比相儀檢定規(guī)程本規(guī)程適用于線性比相儀的首次檢定和后續(xù)檢定及使用中檢驗。線性比相儀是時頻精確測量的專用設(shè)備，基本原理是利用鑒相器把標(biāo)稱頻率相同的兩個輸入信號相位差變成電壓，再用紙帶或數(shù)字記錄儀記錄電壓變化情況。通過觀測一段時間內(nèi)相位差的變化量，可導(dǎo)出該段時間的平均頻率偏差。線性比相儀(以下簡稱比相儀)用于測量各種原子頻率標(biāo)準(zhǔn)和高穩(wěn)晶振的頻率準(zhǔn)確度、頻率漂移率及頻率長期穩(wěn)3.1頻率范圍：100kHz~10MHz3.2輸入靈敏度：300mV(rms)(輸入阻抗502)3.3相位漂移(對5MHz):≤4ns(觀測時間1天)3.4非線性(對5MHz):≤4ns3.5鑒相死區(qū)(對5MHz):≤10ns比相儀的前或后面板上應(yīng)有儀器各稱制造廠、儀4.2.1比相儀的按鍵、輸入端口、控制端口應(yīng)有明確的標(biāo)志。4.2.2比相儀首次檢定要帶使用說明書，后續(xù)檢定要帶使用說明書及上次檢定的檢定包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗。5.1.1.1溫度：可處在10℃~30℃內(nèi)任一點，但檢定期間溫度波動不應(yīng)超過±2℃5.1.1.2相對濕度：≤80%5.1.1.3交流電源電壓：220(1±10%)V,(50±1)Hz5.1.1.4周圍無影響儀器正常工作的電磁干擾和機(jī)械振動。2可采用高穩(wěn)定石英晶體振蕩器或原子頻率標(biāo)準(zhǔn)。輸出頻率：應(yīng)覆蓋被檢比相儀的測量范圍輸出電平：10mV(ms)~1V(ms)(50Ω負(fù)載)5.2檢定項目及檢定方法+++++++++ 注：“+”為應(yīng)檢項目，“-”為可不檢項目。5.2.2外觀及工作正常性檢查5.2.2.1.被檢比相儀不應(yīng)有影響正常工作的機(jī)械損傷，各功能開關(guān)、按鍵應(yīng)能正常工作，信號輸入插座應(yīng)牢固，控制端口連接可5.2.2.2接通電源，接上符合被檢比相儀輸入頻率和輸入電壓要求的兩個比相信號，比相儀各種功能應(yīng)正常，零刻度及滿刻度調(diào)節(jié)應(yīng)能正常調(diào)節(jié)，各種指示燈及測量顯示應(yīng)對有外控功能的比相儀按說明書的要求連接好控制電纜，通過控制指令比相儀應(yīng)能5.2.3頻率范圍及輸人靈敏度的檢定5.2.3.1輸入靈敏度是指比相儀正常工作所需要的輸入信號最小電壓值。5.2.3.2按圖1連接儀器，并按儀器說明書的規(guī)定，加電預(yù)熱。在被檢比相儀工作頻率范圍內(nèi)選上限頻率如10MHz、下限頻率如100kHz及常用頻率點如50MHz等，測量頻率范圍及輸入靈敏度。5.2.3.3將參考頻標(biāo)輸出的信號接至頻率合成器I和Ⅱ的外頻標(biāo)輸入端，調(diào)節(jié)頻率合成器I、Ⅱ輸出頻率至被檢比相儀上限頻率如10MHz,頻率合成器Ⅱ的輸出電壓調(diào)至遠(yuǎn)3A端B端大于被檢比相儀最小輸入電壓指標(biāo)值(如指標(biāo)值為0.3V(rms),輸出值調(diào)至0.7V(ms)),頻率合成器I的輸出電壓調(diào)至遠(yuǎn)小于被檢比相儀最小輸入電壓指標(biāo)值(如30mV(rms)),然后增加頻率合成器I的輸出信號幅度，直至比相儀正常工作，記錄此時的頻率合成器I輸出頻率值及輸出幅度值，即為比相儀A輸入端該頻率點的輸入靈敏度。同法測量比相儀B輸入端的頻率范圍及輸人靈敏度。5.2.3.4用同樣的方法檢定比相儀的下限頻率點和中間的頻率點及其相應(yīng)的輸入靈敏度。5.2.4.1相位漂移是指比相儀自身引入的相位差的緩慢變化。5.2.4.2按圖2連接儀器，并按儀器說明書的規(guī)定加電預(yù)熱。A端A端B端5.2.4.3按比相儀說明書分別調(diào)節(jié)比相儀的零刻度、滿刻度，參考頻標(biāo)輸出5MHz信5.2.4.4若被檢比相儀顯示記錄值為△P,則對應(yīng)的相位差為△X,△P與△X的轉(zhuǎn)換按(1)式計算。T——被檢比相儀輸入信號的周期，ns。測量時間r(1天)內(nèi)相位差的最大變化量，即為被檢比相儀的相位漂移。5.2.5鑒相死區(qū)與非線性的檢定5.2.5.1鑒相死區(qū)是指當(dāng)被檢比相儀輸入正常工作信號時，比相儀零刻度、滿刻度附45.2.5.3按比相儀說明書分別調(diào)節(jié)比 (3)改步進(jìn)量為2ns,到比相儀的指示不隨之正常變化(或到滿度)為止，若步進(jìn)算測量誤差δ,5檢定證書和檢定結(jié)果通知書(內(nèi)