CalibrationSpecificationforSmallanvilmicrometer浙江省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布小測(cè)頭千分尺校準(zhǔn)規(guī)范I (Ⅲ) (1) (1) (2) (2) (2) (3) 6.1環(huán)境條件 6.2校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)設(shè)備 7校準(zhǔn)方法 (5) (6) (7)7.5微分筒錐面的端面至固定套筒刻線面的距離 7.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對(duì)位置 (7) (7)7.8示值變動(dòng)性 (7) （8)7.11示值誤差 7.12細(xì)分誤差 (9)7.13校對(duì)用量桿尺寸和尺寸變動(dòng)量 (9) (9) (10) (14)1小測(cè)頭千分尺校準(zhǔn)規(guī)范凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是小測(cè)頭千分尺是應(yīng)用螺旋副結(jié)構(gòu)，將回轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)變?yōu)橹本€運(yùn)動(dòng)的計(jì)量器具，于測(cè)量各種工件的外尺寸。它由尺架、固定測(cè)砧、測(cè)微螺桿、測(cè)力裝置、鎖緊2小測(cè)頭千分尺的測(cè)力系指測(cè)微螺桿測(cè)量面與量具測(cè)力儀平面接觸時(shí)所作用微分筒刻線寬度為（0.08～0.20）mm,固定套筒上的刻線與微分筒上的刻線32314校準(zhǔn)小測(cè)頭千分尺和校對(duì)用的量桿的室內(nèi)溫度和室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間應(yīng)在2123量具測(cè)力儀MPE：±1.0%45微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻 789平行平晶MPEV0.6～1.0）μm5一般情況下用手感檢查測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)。有異議時(shí)，可按7.1.1測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)，用杠桿千分表校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)，杠桿千分表與測(cè)微7.1.2測(cè)微螺桿的徑向擺動(dòng)，用杠桿千分表校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)，將測(cè)微螺桿伸出尺徑向擺動(dòng)量。徑向擺動(dòng)的校準(zhǔn)應(yīng)在測(cè)微螺桿相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行。此過(guò)程6（0～25）mm的小測(cè)頭千分尺可目力觀察小測(cè)頭千分尺測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的偏移量，測(cè)量上限大于25mm的小測(cè)頭千分尺可借助校對(duì)用量桿進(jìn)行校在檢驗(yàn)平板上用杠桿百分表校準(zhǔn)，校準(zhǔn)時(shí)借所示，調(diào)整夾具使小測(cè)頭千分尺的測(cè)微螺桿與檢驗(yàn)平板工作面平行，然后用杠按上述方法校準(zhǔn)測(cè)砧與測(cè)微螺桿在另一方位上偏移量y,測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量7在工具顯微鏡上校準(zhǔn)。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢3條刻當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套筒任意毫米刻線的小測(cè)頭千分尺平面度用二級(jí)平面平晶以技術(shù)光波法校準(zhǔn)。將平面平晶的測(cè)量面與測(cè)砧的平面研合，其形成的干涉環(huán)或干涉帶的最小數(shù)目為平面度校準(zhǔn)結(jié)8平晶接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)棘輪機(jī)構(gòu)，并輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)平晶，使兩測(cè)量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目調(diào)至最少。分別讀取兩測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)，取兩測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長(zhǎng)值的計(jì)算結(jié)果作為兩測(cè)量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上述程序分別進(jìn)行校準(zhǔn)，取其中最大值作為受檢千分的小測(cè)頭千分尺，用兩測(cè)量面直接接觸調(diào)整零位；對(duì)其他測(cè)量范圍的用校對(duì)量e=Li-Ls>25A＋5.12A＋10.24A＋15.36A＋21.50A＋259小測(cè)頭千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差及變動(dòng)性在光學(xué)計(jì)或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上采用4等量塊以比較法進(jìn)行校準(zhǔn)。對(duì)于平測(cè)量面的校對(duì)用量桿應(yīng)采用球面測(cè)帽在圖6小測(cè)頭千分尺的校準(zhǔn)時(shí)間間隔，由于復(fù)校時(shí)間間隔的長(zhǎng)短是由小測(cè)頭千分尺的使用情況、使用者、小測(cè)頭千分尺本身質(zhì)量等因素所決定的，可根據(jù)實(shí)際A.1概述A.1.3測(cè)量對(duì)象：小測(cè)頭千分尺和數(shù)顯小測(cè)頭千分尺，測(cè)量范圍為(0～100)cLb.αc.ΔtcLb.αb.Δtb（A.1）αc，αb——小測(cè)頭千分尺和量塊的線脹系數(shù)，℃-1；cA.3方差和靈敏度系b基本是采用同一只溫度計(jì)測(cè)量而具有相關(guān)性，其數(shù)學(xué)處理過(guò)令δα=αcαb，δt=ΔtcΔtb得e=Lc-Lb+L.δα.Δt.+L.α.δt24由于各分量彼此獨(dú)立，按不確定度傳播律公式，其輸出量估計(jì)值e的方差為uc2121222u22+c32u32+c42u42(A.4)=u12+(u2)2+(L.Δt)2.u32+(L.α)2.u42A.4.1、測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度u1；A.4.2、量塊引入的不確定度u2；A.4.3、小測(cè)頭千分尺與量塊的線脹系數(shù)差引入的不確定度u3；A.4.4、小測(cè)頭千分尺和量塊的溫度差引入不確定度u4。u(xi)ciu11u2u3L.Δtu4L.αuc=0.57μmu(xi)cicii)u11u2u3L.Δtu4L.αuc=0.81μmA.6.1小測(cè)頭千分尺測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度分量u1量重復(fù)性引入的不確定度分量，因此小測(cè)頭千分尺測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度分量作為u1。A.6.2由對(duì)零位量塊引入的不確定度分量u21和校準(zhǔn)點(diǎn)量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評(píng)定。A.6.2.1由對(duì)零位量塊引入的不確定度為分量u21u21-6A.6.2.2校準(zhǔn)點(diǎn)量塊引入的不確定度為分量u22A.6.3小測(cè)頭千分尺與量塊間線脹系數(shù)差引入的不確定度u3差δa的界限為±1×10-6℃-1,服從均勻分布A.6.4小測(cè)頭千分尺和量塊間的溫度差引入的不確定度u4A.7合成標(biāo)準(zhǔn)不確定