超聲波測厚儀影響指標(biāo)因素有哪些 測厚儀常見問題解決方法_第1頁
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第第頁超聲波測厚儀影響指標(biāo)因素有哪些測厚儀常見問題解決方法超聲波測厚儀影響指標(biāo)因素有哪些

1、超聲波測厚儀所測工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進(jìn)行處理,降低粗糙度,同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。2、檢測面與底面不平行,聲波碰到底面產(chǎn)生散射,探頭無法接受到底波信號。3、工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測厚時(shí),因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點(diǎn)接觸或線接觸,聲強(qiáng)透射率低(耦合不好)。可選用小管徑專用探頭,能較的測量管道等曲面材料。4、探頭接觸面有確定磨損。常用測厚探頭表面為丙烯樹脂,長期使用會使其表面粗糙度加添,導(dǎo)致靈敏度下降,從而造成顯示不正確。可選用500#砂紙打磨,使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定,則考慮更換探頭。5、鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,在其中穿過時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的超聲波沿著多而雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶專用探頭。6、超聲波測厚儀所測物背面有大量腐蝕坑。由于被測物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無規(guī)定變化,在極端情況下甚至無讀數(shù)。7、溫度的影響。一般固體材料中的聲速隨其溫度上升而降低,有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,熱態(tài)材料每加添100℃,聲速下降1%。對于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。應(yīng)選用高溫專用探頭,切勿使用一般探頭。8、層疊材料、復(fù)合(非均質(zhì))材料。要測量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的,因超聲波無法穿透未經(jīng)耦合的空間,而且不能在復(fù)合材料中勻速傳播。對于由多層材料包扎制成的設(shè)備,測厚時(shí)要特別注意,測厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度。9、當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷時(shí),顯示值約為公稱厚度的70%,此時(shí)可用超聲波探傷儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測。10、被測物體內(nèi)有沉積物,當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),顯示值為壁厚加沉積物厚度。11、聲速選擇錯(cuò)誤。測量工件前,依據(jù)材料種類預(yù)置其聲速或依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測出聲速。當(dāng)用一種材料校正儀器后又去測量另一種材料時(shí),將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果。要求在測量前確定要正確識別材料,選擇合適聲速。12、金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層,雖與基體材料結(jié)合緊密,無明顯界面,但聲速在兩種物質(zhì)的傳播速度不一樣,會導(dǎo)致終的測量誤差。13、應(yīng)力的影響。在役設(shè)備、管道大部分有應(yīng)力存在,固體材料的應(yīng)力情形對聲速有確定的影響。①當(dāng)應(yīng)力方向與傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓應(yīng)力,則應(yīng)力作用使工件彈性加添,聲速加快;反之,若應(yīng)力為拉應(yīng)力,則聲速減慢。②當(dāng)應(yīng)力與波的傳播方向不一致時(shí),波動過程中質(zhì)點(diǎn)振動軌跡受應(yīng)力干擾,波的傳播方向產(chǎn)生偏離。依據(jù)資料表明,一般應(yīng)力加添,聲速緩慢加添。14、耦合劑的影響。耦合劑是用來排出探頭和被測物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測目的。假如選擇種類或使用方法不當(dāng),將造成誤差或耦合標(biāo)志閃亮,無法測量。①因依據(jù)使用情況選擇合適的種類,當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí),可以使用低粘度的耦合劑;當(dāng)使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時(shí),應(yīng)使用粘度高的耦合劑。高溫工件應(yīng)選用高溫耦合劑。②其次,耦合劑應(yīng)適量使用,涂抹均勻,一般應(yīng)將耦合劑涂在被測材料的表面,但當(dāng)超聲波測厚儀測量溫度較高時(shí),耦合劑應(yīng)涂在探頭上。

鍍層測厚儀操作方法

使用鍍層測厚儀與使用其他儀器一樣,既要把握儀器性能,也需了解測試條件。滄州歐譜使用磁性原理和渦流原理的鍍層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的,所以,被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的牢靠性,下面就這方面的問題作一下介紹。

1.邊界間距假如探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測量誤差。如必需測量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測量。(注:較新的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)3~10%的精度)

2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值。或參照下條。

3.基體金屬最小厚度基體金屬必需有一個(gè)給定的最小厚度,使探頭的電磁場能完全寬容在基體金屬中,最小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以實(shí)行在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以除去。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到精準(zhǔn)的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀,如前所述。

4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必需進(jìn)行多次測量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測量值越不牢靠。為獲得牢靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。

5.探頭測量板的作用力探頭測量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動,必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有確定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?/p>

6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應(yīng)當(dāng)避開在有干擾作用的外界磁場相近進(jìn)行測量。殘存的剩磁,依據(jù)檢測器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會顯現(xiàn)上述現(xiàn)象。

7.覆層材

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