ICS7704099

CCSH.21.

中華人民共和國國家標準

GB/T45325—2025

貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長度測定

掃描電鏡法

Determinationoflengthofheataffectedzoneforpreciousmetalbondingwire—

Scanningelectronmicroscopemethod

2025-02-28發(fā)布2025-09-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T45325—2025

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出

。

本文件由全國有色金屬標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC243)。

本文件起草單位貴研檢測科技云南有限公司北京達博有色金屬焊料有限責任公司貴研半導

:()、、

體材料云南有限公司煙臺一諾電子材料有限公司國合通用青島測試評價有限公司郴州市產(chǎn)商

()、、()、

品質(zhì)量監(jiān)督檢驗所云南貴金屬實驗室有限公司有色金屬技術(shù)經(jīng)濟研究院有限責任公司北京有色金

、、、

屬與稀土應用研究所有限公司浙江佳博科技股份有限公司

、。

本文件主要起草人王一晴毛端趙萬春陳雯陳國華周文艷向磊朱武勛閆茹林良齊岳峰

:、、、、、、、、、、、

薛子夜張曉辰張卓佳劉潔畢勤嵩袁曉虹梁辰金婭秋趙義東

、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T45325—2025

貴金屬鍵合絲熱影響區(qū)長度測定

掃描電鏡法

1范圍

本文件描述了各類貴金屬鍵合絲以下簡稱鍵合絲熱影響區(qū)長度的掃描電鏡測定方法

(“”)。

本文件方法一適用于鍵合金絲熱影響區(qū)長度的測定

。

本文件方法二適用于直徑不超過的純金屬合金或復合類鍵合絲的熱影響區(qū)長度測定

50μm、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語

GB/T23414—2009

貴金屬復合材料覆層厚度的掃描電鏡測定方法

GB/T38783—2020

3術(shù)語和定義

界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T23414—2009。

31

.

自由空氣球freeairballFAB

;

引線鍵合燒球階段高壓電弧擊穿空氣并放出大量的熱使鍵合絲末端熔化冷卻時由于表面張力

,,,

作用使鍵合絲末端形成的一個金屬圓球

。

32

.

熱影響區(qū)heataffectedzoneHAZ

;

引線鍵合燒球過程中高溫熔化鍵合絲末端形成自由空氣球同時熱量傳導使鍵合絲近

,(FAB),

區(qū)域發(fā)生再結(jié)晶及晶粒長大現(xiàn)象的區(qū)域

FAB。

33

.

聚焦離子束focusedionbeamFIB

;

將離子源通過離子槍加速電磁透鏡聚焦后形成的離子束流

、。

來源有修改

[:GB/T38783—2020,3.1,]

34

.

雙束電子顯微鏡dualbeamelectronmicroscope

由聚焦離子束與掃描電子顯微鏡結(jié)合而成的雙束電子束離子束系統(tǒng)

(/)。

來源有修改

[:GB/T38783—2020,3.2,]

35

.

氣體注入系統(tǒng)gasinjectionsystemGIS