標準解讀

《JJF 1092-2002 光切顯微鏡校準規范》與《JJG 76-1980》相比，在多個方面進行了更新和完善，以適應技術進步和實際應用需求。主要變化體現在以下幾個方面：

  1. 適用范圍的明確：新標準更加明確了其適用的對象，即光切顯微鏡及其相關附件，而不僅僅是針對某一特定類型的設備。

  2. 術語定義的更新：對于關鍵術語如“分辨率”、“放大率”等給出了更為準確或詳細的定義，有助于減少理解上的歧義。

  3. 校準條件的變化：規定了更為嚴格的環境控制要求（如溫度、濕度），以及對光源穩定性的要求，確保測量結果的一致性和可靠性。

  4. 校準項目及方法的細化：增加了新的校準項目，并對原有項目的校準方法進行了優化。例如，增加了關于圖像質量評估的具體步驟；對于某些參數，則引入了更先進的測試手段。

  5. 不確定度評定的要求：強調了在校準過程中需要進行不確定度分析，并給出了具體的操作指南，這是舊版標準中所缺乏的內容。

  6. 報告格式的規定：提出了統一的校準證書模板，包括必須包含的信息項，以便于用戶理解和使用校準結果。


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....

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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2002-11-04 頒布
  • 2003-05-04 實施
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文檔簡介

中華人民共和國國家計量技術規范

JJF1092—2002

光切顯微鏡校準規范

CalibrationSpecificationforLight-SectionMicroscopes

2002-11-04發布2003-05-04實施

國家質量監督檢驗檢疫總局發布

JJF1092—2002

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光切顯微鏡校準規范??????????????

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CalibrationSecificationfor代替JJG76—1980?

p??

Light-SectionMicroscopes

本校準規范經國家質量監督檢驗檢疫總局于年月日批準

2002114,

并自年月日起施行

200354。

歸口單位:全國幾何量工程參量計量技術委員會

主要起草單位:廣西計量測試研究所

陜西省計量測試研究所

上海光學儀器研究所

本規范委托歸口單位負責解釋

JJF1092—2002

本規范主要起草人:

全貽智廣西計量測試研究所

()

張磊陜西省計量測試研究所

()

張興德上海光學儀器研究所

()

JJF1092—2002

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計量特性………………

4(1)

測微目鏡視場及示值誤差…………

4.1(1)

狹縫像兩邊緣的直線度和平行度…………………

4.2(2)

工作臺縱橫向導軌移動平面對工作臺表面的平行度……………

4.3(2)

狹縫像在垂直方向的彎曲度………

4.4(2)

托架受側向力時引起物方像的位移…………

4.520N(2)

儀器示值誤差………………………

4.6(2)

校準條件………………

5(3)

環境條件……………

5.1(3)

測量標準器及其他設備……………

5.2(3)

校準項目和校準方法…………………

6(3)

測微目鏡視場及示值誤差…………

6.1(3)

狹縫像兩邊緣的直線度和平行度…………………

6.2(4)

工作臺縱橫向導軌移動平面對工作臺表面的平行度……………

6.3(4)

狹縫像在垂直方向上的彎曲度……………………

6.4(4)

托架受側向力時引起物方像的位移…………

6.520N(4)

儀器示值誤差………………………

6.6(4)

校準結果的表達………………………

7(6)

復校時間間隔…………

8(6)

附錄儀器示值誤差校準結果的測量不確定度評定………………

A(7)

附錄校準證書內容……………………

B(9)

JJF1092—2002

光切顯微鏡校準規范

1范圍

本規范適用于光切顯微鏡的校準

。

2引用文獻

本規范引用下列文獻

:

通用計量術語及定義

JJF1001—1998

測量不確定度評定與表示

JJF1059—1999

表面粗糙度參數及其數值

GB/T1031—1995

使用本規范時應注意使用上述引用文獻的現行有效版本

,。

3概述

光切顯微鏡外形結構如圖所示它以光切法測量原理圖測量表面粗糙度的

1,(2)

輪廓峰高和谷深其測量范圍

,(1.0~80)μm。

圖

1

4計量特性

測微目鏡視場及示值誤差

4.1

測微目鏡鼓輪指示零位時測微目鏡分劃板的毫米刻線應套在雙刻線指標內

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