標準解讀

《GB/T 41869.2-2022 光學和光子學 微透鏡陣列 第2部分:波前像差的測試方法》是一項國家標準,專注于微透鏡陣列中波前像差的測量技術。該標準詳細規(guī)定了用于評估微透鏡陣列性能的關鍵參數之一——波前像差的測試方法,適用于各類微透鏡陣列的質量控制與性能評價。

標準首先定義了相關術語,如“波前”、“像差”等基礎概念,并對不同類型的波前像差進行了分類說明,包括球差、彗差、場曲等。接著,介紹了幾種常用的波前像差測量技術,例如干涉法、哈特曼-夏克(Hartmann-Shack)傳感器法以及相位恢復算法等,每種方法都有其適用范圍和技術特點。其中,干涉法通過比較參考光束與測試光束之間的相位差異來直接測量波前形狀;哈特曼-夏克傳感器法則利用一系列小孔或透鏡將入射光線分割成多個子光束,通過分析這些子光束的位置偏移來重建整個波前面形;而相位恢復算法則基于迭代計算過程從強度分布反推相位信息。

此外,《GB/T 41869.2-2022》還提供了具體的操作指南,包括實驗裝置搭建、數據采集步驟及處理流程等內容。對于每一步驟都給出了明確的要求,以確保測試結果的一致性和準確性。同時,該標準也強調了環(huán)境條件(如溫度、濕度)對測量精度的影響,建議在穩(wěn)定且可控的環(huán)境下進行實驗。

最后,標準還討論了如何根據測試得到的數據來評價微透鏡陣列的質量,提出了若干量化指標及其計算公式,幫助企業(yè)或研究機構能夠更加科學地分析產品性能,指導后續(xù)的設計優(yōu)化工作。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2022-10-12 頒布
  • 2023-05-01 實施
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GB/T 41869.2-2022光學和光子學微透鏡陣列第2部分:波前像差的測試方法_第1頁
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文檔簡介

ICS31260

CCSL.51

中華人民共和國國家標準

GB/T418692—2022

.

光學和光子學微透鏡陣列

第2部分波前像差的測試方法

:

Opticsandphotonics—Microlensarray—

Part2Testmethodsforwavefrontaberrations

:

ISO14880-22006MOD

(:,)

2022-10-12發(fā)布2023-05-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T418692—2022

.

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

測試裝置及設備

4…………………………2

概述

4.1…………………2

照明光源

4.2……………2

標準透鏡

4.3……………2

準直鏡

4.4………………2

縮束光學系統(tǒng)

4.5………………………2

孔徑光闌

4.6……………2

測試前準備

5………………3

測試原理及程序

6…………………………3

測試方法的選擇

6.1……………………3

干涉測量法

6.2…………………………3

夏克哈特曼波前傳感器測量方法

6.3-…………………6

測試結果

7…………………8

附錄資料性橫向剪切干涉測量法

A()…………………9

測試裝置及測試設備

A.1………………9

測試原理及程序

A.2……………………9

附錄資料性微透鏡陣列一致性測量方法

B()…………12

測試裝置及測試設備

B.1………………12

測試原理及程序

B.2……………………12

微透鏡陣列波像差的同時測量

B.3……………………13

參考文獻

……………………14

GB/T418692—2022

.

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

本文件是光學和光子學微透鏡陣列的第部分已經發(fā)布了以下

GB/T41869《》2。GB/T41869

部分

:

第部分術語

———1:;

第部分波前像差的測試方法

———2:。

本文件修改采用光學與光子學微透鏡陣列第部分波前像差的測試

ISO14880-2:2006《2:

方法

》。

本文件與相比做了下述結構調整

ISO14880-2:2006:

第章對應中的第章和第章

———3ISO14880-2:200634;

第章對應中的第章

———4ISO14880-2:20065;

第章對應中的

———5ISO14880-2:20067.3、7.4;

第章對應中的第章第章附錄附錄附錄和附錄的部分

———6ISO14880-2:20066、8、A、B、DE

內容其中對應中的第章第章及規(guī)范性附錄的微透鏡陣列測

,6.1ISO14880-2:20066、8A

量要求對應中的規(guī)范性附錄的馬赫曾德干涉測量的兩種方法

,6.2.2.1ISO14880-2:2006B-,

對應中的規(guī)范性附錄的泰曼格林微透鏡陣列測量法對應

6.2.2.2ISO14880-2:2006E-,6.3

中的規(guī)范性附錄的夏克哈特曼波前傳感器測量法

ISO14880-2:2006D-;

第章對應中的第章其中對應中

———7ISO14880-2:20069~11,7.1.1~7.1.3ISO14880-2:2006

的第章對應中的第章對應中的

9,7.1.4ISO14880-2:200610,7.1.5ISO14880-2:2006

第章

11。

本文件與的技術差異及其原因如下

ISO14880-2:2006:

刪除了表中的縮寫術語及符號全文均未出現該參數故刪除

a)ISO14880-2:20061Θ,;

刪除了術語和定義引導語的引用文件同時將表的符號更

b)ISO14880-2:2006“”ISO14880-1,1

改為術語和定義形式列入第章

3;

將中的注調整為條文見以適應我國技術條件

c)ISO14880-2:20065.2[4.2d)、4.2e)],;

刪除了中相關內容微透鏡陣列和微透鏡單元的程序相同只有數

d)ISO14880-2:20067.1、7.2,,

據處理方法不同

;

刪除了附錄中的測試結果示例圖圖圖及圖因為測試

e)ISO14880-2:2006BB.3、B.4、B.5B.6,

結果的示例圖具有特殊性故刪除以增強標準通用性

,;

更改了規(guī)范性附錄附錄的性質均改為資料性附錄見附錄附錄

f)ISO14880-2:2006C、F,(A、

以適應我國技術條件

B),。

本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任

,。

本文件由中國機械工業(yè)聯合會提出

本文件由全國光學和光子學標準化技術委員會歸口

(SAC/TC103)。

本文件起草單位中國兵器工業(yè)標準化研究所電子科技大學中國科學院重慶綠色智能技術研究

:、、

院南京邁得特光學有限公司西安西谷微電子有限責任公司浙江偉星光學有限公司上海瑞立柯信息

、、、、

技術有限公司

本文件主要起草人孟凡萍朱懿李斌成張為國姜緒木王金玉楊宏杰汪松汪瑤

:、、、、、、、、。

GB/T418692—2022

.

引言

微透鏡陣列是陣列光學器件中一類重要的光學元件以單個透鏡兩個或多個透鏡陣列的形式廣

,、,

泛應用于三維顯示與陣列光輻射源和光探測器相關的耦合光學增強液晶顯示和光并行處理器元件

、、。

隨著科技不斷進步有必要制定一套技術內容與國際接軌的國家標準這樣既有利于推動我國微透鏡陣

,,

列行業(yè)規(guī)范有序發(fā)展又能更好地促進相關領域的貿易交流和技術合作光學和光子學

,、。GB/T41869《

微透鏡陣列就是在此背景下起草制定的微透鏡陣列標準擬由以下幾個部分組成

》,。

第部分術語目的在于通過定義微透鏡及其陣列的基本術語促進微透鏡陣列產品的應

———1:。,

用有助于科研工作和行業(yè)從業(yè)者在共同理解的基礎上交流概念

,。

第部分波前像差的測試方法目的在于通過規(guī)范波前像差的測試方法明確微透鏡的基本

———2:。,

性能特征

第部分光學特性測試方法目的在于通過確定光學特性重要指標的測試方法為供貨方產

———3:。,

品交付提供依據

第部分幾何特性測試方法目的在于通過確定幾何特性重要指標的測試方法為供貨方產

———4:。,

品交付提供依據

GB/T418692—2022

.

光學和光子學微透鏡陣列

第2部分波前像差的測試方法

:

1范圍

本文件描述了微透鏡陣列中微透鏡波前像差測試的測試裝置及設備測試前準備測試原理及測試

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