ICS31120

L47.

中華人民共和國國家標準

GB/T221815—2015

代替.

GB/T11482—1989

等離子體顯示器件

第5部分總規范

:

Plasmadisplaypanels—

Part5Genericsecification

:p

2015-06-02發布2016-02-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T221815—2015

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語定義單位符號和縮略語

3、、、…………2

術語和定義

3.1…………………………2

單位符號和縮略語

3.2、…………………3

總則

4………………………3

優先順序

4.1……………3

標準大氣條件

4.2………………………3

標志

4.3…………………4

質量評定類別

4.4………………………4

篩選

4.5…………………4

操作

4.6…………………4

質量評定程序

5……………5

總則

5.1…………………5

鑒定批準和或能力批準的資格

5.2/……………………5

初始制造階段

5.3………………………5

商業保密信息

5.4………………………5

檢驗批的構成

5.5………………………5

結構相似器件

5.6………………………5

零部件

5.7………………5

交貨放行的有效性

5.8…………………5

鑒定批準試驗

5.9………………………5

鑒定批準的授予

5.10……………………6

質量一致性檢驗

5.11……………………6

統計抽樣程序

5.12………………………9

耐久性試驗

5.13…………………………9

規定失效率的耐久性試驗

5.14…………9

加速試驗程序

5.15……………………10

能力批準程序

5.16……………………10

試驗和測量程序

6…………………………10

標準條件和一般預防措施

6.1…………10

物理檢查

6.2……………11

電學光學和顯示性能測量

6.3、………………………11

氣候和機械試驗

6.4……………………11

替代試驗方法

6.5………………………11

Ⅰ

GB/T221815—2015

.

耐久性試驗

6.6…………………………11

附錄規范性附錄批允許不合格品率抽樣方案

A()(LTPD)…………12

附錄資料性附錄規范的基本描述

B()…………………18

表抽樣方案

A.1LTPD…………………13

表等于或小于的小批量超幾何抽樣方案

A.2200……………………15

表和抽樣方案

A.3AQLLTPD…………17

Ⅱ

GB/T221815—2015

.

前言

等離子體顯示器件的預計結構如下

GB/T22181《》:

第部分術語與文字符號

———1:(GB/T22181.1—2008);

第部分光學參數測量方法

———2-1:(GB/T22181.21—2008);

第部分光電參數測量方法

———2-2:(GB/T22181.22—2008);

第部分模塊顯示質量測量方法

———2-3:(GB/T22181.23—2012);

第部分數字電視機用器件特性測量方法

———2-4:;

第部分機械接口

———3-1:;

第部分電子接口

———3-2:;

第部分氣候和機械試驗方法

———4:;

第部分總規范

———5:(GB/T22181.5—2015);

第部分數字電視機用等離子體顯示器件空白詳細規范

———6:。

本部分是的第部分

GB/T221815。

本部分按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替交流等離子體顯示器件總規范可供認證用本部分與

GB/T11482—1989《()》。

相比除編輯性修改外主要技術性變化如下

GB/T11482—1989,,:

增加了術語平均顯示亮度平均圖像電平色域覆蓋率高灰度色域覆蓋率低灰度色域覆蓋

———:、、、、

率平均功耗視角亮度視角對比度視角色度視角動態圖像分辨率圖像條紋閃爍和噪

、、、、、、、、

聲及其定義見

,(3.1);

增加了質量評定類別篩選和操作等內容見和

———、(4.4、4.54.6);

在質量評定程序中修改了檢驗分組的劃分增加了簡化檢驗的補充程序和抽樣方案

———,,LTPD

見和

(5.11.2、5.11.45.12.2);

試驗項目和試驗方法采用

———GB/T22181.21—2008、GB/T22181.22—2008、GB/T22181.23—

和標準中規定的項目和方法

2012SJ/T11379—2008;

增加了附錄批允許不合格品率抽樣方案和附錄規范的基本描述

———A[(LTPD)]B()。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本部分由中國電子技術標準化研究院歸口

。

本部分起草單位四川虹歐顯示器件有限公司西安交通大學四川長虹電器股份有限公司

:、、。

本部分主要起草人鄧新群胡文波王平松趙曉東王麗雯黃長戈唐禮

:、、、、、、。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況為

:

———GB/T11482—1989。

Ⅲ

GB/T221815—2015

.

等離子體顯示器件

第5部分總規范

:

1范圍

的本部分是等離子體顯示器件的總規范它規定了體系質量評定的通

GB/T22181。IECQ-CECC

用程序并規定了電學光學圖像顯示機械及環境性能描述和測試的通用要求

,、、、。

本部分適用于等離子體顯示器件

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

計數抽樣檢驗程序第部分按接收質量限檢索的逐批檢驗抽樣

GB/T2828.1—20121:(AQL)

計劃

所有部分電氣簡圖用圖形符號

GB/T4728()

等離子體顯示器件第部分術語與文字符號

GB/T22181.1—20081:(IEC61988-1:2003,IDT)

等離子體顯示器件第部分光學參數測量方法

GB/T22181.21—20082-1:(IEC61988-2-1:

2002,IDT)

等離子體顯示器件第部分光電參數測量方法

GB/T22181.22—20082-2:(IEC61988-2-2:

2003,IDT)

等離子體顯示器件第部分模塊顯示質量測量方法

GB/T22181.23—20122-3:

等離子體顯示器件第部分機械接口

SJ/T11378—20083-1:

等離子體顯示器件第部分氣候和機械試驗方法

SJ/T11379—20084:

所有部分電工技術用文字符號

IEC60027()(Lettersymbolstobeusedinelectricaltechnology)

所有部分國際電工術語

IEC60050()(Internationalelectrotechnicalvocabulary)

計數檢查抽樣方案和程序

IEC60410:1973(Samplingplansandproceduresforinspectionbyat-

tributes)

半導