標準解讀

《GB/T 14031-1992 半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理》作為一項技術標準，規定了模擬鎖相環集成電路的測試原則、測試環境、測試信號要求及測試項目等內容，旨在為該類器件的性能評估提供統一的方法和依據。不過，您提供的對比項似乎不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標準或版本進行比較。因此，直接對比其變更點較為困難。

若假設對比目標是該標準后續的修訂版或其他相關標準，一般而言，更新的標準可能會包含以下幾類變更內容：

  1. 測試技術的更新：隨著技術進步，新的測試方法和設備可能被引入，以提高測試精度、效率或覆蓋范圍，老標準中的測試技術描述會相應調整。

  2. 參數定義的修訂：為了適應技術發展或國際標準化的要求，一些關鍵參數的定義、測量單位或容差范圍可能會有所變化。

  3. 新增測試項目：針對新型鎖相環電路特性，可能會增加相應的測試項目，以確保全面評估其性能。

  4. 環境條件和測試條件的調整：考慮到實際應用環境的變化和對測試準確性的新要求，測試環境的溫度、濕度等條件標準，以及測試信號的規格可能有所更新。

  5. 標準適用范圍的擴展或限定：根據技術演進，標準可能會擴大適用的產品類型，或者對特定類型的鎖相環提出更專門的測試要求。

  6. 術語和定義的規范化：為了與國際標準或行業共識保持一致，標準中的專業術語和定義可能會得到修訂和完善。

  7. 參考標準的更新：引用的其他國家標準、國際標準或技術文獻可能會被更新到最新版本，以確保標準的時效性和準確性。


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  • 現行
  • 正在執行有效
  • 1992-12-18 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14031-1992半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理_第1頁
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文檔簡介

DDg.621.382L55中華人民共和國國家標準GB/T14031－92半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsofanaloguephase-loopforsemiconductorintegratedcircuits1992-12-18發布1993-08-01實施國家技術監督局發布

中華人民共和國國家標準半導體集成電路模擬鎖相環測試方法的基本原理CB/r14031-92Ceneralprinciplesofmeasuringmethodsofanalogucphase-loopforsemiconductorintegraledcircuits本標準規定了半導體集成電路模擬鎖相環(以下簡稱器件或模擬鎖相環)電參數測試方法的基本原模擬鎖相環與數字電路相同的靜態和動態參數測試可參照GB3439半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》。模擬鎖相環與運算放大器相同的靜態和動態參數測試可參照GB3442《半導體集成電路運算(電壓）放大器測試方法的基本原理》總要求1.1若無特殊說明,測試期間，環境或參考點溫度偏離規定值的范圍應符合詳細規范的規定，1.2測試期間，應避免外界干擾對測試精度的影響,測試設備引起的測試誤差應符合器件詳細規范的規定。1.3測試期間，施于被測器件的電參量的精度應符合器件詳細規范的規定。14被測器件與測試系統連接或斷開時，不應超過器件的使用極限條件。1.5若有要求時，應按器件詳細規范規定的順序接通電源。1.6，測試期間.被測器件應按器件詳細規范的規定連接外圍網絡。鎖相環處于閉環狀態。1.7測試期間，被測器件應避免出現自激現象。1.8若電參數值是由幾步測試的結果經計算確定的，這些測試的時間間隔應盡可能短。2參數測試2.1跟蹤輔入電壓VkTrA2.1.1目的在規定中心頻率和規定頻偏下,測試鎖相環保持跟蹤的最小輸入電壓.2.1.2測試原理鎖相環接成閉環，跟蹤輸入

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