ICS

31.260

CCS

L51

中華人民共和國國家標準

GB/T41869.4—2024

光學和光子學微透鏡陣列

第4部分：幾何特性測試方法

Opticsandphotonics—Microlensarrays—

Part4：Testmethodsforgeometricalproperties

（ISO14880?4:2006，MOD）

2024-11-28發布2025-03-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T41869.4—2024

目次

前言

·····································································································

Ⅲ

引言

·····································································································

Ⅴ

1

范圍

··································································································

1

2

規范性引用文件

······················································································

1

3

術語和定義

···························································································

1

4

坐標系

································································································

2

5

樣品準備

······························································································

2

6

間距和表面浮雕深度的測量

··········································································

3

7

厚度的測量

···························································································

7

8

曲率半徑的測量

······················································································

8

9

測試結果和不確定度

················································································

10

10

測試報告

···························································································

10

附錄A（資料性）微透鏡陣列間距的均勻性測試

···················································

12

附錄B（規范性）基于斐索干涉儀的曲率半徑測試方法

············································

15

參考文獻

································································································

17

Ⅰ

GB/T41869.4—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規則》的規

定起草。

本文件是GB/T41869《光學和光子學微透鏡陣列》的第4部分，GB/T41869已經發布了以下

部分：

—第1部分：術語；

—第2部分：波前像差的測試方法；

—第3部分：光學特性測試方法；

—第4部分：幾何特性測試方法。

本文件修改采用ISO14880?4：2006《光學與光子學微透鏡陣列第4部分：幾何特性測試

方法》。

本文件與ISO14880?4：2006相比，做了下述結構調整：

—第5章對應ISO14880?4：2006的5.4；

—6.2.1對應ISO14880?4：2006的5.1.1.1；

—6.2.2對應ISO14880?4：2006的5.1.1.2和5.1.1.3；

—6.2.3對應ISO14880?4：2006的5.1.1.2；

—6.3對應ISO14880?4：2006的5.1.2；

—6.4.1對應ISO14880?4：2006的6.1.1；

—6.4.2對應ISO14880?4：2006的6.1.2；

—7.1對應ISO14880?4：2006的5.2.1；

—7.2、7.3對應ISO14880?4：2006的6.2；

—8.1對應ISO14880?4：2006的5.3.1；

—8.2.1對應ISO14880?4：2006的5.3.2.1；

—8.2.2對應ISO14880?4：2006的5.3.2.2；

—8.3對應ISO14880?4：2006的5.3.2.3；

—8.4對應ISO14880?4：2006的6.3；

—第9章對應ISO14880?4：2006的第7章；

—第10章對應ISO14880?4：2006的第8章；

—附錄A對應ISO14880?4：2006的附錄B；

—附錄B對應ISO14880?4：2006的附錄A。

本文件與ISO14880?4：2006的技術差異及其原因如下：

—用規范性引用的GB/T41869.1—2022代替了ISO14880?1（見第3章），以適應我國的技術

條件；

—刪除了術語“微透鏡陣列厚度”（見ISO14880?4：2006的3.3），以適應我國的技術條件；

—更改了干涉測量方法的要求，并將資料性引用的ISO14880?2和ISO/TR14999?1調整為規范性引

用的GB/T41869.2和ISO/TR14999?1：2005（見8.2.1），以適應我國的技術條件；

—更改了溫度要求（見第5章），在20℃基礎上增加了±2℃的區間，考慮到實際測試中溫度儀器

的誤差對結果的影響；

—增加了“間距和表面浮雕深度的測量”的概述（見6.1），說明了接觸式輪廓儀和共焦顯微鏡

兩種測試方法的適用場景，便于讀者根據實際情況選擇相應的測試方法；

—增加了“共焦顯微鏡測試方法”的測試準備（見6.3.5），為便于讀者理解并操作；

Ⅲ

GB/T41869.4—2024

—增加了測試設備中“共焦顯微鏡和顯微鏡”的制造商和型號（見第10章），以適應我國的技術

條件；

—增加了干涉光學測試方法（見附錄B），以適應我國的技術條件、增加可操作性；

—刪除了“基于斐索干涉儀的曲率半徑測試方法”中的夏克?哈特曼設備（見ISO14880?4：

2006的附錄A），該設備不屬于干涉儀測試設備范疇。

本文件做了下列編輯性改動：

—刪除了3.1的注2；

—刪除了3.2的注3；

—將ISO14880?4：2006中6.1.1的段調整為列項形式表述（見6.4.1）；

—將ISO14880?4：2006中6.3的段調整為列項形式表述（見8.4）。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利，本文件的發布機構不承擔識別專利的責任。

本文件由中國機械工業聯合會提出。

本文件由全國光學和光子學標準化技術委員會（SAC/TC103）歸口。

本文件起草單位：西安應用光學研究所、中國科學院重慶綠色智能技術研究院、西南技術物理研究

所、中國兵器工業標準化研究所、廣東歐譜曼迪科技股份有限公司、浙江偉星光學股份有限公司、艾普

光學科技（廈門）有限公司、深圳市東正光學技術股份有限公司、浙江水晶光電科技股份有限公司、固

高科技股份有限公司。

本文件主要起草人：彭富倫、張為國、葉大華、孟銀霞、任均宇、孟凡萍、汪巘松、吳建斌、

曹毓、金利劍、李澤源、土克旭。

Ⅳ

GB/T41869.4—2024

引言

微透鏡陣列是陣列光學器件中一類重要的光學元件，以單個透鏡，兩個或多個透鏡陣列的形式，廣

泛應用于三維顯示、與陣列光輻射源和光探測器相關的耦合光學、增強液晶顯示和光并行處理器元件。

隨著科技不斷進步，有必要制定一套技術內容與國際接軌的國家標準，這樣既有利于推動我國微透

鏡陣列行業規范有序發展，又能更好地促進相關領域的貿易、交流和技術合作。GB/T41869《光學和

光子學微透鏡陣列》就是在此背景下起草制定的，微透鏡陣列標準擬由以下4個部分組成。

—第1部分：術語。目的在于通過定義微透鏡及其陣列的基本術語，促進微透鏡陣列產品的應

用，有助于科研工作和行業從業者在共同理解的基礎上交流概念。

—第2部分：波前像差的測試方法。目的在于通過規范波前像差的測試方法，明確微透鏡的基本

性能特征。

—第3部分：光學特性測試方法。目的在于通過規范主要光學特性指標的測試方法，提高不同供

應方產品的兼容性和互換性，促進微透鏡陣列技術進步。

—第4部分：幾何特性測試方法。目的在于通過規范主要幾何特性指標的測試方法，規范不同供

應商產品性能的一致性，拓展其應用領域。

Ⅴ

GB/T41869.4—2024

光學和光子學微透鏡陣列

第4部分：幾何特性測試方法

1范圍

本文件描述了測試參數、測試原理、測試設備、測試準備，描述了測試程序及測試結果告等內容。

本文件適用于表面浮雕結構的微透鏡陣列和梯度折射率微透鏡陣列幾何特性的測試。

2規范性引用文件

下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文

件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用

于本文件。

GB/T41869.1—2022光學和光子學微透鏡陣列第1部分：術語（GB/T41869.1—2022,

ISO14880?1:2019，MOD）

GB/T41869.2光學和光子學微透鏡陣列第2部分：波前像差的測試方法（GB/T41869.2