基于XilinxFPGA的抗輻射可靠性設計技術研究空間輻射環境中的帶電粒子會導致航天器電子系統的半導體器件發生單粒子效應，嚴重影響航天器的可靠性和壽命，其中高能質子和重離子是導致單粒子效應的主要因素。必須對航天器用電子元器件的單粒子效應進行評估，采取一定的抗輻射加固措施，提高其可靠性。因此，空間輻射的單粒子效應研究具有重要意義。基于SRAM的FPGA在航天領域受到極大關注。Xilinx公司的FPGA相繼在MARS2003Lander（JPL）XQR4062XL：ControllingPyrotechnics、MARS2003Rover（JPL）XQVR1000：MotorControl、GRACE（NASA）XQR4036XL：Sensor等任務中成功應用之后，國外航天界對XilinxFPGA的應用興趣大增。我國相關領域對XilinxFPGA的航天應用正處在研究階段，對其中亟待解決的可靠性設計問題研究相對較少，本文根據作者在某衛星載荷設備信號處理器中的實踐對XilinxFPGA（以下簡稱FPGA）的可靠性設計技術進行了研究。1XilinxFPGA介紹XilinxSRAM型FPGA主要由以下幾部份組成，圖1所示為VirtexIIFPGA的結構圖。（1）配置存儲器（ConfigureMemory）：FPGA可以看作配置存儲器和受其控制的可配置邏輯資源兩層的疊加。配置存儲器是FPGA內部的一個大容量存儲器，控制著可配置邏輯資源，如布線資源、可編程邏輯資源、數字時鐘等邏輯功能。配置存儲器的失效將造成FPGA功能的持久失效（直至重新配置成功）。（2）布線資源（RoutingResource）：布線資源是FPGA內部邏輯功能單元互聯的通道，它將用戶設計的各個邏輯功能模塊連在一起。（3）可編程I/O（ProgrammableI/O）：FPGA的輸入輸出接口，通常情況下I/O腳可以設置成輸入、輸出、高阻態、雙向I/O。（4）可編程邏輯單元（CLB：ConfigurableLogic-Block）：可編程邏輯功能單元是FPGA的細胞，通過它可以完成各式各樣的邏輯功能。（5）塊存儲器（BlockSelect-RAM）和乘法器（Multiplier）等：FPGA內部集成的硬件存儲器和乘法器，用以實現快速的數字運算。（6）數字時鐘管理模塊（DCM：DigitalClockManager）：FPGA內部的時鐘管理單元。通過它可以對輸入時鐘進行倍頻、分頻處理，同時還可以減小時鐘的抖動，提高時鐘的驅動能力。目前FPGA的工藝水平從Virtex系列的220nm發展到VirtexII的150nm，一直到現在Virtex4系列高密度FPGA的90nm，雖然抗總劑量效應能力在不斷增強，但是隨著器件的核電壓的降低、門數的劇增，單粒子效應會越來越明顯。因此FPGA上述組成部分，如配置存儲器、CLB和塊存儲器的抗輻射可靠性設計越來越重要。2輻射效應及其影響空間電子設備由于其所處的軌道不同，受到的輻射影響也不相同，但是，總的來講對XilinxFPGA影響比較大的輻射效應主要有：總劑量效應（TID：TotalIonizingDose）、單粒子翻轉（SEU：SingleEventUpset）、單粒子閂鎖（SEL：SingleEventLatch-up）、單粒子功能中斷（SEFI：SingleEventFunctionalInterrupt）、單粒子燒毀（SEB：SingleEventBurnout）、單粒子瞬態脈沖（SET：SingleEventTransient）、位移損傷（DisplacementDamage）等。上述輻射效應產生的機理不盡相同，引起FPGA的失效形式也不同。FPGA的配置存儲器、DCM、CLB、塊存儲器對單粒子翻轉比較敏感，可通過TMR（三倍冗余法）、Scrubbing等來解決。單粒子閉鎖會導致FPGA電流增大，局部溫度升高，有時甚至可以高達200℃上，如果FPGA長時間處于高溫狀態將導致器件的永久損壞。只有降低電源電壓才能退出閂鎖狀態，因此在檢測到單粒子閂鎖之后最好的辦法是斷開器件的電源。FPGA中單粒子功能中斷的敏感部分為配置存儲器、上電復位電路（POR：poweronreset）、Select-MAP接口和JATAG接口，分別可通過MonitortheDONEpin、ReadandWritetoFAR、Read-backandcomparetoknownCRC和togglingPROG等措施解決，對所有SEFI，Xilinx提供IP監視和改正。單粒子瞬態脈沖能引起FPGA內部邏輯電路的短時錯誤，可通過TMR、Scrubbing等來解決。單粒子瞬態脈沖對于小于0.25μm工藝的FPGA影響較大。上述輻射效應對FPGA造成的影響有的是永久性的，如總劑量效應、單粒子燒毀、位移損傷；有的是能夠恢復的，如單粒子翻轉、單粒子功能中斷、單粒子瞬態脈沖。接下來根據對上述輻射影響的分析，研究提高FPGA抗輻射效應的可靠性設計方法。3FPGA抗輻射效應可靠性設計FPGA抗輻射效應可靠性設計可以從以下幾方面進行考慮：FPGA整體設計加固考慮；散布內部間接檢測輻射效應的自檢模塊；引入外部高可靠性的電子器件在空間中不可避免地會受到輻射效應監測模塊等措施。3.1整體加固設計在電子設備的外面一般采用一定厚度的材料對輻射進行屏蔽，屏蔽可以減少設備所受的輻射效應。不同的材料對不同的粒子有著不同的屏蔽性能，經常采用的材料有鋁、鉭和脂類化合物等。整體屏蔽的辦法在航天電子設備中使用較多，也比較成熟。結合我們實際，考慮整星及電控機箱的整體屏蔽效果，在軌高500km及四年工作壽命條件下，選器件耐輻射能力10~20krad（Si）以上。3.2冗余設計冗余設計方法是被公認為比較可靠的應對輻射效應的方法。常用的冗余設計有三倍冗余法（TMR：TripleModuleRedundancy）和部分三倍冗余法（PTMR：PartialTripleModuleRedundancy）。圖2所示為Xilinx推薦的三倍冗余設計邏輯，這種邏輯充分的考慮了SEU、SET產生的影響。雖然TMR帶來了可靠性的提高，但是也會使模塊的速度降低（有的甚至低到原來的80％）、占用資源和功率增加（約為3.2倍）。TMR：ThroughputLogic簡單復制（Threecopiesoftheoriginaldesign-LogicandI/O）TMRTradeoffs（TMR折中方案）設計時可以根據實際情況對關鍵部分使用部分三倍冗余法。全部邏輯和敏感端口三模冗余有時需要權衡做出折衷，如下表。FPGA的可編程I/O也容易受到輻射粒子的影響產生SEU和SEL（目前只發現三態腳在發生錯誤時可以變成輸出腳，還沒有發現I/O發生方向轉換（即輸入變成輸出或者輸出變成輸入）。輸入輸出腳的三倍冗余設計是一種非常有效的方法，尤其是對因為配置存儲器發生單粒子效應的情況下，但是這種方法需要占用三倍的I/O資源，所以設計的時候需要慎重考慮。我們在FPGA內分多個區域，分別采用TMR設計，減小出錯概率。3.3防止關鍵電路SET引起的抖動SET在時鐘電路或者其他數據、控制線上容易產生短脈沖抖動，這種抖動有可能會造成電路的誤觸發或者數據鎖存的錯誤。為了減少這種短脈沖抖動的影響，在設計時可采用如下方法：（1）內部復位電路盡可能使用同步復位；（2）控制線盡可能配合使能信號線使用；（3）組合邏輯數據在鎖存時盡可能配合使能信號。也就是說，盡量在觸發邏輯中配合另一個使能條件，這樣就可以屏蔽由SET產生的大部分抖動。3.4系統監控與重配置（ConfigurationScrubbing）在某些設計壽命不是很長的衛星中，COTS器件的應用已經成為可能，在類似的信號處理或者星務管理平臺中，采用一種金字塔形體系結構可以大大提高平臺的可靠性，有效地抵抗各種輻射效應引起的可恢復故障。Actel高可靠性的反熔絲FPGA負責從非易失大容量存儲器中讀取XilinxFPGA的配置數據對其進行配置，然后在運行期間，對最容易受輻射效應影響的配置存儲器按列進行讀操作，然后與標準數據進行比對，對出現錯誤的列進行局部重配置。另外，也可以通過對回讀數據進行CRC校驗來檢驗配置存儲器是否出現錯誤。對配置存儲器的回讀校驗和重配置（或局部重配置）是一種有效的抵抗輻射效應的方法。Scrubbing通過部分重置刷新配置存儲器，通過連續重置修復SEU，Scrub速度至少十倍于最壞的SEU速度。可以通過兩條途徑來實現Scrubbing，第一條途徑是回讀、比較、修復（closed-loopscrubbing）），第二條途徑是連續重置（open-loopscrubbing）。并不是所有的資源都可以被scrubbed的，比如SRL16s、LUTRAM、BRAM、BRAMdata就不能被scrubbed，可以使用BRAM多模冗余或EDAC算法。也并不是所有的資源都需要被s