ICS2522020

A29..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T31568—2015

熱噴涂熱障ZrO2涂層

晶粒尺寸的測定謝樂公式法

Standardtestmethodfordeterminationof

crystallitesizeofZrO2coatingsbyScherrerequation

2015-05-15發(fā)布2016-01-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T31568—2015

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC57)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人程國峰黃月鴻阮音捷曾毅宋力昕

:、、、、。

Ⅰ

GB/T31568—2015

熱噴涂熱障ZrO2涂層

晶粒尺寸的測定謝樂公式法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用射線衍射謝樂公式法測定熱噴涂熱障涂層試樣中立方四方單斜三種

XZrO2、、

相晶粒尺寸的方法原理測試條件及計(jì)算步驟等

ZrO2、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶粒尺寸在范圍內(nèi)部無不均勻應(yīng)變的試樣

2nm~100nm、。

2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

21

.

熱障ZrO2涂層thermalbarrierZrO2coatings

采用熱噴涂制備工藝制備的基的涂層材料

ZrO2。

22

.

晶粒crystallite

內(nèi)部分子原子等有規(guī)律排列的微小單晶

、。

23

.

晶粒尺寸crystallitesize

Lhkl

晶粒在hkl晶面法線方向上的平均尺度

()。

24

.

半高寬fullwidthathalfmaximumofpeakprofileFWHM

;

衍射峰峰高極大值一半處的峰寬

。

3方法原理

對(duì)試樣照射射線測量所得到的衍射線假設(shè)試樣中沒有晶體結(jié)構(gòu)的不完整則衍射線的寬化僅

X,,,

由晶粒的細(xì)化引起可利用式謝樂公式計(jì)算晶粒尺寸

,(1)():

Kλ

Lhkl=

βhklθ……(1)

cos

式中

:

Lhkl晶粒在hkl晶面法線方向的平均尺度單位為納米

———(),(nm);

K常數(shù)與βhkl的定義有關(guān)當(dāng)βhkl定義為半高寬時(shí)K

———,。,=0.89;

λ實(shí)驗(yàn)所用的射線波長

———X,0.154056nm;

βhkl由晶粒細(xì)化引起的試樣某hkl晶面衍射峰的半高寬需扣除背底單位為弧度

———()(),(rad);