標準解讀

《GB/T 44004-2024 納米技術 有機晶體管和材料表征試驗方法》是一項國家標準,旨在為有機晶體管及相關納米材料的性能測試與表征提供一套科學、統一的方法。該標準涵蓋了從樣品準備到數據處理等多個方面的要求,適用于科研機構、高等院校以及相關企業對有機半導體材料及其制成器件進行質量控制和技術研究。

在樣品制備環節,標準詳細描述了如何選擇合適的基底材料,并指導如何通過旋涂、印刷等手段將有機半導體薄膜均勻地沉積于基板之上。此外,還規定了環境條件如溫度、濕度等對實驗結果的影響因素及控制措施。

對于電學性質測試部分,《GB/T 44004-2024》明確了測量電流-電壓特性曲線(I-V曲線)的具體步驟,包括但不限于源漏極間偏壓設置范圍、掃描速率的選擇等關鍵參數設定。同時,也涉及到了遷移率計算公式、閾值電壓確定方法等內容,確保不同實驗室之間能夠獲得可比性強的結果。

除了基本電學性能之外,該文件還介紹了利用X射線衍射(XRD)、拉曼光譜(Raman Spectroscopy)等先進表征技術來分析有機晶體管內部結構特征的方法。這些非破壞性檢測手段可以幫助研究人員更深入地理解材料微觀組成與其宏觀物理性能之間的關系。

《GB/T 44004-2024》不僅限于實驗操作層面的規定,還強調了數據分析的重要性。它建議采用適當的統計工具處理原始數據,并給出了一些典型的數據呈現形式示例,比如散點圖、直方圖等,以便于清晰直觀地展示研究成果。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2024-04-25 頒布
  • 2024-11-01 實施
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GB/T 44004-2024納米技術有機晶體管和材料表征試驗方法_第1頁
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GB/T 44004-2024納米技術有機晶體管和材料表征試驗方法_第3頁
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文檔簡介

ICS07030

CCSL.90

中華人民共和國國家標準

GB/T44004—2024

納米技術

有機晶體管和材料表征試驗方法

Nanotechnologies—Testmethodsforthecharacterizationof

organictransistorsandmaterials

IEC628602013Testmethodsforthecharacterizationof

(:,

oranictransistorsandmaterialsMOD

g,)

2024-04-25發布2024-11-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T44004—2024

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語定義和縮略語

3、………………………1

術語和定義

3.1…………………………1

縮略語

3.2………………4

電學特性通則

4……………4

測試儀器

4.1……………4

測試技術

4.2……………4

重復性和報告樣本量

4.3………………5

低噪聲技術的應用

4.4…………………5

標準表征程序

5OFET……………………5

表征過程指南

5.1OFET………………5

電氣測量

5.2……………7

報告

6………………………9

簡易報告

6.1……………9

器件結構的報告

6.2……………………9

器件遷移率的測定和報告

6.3…………10

開關比的測定和報告

6.4………………11

介電常數的測定和報告

6.5……………11

環境條件的報告

6.6……………………11

其他可報告參數

6.7……………………11

參考文獻

……………………13

GB/T44004—2024

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規則的規定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件修改采用有機晶體管和材料表征試驗方法

IEC62860:2013《》。

本文件與相比做了下述結構調整

IEC62860:2013:

第章對應中的

———1IEC62860:20131.1;

增加了第章規范性引用文件

———2;

第章對應中的第章

———3IEC62860:20132;

調整了中術語和定義的編排順序以符合術語條目按照概念層級分類和編排的原則

———3.1,;

第章對應中的

———4IEC62860:20131.3;

第章對應中的

———5IEC62860:20133.2~3.3;

對應中的

———6.1IEC62860:20133.4.1;

對應中的

———6.2IEC62860:20133.1;

對應中的

———6.3~6.5IEC62860:20133.4.2~3.4.4;

對應中的

———6.6IEC62860:20133.4.5;

對應中的

———6.7IEC62860:20133.4.6;

參考文獻對應中的附錄

———IEC62860:2013A。

本文件與的技術差異及其原因如下

IEC62860:2013:

刪除了中目的以符合中的規定

———IEC62860:20131.2“”,GB/T1.1—2020;

將中引導語的第二句改為注以符合中的規定見

———IEC62860:20132.1,GB/T1.1—2020(

3.1);

刪除了術語開啟電壓底接觸器件底柵器件頂接觸器件頂柵器件激勵電壓大地

———“”“”“”“”“”“”“

接地電磁干擾射頻干擾亞閾值擺幅因為本文件中這些術語僅使用了一次

”“/”“”,;

刪除了縮略語和因為本文件未使用這些縮

———EMI、IEEE、NIST、OET、OST、PFET、RFIUV,

略語

本文件做了下列編輯性改動

:

為與現有標準協調將標準名稱改為納米技術有機晶體管和材料表征試驗方法

———,《》;

增加了公式公式中符號的說明及單位

———(1)~(5);

由于中的附錄不適用于本文件刪除了資料性附錄

———IEC62860:2013B,B。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中國科學院提出

本文件由全國納米技術標準化技術委員會歸口

(SAC/TC279)。

本文件起草單位深圳市德方納米科技股份有限公司國家納米科學中心深圳大學中國科學院上

:、、、

海微系統與信息技術研究所中國科學院微電子研究所深圳市德方創域新能源科技有限公司中國計

、、、

量大學

本文件主要起草人孔令涌葛廣路翟永彪高潔宋志棠夏洋王遠航孫言陳小剛金青青

:、、、、、、、、、、

邱志平裴現一男陳心怡何萌張淑琴鐘麗坤

、、、、、。

GB/T44004—2024

引言

本文件涵蓋了有機晶體管電學特性表征的推薦方法和報告要求由于有機晶體管的特性如果操

。,

作不當會引入較大的測量誤差本文件描述了常見的測量誤差來源并給出了推薦的操作方法以最

,。,,

小化和或表征每種測量的影響

/。

為了使分析報告數據規范化本文件還給出了報告要求包括環境條件和樣本量的描述以便研究

,,,

人員可恰當地評估結果這些報告要求還支持結果的可重復性分析以便更有效地確認新的發現

。,。

本文件旨在促進有機晶體管從實驗室向產業化發展標準化的表征方法和報告要求為信息的有效

比較提供了一種手段并為生產制造奠定了基礎

,。

GB/T44004—2024

納米技術

有機晶體管和材料表征試驗方法

1范圍

本文件描述了一種表征有機晶體管的方法包括測量技術數據報告方法和表征過程的測試條件

,、。

本文件適用于有機晶體管的電學特性測量

2規范性引用文件

本文件沒有規范性引用文件

3術語定義和縮略語

31術語和定義

.

下列術語和定義適用于本文件

注對于本條中未定義的術語參考

:IEEE100。

311

..

源極source

電流由半導體溝道的電導率控制的器件電極

注器件內的所有電壓通常以源極上的電壓為參考

:。

312

..

漏極drain

電流由半導體溝道的電導率控制的器件電極

注漏極通常與源極是相同的漏極相對于源極的偏壓符號取決于多數載流子的性質偏壓對電子而言更正對

:。。

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