犐犆犛３３．１８０．１０

犕３３

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８

光纖試驗方法規范

第３２部分：機械性能的測量方法和

試驗程序———涂覆層可剝性

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（ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ—

Ｐａｒｔ１２２：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ—

Ｃｏａｔｉｎｇｓｔｒｉｐｐａｂｉｌｉｔｙ，ＭＯＤ）

２００８０３３１發布２００８１１０１實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局

發布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３方法概述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４裝置!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５試樣制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

６程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

７結果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

Ⅰ

書

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ１５９７２《光纖試驗方法規范》由若干部分組成，其預期結構及對應的國際標準和將代替的國家

標準為：

———第１０部分～第１９部分：測量方法和試驗程序總則（ＩＥＣ６０７９３１１０至ＩＥＣ６０７９３１２９；代替

ＧＢ／Ｔ１５９７２．１—１９９８）；

———第２０部分～第２９部分：尺寸參數的測量方法和試驗程序（對應ＩＥＣ６０７９３１２０至

ＩＥＣ６０７９３１２９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８）；

———第３０部分～第３９部分：機械性能的測量方法和試驗程序（對應ＩＥＣ６０７９３１３０至

ＩＥＣ６０７９３１３９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８）；

———第４０部分～第４９部分：傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序；（對應ＩＥＣ６０７９３１４０

至ＩＥＣ６０７９３１４９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８）；

———第５０部分～第５９部分（ＧＢ／Ｔ１５９７２．５０～ＧＢ／Ｔ１５９７２．５９）：（對應ＩＥＣ６０７９３１５０至

ＩＥＣ０７９３１５９；代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．５—１９９８）。

其中ＧＢ／Ｔ１５９７２．３×由以下部分組成：

———第３０部分：機械性能的測量方法和試驗程序———光纖篩選試驗；

———第３１部分：機械性能的測量方法和試驗程序———抗張強度；

———第３２部分：機械性能的測量方法和試驗程序———涂覆層可剝性；

———第３３部分：機械性能的測量方法和試驗程序———應力腐蝕敏感性參數；

———第３４部分：機械性能的測量方法和試驗程序———光纖翹曲。

本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第３２部分，本部分修改采用國際電工委員會標準ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１

《光纖第１３２部分：測量方法和試驗程序———涂覆層可剝性》。

本部分與ＩＥＣ６０７９３１３２：２００１的主要差異如下：

———按照我國標準的編排格式和表述要求，對一些內容安排做了調整，增加了“第３章方法概

述”，第１章某些內容放在第３章，并將原文第６章移到第３章；

———將原第７章和第８章合并作為本部分第７章。

本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８《光纖總規范第３部分：機械性能試驗方法》中第１１章。

本部分與ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８第１１章相比主要變化如下：

———將標稱涂覆直徑為２５０μｍ光纖的剝離長度可取值２０ｍｍ"３０ｍｍ或５０ｍｍ改為可取的值

為３０ｍｍ或５０ｍｍ（１９９８年版的１１．３．２，本版的５．２）；

———試驗標準大氣條件改為：溫度２３℃±５℃；相對濕度４５％±２５％（１９９８年版的１１．４．２，本版的

３．３）。

本部分由中華人民共和國信息產業部提出。

本部分由中國通信標準化協會歸口。

本部分起草單位：武漢郵電科學研究院。

本部分主要起草人：劉澤恒、陳永詩、程淑玲。

本部分為第一次修訂，它與ＧＢ／Ｔ１５９７２．３×其他部分一起代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．３—１９９８。

Ⅲ

犌犅／犜１５９７２．３２—２００８

光纖試驗方法規范

第３２部分：機械性能的測量方法和試驗程序

———涂覆層可剝性

１范圍

ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分規定了沿光纖縱軸向定量地機械剝去保護涂覆層所需的力的試驗方法，確

立了測量的統一試驗程序和技術要求。

本部分適用于Ａ１類、Ａ２類、Ａ３類和Ｂ類具有標稱外直徑為２５０μｍ～９００μｍ范圍內的聚合物作

外被覆層的光纖的測量。

本部分不適用于實際直徑２３０μｍ～９３０μｍ范圍之外的聚合物作外被覆層的光纖。

２規范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ１５９７２的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成

協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ１５９７２．１０—２００８光纖試驗方法規范第１０部分：測量方法和試