標準解讀

《GB/T 20725-2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則》是一份由中國發布的國家標準文件，旨在為使用波譜法定性點分析技術結合電子探針顯微鏡（EPMA）進行材料成分分析提供指導原則和方法。這份標準詳細闡述了分析過程中的技術要求、操作步驟、數據處理及質量控制等方面，以確保分析結果的準確性和可重復性。下面是該標準內容的概覽：

  1. 范圍：該標準規定了利用電子探針顯微分析技術中波譜法定性點分析的方法原理、儀器校準、樣品制備、測量條件選擇、數據分析方法及其在不同材料類型中的應用指導。

  2. 術語和定義：明確了電子探針顯微分析、波譜法、定性分析等相關專業術語的定義，幫助使用者建立統一的概念理解基礎。

  3. 引用文件：列出了執行本標準時需要參考的其他國家標準或國際標準，這些文件提供了更具體的技術細節和要求。

  4. 原理：介紹了波譜法定性分析的基本原理，即通過測量樣品在電子束激發下產生的特征X射線光譜，來確定樣品中存在的元素種類。

  5. 儀器與設備：詳細描述了進行電子探針顯微分析所需的儀器配置、性能指標以及日常維護和校準要求，確保分析設備的穩定性和準確性。

  6. 樣品準備：規范了樣品的選取、制備方法（如切割、鑲嵌、磨拋、清洗）以及如何避免樣品制備過程中引入的污染和形貌變化對分析結果的影響。

  7. 測量條件：包括電子束的加速電壓、束流強度、探測器的選擇與設置等，指導用戶根據樣品特性和分析目標選擇最合適的測量參數。

  8. 數據采集與處理：闡述了數據獲取的過程、背景扣除、譜線識別、定量分析前的定性確認步驟，以及如何利用軟件工具進行數據分析。

  9. 結果報告：規定了分析結果報告應包含的信息，如樣品信息、測試條件、檢測到的元素列表、可能的干擾因素說明及結論等，確保報告的完整性和透明度。

  10. 質量保證與控制：提出了實施內部質控措施的建議，如使用標準物質進行校驗、重復性測試和儀器穩定性監控，以保障分析結果的可靠性和一致性。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 2006-12-25 頒布
  • 2007-08-01 實施
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GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則_第1頁
GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則_第2頁
GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則_第3頁
GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則_第4頁
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GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS71.040.99N53中華人民共和國國家標準GB/T20725-2006/ISO17470：2004波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則EiectronprobemicroanalysisguidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometryCISO17470:2004.Microbeamanalysis-Electronprobemicroanalysis-GuidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometry,IDT)2006-12-25發布2007-08-01實施中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T20725-2006/ISO17470:2004前本標準等同采用ISO17470:2004《波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則》(英文版)本標準的附錄A為資料性附錄。本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口本標準起草單位：中國科學院上海硅酸鹽研究所本標準主要起草人：曾毅、李香庭

GB/T20725—2006/ISO17470:2004電子探針顯微分析常常用于定性鑒別試樣中微區范圍內存在的元素.為了避免錯誤的分析結果,必項規范測量條件和元素鑒別方法。

GB/T20725—2006/IS017470:2004波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則范圍本標準是用電子探針或者掃描電鏡中的波譜儀獲得試樣特定體積內（gm2尺度）的X射線譜，進行元素鑒別和確認特定元素存在的一種標準方法。規范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括誤的內容)或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。ISO14594:2003微區分析探針分析波譜實驗參數確定導則3術語和定義下列術語和定義適用于本標準高次行射higherorderreflections對應于=2.3,4…·的不同衍射角出現的譜峰注：在WDS中.X射線按照Bragg方程（mA=2dsino)進行衍射.入為X射線波長·d為品體的品面間距，0為衍射角，為整數。高次峰是對應于=2.3.4……時不同衍射角度的譜峰32點分析pointanalysis入射電子束固定照射(轟擊)試樣表面所選區域的分析注：本標準也適用于人射電子束對試樣表面一個很小區域進行快速掃描的方法。最大電子束尺寸或者電子束掃描范圍，可以通過擴大分析區域時的X射線相對強度不發生變化來確定。33羅蘭圓Rowlandcircle也稱聚焦圓.即X射線光源、衍射品體和探測器必須位于該圓周上以滿足布拉格衍射條件3.4X射線波長表X-rayIinetable用于EPMA定性分析的X射線波長表，注：用于EPMA定性分析的X射線波長表.列出了每個銜射品體衍射時元素的K，L和M線系的波長值。它還可列出每一個峰的相對強度、半高寬、衍射晶體的面間距和衛星峰的波長等。專用名詞縮寫EPMA（electronprobemieroanalysisoreleetronprobemieroanalyzer）：電子探針顯微分析；電子深針顯微分析儀。WDS（wavele

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