標準解讀

GB/T 12085.5-1989 是一項中國國家標準，全稱為《光學和光學儀器 環境試驗方法 綜合低溫、低氣壓》。這項標準規定了對光學和光學儀器進行綜合低溫及低氣壓環境試驗的方法、程序以及相關的試驗條件，旨在評估這些設備在極端環境下的性能與可靠性。

標準適用范圍

該標準適用于各種光學和光學儀器，包括但不限于相機、望遠鏡、顯微鏡、激光器及其組件等，目的是確保這些設備在遇到低溫和低氣壓環境時仍能保持其設計功能和性能穩定。

試驗條件

  1. 低溫條件：標準中詳細說明了模擬低溫環境的具體要求，包括溫度范圍、降溫速率、穩定時間和試驗持續時間等參數。這些條件模擬了高海拔、極地或太空等自然環境中的極端低溫狀況。

  2. 低氣壓條件：除了低溫外，標準還規定了如何在實驗室條件下創建低氣壓或真空環境，用以模擬高空環境對光學設備的影響。具體包括氣壓的調節范圍、降壓速率及維持時間等。

試驗方法

標準提供了詳細的試驗步驟，包括：

  • 試驗前的樣品準備，如預處理、校準和初始檢測。
  • 設定并控制試驗箱內的溫度和氣壓至規定的條件。
  • 在綜合低溫低氣壓環境下持續運行或存儲樣品，并監測關鍵性能指標。
  • 試驗結束后，恢復到常溫常壓狀態，進行最終性能檢測與評估，比較試驗前后數據以分析設備的適應性和穩定性。

評價指標

依據標準要求，通過對比試驗前后的性能變化，如光學性能衰退程度、機械結構穩定性、電氣特性是否符合標準等，來評判光學和光學儀器在極端環境下的適應能力。

結論制定依據

試驗結果可作為產品設計、制造過程改進及質量控制的依據，確保光學儀器在特定應用環境中能夠正常工作，滿足用戶需求和安全要求。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 12085.5-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實施
?正版授權
GB/T 12085.5-1989光學和光學儀器環境試驗方法綜合低溫、低氣壓_第1頁
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文檔簡介

UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標準GB12085.5—89光學和光學儀器環境試驗方法綜合低溫、低氣壓Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcold,lowairpressure1989-12-29發布1990-08-01實施國家技術監督局發布

中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環境試驗方法GB12085.5-89綜合低溫低氣壓Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Combinedcold,lowairpressure主題內容與適用范圍本標準規定了綜合低溫與低氣壓試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環境試驗標記。本標準適用于在高山地區或飛機儀表盤上或導彈上使用的光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。2試驗目的研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，，其次是測定水的冷凝和凍結對儀器或零部件的附加影響。3引用標準GB12085.1光學和光學儀器環境試驗方法術語、試驗范圍試驗條件4.1試驗箱（室）必須是空氣流通的低氣壓箱（室）或是高空模擬試驗箱（室)，它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗箱（室），也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗和（室)的大小及試樣安放的位置，應能保證所有試樣都處于均勻的環境條件下。4.2在試驗箱（室）內，試樣需先達到規定的試驗溫度，然后再把箱內壓力降到有關標準的規定值。4.3按條件試驗方法51（見5.2條）進行試驗時,在升壓期間，可用高純氮氣或對試樣輻射加熱方法，避免試樣上產生結霜和凝露。4.4試驗箱（室）內的溫度和氣壓的變化應緩慢進行，以免引起試樣的損壞。4.5試樣的各個部分都達到試驗箱（室）溫度±3℃之內和氣壓達到規定值時暴露周期開始。散熱試樣應冷卻到試驗溫度，在溫度穩定的試驗箱（室）中試樣的溫度變化在1h內不大于±1℃時，開始降低氣壓。在降壓過程中，允許試樣自身發熱，直到試驗壓力達到規定值時作為暴露時間開始。暴露結束后壓力和溫度的升高同時開始，箱（室）內空氣和試樣的溫度都應測量。溫度傳感器在試樣上的位置應在有關標準中規定，用來測量箱（室）內空氣溫度的溫度傳感器的位置應在試驗報告中說明。4.6按條件試驗方法50進行試驗后，試樣在壓力升高過程中產生結霜和凝露的方法應在有關標準中規定，可在下述方法中選用：a.在低氣壓條件下凝露的形成在溫度為－20～-10℃范圍內和氣壓為4×10"Pa以上的低氣壓范圍內，在加熱過程中將水蒸氣注人試驗箱（室）內；b.在標準環境壓力條件下凝露的形成在加熱期間，試驗室內的壓力調到標

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