標準解讀
《GB/T 41204-2021 納米技術 納米物體表征用測量技術矩陣》是一項國家標準,旨在為納米材料的表征提供一個系統化的指導框架。該標準通過定義不同類型的納米物體及其特性,并列出適用于這些特性的各種測量技術和方法,幫助科研人員、技術人員以及監管機構更好地理解和選擇適合特定需求的表征手段。
標準首先對納米物體進行了分類,包括但不限于納米顆粒、納米纖維、納米薄膜等,同時明確了這些納米物體可能具有的物理化學性質,如尺寸分布、形態結構、表面化學組成及電學性能等。接著,根據納米物體的不同屬性,《GB/T 41204-2021》提出了一個全面的技術矩陣,其中包含了多種可用于表征上述特性的實驗技術,例如掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、原子力顯微鏡(AFM)、X射線光電子能譜分析(XPS)等。每種技術都詳細說明了其工作原理、適用范圍以及優缺點,使得用戶能夠基于實際應用背景快速定位到最合適的方法。
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....
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- 現行
- 正在執行有效
- 2021-12-31 頒布
- 2022-07-01 實施





文檔簡介
ICS0104007
CCSA.020.
中華人民共和國國家標準
GB/T41204—2021
納米技術納米物體表征用測量技術矩陣
Nanotechnologies—Measurementtechniquematrixforthecharacterizationof
nano-objects
ISO/TR181962016MOD
(:,)
2021-12-31發布2022-07-01實施
國家市場監督管理總局發布
國家標準化管理委員會
GB/T41204—2021
目次
前言
…………………………Ⅸ
引言
…………………………Ⅹ
范圍
1………………………1
規范性引用文件
2…………………………1
術語和定義
3………………1
通用術語
3.1……………1
納米物體參數
3.2………………………2
矩陣中包含的參數
4………………………3
矩陣中包含的測量技術
5…………………4
概述
5.1…………………4
聲譜
5.2…………………4
描述
5.2.1……………4
納米物體參數
5.2.2…………………5
優點
5.2.3……………5
局限性
5.2.4…………………………5
被測量
5.2.5…………………………5
相關標準
5.2.6………………………5
離心分析
5.3(AC)………………………5
描述
5.3.1……………5
納米物體參數
5.3.2…………………5
優點
5.3.3……………5
局限性
5.3.4…………………………6
被測量
5.3.5…………………………6
相關標準
5.3.6………………………6
電聲譜
5.4………………6
描述
5.4.1……………6
納米物體參數
5.4.2…………………6
優點
5.4.3……………6
局限性
5.4.4…………………………6
被測量
5.4.5…………………………7
相關標準
5.4.6………………………7
氣溶膠顆粒質量分析儀
5.5(AMS)……………………7
描述
5.5.1……………7
納米物體參數
5.5.2…………………7
優點
5.5.3……………7
局限性
5.5.4…………………………7
被測量
5.5.5…………………………7
Ⅰ
GB/T41204—2021
相關標準
5.5.6………………………7
俄歇電子能譜
5.6(AES)………………8
描述
5.6.1……………8
納米物體參數
5.6.2…………………8
優點
5.6.3……………8
局限性
5.6.4…………………………8
被測量
5.6.5…………………………8
相關標準
5.6.6………………………8
物理吸附法測定比表面積
5.7(BET)…………………9
描述
5.7.1……………9
納米物體參數
5.7.2…………………9
優點
5.7.3……………9
局限性
5.7.4…………………………9
被測量
5.7.5…………………………9
相關標準
5.7.6………………………9
凝結式顆粒計數法
5.8(CPC)…………10
描述
5.8.1……………10
納米物體參數
5.8.2…………………10
優點
5.8.3……………10
局限性
5.8.4…………………………10
被測量
5.8.5…………………………10
相關標準
5.8.6………………………10
差分電遷移分析系統
5.9(DMAS)……………………10
描述
5.9.1……………10
納米物體參數
5.9.2…………………10
優點
5.9.3……………11
局限性
5.9.4…………………………11
被測量
5.9.5…………………………11
相關標準
5.9.6………………………11
差示掃描量熱法
5.10(DSC)…………11
描述
5.10.1…………………………11
納米物體參數
5.10.2………………11
優點
5.10.3…………………………11
局限性
5.10.4………………………11
被測量
5.10.5………………………11
相關標準
5.10.6……………………12
動態光散射技術
5.11(DLS)…………12
描述
5.11.1…………………………12
納米物體參數
5.11.2………………12
優點
5.11.3…………………………12
局限性
5.11.4………………………12
被測量
5.11.5………………………13
相關標準
5.11.6……………………13
Ⅱ
GB/T41204—2021
電子能量損失譜透射
5.12(EELS)…………………13
描述
5.12.1…………………………13
納米物體參數
5.12.2………………13
優點
5.12.3…………………………13
局限性
5.12.4………………………13
被測量
5.12.5………………………13
相關標準
5.12.6……………………13
電泳毛細管電泳
5.13/…………………13
描述
5.13.1…………………………13
納米物體參數
5.13.2………………14
優點
5.13.3…………………………14
局限性
5.13.4………………………14
被測量
5.13.5………………………14
相關標準
5.13.6……………………14
能量色散射線譜和波長色散射線譜
5.14X(EDS/EDX)X(WDS)………………14
描述
5.14.1…………………………14
納米物體參數
5.14.2………………14
優點
5.14.3…………………………14
局限性
5.14.4………………………15
被測量
5.14.5………………………15
相關標準
5.14.6……………………15
場流分級法
5.15………………………15
描述
5.15.1…………………………15
納米物體參數
5.15.2………………15
優點
5.15.3…………………………15
局限性
5.15.4………………………15
被測量
5.15.5………………………15
相關標準
5.15.6……………………16
熒光光譜法
5.16………………………16
描述
5.16.1…………………………16
納米物體參數
5.16.2………………16
優點
5.16.3…………………………16
局限性
5.16.4………………………16
被測量
5.16.5………………………16
相關標準
5.16.6……………………16
傅里葉變換紅外光譜法和成像法
5.17(FT-IR)FT-IR……………16
描述
5.17.1…………………………16
納米物體參數
5.17.2………………17
優點
5.17.3…………………………17
局限性
5.17.4………………………17
被測量
5.17.5………………………17
相關標準
5.17.6……………………17
感生光柵法
5.18(IG)…………………17
Ⅲ
GB/T41204—2021
描述
5.18.1…………………………17
納米物體參數
5.18.2………………17
優點
5.18.3…………………………17
局限性
5.18.4………………………17
被測量
5.18.5………………………18
相關標準
5.18.6……………………18
電感耦合等離子體質譜和單顆粒電感耦合等離子體質譜
5.19(ICP-MS)(SP-ICP-MS)…………18
描述
5.19.1…………………………18
納米物體參數
5.19.2………………18
優點
5.19.3…………………………18
局限性
5.19.4………………………18
被測量
5.19.5………………………18
相關標準
5.19.6……………………19
納米聯用技術
5.19.7ICP-MS……………………19
激光衍射技術
5.20……………………19
描述
5.20.1…………………………19
納米物體參數
5.20.2………………19
優點
5.20.3…………………………19
局限性
5.20.4………………………19
被測量
5.20.5………………………20
相關標準
5.20.6……………………20
液相色譜質譜聯用法
5.21-(LC-MS)…………………20
描述
5.21.1…………………………20
納米物體參數
5.21.2………………20
優點
5.21.3…………………………20
局限性
5.21.4………………………20
被測量
5.21.5………………………20
相關標準
5.21.6……………………20
顆粒跟蹤分析
5.22……………………20
描述
5.22.1…………………………20
納米物體參數
5.22.2………………21
優點
5.22.3…………………………21
局限性
5.22.4………………………21
被測量
5.22.5………………………21
相關標準
5.22.6……………………21
光學吸收光譜
5.23(UV/Vis/NIR)…………………21
描述
5.23.1…………………………21
納米物體參數
5.23.2………………22
優點
5.23.3…………………………22
局限性
5.23.4………………………22
被測量
5.23.5………………………22
相關標準
5.23.6……………………22
石英晶體微天平
5.24(QCM)…………22
Ⅳ
GB/T41204—2021
描述
5.24.1…………………………22
納米物體參數
5.24.2………………22
優點
5.24.3…………………………22
局限性
5.24.4………………………23
被測量
5.24.5………………………23
相關標準
5.24.6……………………23
拉曼光譜拉曼成像
5.25/………………23
描述
5.25.1…………………………23
納米物體參數
5.25.2………………23
優點
5.25.3…………………………23
局限性
5.25.4………………………23
被測量
5.25.5………………………23
相關標準
5.25.6……………………23
共振質量測量
5.26(RMM)……………24
描述
5.26.1…………………………24
納米物體參數
5.26.2………………24
優點
5.26.3…………………………24
局限性
5.26.4………………………24
被測量
5.26.5………………………24
相關標準
5.26.6……………………24
掃描電子顯微術
5.27(SEM)…………24
描述
5.27.1…………………………24
納米物體參數
5.27.2………………24
優點
5.27.3…………………………25
局限性
5.27.4………………………25
被測量
5.27.5………………………25
相關標準
5.27.6……………………25
掃描探針顯微術
5.28(SPM)…………26
描述
5.28.1…………………………26
納米物體參數
5.28.2………………26
優點
5.28.3…………………………26
局限性
5.28.4………………………26
被測量
5.28.5………………………26
相關標準
5.28.6……………………27
二次離子質譜和飛行時間二次離子質譜
5.29(SIMS)(TOF-SIMS)………………27
描述
5.29.1…………………………27
納米物體參數
5.29.2………………27
優點
5.29.3…………………………27
局限性
5.29.4………………………27
被測量
5.29.5………………………28
相關標準
5.29.6……………………28
射線小角散射法
5.30X(SAXS)………………………28
描述
5.30.1…………………………28
Ⅴ
GB/T41204—2021
納米物體參數
5.30.2………………28
優點
5.30.3…………………………28
局限性
5.30.4………………………28
被測量
5.30.5………………………28
相關標準
5.30.6……………………29
靜態光散射和靜態多重光散射
5.31(SLS)(SMLS)…………………29
描述
5.31.1…………………………29
納米物體參數
5.31.2………………29
優點
5.31.3…………………………29
局限性
5.31.4………………………29
被測量
5.31.5(SLS)…………………30
被測量
5.31.6(SMLS)………………30
相關標準
5.31.7……………………30
單粒子光干涉法
5.32…………………30
描述
5.32.1…………………………30
納米物體參數
5.32.2………………30
優點
5.32.3…………………………30
局限性
5.32.4………………………30
被測量
5.32.5……………
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