特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范TSGZ8001-20132013年1月16日有關(guān)專家成立起草工作組，并分別于2009年11月和12月在蘇州和北京召開(kāi)工作組第一章總則 第二章檢測(cè)人員的能力要求和報(bào)考條件 第三章考試方式與內(nèi)容 第四章考試機(jī)構(gòu) 第五章取證考試 第六章審批發(fā)證 第七章?lián)Q證 第八章監(jiān)督管理 第九章附則 附件C特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考試大綱 附件D特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)人員考試與證書(shū)申請(qǐng)表 附件E特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)人員證(樣式) 相關(guān)規(guī)章和規(guī)范歷次制(修)訂情況 特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核規(guī)則第一條為了規(guī)范特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核工作，根據(jù)《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》,制定本規(guī)則。第二條特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員是指從事《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》適用范圍的特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)工作的人員以下簡(jiǎn)稱檢測(cè)人員)。檢測(cè)人員應(yīng)當(dāng)按照本規(guī)則的要求，經(jīng)過(guò)考核取得相應(yīng)的《特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)人員證(無(wú)損檢測(cè)人員)》(以下簡(jiǎn)稱《檢測(cè)人員證》),方可執(zhí)業(yè)，從事相應(yīng)的檢測(cè)工作。第三條本規(guī)則規(guī)定考核范圍的無(wú)損檢測(cè)方法，包括射線檢測(cè)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)、滲透檢測(cè)(PT)、聲發(fā)射檢測(cè)(AE)、渦流檢測(cè)(ECT)、漏磁檢測(cè)(MLF)。無(wú)損檢測(cè)人員級(jí)別，分為I級(jí)(初級(jí))、Ⅱ級(jí)(中級(jí))和Ⅲ級(jí)(高級(jí)),其中無(wú)損檢測(cè)方法中的自動(dòng)檢測(cè)(AUTo)項(xiàng)目分為I級(jí)(初級(jí))和Ⅱ級(jí)(中級(jí))。各種無(wú)損檢測(cè)方法、項(xiàng)目和級(jí)別(以下統(tǒng)稱項(xiàng)目)的劃分見(jiàn)附件A。第四條檢測(cè)人員的考核工作程序，包括考試和審批發(fā)證。申請(qǐng)《檢測(cè)人員證》的大貴(以下簡(jiǎn)稱申請(qǐng)人，包括考試申請(qǐng)人和證書(shū)申請(qǐng)人),應(yīng)當(dāng)先經(jīng)考試(以下簡(jiǎn)稱取證考試)合格，憑考試合格證明向國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局(以下簡(jiǎn)稱國(guó)家質(zhì)檢總局)或者其授權(quán)的部門(mén)(以下統(tǒng)稱發(fā)證機(jī)關(guān))申請(qǐng)辦理《檢測(cè)《檢測(cè)人員證》有效期為4年。有效期滿需要繼續(xù)從事無(wú)損檢測(cè)工作的，應(yīng)當(dāng)按照本規(guī)則規(guī)定的時(shí)間及時(shí)辦理延續(xù)手續(xù)(本規(guī)則稱為換證)。第五條檢測(cè)人員的考核工作由國(guó)家質(zhì)檢總局組織實(shí)施。承擔(dān)檢測(cè)人員考試的機(jī)構(gòu)(以下簡(jiǎn)稱考試機(jī)構(gòu)),由國(guó)家質(zhì)檢總局確定，統(tǒng)一公布。考試機(jī)構(gòu)根據(jù)公布的考試項(xiàng)目、級(jí)別，按照本規(guī)則的規(guī)定進(jìn)行考試，未經(jīng)公布的機(jī)構(gòu)不得開(kāi)展檢測(cè)人員的考試第六條考試機(jī)構(gòu)可以按照統(tǒng)籌規(guī)劃、滿足取證考試需求和兼顧就近考試的原則，合理布局，設(shè)立區(qū)域性或者不同項(xiàng)目的考試中心(或者基地),依據(jù)本規(guī)則和相關(guān)安全技術(shù)規(guī)范的規(guī)定開(kāi)展考試工作。2第二章檢測(cè)人員的能力要求和報(bào)考條件第十一條檢測(cè)人員的報(bào)考條件如下：(一)年齡在18周歲以上(含18周歲),60周歲以下(含60周歲),具有完全民事第三章考試方式與內(nèi)容表1檢測(cè)人員考試方式I級(jí)閉卷√√√√√√√√I級(jí)閉卷全國(guó)統(tǒng)一的題實(shí)際操作當(dāng)同類同型，分別保管；考試試件應(yīng)當(dāng)嚴(yán)格保密，不得用作培訓(xùn)4第十四條射線、超聲、磁粉、滲透檢測(cè)人員考試按照本規(guī)則附件C規(guī)定的考試第四章考試機(jī)構(gòu)第十五條考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)符合以下要求：(二)不得從事特種設(shè)備生產(chǎn)、維護(hù)保養(yǎng)、經(jīng)銷和檢驗(yàn)檢測(cè)活動(dòng)；(三)具有滿足與所承擔(dān)的考試項(xiàng)目相適應(yīng)的考試條件；(四)具有健全的考試管理。保密管理、檔案管理、財(cái)務(wù)管理、應(yīng)急預(yù)案等各項(xiàng)規(guī)章制度；制定有效的考場(chǎng)紀(jì)律規(guī)定及考評(píng)人員守則，并且有效實(shí)施；(五)能夠按照國(guó)家質(zhì)檢總局“特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)人員許可系統(tǒng)”的要求，進(jìn)行相關(guān)數(shù)據(jù)填報(bào)、信息發(fā)布與數(shù)據(jù)上傳、下載。第十六條考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)于每年的1月份，在網(wǎng)上公布本年度考試計(jì)劃，以及相關(guān)報(bào)名方式、報(bào)名截止日期，考試時(shí)間和考試項(xiàng)目等。第十七條考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)按照公布的考試項(xiàng)目、考試地點(diǎn)、考試時(shí)間組織考試。考試工作應(yīng)當(dāng)嚴(yán)格執(zhí)行保密監(jiān)考等各項(xiàng)規(guī)章制度，確保考試工作公開(kāi)、公正、公平、第十八條考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)將《特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)人員考試與證書(shū)申請(qǐng)表》(以下簡(jiǎn)稱《申請(qǐng)表》,見(jiàn)附件D)、考試試卷或者答題卡和機(jī)考記錄、成績(jī)匯總表、考場(chǎng)記錄等資料(電子或者紙質(zhì))存程、保存時(shí)間不少于5年。第十九條考試機(jī)構(gòu)不得強(qiáng)制要求考試申請(qǐng)人參加其組織的考前輔導(dǎo)。第五章取證考試第二十條取證考試程序，包括考試報(bào)名、報(bào)名條件審查、考試、考試成績(jī)?cè)u(píng)定與通知。第二十一條取證考試的申請(qǐng)人，應(yīng)當(dāng)在考試機(jī)構(gòu)規(guī)定的報(bào)名期限內(nèi)，通過(guò)網(wǎng)上報(bào)名，并且向考試機(jī)構(gòu)提交以下報(bào)考資料：(一)《申請(qǐng)表》(1份，在網(wǎng)上填報(bào)后下載，貼上一寸、免冠、正面、白底彩色照片);(二)身份證明(復(fù)印件，1份);TSGZ8001—2013TSGZ8001—2013(三)學(xué)歷證明(復(fù)印件，1份);(四)檢測(cè)資歷證明(復(fù)印件，1份);(五)視力證明(報(bào)考項(xiàng)目規(guī)定的視力證明，1份);(六)專業(yè)培訓(xùn)經(jīng)歷證明(原件，1份)。前款第(四)項(xiàng)要求的資料，適用于已經(jīng)取得相應(yīng)《檢測(cè)人員證》,需要提高級(jí)別或者增加項(xiàng)目時(shí)，按照附件B規(guī)定的持證經(jīng)歷提供。申請(qǐng)人應(yīng)當(dāng)對(duì)所提交資料的真實(shí)性負(fù)責(zé)。第二十二條考試機(jī)構(gòu)在收到報(bào)考資料后15個(gè)工作日內(nèi)，應(yīng)當(dāng)完成對(duì)申請(qǐng)人報(bào)考資料的審查。對(duì)資料審查不符合要求的，考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)一次性全部告知申請(qǐng)人補(bǔ)正，說(shuō)明不符合要求的項(xiàng)目和理由，以便申請(qǐng)人及時(shí)補(bǔ)正。對(duì)符合要求允許參加考試的申請(qǐng)人，考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)及時(shí)向其發(fā)出考試通知。第二十三條考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)在考試結(jié)束后的20個(gè)工作日內(nèi)，將考試成績(jī)通知參加考試的人員，并公布考試合格人員的名單、合格項(xiàng)目等有關(guān)信息。第二十四條審批發(fā)證程序，包括取證申請(qǐng)、受理、審批和發(fā)證。第二十五條考試合格人員應(yīng)當(dāng)在考試結(jié)束后的30個(gè)工作日內(nèi)，自行或者委托考試機(jī)構(gòu)，向發(fā)證機(jī)關(guān)申請(qǐng)辦理《檢測(cè)人員證》。(一)本規(guī)則第二十一條要求的相關(guān)資料(其中《申請(qǐng)表》必須經(jīng)過(guò)考試機(jī)構(gòu)簽署意見(jiàn));(二)考試機(jī)構(gòu)出具的考試成績(jī)單。由考試機(jī)構(gòu)申請(qǐng)辦理《檢測(cè)人員證》時(shí)，考試機(jī)構(gòu)應(yīng)當(dāng)按照“特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)人員許可系統(tǒng)”規(guī)定的程序辦理。第二十六條發(fā)證機(jī)關(guān)接到申請(qǐng)后，應(yīng)當(dāng)在5個(gè)工作日內(nèi)對(duì)申請(qǐng)報(bào)送的資料進(jìn)行審查，并且作出是否受理的決定；不予以受理的，應(yīng)當(dāng)告知申請(qǐng)人或者委托的考試機(jī)構(gòu)在20日內(nèi)補(bǔ)正申請(qǐng)資料。能夠當(dāng)場(chǎng)審查的，應(yīng)當(dāng)當(dāng)場(chǎng)辦理。對(duì)同意受理的申請(qǐng)，發(fā)證機(jī)關(guān)應(yīng)當(dāng)在20個(gè)工作日內(nèi)完成審核批準(zhǔn)手續(xù)。準(zhǔn)予發(fā)證的，在10個(gè)工作日內(nèi)向申請(qǐng)人頒發(fā)《檢測(cè)人員證》;不予發(fā)證的，應(yīng)當(dāng)書(shū)面說(shuō)明理由。6第七章?lián)Q證I級(jí)Ⅱ級(jí)、Ⅲ級(jí)審核(1)首次換證；(2)符合第三十一條要求8第四十六條本規(guī)則自2013\年6月1日起施行，2003年8月8日國(guó)家質(zhì)檢總局射線檢測(cè)射線膠片照相檢測(cè)射線數(shù)字成像檢測(cè)射線檢測(cè)(自動(dòng))脈沖反射法超聲檢測(cè)衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)磁粉檢測(cè)磁粉檢測(cè)滲透檢測(cè)滲透檢測(cè)聲發(fā)射檢測(cè)聲發(fā)射檢測(cè)渦流檢測(cè)渦流檢測(cè)漏磁檢測(cè)學(xué)歷與檢測(cè)經(jīng)歷(持證年限)(項(xiàng)目)級(jí)別專、工學(xué)類中校(含初中)AE、ECTⅢⅡ持I級(jí)6個(gè)月I各種項(xiàng)Ⅱ持同類方法Ⅱ級(jí)的人員經(jīng)過(guò)不少于16小時(shí)專門(mén)IⅢ持TOFD-I級(jí)1年以上且同時(shí)持有UT-Ⅱ級(jí)，或者持UT-Ⅱ級(jí)2IⅢ持RT(DR+CR)-I級(jí)1年以上且同時(shí)持有RT-ⅡI專業(yè)培訓(xùn)經(jīng)歷(小時(shí))無(wú)損檢測(cè)方法(項(xiàng)目)I級(jí)與報(bào)考方法相一致的該檢測(cè)技術(shù)的論著、教材，在核心期刊發(fā)表的論文等，可以免除培訓(xùn)注B-1:專業(yè)培訓(xùn)包括實(shí)際操作技能和理論課程，直接報(bào)考Ⅱ級(jí)的，培訓(xùn)時(shí)間為I級(jí)和Ⅱ級(jí)之和。C1無(wú)損檢測(cè)基本知識(shí)內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡI(1)應(yīng)力和應(yīng)力集中的概念▲(2)特種設(shè)備受壓元件、受力結(jié)構(gòu)件應(yīng)力特點(diǎn)(3)力學(xué)性能指標(biāo)定義▲(4)抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度的意義，拉伸曲線的解釋四▲(5)屈強(qiáng)比的概念▲(6)鋼材的冷脆性▲(7)鋼材的熱脆性▲(8)氫對(duì)鋼的性能的影響，氫脆發(fā)生條件，氫致?lián)p傷的種類▲▲(1)晶體和晶界的概念，金屬常見(jiàn)晶體結(jié)構(gòu)種類▲(2)鐵碳合金的基本相結(jié)構(gòu)及其特性▲(3)鋼熱處理的一般過(guò)程▲(4)鋼中碳和合金元素對(duì)C曲線的影響▲(5)鋼常見(jiàn)金相組織和性能▲(6)特種設(shè)備常用的熱處理種類、工藝條件及其應(yīng)用▲(7)消除應(yīng)力退火處理的目的和方法▲(1)特種設(shè)備用材料的基本要求▲(2)低碳鋼、低合金鋼的定義▲(3)低碳鋼中碳和雜質(zhì)元素對(duì)鋼的性能的影響▲(4)低合金鋼中合金元素對(duì)鋼的性能的影響▲(5)低溫用鋼種類、特點(diǎn)和基本性能▲(6)影響低溫鋼低溫韌性的因素▲(7)低合金耐熱鋼種類、特點(diǎn)、高溫下鋼材性能的劣化現(xiàn)象▲(8)奧氏體不銹鋼種類、特點(diǎn)、腐蝕破壞形式國(guó)▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡI特種設(shè)備常用焊接方法的種類、特點(diǎn)和適用范圍▲(1)常見(jiàn)的焊接接頭形式、分類及特點(diǎn)■▲(2)焊接接頭組成▲(3)焊接接頭薄弱部位▲(1)焊接應(yīng)力與變形的不利影響▲(2)焊接變形與應(yīng)力的關(guān)系，影響焊接變形與應(yīng)力的因素▲(1)鋼材焊接性的含義▲(2)焊接性試驗(yàn)的主要作用▲(3)焊接工藝評(píng)定的作用及其過(guò)程▲(4)焊前預(yù)熱和后熱的作用▲▲▲(5)焊接線能量的變化對(duì)低合金結(jié)構(gòu)鋼、低溫鋼、頭性能的影響▲(6)奧氏體不銹鋼的焊接性，防止熱裂紋和晶間腐蝕傾向的措施▲(1)無(wú)損檢測(cè)定義，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)進(jìn)展三個(gè)階段▲(2)無(wú)損檢測(cè)的目的，無(wú)損檢測(cè)的應(yīng)用特點(diǎn)▲C1.3.2焊接缺陷種類及產(chǎn)生原因(1)外觀缺陷種類、形成原因及危害▲(2)氣孔缺陷種類、形成原因、危害及防止措施▲(3)夾渣種類、形成原因、危害及防止措施▲(4)裂紋種類、形態(tài)、發(fā)生部位、形成原因、危害及防止措施▲(5)未焊透種類、形成原因、危害及防止措施▲(6)未熔合種類、形成原因、危害及防止措施▲C1.3.3其他試件中缺陷種類及產(chǎn)生原因(1)鑄件中缺陷種類及產(chǎn)生原因▲(2)鍛件中缺陷種類及產(chǎn)生原因▲(3)使用件中缺陷種類及產(chǎn)生原因▲特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范TSGZ8001—2內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)Ⅲ(1)元素和原子A(2)核外電子運(yùn)動(dòng)規(guī)律▲(3)原子核結(jié)構(gòu)▲C2.1.2射線的種類和性質(zhì)(1)X射線的產(chǎn)生及其特點(diǎn)(2)γ射線的產(chǎn)生及其特點(diǎn)▲(3)工業(yè)檢測(cè)常用放射性同位素的特性▲C2.1.3射線與物質(zhì)的相互作冊(cè)(1)光電效應(yīng)(2)各種相互作用發(fā)生的相對(duì)九率(3)窄束、單色射線的強(qiáng)度衰減規(guī)律▲(4)寬束、多色射線的強(qiáng)度衰減規(guī)律C2.1.4射線照相法的原理與特點(diǎn)(1)射線照相法的原理(2)射線照相法的特點(diǎn)(1)X射線機(jī)的種類和特點(diǎn)(2)X射線管▲(3)高壓發(fā)生電路(4)X射線機(jī)的基本結(jié)構(gòu)▲(5)X射線機(jī)的主要技術(shù)條件(6)X射線機(jī)的使用和維護(hù)(1)γ射線源的主要特性參數(shù)▲(2)γ射線檢測(cè)設(shè)備的特點(diǎn)▲▲(3)γ射線檢測(cè)設(shè)備的分類與結(jié)構(gòu)▲(4)γ射線探傷機(jī)的操作(5)γ射線探傷機(jī)的維護(hù)和故障排除(1)射線照相膠片的構(gòu)造與特點(diǎn)A續(xù)表內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢII(2)感光原理及潛影的形成A(3)底片黑度(4)射線膠片的特性▲(5)鹵化銀粒度對(duì)膠片性能的影響▲(6)膠片的光譜感光度(7)工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的分類(8)膠片的使用與保管(1)黑度計(jì)(光密度計(jì))(2)增感屏(3)像質(zhì)計(jì)(4)其他照相輔助設(shè)備器材(1)概述▲(2)射線照相對(duì)比度(3)射線照相清晰度(4)射線照相顆粒度▲(1)最小可見(jiàn)對(duì)比度△DminA(2)射線底片黑度與相靈敏度A(3)缺陷檢出試驗(yàn)(4)幾何因素對(duì)小缺陷檢出的影響▲(5)不同缺陷的靈敏度關(guān)系公式▲(1)射線源和能量的選擇(2)焦距的選擇(3)曝光量的選擇和修正(1)透照方式的選擇(2)一次透照長(zhǎng)度的計(jì)算AC2.4.3曝光曲線的制作及應(yīng)用(1)曝光曲線的構(gòu)成和使用條件(2)曝光曲線的制作內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢI(3)曝光曲線的使用(1)散射線的來(lái)源和分類■(2)散射比的影響因素(3)散射線的控制措施(1)焊縫透照工藝的分類和一般內(nèi)容A(2)焊縫透照專用工藝卡示例(3)焊縫透照工藝編制和審核(4)焊縫透照的基本操作(1)暗室布置知識(shí)A(2)暗室設(shè)備器材使用知識(shí)(3)配液注意事項(xiàng)(4)膠片處理程序和操作要點(diǎn)(5)膠片處理的藥液配方(6)控制使用單位的膠片處理?xiàng)l件的方法(1)顯影(2)停影(3)定影(4)水洗和干燥▲C2.6評(píng)片(1)底片的質(zhì)量要求(2)設(shè)備環(huán)境條件要求A(3)人員條件要求(4)與評(píng)片基本要求相關(guān)的知識(shí)▲(1)觀片的基本操作(2)投影的基本概念(3)焊接的基本知識(shí)▲(4)焊接缺陷的危害性及分類▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢII(1)焊接缺陷影像■(2)常見(jiàn)偽缺陷影像及識(shí)別方法(3)表面幾何影像的識(shí)別(4)底片影像分析要點(diǎn)(1)焊接接頭質(zhì)量分級(jí)規(guī)定(2)射線照相檢驗(yàn)的記錄與報(bào)告■(1)描述電離輻射的常用輻射量和單位(2)描述輻射防護(hù)的常用輻射量和單位▲(1)輻射監(jiān)測(cè)內(nèi)容和分類營(yíng)▲(2)劑量測(cè)定儀器的工作原理▲(3)劑量?jī)x器的選擇及其校準(zhǔn)A(4)場(chǎng)所輻射監(jiān)測(cè)儀器(5)個(gè)人劑量監(jiān)測(cè)儀器(1)輻射防護(hù)的目的和基本原則▲(2)劑量限值規(guī)定(3)輻射損傷的機(jī)理A(1)輻射防護(hù)的基本方法(2)照射量的計(jì)算(3)防護(hù)計(jì)算(4)屏蔽防護(hù)常用材料▲(1)輻射防護(hù)法規(guī)與標(biāo)準(zhǔn)▲(2)輻射防護(hù)管理責(zé)任部門(mén)(3)射線裝置申請(qǐng)?jiān)S可制度(4)輻射防護(hù)培訓(xùn)■(5)輻射工作人員證書(shū)與健康的管理▲(6)輻射事故管理人員管理的主要內(nèi)容▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)Ⅲ(1)電子回旋加速器和電子直線加速器■▲(2)高能射線照相的特點(diǎn)■▲(3)高能射線照相的幾個(gè)技術(shù)數(shù)據(jù)▲▲(4)電子直線加速器的結(jié)構(gòu)、原理及操作▲(5)高能射線的輻射防護(hù)▲(1)射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)的進(jìn)展▲(2)射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)的圖像特點(diǎn)▲(3)射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)的工藝要點(diǎn)▲(4)圖像增強(qiáng)器射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)和局限性▲▲C2.8.3計(jì)算機(jī)射線照相技術(shù)(CR)▲▲C2.8.4X射線層析照相技術(shù)(x-CT)▲▲(1)射線檢測(cè)人員的管理(2)射線檢測(cè)設(shè)備和器材的管理▲(3)射線檢測(cè)工藝的管理▲(4)射線檢測(cè)環(huán)境的管理▲C2.9.2射線檢測(cè)報(bào)告、底片及原始記錄(1)射線檢測(cè)報(bào)告的管理(2)射線檢測(cè)記錄的管理(3)射線檢測(cè)底片的管理■(4)射線檢測(cè)檔案的管理▲▲C3超聲檢測(cè)內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢI(1)機(jī)械振動(dòng)、諧振動(dòng)、阻尼振動(dòng)、受迫振動(dòng)(2)機(jī)械波的產(chǎn)生與傳播，波動(dòng)方程A(3)波長(zhǎng)、周期、頻率和波速(4)波的分類，次聲波、聲波、超聲波，超聲波的應(yīng)用▲(1)縱波、橫波、表面波(2)平面波、柱面波、球面波、波前、波線、波陣面A(3)連續(xù)波、脈沖波▲(1)迭加原理、波的干涉▲(2)惠更斯原理、波的衍射(繞射)▲(1)無(wú)限大固體介質(zhì)中的縱波、橫波與表面波聲速■▲(2)聲速與溫度、應(yīng)力及介質(zhì)材質(zhì)均勻性的關(guān)系▲(3)蘭姆波的相速度和群速度▲(1)聲壓、聲阻抗、聲強(qiáng)▲(2)分貝與奈培(1)單一平界面的反射率與透射率(2)薄層界面的反射率與透射率(3)聲壓往復(fù)透過(guò)率▲(1)波型轉(zhuǎn)換與反射、折射定律(2)聲壓反射率▲(3)聲壓往復(fù)透射率(4)端角反射▲(1)聲壓距離公式(2)球面波在平界面上的反射與折射▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢII(3)平面波在曲界面上的反射與折射▲(4)球面波在曲界面上的反射與折射▲(1)衰減的原因▲(2)衰減方程與衰減系數(shù)▲(3)衰減系數(shù)的測(cè)定(1)圓盤(pán)波源輻射的縱波聲場(chǎng)▲(2)矩形波源輻射的縱波聲場(chǎng)▲(3)縱波聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)在兩種介質(zhì)中的分布▲(1)假想橫波波源(2)橫波聲場(chǎng)的結(jié)構(gòu)(1)聚焦聲場(chǎng)的形成A(2)聚焦聲場(chǎng)的特點(diǎn)與應(yīng)用(1)平底孔回波聲壓▲(2)短橫孔回波聲壓(3)長(zhǎng)橫孔回波聲壓(4)球孔回波聲壓(5)大平底面回波聲壓(6)圓柱曲底面回波聲壓(1)縱波平底孔AVG曲線(2)橫波平底孔AVG曲線(1)超聲檢測(cè)儀的作用和分類▲(2)A型顯示(3)B型顯示、C型顯示▲(4)模擬式超聲檢測(cè)儀(5)數(shù)字式超聲檢測(cè)儀▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢI(6)儀器的維護(hù)保養(yǎng)(1)共振式測(cè)厚儀、脈沖反射式測(cè)厚儀、蘭姆波測(cè)厚儀(2)測(cè)厚儀的調(diào)整與應(yīng)用(1)壓電效應(yīng)與壓電材料(2)壓電材料的主要性能參數(shù)(3)探頭的結(jié)構(gòu)(4)直探頭、斜探頭、雙晶探頭、聚焦探頭、水浸探頭A(5)高溫探頭、電磁探頭、爬波探頭(6)探頭型號(hào)(1)試塊的分類和作用(2)標(biāo)準(zhǔn)試塊的要求(3)常用的標(biāo)準(zhǔn)試塊，IIW試塊aW2試塊、CSK-IA試塊、(4)對(duì)比試塊▲(5)模擬試塊(6)試塊的使用和維護(hù)(1)超聲檢測(cè)儀、探頭的主要性能及其組合性能(2)超聲檢測(cè)儀、探頭及其組合性能的測(cè)試方法(1)脈沖反射法(2)衍射時(shí)差法、穿透法、共振法(3)縱波法、橫波法(4)表面波法、板波法、爬波法(5)單探頭法、雙探頭法、多探頭法(6)直接接觸法、液浸法(7)超聲波檢測(cè)方法的應(yīng)用(1)儀器的選擇(2)探頭的選擇特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范TSGZ8001—2013內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)Ⅲ(1)耦合劑的作用、要求、種類及應(yīng)用▲(2)影響聲耦合的主要因素▲(3)表面耦合損耗的測(cè)定和補(bǔ)償A(1)掃描速度的調(diào)節(jié)(2)檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié)(1)縱波(直探頭)檢測(cè)時(shí)缺陷定位(2)表面波檢測(cè)時(shí)缺陷定位(3)橫波檢測(cè)時(shí)缺陷定位(4)橫波周向探測(cè)圓柱曲面時(shí)缺陷定位A(1)當(dāng)量法，當(dāng)量試塊比較法、當(dāng)量計(jì)算法、當(dāng)量AVG曲線法(2)測(cè)長(zhǎng)法，相對(duì)靈敏度測(cè)最法、絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法、端點(diǎn)峰值法(3)底波高度法，F(xiàn)/Bp法、FBg法，Bc/端部最大回波法、橫波端角反射法、6dB法(1)影響缺陷定位的主要因索)(2)影響缺陷定量的因素C3.4.9非缺陷回波的判別(1)遲到波、61反射、三角反射A(2)端角反射波、山形波(3)其他非缺陷回波A▲(1)超聲工藝的分類和一般內(nèi)容▲(2)超聲檢測(cè)工藝編制和審核(1)鋼板加工及常見(jiàn)缺陷▲(2)檢測(cè)方法A(3)探頭與掃查方式的選擇(4)探測(cè)范圍和靈敏度的調(diào)整內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢI(5)缺陷的判別與測(cè)定▲(6)鋼板質(zhì)量級(jí)別的判別▲(1)復(fù)合材料中常見(jiàn)的缺陷、檢測(cè)方法■▲(2)缺陷的判別、缺陷測(cè)定與評(píng)級(jí)▲(1)管材加工及常見(jiàn)缺陷(2)小徑管薄壁管檢測(cè)▲(3)大直徑薄壁管檢測(cè)▲(4)管材自動(dòng)檢測(cè)▲▲(1)鍛件加工及常見(jiàn)缺陷▲(2)檢測(cè)方法概述▲(3)探測(cè)條件的選擇▲(4)掃描速度和靈敏度的調(diào)節(jié)(5)缺陷位置和大小的測(cè)定■(6)缺陷回波的判別▲(7)非缺陷回波分析▲(8)鍛件質(zhì)量級(jí)別的評(píng)定▲(1)鑄件的特點(diǎn)及常見(jiàn)缺陷▲(2)鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)及常用技術(shù)▲(1)焊接過(guò)程、坡口形式和接頭形式▲(2)常見(jiàn)焊接缺陷(1)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇A(2)檢測(cè)方法和檢測(cè)條件選擇▲(3)標(biāo)準(zhǔn)試塊A(4)掃描速度的調(diào)節(jié)(5)距離—波幅曲線和靈敏度調(diào)節(jié)(6)傳輸修正(7)掃查方式內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢI(8)掃查速度和掃查間距(9)缺陷的評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)▲(1)管座角焊縫超聲檢測(cè)■▲(2)T形焊接接頭的超聲檢測(cè)▲(1)堆焊層中常見(jiàn)缺陷、堆焊層晶體結(jié)構(gòu)特點(diǎn)▲(2)堆焊層內(nèi)缺陷檢測(cè)▲(3)堆焊層與母材之間未結(jié)合缺陷檢測(cè)▲(4)堆焊層下母材熱影響區(qū)再熱裂紋的檢測(cè)▲▲(1)組織結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和檢測(cè)方法▲(2)檢測(cè)條件的選擇，儀器調(diào)整與探測(cè)▲(3)靈敏度調(diào)節(jié)，缺陷評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)■▲(1)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與常見(jiàn)缺陷▲(2)檢測(cè)準(zhǔn)備和儀器調(diào)整▲(3)缺陷的測(cè)定與評(píng)級(jí)▲(1)小徑管焊接接頭中常見(jiàn)缺陷▲(2)儀器的調(diào)整，探測(cè)區(qū)域、探測(cè)打磨范圍▲(3)掃查探測(cè)與缺陷判別■▲(1)缺陷波形，靜態(tài)波形、動(dòng)態(tài)波形■▲(2)缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判▲(3)非缺陷回波分析▲▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡI(1)磁粉檢測(cè)原理■(2)磁粉檢測(cè)適用范圍5四(3)磁粉檢測(cè)優(yōu)點(diǎn)和局限性▲(4)檢測(cè)元件(1)方法原理及適用范圍四(2)能檢測(cè)出的缺陷及表現(xiàn)形式■ee(1)磁的基本現(xiàn)象▲▲▲(2)磁場(chǎng)的定義、特性▲(3)磁感應(yīng)(力)線(定義、特性)▲(4)圓周磁場(chǎng)、縱向磁化▲(5)磁感應(yīng)強(qiáng)度(定義、特性)0(6)磁通量0▲(7)畢奧—薩伐爾定律(8)安培環(huán)路定律(9)磁介質(zhì)(定義、分類)▲(10)極化強(qiáng)度的定義和基本概念(11)磁場(chǎng)強(qiáng)度(定義、特性)四(1)磁疇(定義、特性)▲▲(2)磁化過(guò)程特性及其應(yīng)用▲(3)磁化曲線定義、表征特性■▲(4)磁滯回線定義國(guó)▲(5)鐵磁性材料磁滯回線的特性▲(6)軟磁材料、硬磁材料磁滯回線的特征特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢII(1)通電圓柱導(dǎo)體的方向(右手定則)四■(2)通電圓柱導(dǎo)體的磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)算■(3)鋼棒通電法磁化的磁場(chǎng)特征■(4)通電鋼管的磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)算(5)通電線圈的磁場(chǎng)特征及方向(右手定則)(6)通電線圈磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)算(7)線圈分類■(8)開(kāi)路磁化和閉路磁化▲(9)感應(yīng)電流和感應(yīng)磁場(chǎng)▲(1)交叉磁軛的磁場(chǎng)合成(2)擺動(dòng)磁軛的磁場(chǎng)合成A▲(1)退磁場(chǎng)概念▲(2)有效磁場(chǎng)▲(3)影響退磁場(chǎng)大小的因素▲(4)退磁場(chǎng)計(jì)算(1)磁路的基本概念、磁路定律及表達(dá)式▲(2)磁路定律的計(jì)算(3)磁感應(yīng)線的折射定律及表達(dá)式，磁感應(yīng)強(qiáng)度的邊界條件(1)漏磁場(chǎng)的形成■▲(2)缺陷的漏磁場(chǎng)分布▲(3)影響漏磁場(chǎng)的因素▲(1)光度量術(shù)語(yǔ)及單位▲(2)紫外線▲▲▲(3)黑光燈▲(1)交流電的定義、物理量、優(yōu)點(diǎn)和局限性▲(2)交流電的趨膚效應(yīng)▲續(xù)表內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡI(3)交流電斷電相位的影響■▲(4)非正弦交流電▲▲(5)整流電分類、特理量、優(yōu)點(diǎn)和局限性國(guó)▲(6)直流電優(yōu)點(diǎn)和局限性▲(7)沖擊電流▲▲▲(8)如何選用磁化電流(1)磁場(chǎng)方向與發(fā)現(xiàn)缺陷的關(guān)系(2)磁化方法的分類(3)軸向通電法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍(4)中心導(dǎo)體法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍四(5)偏置芯棒法的特點(diǎn)、適用范圍圖(6)觸頭法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍(7)感應(yīng)電流法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍▲(8)環(huán)形件繞電纜法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍▲(9)線圈法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍(10)磁軛法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍(11)永久磁軛法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)A(12)交叉磁軛法的特點(diǎn)、優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍(13)直流電磁軛和交流通電法復(fù)合磁化的特點(diǎn)▲(1)制定磁化規(guī)范考慮因素(2)制定磁化規(guī)范的方法(3)軸向通電法和中心導(dǎo)體法磁化規(guī)范(4)偏置芯棒法磁化規(guī)范(5)觸頭法磁化規(guī)范(6)線圈法磁化規(guī)范(7)磁軛法磁化規(guī)范(1)熒光磁粉和非熒光磁粉(特性、要求和應(yīng)用)▲(2)磁粉的性能，磁特性、粒度、形狀、流動(dòng)性和密度、識(shí)別度▲(3)磁粉的驗(yàn)收試驗(yàn)，污染、顏色、粒度、靈敏度、懸浮性和耐用性▲▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡ(1)油基載液(特性及要求)(2)水載液(特性及要求)四(1)磁懸液濃度(定義、要求和應(yīng)用)(2)磁懸液配制(配制方法和要求)(1)應(yīng)用、配方、施加及清除(2)反差增強(qiáng)劑噴罐國(guó)(1)標(biāo)準(zhǔn)試片(用途、分類、使用)(2)標(biāo)準(zhǔn)試塊(用途、分類)(3)自然缺陷試塊▲(1)命名方法▲A▲(2)命名參數(shù)▲▲(1)固定式探傷機(jī)(結(jié)構(gòu)特征及應(yīng)用范圍)▲(2)移動(dòng)式探傷機(jī)(結(jié)構(gòu)特征及應(yīng)用范圍)■▲(3)便攜式探傷機(jī)(結(jié)構(gòu)特征及應(yīng)用范圍)▲(1)磁化電源(2)工件夾持裝置(裝置特點(diǎn)及要求)▲▲圖(3)指示裝置(電流表、電壓表的精度和量程)▲▲(4)磁粉和磁懸液噴灑裝置(裝置組成和技術(shù)要求)▲▲(5)照明裝置▲▲(6)退磁裝置▲▲■常用典型磁粉檢測(cè)設(shè)備舉例▲▲▲ 2013—1008ZGST特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡ(1)連續(xù)法操作要點(diǎn)和優(yōu)缺點(diǎn)(2)剩磁法操作要點(diǎn)和優(yōu)缺點(diǎn)(3)濕法操作要點(diǎn)和優(yōu)缺點(diǎn)(4)干法操作要點(diǎn)和優(yōu)缺點(diǎn)(1)剩磁的產(chǎn)生與影響▲(2)退磁的原理圖▲(3)退磁方法和退磁設(shè)備▲(4)退磁注意事項(xiàng)▲(5)剩磁測(cè)量▲▲(1)后處理▲▲▲(2)合格工件的標(biāo)記▲▲▲(1)超標(biāo)缺陷磁痕顯示的處理▲▲▲(2)復(fù)驗(yàn)▲(1)原材料缺陷磁痕顯示▲(2)熱加工產(chǎn)生的缺陷磁痕顯示▲(3)冷加工產(chǎn)生的缺陷磁痕顯示▲(4)使用后產(chǎn)生的缺陷磁痕顯示A(5)電鍍產(chǎn)生的缺陷磁痕顯示內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)Ⅲ(6)常見(jiàn)缺陷磁痕顯示比較▲(1)磁痕分類▲(2)磁粉檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)▲C4.8磁粉檢測(cè)應(yīng)用(1)焊接件檢測(cè)的內(nèi)容與范圍▲(2)檢測(cè)方法選擇(3)焊接件檢測(cè)實(shí)例(1)鍛鋼件檢測(cè)的特點(diǎn)▲(2)鍛鋼件檢測(cè)方法選擇▲(3)鍛鋼件檢測(cè)實(shí)例▲(1)鑄鋼件檢測(cè)的特點(diǎn)A(2)鑄鋼件檢測(cè)實(shí)例A(1)在用與維修件磁粉檢測(cè)的要求(2)在用與維修件磁粉檢測(cè)的特點(diǎn)(3)在用與維修件磁粉檢測(cè)實(shí)例▲▲▲▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)Ⅲ(1)滲透檢測(cè)的定義和作用國(guó)■(2)滲透檢測(cè)工作原理(3)滲透檢測(cè)方法的分類國(guó)(4)滲透檢測(cè)的基本步驟(5)滲透檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)和局限性▲(1)表面張力和表面張力系數(shù)概念▲(2)表面張力產(chǎn)生機(jī)理▲(3)表面過(guò)剩自由能▲(1)潤(rùn)濕或不潤(rùn)濕現(xiàn)象(2)潤(rùn)濕方程與接觸角▲(3)潤(rùn)濕的三種方式和潤(rùn)濕的四個(gè)等級(jí)▲(4)潤(rùn)濕現(xiàn)象的產(chǎn)生機(jī)理▲(1)毛細(xì)現(xiàn)象▲(2)毛細(xì)管內(nèi)液面高度▲(3)滲透檢測(cè)中的毛細(xì)現(xiàn)象▲(1)固體表面的吸附現(xiàn)象0▲(2)液體表面的吸附現(xiàn)象▲(3)滲透檢測(cè)中吸附現(xiàn)象▲(1)溶解現(xiàn)象及溶解度▲(2)滲透劑的濃度圓▲(3)滲透檢測(cè)與溶解度、濃度▲(1)表面活性、表面活性劑定義▲▲(2)表面活性劑的作用▲內(nèi)容及知識(shí)點(diǎn)ⅢⅡ(3)乳化作用，乳化形式、乳化作用的機(jī)理▲(1)光的本性，光的波動(dòng)性和粒子性▲▲(2)發(fā)光及光致發(fā)光▲▲(3)滲透檢測(cè)用光▲(4)光度學(xué)相關(guān)概念的物理意義及其應(yīng)用▲(5)對(duì)比度和可見(jiàn)度▲(6)缺陷顯示及裂紋檢出能力分、特點(diǎn)及應(yīng)用▲分、特點(diǎn)及應(yīng)用▲(1)乳化劑，乳化劑分類及組成、乳化劑的性能A(2)溶劑去除劑，溶劑去除劑的分類、溶劑去除劑的性能▲▲(1)滲透檢測(cè)系統(tǒng)的定義及同組族定義及構(gòu)成▲(2)滲透檢測(cè)系統(tǒng)的選擇原則▲(1)便攜