YBT 6188-2024《高鉻型釩鈦磁鐵礦 釩、鈦、鉻、鈣、鎂、鋁、硅、錳和磷含量的測定 波長色散X射線熒光光譜法》_第1頁
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ICS73.060.10CCSD31YBHighchromiumvanadium-titaniummagnetite—Determinationofvanadium,titanium,chromium,calcium,manganese,aluminium,silicon,magnesiuphosphorucontents—WavelengthdispersiveX-rayflu(報批稿)YB/TXXXXX-20XX本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結構和起草規則》的規定起草。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發布機構不承擔識別專利的責任。本文件由中國鋼鐵工業協會提出。本文件由全國鐵礦石與直接還原鐵標準化技術委員會(SAC/TC317)歸口。本文件起草單位:攀鋼集團攀枝花鋼釩有限公司。本文件主要起草人:楊新能、馮宗平、李小青、李克明、王娟、楊興梅、陳德、李倩、唐本芹、羊紹松。3YB/TXXXXX-20XX高鉻型釩鈦磁鐵礦釩、鈦、鉻、鈣、鎂、鋁、硅、錳和磷含量的測定波長色散X射線熒光光譜法警示—使用本文件的人員應有正規實驗室工作的實踐經驗。本部分并未指出所有可能的安全問題。使用者有責任采取適當的安全和健康措施,并保證符合國家有關法規規定的條件。本文件規定了波長色散X射線熒光光譜儀測定高鉻型釩鈦磁鐵礦中釩、鈦、鉻、鈣、鎂、鋁、硅、錳和磷含量的方法。本文件適用于高鉻型釩鈦磁鐵礦中9種組分含量的測定,各組分測定范圍見表1。表1各組分測定范圍測定范圍(質量分數),%V2O5Al2O3P2規范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T6682分析實驗室用水規格和試驗方法GB/T6730.1鐵礦石分析用預干燥試樣的制備GB/T6730.68鐵礦石灼燒減量的測定重量法GB/T8170數值修約規則與極限數值的表示和判定GB/T10322.1鐵礦石取樣和制樣方法GB/T16597冶金產品分析方法X射線熒光光譜法通則3術語和定義4YB/TXXXXX-20XX本文件沒有需要界定的術語和定義。4原理試料經硼酸鹽熔融制備成玻璃圓片,其表層樣品經初級X射線照射,產生特征X射線熒光經晶體分光后,探測器在選擇的特征波長相應的2θ角處測量各待測元素的X射線熒光強度。根據校準曲線和測量的X射線熒光強度,經元素間干擾效應校正后,獲得待測元素的含量。5試劑與材料分析中除另有說明外,僅使用認可的優級純試劑和符合GB/T6682規定的三級及以上蒸餾水或去離子水或純度相當的水。5.1碳酸鋰無水干燥狀態,否則需在200℃烘干2h以上,方可使用。5.2四硼酸鋰無水四硼酸鋰(Li2B4O7),在600℃灼燒5h,然后在干燥器中冷卻、貯存。5.3脫模劑推薦使用碘化鉀溶液,200g/L;或碘化鋰溶液,200g/L,也可使用碘化銨、溴化銨、溴化鋰等。5.4氬甲烷氣體90%Ar+10%CH4。6儀器與設備6.1X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀應符合GB/T16597的規定。6.2熔融爐最高工作溫度不低于1100℃,溫控精度30℃,可以選擇電加熱、高頻加熱或燃氣加熱熔融爐。6.3坩堝和模子坩堝和模具(或坩堝兼做模具)容積宜大于30mL,鑄型模要求底部平整光滑(底部厚度應足以防止變形),由不浸潤的鉑-黃合金(95%Pt-5%Au)制成,加熱熔融操作不易變形。6.4天平分度值為0.1mg。7試樣分析用試樣應按GB/T10322.1進行取樣和制樣,試樣應通過0.125mm篩孔;按GB/T6730.1的規定制備預干燥試樣,于干燥器中冷卻至室溫備用。8玻璃樣片的制備8.1玻璃樣片的配比四硼酸鋰6.0000g、碳酸鋰0.5000g、樣品0.3000g,精確至0.1mg。8.2熔融溫度及時間5YB/TXXXXX-20XX依次稱取四硼酸鋰、碳酸鋰、樣品,置于坩堝(6.3)中,攪勻,滴加0.5mL脫模劑(5.3),置于熔融爐(6.2)中,在1120℃±10℃熔融25min,趕凈氣泡,取出,快速搖勻,水平靜置冷卻后,將熔片倒在干凈的濾紙上,標識后待測。8.3玻璃樣片的制備精度實驗室應根據選擇的熔劑、氧化劑和脫模劑進行熔片制備精密度測試。選擇1個釩鈦磁鐵礦標準樣品,按8.2程序熔制5個樣片,對每個玻璃樣片檢測5次鐵及鈦的X射線熒光強度,按公式(1)計算標準偏差Sp,按公式(2)計算變異系數Sr,變異系數Sr宜小于0.2%,否則應調整熔融方法直至試料制備精密度滿足要求方可熔鑄玻璃片。式中:Sp—試樣制備的標準偏差;Sr—試樣制備的變異系數;Xij—第i次測量的第j個玻璃熔片的X射線熒光強度;X—5次測量的X射線熒光平均強度的平均值;Xi—第i次測量的5個玻璃熔片的X射線熒光平均強度。9測量條件X射線光譜儀在測量之前應按儀器制造商的要求使工作條件得到最優化,各元素測量條件參見附錄B。10校準曲線的繪制10.1標準校準樣品選定有一定濃度和梯度范圍的系列有證標準物質作為校準樣品,并確保每個測量元素的有證濃度數量應大于或等于該元素校正曲線系數個數的三倍。校正曲線系數是指由校準樣品確定的系數,如曲線的截距、斜率、經驗α影響系數等。如果選用的系列標準物質未能覆蓋待測樣品的含量范圍,允許使用系列標準物質的混合物或加入高純試劑。用高純試劑配制的校準樣品的準確性應用有證標準物質進行驗證。標準校準樣品按試樣熔融的方法熔鑄成玻璃片后進行測量。10.2測量條件各元素特征譜線的測量條件通過優化獲得,通常須測試3~4個不同濃度的樣品。各元素的測量條件參見附錄B,不同儀器可根據實際情況選擇合適的測量條件,包括背景校正方法和測量時間計算等。10.3校準方程6YB/TXXXXX-20XX可根據實際情況選擇合適的校準方程,如理論α影響系數、基本參數法、經驗α影響系數等。11樣品測量11.1漂移校正選擇合適的標準校準樣品按8.2規定的程序熔融制片,作為漂移校正熔片進行儀器的漂移校正。可采用單點校正或兩點校正,校正的間隔時間可根據儀器的穩定性決定。11.2驗證分析按照選定的分析條件,用X射線熒光儀測量與試樣化學成分相近的標準物質的玻璃熔鑄片,以公式(3)判定分析值與認證值或標準值之間在統計上是否有顯著差異。式中: x—標準樣品中分析元素測量的平均值;μ0—標準樣品中分析元素的標準值;r/R—重復性限和再現性限;n—標準樣品的重復測定次數;S—所使用的標準樣品標準值的標準偏差;N—所使用的標準樣品定值實驗室數。11.3試樣熔片測量按選定的測量條件測定試樣熔片。若進行儀器漂移校正,儀器穩定后,先進行漂移校正,再進行試樣熔片測定。12分析結果計算及其表示12.1分析結果計算根據未知試樣的熒光強度測量值,從校準曲線計算出分析組分的含量。若是灼燒基結果,須換算成干基結果,轉換公式見式(3)。Li×(100L)/100……………(3)式中:Ci—干基下測量元素的含量,%;CLi—灼燒基下測量元素的含量,%;L—灼燒減量,%。注:灼燒減量依據GB/T6730.68規定方12.2分析結果的表示同一試樣兩次獨立分析結果差值的絕對值不大于表2所列重復性限r時,則取算術平均值作為分析結果。如果兩次獨立分析結果差值的絕對值大于表2所列重復性限r時,則按照附錄A的規定追加測量次數并確定分析結果。7YB/TXXXXX-20XX按照GB/T8170進行數字修約。分析結果≥1%時,保留至小數點后兩位;計算結果<1%時,保留至小數點后三位。12.3精密度本文件的精密度見表2。表2精密度%(質量分數)mrRmrRmrRV2O5PAl2O3在重復性條件下,獲得的兩次獨立測試結果的絕對差值不大于重復性限(r),大于重復性限(r)的情況以不超過5%為前提。在再現性條件下,獲得的兩次獨立測試結果的絕對差值不大于再現性限(R),大于再現性限(R)的情況以不超過5%為前提。12.4氧化物系數氧化物換算系數見表2。表3氧化物換算系數VV2O5Al2O3PP2O513試驗報告試驗報告應包括下列內容:a)鑒別試料、實驗室和分析日期等資料;b)遵守本文件規定的程度;c)分析結果及其表示;d)測定中觀察到的異常現象;e)對分析結果可能有影響而本文件未包括的操作,或者任選的操作。8YB/TXXXXX-20XX試驗樣分析值接受程序流程圖試驗樣分析值接受程序流程見圖A.1。從獨立的重復結果開始X1+X2μ=X1+X2μ=2否再次測定X3X1X1+X2+X3μ=3Xmax-Xmin≤1.2r否再次測定X4X1X1+X2

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