鉑銥合金管鐳源檢定規程本規程適用于用平板型居里電離室以比較法檢的鉑(90%)銥(10%)合金管鐳源。管的壁厚限定為0.5mm。鐳源主要用于鈾礦輻射儀表、輻射防護儀表、環境鐳源中的鐳是指天然放射性鈾-238系中的鐳-226放射性核素。鐳源由無水純氯化餾粉末或無水純溴化鐳粉末焊封(90%)銥(10%)合金管中制成。鐳源中鐳的含量用質量單位mg表示。1被檢鐳源的質量值范圍一般為(0.1～20)mg。在防護條件許可的情況下，上限可以擴大至100mg。3被檢鐳源必須為鉑(90%)銥(10%)合金管封裝，管的壁4被檢鐳源的鉑銥合金管的長度一般應小于20mm,外徑一般應小于5mm。5被檢錨源不允許有破損或污染。鐳源送檢之前必須由有關部門進行放射性氧氣泄漏檢查和表面污染檢查，按有關防護規定檢查合裝入木箱。經有關部門檢查其表面照射量率低于規定水平者(一般為一級或二級輻射安全包裝),方可運至檢定部門。7鐳源收檢前，收檢人員必須與送檢人員當面開箱，逐一清點8錨源送檢時，應附有上次檢定證書。初檢鐳源必須附有出廠9.1.1標準餾源的質量值應在(0.1～20)mg之間。9.1.2標準鐳源必須為鉑(90%)銥(10%)合金管封裝，管的9.1.3標準翎源的鉑銥合金管的長度一般應小于20mm,外徑一般應小于5mm。9.1.4標準錨源應具備合法的檢定證書，檢定證于有關防護規定，否則不能繼續作標準鐳源使用。9.2.1平板型居里電離室使用之前應作飽和曲線，作點，即電離室所加高壓，使復合損失修正因子小于1.002。9.2.2平板型居里電離室的本底電流(包括漏電電流)應小于3pg鐳源產生的電離電流。9.2,3平板型居里電離室測量1mg餾源的短期穩定性應好于9.2,4將1mg鐳源的幾何中心置于以平板型居里電離室的中心小于±0.2%.9.2.5將1mg鐳源的幾何中心對準平板型居里電離室的中心，化應小于2%。檢定時必須對不同直徑的鐳源作高度修正。9.3.2電離電流測量系統應能分辨5×10~測量上限應大于10~1A,在(10~`2～10~′)A范圍內測量值的非線性應小于±0.1%。9.3.3將1mg鐳源固定置于平板型居里電離室的中心位置，以其產生的電離電流作為恒流源，用電離電流測量系統連續測量3h,經過必要的修正后，測量值的變化應小于±0.5%。10檢定實驗室的環境溫度應為(10～30)℃,檢定過程中室溫11檢定實驗室的相對濕度應低于70%。15檢定時除了放在電離室上的鐳源(被檢鐳源或標準鎘源)以16檢定期間，電離室本身的位置應固定，周圍17溫度計：最小分度不大于0.1℃。18氣壓計：最小分度不大于10Pa。20計時器；最小分度為0.01s。21用比較法檢定鋪源。在平板型居里電離室源與標準鎘源的γ射線產生的電離電流值，分別扣除本底電流值后，給出它們的比值?！备鶕摫戎岛蜋z定送檢鋪源時22常規檢定按下列步驟進行22.1測量本底電流值l?。22.2測量標準鐳源的電離電流值1,。22.3測量被檢鐳源的電離電流值1?。22.4再次測量標準錨源的電離電流值Io。23測量本底電流值l,;。23.1平板型居里電離家的本底電流如果大于3μg鐳源產生的電離電流，說明有異常溺電現象，應查清原因和部位，予以排除，方可24測量標準鐳源的電離電流值le?。24.1將標準鐳源放在電離室中心部位，測景標準鐳源產生的電離電流值I?。24.2撤下標準鐳源，讀取室溫和氣壓值，用空氣密度修正公式將I。換算成標準條件下標準鐳源的電離電流值l?。25測量被檢鐳源的電離電流值1.。25.1將被檢鋪源放在電離室中心部位，測量被檢鐳源產生的電25.2撤下被檢鐳源，讀取室溫和氣壓值，用空氣密度修正公式將I,換算成標準條件下被檢餾源的電離電流值Iz。26再次測量標準鐳源的電離電流值1ax。26.1重復第24.1和第24.2款，再次得到標準條件下標準鐳源的電離電流值lx.27再次測量本底電流值1x。28取1e?和I??的平均值i。作為標準鎘源的電離電流值。29取la:和1y的平均值1,作為本底電流值.附錄1平板型居里電離室(見圖)的主要部分是高壓極和收集極，兩電流測量儀器，高壓極接一定電壓，在兩極之間形成一個靜電場。鐳的γ射線與物質相互作用產生次級電子。這些次級電子具有一定能共9頁共9頁