XRD衍射的應用X射線的發現X射線及其衍射X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相乳膠感光、氣體電離。在用高能電子束轟擊金屬“靶”材產生X射線，它具有與靶中元素相對應的特定波長，稱為特征（或標識）X射線。如通常使用的靶材對應的X射線的波長大約為1.5406埃。考慮到X射線的波長和晶體內部原子面間的距離相近，1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出一個重要的科學預見：晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即當一束X射線通過晶體時將發生衍射，衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析在照相底片上得到的衍射花樣，便可確定晶體結構。這一預見隨即為實驗所驗證X射線衍射應用舉例X射線衍射物相分析X射線衍射進行精確點陣分析X射線應用：古錢真偽鑒定X射線衍射應用：應力測定X射線衍射物相分析1.試樣制備衍射儀一般采用塊狀平面試樣，它可以是整塊的多晶體，亦可用粉末壓制。金屬樣可從大塊中切割出合適的大小（例如20mmx15mm），經砂輪、砂紙磨平再進行適當的浸蝕而得。分析氧化層時表面一般不作處理，而化學熱處理層的處理方法須視實際情況進行（例如可用細砂紙輕磨去氧化皮）。粉末樣品應有一定的粒度要求，這與德拜相機的要求基本相同（顆粒大小約在1一10μm）數量級。粉末過200一325目篩子即合乎要求），不過由于在衍射儀上攝照面積較大，故允許采用稍粗的顆粒。根據粉末的數量可壓在的深框或淺框中。壓制時一般不加粘結劑，所加壓力以使粉末樣品壓平為限，壓力過大可能導致顆粒的擇優取向。當粉末數量很少時，可在平玻璃片上抹上一層凡士林，再將粉末均勻撒上。測試參數的選擇描畫衍射圖之前，須考慮確定的實驗參數很多，如X射線管陽極的種類、濾片、管壓、管流等，其選擇原則在教材有所介紹。有關測角儀上的參數，如發散狹縫、防散射狹縫、接收狹縫的選擇等，可參考教材。對于自動化衍射儀，很多工作參數可由微機上的鍵盤輸入或通過程序輸入。衍射儀需設置的主要參數有：狹縫寬度選擇，測角儀連續掃描速度，如0.010/s;0.030/s或0.050/s等；步長；掃描的起始角和終止角探測器選擇，掃描方式等。此外，還可以設置尋峰掃描、階梯掃描等其它方式衍射圖的分析先將衍射圖上比較明顯的衍射峰的2θ值量度出來。測量可借助于三角板和米尺。將米尺的刻度與衍射圖的角標對齊，令三角板一直角邊沿米尺移動，另一直角邊與衍射峰的對稱（平分）線重合，并以此作為峰的位置。借米尺之助，可以估計出百分之一度（或十分之一度）的2θ值，并通過工具書查出對應的d值。又按衍射峰的高度估計出各衍射線的相對強度。有了d系列與θ系列之后，取前反射區三根最強線為依據，查閱索引，用嘗試法找到可能的卡片，再進行詳細對照。如果對試樣中的物相已有初步估計，亦可借助字母索引來檢索。確定一個物相之后，將余下線條進行強度的歸一處理，再尋找第二相。有時亦可根據試樣的實際情況作出推斷，直至所有的衍射均有著落為止。物相分析實例球墨鑄鐵試片經570℃氣體軟氮化4h，用CrKα,照射，所得的衍射圖如圖所示分析結果將各衍射峰對應的2θ,d及I/I1列成表格，即是表2-1中左邊的數據。根據文獻資料，知滲氮層中可能有各種鐵的氮化物，于是按英文名稱“IronNitride”翻閱字母索引，找出Fe3N,ζ-FaiN,。εFe3N-FezN及γ-Fe4N等物相的卡片。與實驗數據相對照后，確定"εFe3N-Fe2N"及"F3N"兩個物相，并有部分殘留線條。根據試樣的具體情況，猜側可能出現基體相有鐵的氧化物的線條。經與這些卡片相對照，確定了物相a-Fe3O4衍射峰的存在。各物相線條與實驗數據對應的情況根據具體情況判斷，各物相可能處于距試樣表面不同深度處。其中Fe3O4應在最表層，但因數量少，且衍射圖背底波動較大，致某些弱線未能出現。離表面稍遠的應是εFe3N-Fe2N"相，這一物相的數量較多，因它占據了衍射圖中比較強的線。再往里應是Fe3N,其數量比較少。a-Fe應在離表面較深處，它在被照射的體積中所占分量較大，因為它的線條亦比較強。從這一點，又可判斷出氮化層并不太厚。衍射線的強度跟卡片對應尚不夠理想，特別是d＝2.065這根線比其它線條強度大得多。本次分析對線條強度只進行了大致的估計，實驗條件跟制作卡片時的亦不盡相同，這些都是造成強度差別的原因。至于各物相是否存在擇優取向，則尚未進行審查

點陣常數是晶體的重要基本參數，隨化學組分和外界條件(T,P)而變。材料研究中，它涉及的問題有：鍵合能、密度、熱膨脹、固溶體類型、固溶度、固態相變，宏觀應力。點陣常數的變化量很小，約為10－5nm,必須精確測定。

點陣參數的精確測定

一、對立方晶系有：

對θ越接近90°時，對應于測量誤差Δθ的Δsinθ值誤差越小，由此計算出的點陣常數也越精確。

圖二、圖解外推法

對立方晶系：，對各衍射線位置測量計算得θ和a，以a為縱坐標，cos2θ為橫坐標作直線，并外推到cos2θ=0，即θ＝90o，此時縱坐標上的a即為精確值（如圖5-4)。這種外推法是在粗淺地分析誤差時得出的，在滿足以下條件時才能得出很好的結果。（a）要求θ>60o，且其間有數目多、分布均勻的衍射線；（b）至少有一條很可靠的衍射線在80o以上。因此，又尋求出外推函數：適用于較廣角度的衍射。（圖5-5)三、最小二乘法基本原理:若對某物理量作n次等精度測量，其結果分別為L1、L2、L3…Ln。通常，人們采用其算術平均值L=∑Li/n作為該量的“真值”。實際上最理想的L值是，它能使各次測量誤差的平方和為最小，這種方法可使測量的偶然誤差降為最小。根據上述原理，對任意給定的直線方程：Y=a+bX四、標準樣校正法選擇比較穩定的物質，精心測量出其點陣參數，用于作為標準數據。將標準物質混合于待測試樣中，根據標樣的已知點陣參數a及所用波長計算出θ值，與實際衍射結果進行對比，找出Δθ，作為誤差校正。優點：簡單易行，具有實用價值。缺點：精度依賴于標樣本身數據的精度。

X射線應用：真偽鑒定X射線透射圖與普通照片不同，它的畫面是人眼一般看不到的古錢幣銹蝕層下的信息，它是對古錢幣的一種無損檢測。由于古幣中各部分金屬密度的差異，通過x射線透視檢測，我們可清楚地發現人為對古錢幣的添銘、改刻、焊接、粘接、錘打等痕跡。也可觀察到古錢幣是否有裂紋，以及裂紋的長度、位置、形狀和寬窄等。從而可以很輕易的辨清真假。首先，我們會在電子顯微鏡下發現假銹缺乏真銹的立體層次感，更沒有自然形成銹的那種礦物特征。接著我們可通過x射線衍射分析出假古錢表面五顏六色的銹不是無機物，而是有機物（硝基漆和環氧樹脂等）的分子成分。說明贗品制造者，在做銹時，一般只注意視覺效果，加之對真錢銅銹成分缺乏了解或一時難以購到這些礦化物的材料，往往代之以顏色相近的其它礦物顏料，用x射線衍射分析方法很容易識別古錢是否經過現代高分子材料處理過。當然對古錢表現銹蝕層的鑒定用化學分析法也是很有效的。宏觀殘余應力測定應用原理：對于理想的晶體（晶粒細小，無擇優取向）在無應力狀態下，不同方位的同組晶面間距是相等的，而當受到一定的宏觀應力σφ時，不同晶粒的同族晶面面間距隨晶面方位及應力大小發生有規律的變化，通過建立待測應力σψ與與空間某方位上的應變εφψ之間的關系，通過測量應變值求的應力狀態宏觀殘余應力測定方法同傾法特點：測量方向平面與掃描平面重合分為固定ψ法和固定ψ0法

固定ψ法適合小的工件

固定ψ0法適合形狀復雜，不能放在衍射儀上的工件側傾法

固定ψ法常用的是兩點法和sin2ψ法X射線衍射最新進展X射線分析的新發展金屬X射線分析由于設備和技術的普及已逐步變成金屬研究和材料測試的常規方法。早期多用照相法，這種方法費時較長，強度測量的精確度低。50年代初問世的計數器衍射儀法具有快速、強度測量準確，并可配備計算機控制等優點，已經得到廣泛的應用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。。從70年代以來，隨著高強度X射線源（包括超高強度的旋轉陽極X射線發生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖X射線源）和高靈敏度探測器的出現以及電子計算機分析的應用，使金屬X射線學獲得新的推動力。這些新技術的結合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進行瞬時的動態觀察以及對更為微弱或精細效應的研究X射線應用中的危害X射線照射生物體時，與機體細胞、組織、體液等物質相互作用，引起物質的原子或分子電離，因而可以直接破壞機體內某些大分子結構