ICS7104040

G04..

中華人民共和國國家標準

GB/T15244—2013

代替

GB/T15244—2002

微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析

波譜法及能譜法

Microbeamanalysis—Quantitativeanalysisofsilicateglassbywavelength

dispersiveX-rayspectrometryandenergydispersiveX-rayspectrometry

2013-07-19發布2014-03-01實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布

中國國家標準化管理委員會

GB/T15244—2013

前言

本標準按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本標準代替玻璃的電子探針定量分析方法

GB/T15244—2002《》

本標準與相比主要內容變化如下

GB/T15244—2002:

增加了標準樣品的選擇原則見和

———(5.15.2);

刪除中和

———5.3(K-44)(K-45);

增加了試樣制備后的要求見

———(6.1);

修改了試樣和標準樣品蒸鍍導電膜的具體要求見

———(6.3);

修改了儀器定量分析前開機時間的要求見

———(7.1.1);

增加了分析區域較大時也可以用電子探針的同軸光學顯微鏡確定分析部位見

———“,”(7.14);

加速電壓選擇中增加了過壓比的要求修改了不同原子序數的加速電壓選擇方法見

———,(7.2.1);

增加了硅漂移能譜儀的束流選擇方法見

———(SDD)(7.2.2);

增加了用電子束掃描的方法分析不穩定玻璃見

———(7.2.3);

修改了射線線系的原子序數選擇范圍見

———X(7.2.4);

增加了能譜儀的測量條件見

———SDD(7.3.3);

增加了射線強度在測量時間內變化量小于的要求見

———X1%(7.3.5);

增加了輕元素的差值法測量見

———(8.2);

增加了無標樣定量分析方法見

———EDS(8.4)。

本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標準起草單位中國科學院上海硅酸鹽研究所

:。

本標準主要起草人李香庭曾毅吳偉

:、、。

本標準所代替標準的歷次版本發布情況為

:

———GB/T15244—2002。

Ⅰ

GB/T15244—2013

微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析

波譜法及能譜法

1范圍

本標準規定了電子探針儀和掃描電子顯微鏡的射線波譜儀和能譜儀

(EPMA)(SEM)X(WDS)

對硅酸鹽玻璃的定量分析方法

(EDS)。

本標準適用于硅酸鹽玻璃試樣包括堿金屬的硅酸鹽玻璃的波譜法和能譜法的定

()(WDX)(EDX)

量分析

。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子探針分析標準樣品技術條件導則

GB/T4930—2008

微束分析能譜法定量分析

GB/T17359—2012

礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法

GB/T17366

微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點分析

GB/T28634—2012

3術語和定義

下列術語和定義適用于本文件

。

31

.

場致遷移field-inducedmigration

在絕緣體中由電子或離子轟擊造成的內部電場使原子發生遷移的效應

。

32

.

硅酸鹽玻璃silicateglass

以二氧化硅為主要成分的玻璃最常用的有鈉鈣硅酸鹽玻璃鈉鋁硅酸鹽玻璃鈉硼硅酸鹽玻璃

。、、、

建筑玻璃日用玻璃大部分光學玻璃玻璃纖維等

、、、。

33

.

離子遷移ionmigration

在電子束照射下試樣中某些元素的離子向電子束轟擊點移動的現象

,。

34

.

遷移組分migrationcomposition

在電子束照射下試樣中發生離子遷移的元素

,。

3