相定性分析,為由于沒有兩種物相的衍射花樣為完全相同的；（ ） 2.理論上x 射線物相定性分析可以告知我們被測材料中有哪些物相,而定量分析可以告知我們這些物相的含量有多少；（ ）3.各相的衍射線條的強度隨著該相在混合物中的相對含量的增加而增強（ ）4.內標法僅限于粉末試樣（ ）精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載5.哈氏索引和芬克索引均屬于數值索引（ ）6.pdf索引中晶面間距數值下腳標的x 表示該線條的衍射強度待定（

29、15; ）7.pdf卡片的右上角標有說明數據牢靠性高（ ）8.多相物質的衍射花樣相互獨立,互不干擾（× ）9.物相定性分析時的試樣制備,必需將擇優取向減至最小（）九.1.tem的辨論率既受衍射效應影響,也受透鏡的像差影響；（ ）2.孔徑半角為影響辨論率的重要因素,tem中的角越小越好； （ × ）3.tem 中主要為電磁透鏡,由于電磁透鏡不存在凹透鏡,所以不能象光學顯微鏡那樣通過凹凸鏡的組合設計來減小或排除像差,故tem中的像差都為不行排除的；（×）4.tem的景深和焦長隨辨論率r0 的數值減小而減小；隨孔徑半角的減小而增加；隨放大倍數的提高而減小； （ 

30、5; ）5.電磁透鏡的景深和焦長隨辨論率r0的數值減小而減小；隨孔徑半角的減小而增加（ ）6.光學顯微鏡的辨論率取決與照明光源的波長,波長越短,辨論率越高（）7.波長越短, 顯微鏡的辨論率越高, 因此可以采納波長較短的射線作為照明光源；（× ）8.用小孔徑角成像時可使球差明顯減小；（ ）9.限制電磁透鏡辨論率的最主要因素為色差；（ × ）10.電磁透鏡的景深越大,對聚焦操作越有利；（ ）十.1.有效放大倍數與儀器可以達到的放大倍數不同,前者取決于儀器辨論率和人眼辨論率,后者僅僅為儀器的制造水平；（ ）2.物鏡的辨論率主要打算于極靴的外形和加工精度（ ）3.物鏡光闌可以減小像

31、差但不能提高圖像的襯度（×）4.物鏡光闌孔越小,被擋去的電子越多,圖像的襯度越大（）5.物鏡光闌能使物鏡孔徑角減小,能減小像差,得到質量較高的圖像（）6.物鏡光闌為沒有磁性的（）7.利用電子顯微鏡進行圖像分析時,物鏡和樣品之間的距離為固定不變的（ ）十二.1.多晶衍射環和粉末德拜衍射花樣一樣,隨著環直徑增大, 衍射晶面指數也由低到高； （）2.單晶衍射花樣中的全部斑點同屬于一個晶帶；（×）3.偏離矢量s=0 時,衍射斑點最亮；這為由于s=0 時為精確滿意布拉格方程,所以衍射強度最大；（ ）4.對于未知晶體結構,僅憑一張衍射花樣為不能確定其晶體結構的；仍要從不同位向拍照多幅衍

32、射花樣,并依據材料成分.加工歷史等或結合其它方法綜合判定晶體結構；（）5.電子衍射和x 射線衍射一樣必需嚴格符合布拉格方程；（×）6.倒易矢量能唯獨地代表對應的正空間晶面；（）十三.1.實際電鏡樣品的厚度很小時、能近似滿意衍襯運動學理論的條件、這時運動學理論能很好地說明襯度像； （ ）2.厚樣品中存在消光距離g,薄樣品中就不存在消光距離g；（ ×）3.明場像為質厚襯度,暗場像為衍襯襯度；（ ×）4.晶體中只要有缺陷,用透射電鏡就可以觀看到這個缺陷；（ ×）5.等厚消光條紋和等傾消光條紋通常為形貌觀看中的干擾,應當通過更好的制樣來防止它們的顯現；（ 

33、15;）十四.1.掃描電子顯微鏡中的物鏡與透射電子顯微鏡的物鏡一樣；（×）2.掃描電子顯微鏡的辨論率主要取決于物理信號而不為衍射效應和球差；（）精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載3.掃描電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決于質厚襯度和衍射襯度；（×）4.掃描電子顯微鏡具有大的景深,所以它可以用來進行斷口形貌的分析觀看；（）十五.1.波譜儀為逐一接收元素的特點波進步行成分分析；能譜儀為同時接收全部元素的特點x射線進行成分分析的； （ ）名詞說明：0.系統消光： 因原子在晶體中位置不同或原子種類不同而引起的某些方向上衍射線消逝的現象；1.結構因子： 定量表征原子排布以

34、及原子種類對衍射強度影響規律的參數；2. hanawalt索引： 數字索引的一種, 每種物質的全部衍射峰之中,必定有三個 峰的強度最大 而非面網間距最大 ； 把這三個強度最大的峰,按肯定的規律排序,就構成了 hanawalt 排序和索引方法；排序時,考慮到影響強度的因素比較復雜,為了削減因強度測量的差異而帶來的查找困難,索引中將每種物質列出三次；數據檢索時, 按實際衍射圖譜中的3 強峰進行數據檢索, 即可找到對應的衍射卡片；3. 直接比較法：將試樣中待測相某跟衍射線的強度與另一相的某根衍射線強度相比較的定量金相分析方法；4. 球差：即球面像差, 為由于電磁透鏡的中心區域和邊緣區域對電子的折射才

35、能不同造成的； 軸上物點發出的光束, 經電子光學系統以后, 與光軸成不同角度的光線交光軸于不同位置,因此,在像面上形成一個圓形彌散斑,這就為球差；像散：由透鏡磁場的非旋轉對稱引起的像差；色差： 由于電子的波長或能量非單一性所引起的像差,它與多色光相像,所以叫做色差；5. 景深： 透鏡物平面答應的軸向偏差；焦長：透鏡像平面答應的軸向偏差；在成一幅清楚像的前提下, 像平面不變,景物沿光軸前后移動的距離稱 “景深”；景物不動,像平面沿光軸前后移動的距離稱“焦長”；6. ariy斑： 物體上的物點通過透鏡成像時,由于衍射效應,在像平面上得到的并不為一個點, 而為一個中心最亮. 四周帶有明暗相間同心圓環

36、的圓斑,即所謂airy斑；7. 孔徑半角： 孔徑半角為物鏡孔徑角的一半, 而物鏡孔徑角為物鏡光軸上的物體點與物鏡前透鏡的有效直徑所形成的角度； 因此,孔徑半角為物鏡光軸上的物體點與物鏡前透鏡的有效直徑所形成的角度的一半；8. 點辨論率與晶格辨論率：點辨論率為電鏡能夠辨論的兩個物點間的最小間距；晶格辨論率為能夠辨論的具有最小面間距的晶格像的晶面間距；9. 選區衍射： 為了分析樣品上的一個微小區域,在樣品上放一個選區光闌,使電子束只能通過光闌孔限定的微區,對這個微區進行衍射分析；10. 有效放大倍數： 把顯微鏡最大辨論率放大到人眼的辨論本事（0.2mm）,讓人眼能辨論的放大倍數,即眼睛辨論率/ 顯

37、微鏡辨論率；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載11. 質厚襯度： 由于試樣的質量和厚度不同,各部分對入射電子發生相互作用,產生的吸取與散射程度不同,而使得透射電子束的強度分布不同,形成反差, 稱為質- 厚襯度；12. 偏離矢量 s：倒易桿中心至與愛瓦爾德球面交截點的距離可用矢量s 表示, s就為偏離矢量；13. 晶帶定律：凡為屬于 uvw 晶帶的晶面,它的晶面指數hkl都必需符合hu+kv+lw=0,通常把這種關系式稱為晶帶定律；14. 相機常數： 定義 k=l,稱相機常數,其中l 為鏡筒長度,為電子波長；15. 明場像： 讓透射束通過物鏡光闌而把衍射束擋掉得到圖像襯度的方法,叫明

38、場成像,所得到的像叫明場像；16. 暗場像： 用物鏡光闌攔住透射束及其余衍射束,而只讓一束強衍射束通過光闌參與成像的方法,稱為暗場成像,所得圖象為暗場像；17. 中心暗場像： 用物鏡光闌攔住透射束及其余衍射束,而只讓一束強衍射束通過光闌參與成像的方法, 稱為暗場成像, 所得圖象為暗場像； 假如物鏡光闌處于光軸位置,所得圖象為中心暗場像；18. 消光距離 g：晶體內透射波與衍射波動力學相互作用,使其強度在晶體深度方向上發生周期性振蕩,振蕩的深度周期叫消光距離；19. 衍射襯度： 入射電子束和薄晶體樣品之間相互作用后,樣品內不同部位組織的成像電子束在像平面上存在強度差別的反映；衍射襯度主要為由于晶

39、體試樣滿意布拉格反射條件程度差異以及結構振幅不同而形成電子圖象反差；20. 背散射電子： 入射電子被樣品原子散射回來的部分；它包括彈性散射和非彈性散射部分； 背散射電子的作用深度大, 產額大小取決于樣品原子種類和樣品外形；21. 吸取電子：入 射電子進入樣品后,經多次非彈性散射,能量缺失殆盡（假定樣品有足夠厚度,沒有透射電子產生） ,最終被樣品吸取；吸取電流像可以反映原子序數襯度,同樣也可以用來進行定性的微區成分分析；22. 特點 x 射線： 原子的內層電子受到激發以后,在能級躍遷過程中直接釋放的具有特點能量和波長的一種電磁波輻射；利用特點x 射線可以進行成分分析；23. 二次電子： 二次電子

40、為指被入射電子轟擊出來的核外電子；二次電子來自表面 50-100 .的區域,能量為0-50 ev ；它對試樣表面狀態特別敏銳,能有效地顯示試樣表面的微觀形貌；24. 俄歇電子： 假如原子內層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量不以 x 射線的形式釋放, 而為用該能量將核外另一電子打出, 脫離原子變為二次電子, 這種二次電子叫做俄歇電子；俄歇電子信號適用于表層化學成分分析；25. 波譜儀： 電子探針的信號檢測系統為x 射線譜儀,用來測定x 射線特點波長的譜儀叫做波長分散譜儀；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載26. 能譜儀： 電子探針的信號檢測系統為x 射線譜儀,用來測定x 射線特點能量

41、的譜儀叫做能量分散譜儀；問答題：1. 什么叫“相干散射” .“短波限”.吸取限？答：相干散射,物質中的電子在 x 射線電場的作用下,產生強迫振動；這樣每個電子在各方向產生與入射 x 射線同頻率的電磁波； 新的散射波之間發生的干涉現象稱為相干散射；短波限,連續 x 射線譜在短波方向有一個波長極限,稱為短波限 0. 它為由光子一次碰撞就耗盡能量所產生的x 射線；吸取限：主要由于光電效應引起的吸取突然增加所對應的x 射線的波長；2. 分析以下熒光輻射產生的可能性,為什么？（ 1）用 cuk x 射線激發 cuk 熒光輻射；（ 2）用 cuk x 射線激發 cuk 熒光輻射；（ 3）用 cuk x 射

42、線激發 cul 熒光輻射；解：假設 ek 為 k 殼層的能量, el 為 l 殼層的能量, em為 m殼層的能量, cuk x 射線的能量為 ek-el ,cuk x 射線的能量為 ek-em, cuk 熒光輻射的能量為ek-el, cul熒光輻射的能量為el-em,（ 1）不行能,用cuk x 射線激發cuk熒光輻射,需要ek 的能量；（ 2）不行能,用cuk x 射線激發cuk熒光輻射,需要ek 的能量；（ 3）有可能,用cuk x 射線激發cul 熒光輻射,需要el 的能量,詳細能不能仍要比較 ek-el 和 el 的大小；3. 特點 x 射線譜的產生氣理；答：高速運動的粒子（電子或光子

43、）將靶材原子核外電子擊出去,或擊到原子系統外,或填到未滿的高能級上, 原子的系統能量上升, 處于激發態；為趨于穩固,原子系統自發向低能態轉化： 較高能級上的電子向低能級上的空位躍遷,這一降低的能量以一個光子的形式輻射出來變成光子能量,且這降低能量為固定值 （因原子序數固定）,因而固定,所以輻射出特點x 射線譜；4. 布拉格方程 2dsin =中的 d.分別表示什么？布拉格方程式有何用途？答： dhkl表示 hkl晶面的面網間距,角表示拂過角或布拉格角,即入射x 射線或衍射線與面網間的夾角,表示入射x 射線的波長；該公式有二個方面用途：（1）已知晶體的 d 值；通過測量, 求特點 x 射線的,并

44、通過判定產生特點x 射線的元素；這主要應用于 x 射線熒光光譜儀和電子探針中；（2）已知入射 x 射線的波長,通過測量,求晶面間距；并通過晶面間距,測定晶體結構或進行物相分析；5. 給出簡潔立方.面心立方.體心立方.密排六方以及體心四方晶體結構x 衍射發生消光的晶面指數規律；答：常見晶體的結構消光規律簡潔立方對指數沒有限制（不會產生結構消光） ；面心立方h, k, l奇偶混合；體心立方h+k+l=奇數；精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載密排六方h+2k=3n、同時 l= 奇數；體心四方h+k+l=奇數；6. 打算 x 射線強度的關系式為,試說明式中各參數的物理意義 .答： x 射線

45、衍射強度的公式,試中各參數的含義為：i0 為入射 x 射線的強度； 為入射 x 射線的波長；r為試樣到觀測點之間的距離；v為被照耀晶體的體積；vc為單位晶胞體積；p為多重性因子,表示等晶面個數對衍射強度的影響因子；f為結構因子,反映晶體結構中原子位置.種類和個數對晶面的影響因子；a 為吸取因子, 圓筒狀試樣的吸取因子與布拉格角.試樣的線吸取系數l和試樣圓柱體的半徑有關；平板狀試樣吸取因子與有關,而與角無關； 為角因子, 反映樣品中參與衍射的晶粒大小,晶粒數目和衍射線位置對衍射強度的影響；e-2m為溫度因子 =有熱振動影響時的衍射強度無熱振動抱負情形下的衍射強度7. 羅倫茲因數為表示什么對衍射強

46、度的影響？其表達式為綜合了哪幾方面考慮而得出的？答：羅侖茲因數為三種幾何因子對衍射強度的影響,第一種幾何因子表示衍射的晶粒大小對衍射強度的影響, 羅侖茲其次種幾何因子表示晶粒數目對衍射強度的影響,羅侖茲第三種幾何因子表示衍射線位置對衍射強度的影響；8. 試比較衍射儀法與德拜法的優缺點？（ 1）簡便快速（ 2）辨論才能強（ 3）直接獲得強度數據（ 4）低角度區的 2測量范疇大（ 5）樣品用量大（ 6）設備較復雜,成本高；9. 試總結德拜法衍射花樣的背底來源,并提出一些防止和削減背底的措施；答：德拜法衍射花樣的背底來源為入射波的非單色光.進入試樣后誕生的非相干散射.空氣對x 射線的散射.溫度波動引

47、起的熱散射等；實行的措施有盡量使 用單色光.縮短曝光時間.恒溫試驗等；10. 粉末樣品顆粒過大或過小對德拜花樣影響如何？為什么？板狀多晶體樣品晶粒過大或過小對衍射峰形影響又如何？答.粉末樣品顆粒過大會使德拜花樣不連續,或過小, 德拜寬度增大, 不利于分精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載-3析工作的進行； 由于當粉末顆粒過大 （大于 10 cm）時,參與衍射的晶粒數削減,-5精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載會使衍射線條不連續； 不過粉末顆粒過細 （小于 10這些都不利于分析工作；cm）時,會使衍射線條變寬,精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載多晶體的塊狀試樣,

48、 假如晶粒足夠細將得到與粉末試樣相像的結果, 即衍射峰寬化；但晶粒粗大時參與反射的晶面數量有限, 所以發生反射的概率變小, 這樣會使得某些衍射峰強度變小或不顯現；11. 試驗中挑選 x 射線管以及濾波片的原就為什么？已知一個以fe 為主要成分的樣品,試挑選合適的x 射線管和合適的濾波片？答：試驗中挑選 x 射線管的原就為為防止或削減產生熒光輻射,應當防止使用比樣品中主元素的原子序數大26（特殊為 2）的材料作靶材的x 射線管；挑選濾波片的原就為 x 射線分析中, 在 x 射線管與樣品之間一個濾波片, 以濾掉k線；濾波片的材料依靶的材料而定,一般采納比靶材的原子序數小 1 或 2 的材料；分析以

49、鐵為主的樣品,應當選用co 或 fe 靶的 x 射線管,它們的分別相應挑選fe 和 mn為濾波片；12. 電子波有何特點？與可見光有何異同？答：電子波的波長較短, 軸對稱非勻稱磁場能使電子波聚焦；其波長取決于電子運動的速度和質量, 電子波的波長要比可見光小5 個數量級； 兩者都為波, 具有波粒二象性,波的大小.產生方式.聚焦方式等不同；13. 電磁透鏡的像差為怎樣產生的,如何來排除或減小像差？答：電磁透鏡的像差可以分為兩類：幾何像差和色差； 幾何像差為由于投射磁場幾何外形上的缺陷造成的, 色差為由于電子波的波長或能量發生肯定幅度的轉變而造成的；幾何像差主要指球差和像散； 球差為由于電磁透鏡的中

50、心區域和邊緣區域對電子的折射才能不符合預定的規律造成的,像散為由透鏡磁場的非旋轉對稱引起的；排除或減小的方法：球差：減小孔徑半角或縮小焦距均可減小球差,特殊小孔徑半角可使球差明顯減小；像散：引入一個強度和方向都可以調劑的矯正磁場即消像散器予以補償；色差：采納穩固加速電壓的方法有效地較小色差；14. 說明影響光學顯微鏡和電磁透鏡辨論率的關鍵因素為什么？如何提高電磁透鏡的辨論率？答：光學顯微鏡的辨論本事取決于照明光源的波長；電磁透鏡的辨論率由衍射效應和球面像差來打算,球差為限制電磁透鏡辨論本事的主要因素；如只考慮衍射效應, 在照明光源和介質肯定的條件下,孔徑角越大, 透鏡的辨論本事越高； 如同時考

51、慮衍射和球差對辨論率的影響,關鍵在確定電磁透鏡的正確孔徑半角,使衍射效應斑和球差散焦斑的尺寸大小相等；15. 電磁透鏡景深和焦長主要受哪些因素影響？說明電磁透鏡的景深大.焦長長,為什么因素影響的結果？假設電磁透鏡沒有像差,也沒有衍射airy斑,即辨論率極高,此時景深和焦長如何？精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載答：電磁透鏡景深與辨論本事dfr0 .孔徑半角之間關系：2r0 tg2r0 .表精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載明孔徑半角越小. 景深越大； 透鏡集長d l 與辨論本事r0 ,像點所張孔徑半角精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載d2r0 m2r0 m2r02精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎下載l的關系：tand l,m ,m,m為透鏡放大倍精品學習資料精選學習資料 - - - 歡迎