1T/ZEIIA05—2024抗硫化厚膜片式固定電阻器詳細規范本文件規定了抗硫化厚膜片式固定電阻器的術語和定義、型號規格、技術要求、試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸及貯存。本文件適用于抗硫化厚膜片式固定電阻器（以下簡稱抗硫化電阻）的生產。2規范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2423.17-2008電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Ka：鹽霧GB/T2828.1計數抽樣檢驗程序第1部分:按接收質量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T2829周期檢驗計數抽樣程序及表（適用于對過程穩定性的檢驗）GB/T5729-2003電子設備用固定電阻器第1部分：總規范GB/T9546.8-2015電子設備用固定電阻器第8部分：分規范表面安裝固定電阻器IEC60068-2-58:2015表面貼裝器件(SMD)的可焊性及所鍍金屬的抗熔解性和抗焊接熱的測試方法3術語和定義GB/T5729-2003界定的以及下列術語和定義適用于本文件。3.1抗硫化型常規型電阻Anti-SulruratedGeneralThickFilmChipFixedResistor以具有優越的防硫化、抗腐蝕性能為特點，能在含硫的環境正常穩定工作的厚膜片式固定電阻器。3.2抗硫化功率型電阻Anti-SulruratedHighPowerThickFilmChipFixedResistor以額定功率大且具有優越的防硫化、抗腐蝕性能為特點，能在含硫的環境正常穩定工作的厚膜片式固定電阻器。3.3抗硫化抗浪涌型電阻Anti-SulruratedAnti-SurgeThickFilmChipFixedResistor以具有優越耐瞬時脈沖和抗浪涌能力，以及具有優越的防硫化、抗腐蝕性能為特點，能在含硫的環境正常穩定工作的厚膜片式固定電阻器。3.4抗硫化高壓型電阻Anti-SulruratedHighVoltagePowerThickFilmChipFixedResistor以高于常規型電阻的最大工作電壓，以及具有優越的防硫化、抗腐蝕性能為特點，能在含硫的環境正常穩定工作的厚膜片式固定電阻器。4型號規格4.1型號規格表示格式①②③④⑤⑥⑦⑧①表示產品系列代號，見4.2。②表示產品分類代號，見4.3。③表示額定功率代號，見4.4。④表示型號代號，見4.5。2T/ZEIIA05—2024⑤表示電阻溫度系數代號，見4.6。⑥表示阻值代號，見4.7。⑦表示電阻值誤差精度代號，見4.8。⑧表示包裝代號，見4.9。4.2產品系列代號“R”表示厚膜片式固定電阻器。4.3產品分類代號產品分類代號如表1所示，復合型系列產品用2位代號組合。表1分類代號H///4.4額定功率代號4.4.1對于抗硫化常規型，用“C”表示常規功率系列，“S”表示提升功率系列。4.4.2對于抗硫化抗浪涌型、抗硫化高壓型、抗硫化功率型，如表2所示。表2功率代號ABCDEFGHJKLMNQRTXYW1234.5型號代號型號代號如表3所示：表3型號代號4.6電阻溫度系數代號電阻溫度系數（TCR）代號如表4所示：表4電阻溫度系數代號UBLWUBWK3T/ZEIIA05—2024表4電阻溫度系數代號（續）MUWKTYSQMUBLWK抗硫化高壓型UBWKMUWKYSQMUBLWK4.7電阻值代號E24系列（0.01Ω≤R≤500MΩ)電阻值代號用三位數字（0.1Ω≤R≤500MΩ)或四位數字（0.01Ω≤R＜0.1Ω)表示；E96系列（1Ω≤R≤500MΩ)電阻值代號用四位數字表示，非標（非E24、非E96）阻值的電阻值代號表示參照E24、E96系列的表示方法，0Ω＜R＜1Ω電阻值代號用三位或四位數字表示，阻值單位為歐姆時用R表示小數點，阻值單位為毫歐姆時用M表示小數點?？缃与娮璧碾娮柚荡栍?00表示。4.8電阻值誤差精度代號電阻值誤差精度代號如表5所示：表5電阻值誤差精度代號%FGJDFGHJKM4T/ZEIIA05—20244.9包裝方式代號“T”表示編帶包裝，“C”表示塑料袋包裝。5技術要求5.1外觀要求無可見損傷，標記清楚。5.2外形尺寸產品外形示意圖見圖1，外形尺寸應符合表6的規定。表6外形尺寸LWtab5.3額定值5.3.1抗硫化常規型的額定值如表7和表8所示。表7額定值WVVA流A 1 1 1224 1336---24585T/ZEIIA05—2024表7額定值（續）---255---265---2651---265表8電阻溫度系數----------------------------5.3.2抗硫化功率型、抗硫化抗浪涌型的額定值，如表9所示表9額定值WVV10-6/℃26T/ZEIIA05—20245.3.3抗硫化高壓型的額定值如表10所示表10高壓型產品的額定值WVV10-6/℃15.4降功耗曲線本標準中的抗硫化厚膜片式固定電阻器安裝在規定的基片（1.6mm厚環氧玻璃層壓印制電路板或0.6mm±0.1mm厚的96%氧化鋁陶瓷基板）上，當環境溫度超過70℃時，其額定負荷、額定功率、額定電流（跨接電阻）應按圖2、圖3所示降功耗曲線。圖2降功耗曲線圖圖3降功耗曲線圖注：適用于抗硫化常規型、抗硫化抗浪涌型、抗硫化高壓型、抗硫化功率型的0201、0402、065.5電阻值阻值應符合標稱阻值，偏差應符合表5的規定。5.6可焊性7T/ZEIIA05—2024上錫面積應不小于95%。5.7耐焊接熱外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值要求如表11所示。表11試驗后阻值要求5.8基板彎曲強度（端面鍍層結合強度）外觀無可見損傷，試驗后阻值要求應符合表11的規定。5.9過載外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值要求如表12所示。表12試驗后阻值要求5.10剪切力（附著力）外觀無可見損傷。5.11溫度快速變化外觀無可見損傷，試驗后阻值要求如表13所示。表13試驗后阻值要求8T/ZEIIA05—2024表13試驗后阻值要求（續））：5.12氣候順序外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值要求如表14所示。表14試驗后阻值要求5.1370℃耐久性外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值應符合表14的要求。5.14阻值隨溫度變化電阻溫度系數應符合表8、表9或表10的要求。5.15穩態濕熱外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值要求如表15所示。表15試驗后阻值要求）：5.16上限類別溫度耐久性9T/ZEIIA05—2024外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值要求如表16所示。表16試驗后阻值要求）：5.17耐電壓無擊穿或飛弧。5.18耐溶劑外觀無可見損傷且標記清晰，試驗后阻值應符合表17的要求。表17試驗后阻值要求FGJ5.19硫化試驗外觀無可見損傷，試驗后阻值應符合表18的要求。表18試驗后阻值要求/FGJ方法一△R≤±(1.0%R+0.05Ω)5.20鹽霧外觀端面鍍層不出現氧化生銹、脫落，試驗后阻值應符合表19的要求。表19試驗后阻值要求FGJT/ZEIIA05—20246試驗方法6.1試驗條件6.1.1試驗環境條件試驗環境條件為：a)溫度：15℃~35℃;b)相對濕度：25%RH～75%RH;c)氣壓：86kPa～106kPa。6.1.2恢復條件產品試驗后，進行阻值測量前應放置在5.1.1條件下恢復1h～2h。6.2外觀用精度不低于30倍的顯微鏡進行檢查。6.3外形尺寸按照GB/T5729-2003的4.4.2條的規定，用精度不低于0.02mm的游標卡尺和0.025mm的顯微鏡測量。6.4電阻值按照GB/T5729-2003的4.5條的規定進行，測量電壓應符合表20的規定：表20測量電壓測量電壓U-0%,V131MΩ≤R注：標稱阻值小于10Ω時，選擇的測量電壓應使電阻器的功耗小于其額定功耗的10%,但不6.5可焊性方法一：焊槽法，按照GB/T5729-2003的4.17條的規定進行，且試驗條件應符合表21的規定：表21焊槽法試驗條件注：用焊槽法進行可焊性試驗，用Sn-Ag方法二：回流焊法，按照IEC60068-2-58：2015規定進行，且試驗條件應符合表22的規定：表22回流焊試驗條件150℃~180℃230℃~250℃--注：用回流焊法進行可焊性試驗，用Sn96.5Ag3Cu0.T/ZEIIA05—20246.6耐焊接熱按照GB/T5729-2003的4.18條的規定進行，且試驗條件應符合表23的規定：表23耐焊接熱試驗條件注：用焊槽法進行耐焊性試驗，用Sn-Ag6.7基板彎曲強度（端面鍍層結合強度）按照GB/T5729-2003的4.33條執行，且試驗條件應符合表24的規定：表24基板彎曲強度試驗條件注：電阻器安裝在1.6mm厚環氧玻璃層6.8過載按照GB/T5729-2003的4.13條執行，其中：跨接電阻施加最大過負荷電流，持續時間5s。其他電阻施加2.5倍額定電壓或最大過負荷電壓(取較小者)，持續時間5s。6.9剪切力按照GB/T5729-2003的4.32條執行，且試驗條件應符合表25的規定:表25剪切力試驗條件T/ZEIIA05—2024表25剪切力試驗條件（續）注：電阻器安裝在1.6mm厚環氧玻璃層6.10溫度快速變化按照GB/T5729-2003的4.19條執行，且試驗條件應符合表26的規定：表26溫度快速變化試驗條件0201、0402、0603、0805、1注：每個極限溫度下的暴露時間為30min，轉移過程暴露于室溫下6.11氣候順序按照GB/T5729-2003的4.23條執行，且試驗條件應符合表27的規定：表27氣候順序試驗條件），6.1270℃耐久性按照GB/T5729-2003的4.25.1條執行，且試驗條件應符合表28的規定：表2870℃耐久性試驗條件②其他電阻：額定電壓或元6.13阻值隨溫度變化按照GB/T5729-2003的4.8條執行，其中：T/ZEIIA05—2024依次在下列各溫度保持熱穩定后進行阻值測量:（20+-）℃、（-55±3）℃、（20+-）℃、（1256.14穩態濕熱按照GB/T5729-2003的4.24條執行，且試驗條件應符合表29的規定：表29穩態濕熱試驗條件6.15上限類別溫度耐久性按照GB/T5729-2003的4.25.3條執行，且試驗條件應符合表30的規定：表30上限類別溫度耐久性試驗條件6.16耐電壓按照GB/T5729-2003的4.7條執行，其中：在電極與基片間以大約100V/s的速率施加有效值為最大過負荷電壓（各型號產品試驗電壓值參考表7中規定）的交流電壓，保持60s±5s。6.17耐溶劑按照GB/T5729-2003的4.29條執行，其中：異丙醇(IPA)，23℃±5℃,浸10h。6.18硫化試驗試驗條件應符合表31的規定：表31硫化試驗條件方法一按照ASTM-B-809-95規定進行，把待6.19鹽霧試驗按GB/T2423.17規定進行試驗，其中，溫度35℃±2℃、Nacl濃度5%、PH值6.5～7.2。試樣要求：試樣按正常使用狀態放置，試樣不能相互接觸，并確保其他試樣上的鹽溶液不滴落在試樣上。試驗時間：48h。T/ZEIIA05—20247檢驗規則7.1檢驗分類分為逐批檢驗和周期檢驗兩種。7.2逐批檢驗逐批檢驗按GB/T2828.1-2012和GB/T9546.8-2015執行，采用正常檢驗一次抽樣方案，具體方案如表32所示。表32逐批檢驗方案1II2////37.3周期檢驗7.3.1樣品抽取按GB/T2829-2002和GB/T9546.8-2015執行,具體抽樣方案、各試驗項目性能判定要求符合表33的規定。表33周期檢驗方案D或NDpncD30D30D30D30D0D0D0T/ZEIIA05—2024表33周期檢驗方案（續）D030DD30注：p：周期，月；n：樣本大??；c：合格判定數（允許不合格品）；7.3.2應進行周期檢驗的情況a)產品定型鑒定；b)停產半年以上重新生產或轉廠生產時；c)當設計、工藝、材料有重大改變足以影響產品的質量時；d)當出現質量事故或重大質量波動時；e)法定機構或主管部門提出進行周期檢驗要求時；f)每三個月進行一次周期檢驗。8標志、包裝、運輸、貯存8.1標志8.1.1標簽每個包裝應貼上標簽，標簽上應標明以下內容：a)型號規格b)標稱電阻值c)電阻值誤差精度d)額定功率e)包裝數量f)出廠日期g)商標、制造者名稱8.1.2外包裝紙箱標志外包裝紙箱應標明以下內容：a)客戶名稱b)產品名稱c)型號規格d)數量e)出廠日期f)制造者名稱、地址和商標g)執行的標準號8.1.3標記8.1.3.11Ω≤R≤500MΩ的標記方法8.1.3.1.1E24系列的標記方法T/ZEIIA05—2024當10Ω≤R≤500MΩ時，電阻值標記與電阻值代號相同：用三位數字表示，前兩位為E-24系列電阻值有效數，最后一位為10的冪數N，阻值為：有效數×10NΩ。當1Ω≤R＜10Ω時，電阻值標記與電阻值代號相同：用三位數字表示，其中兩位為E-24系列電阻值有效數，小數點用“R”表示。01005、0201、0402型號無標記表示。E24系列見附錄A。8.1.3.1.2E96系列的標記方法對于0805、1206、1210、1218、1812、2010、2512型號，當100Ω≤R≤500MΩ時，標記與電阻值代號相同：用四位數字表示，前三位為E96系列電阻值有效數，最后一位為10的冪數N，阻值為：有效數×10N