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文檔簡介
1第七章原子吸收和原子熒光光譜法AtomicAbsorptionSpectrometry,AAS&AtomicFluorescentSpectrometry,AFS1第七章原子吸收和原子熒光光譜法2第一節(jié)原子吸收光譜分析概述定義:原子吸收光譜法是一種基于在蒸氣狀態(tài)被測(cè)元素原子對(duì)其共振輻射吸收進(jìn)行定量分析的方法。1802年,英國科學(xué)家W.H.Wollaston在研究太陽連續(xù)光譜時(shí),發(fā)現(xiàn)太陽光譜的暗線。太陽光暗線1955年,澳大利亞物理學(xué)家Walsh和荷蘭科學(xué)家Alkemade發(fā)明了原子吸收光譜分析技術(shù),并用于化學(xué)物質(zhì)的定量分析。2第一節(jié)原子吸收光譜分析概述定義:原子吸收光譜法是一種基3原子吸收光譜分析的特點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn):1.檢出限低,靈敏度高。其檢出限可達(dá)ng/mL;2.選擇性好:譜線簡單,因譜線重疊引起的光譜干擾較小,即抗干擾能力強(qiáng);3.具有較高的精密度和準(zhǔn)確度:因吸收線強(qiáng)度受原子化器溫度的影響比發(fā)射線小;4.分析速度快;5.光譜干擾少。原子吸收譜線少,一般沒有共存元素的光譜重疊,大部分情況下對(duì)被測(cè)元素不產(chǎn)生干擾;6.應(yīng)用范圍廣。可測(cè)定大多數(shù)的金屬和非金屬元素;7.儀器比較簡單,價(jià)格較低廉。缺點(diǎn):難熔元素、非金屬元素測(cè)定困難、不能多元素同時(shí)分析。3原子吸收光譜分析的特點(diǎn)
4原子吸收光譜分析的基本原理1.共振發(fā)射線:
電子從基態(tài)躍遷到能量最低的激發(fā)態(tài)時(shí)要吸收一定頻率的光,它再躍遷回基態(tài)時(shí),則發(fā)射出同樣頻率的光(譜線),這種譜線稱為共振發(fā)射線。2.共振吸收線:
電子從基態(tài)躍遷至第一激發(fā)態(tài)所產(chǎn)生的吸收譜線稱為共振吸收線。3.共振線:
共振發(fā)射線和共振吸收線都簡稱為共振線。對(duì)大多數(shù)元素來說,共振線也是元素最靈敏的譜線。E0E1E2E3ABA產(chǎn)生吸收光譜
B產(chǎn)生發(fā)射光譜
E0
基態(tài)能級(jí)
E1第一激發(fā)態(tài)能級(jí)
E2第二激發(fā)態(tài)能級(jí)
E3
第三激發(fā)態(tài)能級(jí)4原子吸收光譜分析的基本原理1.共振發(fā)射線:電子從基態(tài)躍遷5原子吸收光譜分析的基本原理基態(tài)原子數(shù)(N0)與待測(cè)元素原子總數(shù)(N)的關(guān)系
在一定溫度下,處于熱力學(xué)平衡時(shí),激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni與基態(tài)原子數(shù)N0
之比服從波爾茲曼分布定律:
Ni/N0=gi/g0e-(Ei-E0)/kT式中,g0
,gi分別為基態(tài)和激發(fā)態(tài)統(tǒng)計(jì)權(quán)重。
對(duì)共振線(E0=0),有
Ni/N0=gi/g0e-Ei/KT當(dāng)T<3000K時(shí),Ni/N0都很小,不超過1%,故
N0=N5原子吸收光譜分析的基本原理基態(tài)原子數(shù)(N0)與待測(cè)元素原子6原子吸收光譜分析的基本原理以Kv與作圖:表征吸收線輪廓(峰)的參數(shù):中心頻率0(峰值頻率):最大吸收系數(shù)對(duì)應(yīng)的頻率;
半寬度:Δ。Iv=I0e-KvL
譜線輪廓與譜線變寬原子蒸氣LI0IV比爾-朗伯定律(Beer-LambertLaw)Kv吸收系數(shù)6原子吸收光譜分析的基本原理以Kv與作圖:Iv=I0e7原子吸收光譜分析的基本原理1.自然寬度ΔvN
在無外界影響下,譜線仍有一定寬度,這種寬度稱為自然寬度。根據(jù)量子力學(xué)的Heisenberg測(cè)不準(zhǔn)原理,能級(jí)的能量有不確定性,ΔE由下式估算:
ΔE=h/(2πτ)τ-激發(fā)態(tài)原子的壽命;τ越小,寬度越寬。ΔvN約相當(dāng)于10-5nm數(shù)量級(jí)。2.多普勒寬度ΔνD
由于原子在空間作無規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)所導(dǎo)致的,故又稱為熱變寬。
當(dāng)處于熱力學(xué)平衡時(shí),Doppler變寬可用下式表示:
在原子吸收中,原子化溫度一般在2000~3000K,ΔνD一般在10-3~10-2nm,它是譜線變寬的主要因素。
譜線變寬7原子吸收光譜分析的基本原理1.自然寬度ΔvN2.多普勒83.壓力變寬
由于吸光原子與蒸氣中原子或分子相互碰撞而引起的能級(jí)稍微變化,使發(fā)射或吸收光量子頻率改變而導(dǎo)致的譜線變寬。根據(jù)與之碰撞的粒子不同,可分為兩類: 共振變寬或赫魯茲馬克(Holtzmark)變寬:因和同種原子碰撞而產(chǎn)生的變寬—共振變寬或赫魯茲馬克變寬。 勞倫茲變寬ΔvL
:因和其它粒子(如待測(cè)元素的原子與火焰氣體粒子)碰撞而產(chǎn)生的變寬-勞倫茲變寬)。4.自吸變寬
光源空心陰極燈發(fā)射的共振線被燈內(nèi)同種基態(tài)原子所吸收產(chǎn)生自吸現(xiàn)象。燈電流越大,自吸現(xiàn)象越嚴(yán)重。5.場(chǎng)致變寬
外界電場(chǎng)、帶電粒子、離子形成的電場(chǎng)及磁場(chǎng)的作用使譜線變寬的現(xiàn)象;影響較小。譜線變寬原子吸收光譜分析的基本原理83.壓力變寬譜線變寬原子吸收光譜分析的基本原理9原子吸收光譜分析的基本原理積分吸收
在吸收線輪廓內(nèi),吸收系數(shù)的積分稱為積分吸收系數(shù),簡稱為積分吸收,它表示吸收的全部能量。根據(jù)經(jīng)典的愛因斯坦理論,積分吸收與基態(tài)原子數(shù)目的關(guān)系,由下式給出:
公式表明:積分吸收值與單位原子蒸氣中吸收輻射的基態(tài)原子數(shù)呈簡單的線性關(guān)系,這是原子吸收光譜分析法的重要理論依據(jù)。這是一種絕對(duì)測(cè)量方法,現(xiàn)在的分光裝置無法實(shí)現(xiàn)。(△λ=10-3nm,若λ取500nm,單色器分辨率R=λ/△λ=5×105)長期以來無法解決的難題!e為元電荷;m為電子質(zhì)量;c為光速;N0為單位體積內(nèi)基態(tài)原子數(shù);f為振子強(qiáng)度,表示吸收躍遷的概率。9原子吸收光譜分析的基本原理積分吸收在吸10原子吸收光譜分析的基本原理峰值吸收1955年WalshA提出,在溫度不太高的穩(wěn)定火焰條件下,峰值吸收系數(shù)與火焰中被測(cè)量元素的原子濃度也成正比。銳線光源
—發(fā)射線的半寬度比吸收線的半寬度窄的多的光源。銳線光源需要滿足的條件:
a.光源的發(fā)射線與吸收線的ν0一致。
b.發(fā)射線的Δν小于吸收線的Δν。理想的銳線光源——空心陰極燈:用一個(gè)與待測(cè)元素相同的純金屬制成。由于燈內(nèi)是低電壓,壓力變寬基本消除;燈電流僅幾毫安,溫度很低,熱變寬也很小。10原子吸收光譜分析的基本原理峰值吸收1955年Walsh11原子吸收光譜分析的基本原理
采用銳線光源進(jìn)行測(cè)量,則Δνe<Δνa
,由圖可見,在輻射線寬度范圍內(nèi),Kν可近似認(rèn)為不變,并近似等于峰值時(shí)的吸收系數(shù)K0。將Iv=I0ve-KvL代入上式:則:峰值吸收測(cè)量
由Lambert-Beer定律:
11原子吸收光譜分析的基本原理采用銳線光源進(jìn)行測(cè)量,12
在原子吸收中,譜線變寬主要受多普勒效應(yīng)影響,則:在實(shí)驗(yàn)條件一定的情況下,被測(cè)元素的濃度c與原子蒸氣中基態(tài)原子的總數(shù)保持一定的比例關(guān)系:
N0=a
c所以在實(shí)驗(yàn)條件一定,各有關(guān)參數(shù)都是常數(shù)的情況下,吸光度為:
A=Kc上式就是原子吸收分光光度分析的理論基礎(chǔ)12在原子吸收中,譜線變寬主要受多普勒效應(yīng)影響,則:在實(shí)驗(yàn)
第二節(jié)原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀又稱原子吸收分光光度計(jì),由光源(radiationsource)、原子化器(atomizer)、單色器(monochromator)、檢測(cè)器(detector)、信號(hào)處理(signalprocessor)與顯示記錄等部件組成。 第二節(jié)原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀又稱原子吸收分光光度14原子吸收光譜儀一、光源作用:
發(fā)射被測(cè)元素的共振輻射。光源應(yīng)滿足如下要求:(1)能發(fā)射待測(cè)元素的共振線;(2)能發(fā)射銳線;(3)輻射光強(qiáng)度大,穩(wěn)定性好。應(yīng)用最廣泛的光源:空心陰極燈
(hollowcathodelamp,HCL)無極放電燈(electrodelessdischargelamp,EDL)空心陰極燈無極放電燈14原子吸收光譜儀一、光源光源應(yīng)滿足如下要求:應(yīng)用最廣泛的光15光源空心陰極燈工作原理施加適當(dāng)電壓時(shí),電子將從空心陰極內(nèi)壁流向陽極;與充入的惰性氣體碰撞而使之電離,產(chǎn)生正電荷,其在電場(chǎng)作用下,向陰極內(nèi)壁猛烈轟擊;使陰極表面的金屬原子濺射出來,濺射出來的金屬原子再與電子、惰性氣體原子及離子發(fā)生撞碰而被激發(fā),于是陰極內(nèi)輝光中便出現(xiàn)了陰極物質(zhì)和內(nèi)充惰性氣體的光譜。
用不同待測(cè)元素作陰極材料,可制成相應(yīng)空心陰極燈。空心陰極燈的輻射強(qiáng)度與燈的工作電流有關(guān)。
優(yōu)缺點(diǎn):(1)輻射光強(qiáng)度大,穩(wěn)定,譜線窄,燈容易更換。(2)每測(cè)一種元素需更換相應(yīng)的燈。15光源空心陰極燈工作原理優(yōu)缺點(diǎn):
二、原子化器火焰原子化法中,常用的是預(yù)混合型原子化器它是由霧化器(nebulizer)、霧化室(spraychamber)和燃燒器(burner)三部分組成。用火焰使試樣原子化是目前廣泛應(yīng)用的一種方式。它是將液體試樣經(jīng)噴霧器形成霧粒,這些霧粒在霧化室中與氣體(燃?xì)馀c助燃?xì)猓┚鶆蚧旌希ゴ笠旱魏螅龠M(jìn)入燃燒器形成火焰。此時(shí),試液在火焰中產(chǎn)生原子蒸氣。(一)火焰原子化器(Flameatomizer) 二、原子化器火焰原子化法中,常用的是預(yù)混合型原子化器它是由17火焰原子化器試樣霧滴在火焰中,經(jīng)蒸發(fā),干燥,離解(還原)等過程產(chǎn)生大量基態(tài)原子。
火焰溫度的選擇:
a.保證待測(cè)元素充分離解為基態(tài)原子的前提下,盡量采用低溫火焰;
b.火焰溫度越高,產(chǎn)生的熱激發(fā)態(tài)原子越多;
c.火焰溫度取決于燃?xì)馀c助燃?xì)忸愋停S每諝狻胰沧罡邷囟?600K能測(cè)35種元素。17火焰原子化器試樣霧滴在火焰中,經(jīng)蒸發(fā),干燥,離解(還原)18火焰原子化器火焰的類型
:
按照燃?xì)夂椭細(xì)獗壤煌蓪⒒鹧娣譃槿悾篴.化學(xué)計(jì)量火焰:溫度高,干擾少,穩(wěn)定,背景低,適用于測(cè)定許多元素。b.富燃火焰:還原性火焰,燃燒不完全,測(cè)定較易形成難熔氧化物的元素Mo、Cr稀土等。c.貧燃火焰:火焰溫度低,氧化性氣氛,適用于堿金屬測(cè)定。18火焰原子化器火焰的類型:191920火焰原子化器空氣---乙炔火焰:空氣—乙炔火焰最為常用。其最高溫度2300℃,能測(cè)35種元素。但不適宜測(cè)定已形成難離解氧化物的元素,如Al,Ta,Zr,Ha等。
貧燃性空氣—乙炔火焰:其燃助比小于1:6,火焰燃燒高度較低,燃燒充分,溫度較高,適用于不易氧化的元素。
富燃性空氣—乙炔火焰:其燃助比大于1:3,溫度較貧然性火焰低,噪聲較大。由于燃燒不完全,火焰成強(qiáng)還原性氣氛(如CN,CH,C等),有利于金屬氧化物的離解:MO+C→M+COMO+CN→M+N+COMO+CH→M+C+OH故適用于測(cè)定較易形成難熔氧化物的元素。
(中性火焰),其燃助比為1:4。這種火焰穩(wěn)定、溫度較高、背景低、噪聲小,適用于測(cè)定許多元素。20火焰原子化器空氣---乙炔火焰:空氣—乙炔火焰最為常用。21原子化器(二)非火焰原子化裝置
利用電熱、陰極濺射、等離子體或激光等方法使試樣中待測(cè)元素形成基態(tài)自由原子。目前廣泛使用的是電熱高溫石墨爐原子化法。①.結(jié)構(gòu)
由石墨爐電源、爐體和石墨管三部分組成。
21原子化器(二)非火焰原子化裝置22石墨爐原子化裝置②.石墨爐原子化過程一般需要經(jīng)四步程序升溫完成
a.
干燥;b.
灰化;c.
高溫原子化;d.
凈化(高溫除殘)。22石墨爐原子化裝置②.石墨爐原子化過程一般需要經(jīng)四步程序升23石墨爐原子化裝置
③.石墨爐原子化法的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn):a.
檢出限絕對(duì)值低,可達(dá)10-12至10-14g,比火焰原子化法低3個(gè)數(shù)量級(jí);
b.
原子化是在強(qiáng)還原性介質(zhì)與惰性氣體中進(jìn)行的,有利于破壞難熔氧化物和保護(hù)已原子化的自由原子不重新被氧化;c.
可直接以溶液、固體進(jìn)樣,進(jìn)樣量少;d.
可在真空紫外區(qū)進(jìn)行原子吸收光譜測(cè)定;f.
可分析元素范圍廣。缺點(diǎn):a.
基體效應(yīng)、化學(xué)干擾較多;b.
有背景吸收(共存化合物分子吸收),往往需要扣背景;c.測(cè)量的重現(xiàn)性比較差。23石墨爐原子化裝置③.石墨爐原子化法的特點(diǎn)24其它原子化法低溫原子化法又稱化學(xué)原子化法,其原子化溫度為室溫至攝氏數(shù)百度。常用的有汞低溫原子化法及氫化法。一般在電加熱石英管原子化器中進(jìn)行。
汞低溫原子化法
汞在室溫下,有一定的蒸氣壓,沸點(diǎn)為357C。只要對(duì)試樣進(jìn)行化學(xué)預(yù)處理還原出汞原子,由載氣(Ar或N2)將汞蒸氣送入吸收池內(nèi)測(cè)定。
氫化物原子化法
適用于Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se和Te等元素。在一定的酸度下,將被測(cè)元素還原成極易揮發(fā)與分解的氫化物,如AsH3
、SnH4
、BiH3等。這些氫化物經(jīng)載氣送入石英管后,進(jìn)行原子化與測(cè)定。24其它原子化法
三、光學(xué)系統(tǒng)1.外光路系統(tǒng)(或稱照明系統(tǒng)):作用是使共振線能正確地通過原子蒸汽,并投射在單色器入射狹縫上。2.分光系統(tǒng)(單色器):是將被測(cè)元素吸收的特征譜線與鄰近譜線分開。四、檢測(cè)系統(tǒng)主要由檢測(cè)器、放大器、對(duì)數(shù)變換器、顯示記錄裝置組成。1.檢測(cè)器將單色器分出的光信號(hào)轉(zhuǎn)變成電信號(hào)。如:光電倍增管等。2.放大器
將光電倍增管輸出的較弱信號(hào),經(jīng)電子線路進(jìn)一步放大。3.對(duì)數(shù)變換器
光強(qiáng)度與吸光度之間的轉(zhuǎn)換。4.顯示記錄配置原子吸收計(jì)算機(jī)工作站。 三、光學(xué)系統(tǒng)
第三節(jié)原子吸收分析中的干擾效應(yīng)及抑制方法原子吸收光譜法的主要干擾有物理干擾、化學(xué)干擾、電離干擾、光譜干擾、和背景干擾等。一、物理干擾
物理干擾是指試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液物理性質(zhì)有差異而產(chǎn)生的干擾。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化,影響樣品的霧化和氣溶膠到達(dá)火焰?zhèn)魉偷纫鹪游諒?qiáng)度的變化而引起的干擾。
消除辦法:配制與被測(cè)試樣組成相近的標(biāo)準(zhǔn)溶液或采用標(biāo)準(zhǔn)加入法。若試樣溶液的濃度高,還可采用稀釋法。 第三節(jié)原子吸收分析中的干擾效應(yīng)及抑制方法
二、化學(xué)干擾化學(xué)干擾是由于被測(cè)元素原子與共存組份發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成穩(wěn)定的化合物,影響被測(cè)元素的原子化,而引起的干擾。消除化學(xué)干擾的方法:(1)選擇合適的原子化方法
提高原子化溫度,減小化學(xué)干擾。使用高溫火焰或提高石墨爐原子化溫度,可使難離解的化合物分解。采用還原性強(qiáng)的火焰與石墨爐原子化法,可使難離解的氧化物還原、分解。
(2)加入釋放劑
釋放劑的作用是釋放劑與干擾物質(zhì)能生成比被測(cè)元素更穩(wěn)定的化合物,使被測(cè)元素釋放出來。例如,磷酸根干擾鈣的測(cè)定,可在試液中加入鑭、鍶鹽,鑭、鍶與磷酸根首先生成比鈣更穩(wěn)定的磷酸鹽,就相當(dāng)于把鈣釋放出來。 二、化學(xué)干擾28(3)加入保護(hù)劑
保護(hù)劑作用是它可與被測(cè)元素生成易分解的或更穩(wěn)定的配合物,防止被測(cè)元素與干擾組份生成難離解的化合物。保護(hù)劑一般是有機(jī)配合劑。例如,EDTA、8-羥基喹啉。(4)加入基體改進(jìn)劑
對(duì)于石墨爐原子化法,在試樣中加入基體改進(jìn)劑,使其在干燥或灰化階段與試樣發(fā)生化學(xué)變化,其結(jié)果可以增加基體的揮發(fā)性或改變被測(cè)元素的揮發(fā)性,以消除干擾。28(3)加入保護(hù)劑29三、電離干擾在高溫條件下,原子會(huì)電離,使基態(tài)原子減少,吸光度值下降,這種干擾稱為電離干擾。消除電離干擾的方法:最有效的方法是加入過量的消電離劑
消電離劑是比被測(cè)元素電離電位低的元素,相同條件下消電離劑首先電離,產(chǎn)生大量的電子,抑制被測(cè)元素的電離。例如,測(cè)鈣時(shí)可加入過量的KCl溶液消除電離干擾。鈣的電離電位為6.1eV,鉀的電離電位為4.3eV。由于K電離使鈣離子得到電子而生成原子。29三、電離干擾30四、光譜干擾光譜干擾有以下幾種: (1)吸收線重疊共存元素吸收線與被測(cè)元素分析線波長很接近時(shí),兩譜線重疊或部分重疊,會(huì)使分析結(jié)果偏高。 消除辦法是另選分析線。 (2)光譜通帶內(nèi)存在非吸收線這些非吸收線可能是被測(cè)元素的其他共振線與非共振線,也可能是光源中雜質(zhì)的譜線燈干擾。 消除辦法是減少狹縫寬度與燈電流,或另選譜線。
(3)與原子化器有關(guān)的干擾。30四、光譜干擾光譜干擾有以下幾種:31五、背景干擾背景干擾也是一種光譜干擾。分子吸收與光散射是形成光譜背景的主要因素。a.火焰成分對(duì)光的吸收。b.金屬的鹵化物、氧化物、氫氧化物以及部分硫酸鹽和磷酸鹽分子對(duì)光的吸收。c.
固體微粒對(duì)光的散射:原子化過程中形成的固體微粒,在光通過原子化器時(shí),對(duì)光產(chǎn)生散射,被散射的光偏離光路,不能被檢測(cè)器檢測(cè),導(dǎo)致測(cè)得的吸收偏高(假吸收)。31五、背景干擾背景干擾也是一種光譜干擾。分子吸收與光散射是
背景校正方法
1、氘燈校正法(190-350nm)
如圖所示,切光器可使銳線光源與氘燈連續(xù)光源交替進(jìn)入原子化器。銳線光源測(cè)定的吸光度值為原子吸收與背景吸收的總吸光度。連續(xù)光源所測(cè)吸光度為背景吸收。將銳線光源吸光度值減去連續(xù)光譜的吸光值,即為校正背景后的被測(cè)元素的吸光值。 背景校正方法如圖所示,切光器可使銳線光源與氘燈連續(xù)光源Zeeman效應(yīng)背景校正法分為以下兩大類:
光源調(diào)制法
吸收線調(diào)制法(使用更為廣泛)
A)恒定磁場(chǎng)調(diào)制方式
B)可變磁場(chǎng)調(diào)制方式
2、塞曼效應(yīng)校正法Zeeman效應(yīng)是指在磁場(chǎng)作用下簡并的譜線發(fā)生分裂的現(xiàn)象。Zeeman效應(yīng)背景校正法是磁場(chǎng)將吸收線分裂為具有不同偏振方向的組分,利于這些分裂的偏振成分來區(qū)別背景和元素的吸收。Zeeman效應(yīng)背景校正法分為以下兩大類:
光源調(diào)制法
34恒磁場(chǎng)調(diào)制方式
塞曼效應(yīng)校正在原子化器上施加一個(gè)永久磁場(chǎng),其方向與光束垂直,使吸收線分裂為、+和-組分,組分平行于磁場(chǎng)方向,波長不變,組分垂直于磁場(chǎng)方向,波長分別向長波與短波方向移動(dòng)。當(dāng)偏振器旋轉(zhuǎn)式,p‖和p交替通過原子蒸氣,在某一時(shí)刻,若p‖光束通過原子化器,就會(huì)被吸收線和背景吸收,即
A‖=A背景吸收+A原子吸收
若p光束通過原子化器,因與線的偏振方向不一致,線不能被吸收,線的偏振方向雖一致,但波長不同,亦不能被吸收,測(cè)得的僅為背景吸收,因?yàn)楸尘拔张c發(fā)射線偏振方向無關(guān)。即
A=A背景吸收
二者之差,
A‖-A=A原子吸收因此,以p‖為測(cè)量光束,p為參比光束,所測(cè)得信號(hào)差,則為經(jīng)過背景校正后的“凈吸光度”。34恒磁場(chǎng)調(diào)制方式353536交變磁場(chǎng)調(diào)制方式將交變磁場(chǎng)(方向與光束垂直)置于原子化器,用磁場(chǎng)對(duì)原子化過程中的原子吸收線進(jìn)行調(diào)制。無磁場(chǎng)(H=0)時(shí),原子吸收線不發(fā)生Zeeman分裂,有磁場(chǎng)(H=HMAX)時(shí),原子吸收線分裂為和組分。在光路中放置一個(gè)偏光元件,只允許光源輻射光中與磁場(chǎng)方向垂直的偏振光成分通過。在H=0時(shí),與通常原子吸收一樣,測(cè)量原子吸收和背景吸收;即
A背景吸收+原子吸收在H=HMAX時(shí),原子吸收線發(fā)生Zeeman分裂,其組分與光源輻射的偏振光波長一致,但偏振方向正交,故不發(fā)生吸收,此時(shí)測(cè)量的為背景吸收。A背景吸收兩者之差為校正了背景的凈吸收信號(hào),即
A背景吸收+原子吸收-A背景吸收=
A原子吸收
36交變磁場(chǎng)調(diào)制方式37第四節(jié)原子吸收光譜的分析方法1.分析線一般選待測(cè)元素的共振線作為分析線,測(cè)量高濃度時(shí),也可選次靈敏線。2.狹縫寬度
無鄰近干擾線(如測(cè)堿及堿土金屬)時(shí),選較大的通帶,反之(如測(cè)過渡及稀土金屬),宜選較小通帶。3.空心陰極燈電流在保證有穩(wěn)定和足夠的輻射光通量的情況下,盡量選較低的電流。4.原子化條件可選用火焰原子化法或石墨爐原子化法。5.進(jìn)樣量根據(jù)實(shí)際情況選用合適的進(jìn)樣量。一、測(cè)量條件的選擇37第四節(jié)原子吸收光譜的分析方法1.分析線一、測(cè)量條件383839第四節(jié)原子吸收分析的分析方法二、分析方法標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)加入法,內(nèi)標(biāo)法首先配制與試樣溶液相同或相近基體的含有不同濃度的待測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液,分別測(cè)定A值,作A-c
曲線,測(cè)定試樣溶液的Ax,從標(biāo)準(zhǔn)曲線上查得
cx樣。標(biāo)準(zhǔn)曲線法導(dǎo)致其彎曲的因素主要有:①.壓力變寬。②.非吸收光的影響。③.電離效應(yīng)。39第四節(jié)原子吸收分析的分析方法標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)加入法,40標(biāo)準(zhǔn)加入法分取幾份相同量的被測(cè)試液,分別加入不同量的被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液,其中一份不加被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液,最后稀釋至相同體積,使加入的標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度為0,CS、2CS、3CS…,然后分別測(cè)定它們的吸光度,繪制吸光度對(duì)濃度的校準(zhǔn)曲線,再將該曲線外推至與濃度軸相交。交點(diǎn)至坐標(biāo)原點(diǎn)的距離Cx即是被測(cè)元素經(jīng)稀釋后的濃度。40標(biāo)準(zhǔn)加入法
1.靈敏度及特征濃度
1975年IUPAC規(guī)定,靈敏度S(sensitivity)的定義是分析標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)的一次導(dǎo)數(shù)。分析標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)為
x=f(c)式中:x為測(cè)量值,c為被測(cè)元素或組分的濃度或含量。則靈敏度 S=dx/dc
S越大,靈敏度越高。特征靈敏度或特征濃度:產(chǎn)生1%的吸收或0.0044吸光度值時(shí)溶液中待測(cè)元素的質(zhì)量濃度或質(zhì)量分?jǐn)?shù)。在火焰原子吸收方法中,特征靈敏度以特征濃度c0(單位:mg/mL)表示
c0=
0.0044cx/Acx為某待測(cè)元素濃度,A為多次測(cè)量吸光度平均值。在非火焰原子吸收方法中,特征靈敏度以特征質(zhì)量m0(單位:ng或pg)表示
m0=
0.0044mx/Amx為某待測(cè)元素濃度,A為多次測(cè)量吸光度平均值。特征濃度或特征質(zhì)量與靈敏度的關(guān)系為:
c0=
0.0044/S或m0=
0.0044/S特征濃度或特征質(zhì)量越小,方法越靈敏。第五節(jié)靈敏度、特征濃度及檢出限 第五節(jié)靈敏度、特征濃度及檢出限
2.檢出限(detectionlimit,D.L.)以特定的分析方法,以適當(dāng)?shù)闹眯潘奖粰z出的最低濃度或最小量。檢出限比靈敏度具有更明確的意義,它考慮到了噪聲的影響,并明確地指出了測(cè)定的可靠程度。由此可見,降低噪聲,提高測(cè)定精密度是改善檢測(cè)極限的有效途徑。
D.L.=(xmin-x0)/S=ksB/Sxmin是可測(cè)量的最小分析信號(hào),x0是空白溶液多次測(cè)量的平均值,k是由置信水平?jīng)Q定的系數(shù),一般k=3,sB為空白溶液多次測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)差,S為靈敏度。 2.檢出限(detectionlimit,D
靈敏度的影響因素:待測(cè)元素本身的性質(zhì):
如難熔元素的靈敏度比普通元素靈敏度要低得多。測(cè)定儀器的性能:如單色器的分辨率、光源的特性、檢測(cè)器的靈敏度等有關(guān)。實(shí)驗(yàn)因素的影響:如霧化器效率等。 靈敏度的影響因素:44第六節(jié)原子熒光光譜法一、基本原理1.原子熒光光譜的產(chǎn)生
氣態(tài)自由原子吸收光源的特征輻射后,原子的外層電子躍遷到較高能級(jí),然后又躍遷返回基態(tài)或較低能級(jí),同時(shí)發(fā)射出與原激發(fā)輻射波長相同或不同的輻射即為原子熒光。特點(diǎn):
(1)屬光致發(fā)光;二次發(fā)光;(2)激發(fā)光源停止后,熒光立即消失;(3)發(fā)射的熒光強(qiáng)度與照射的光強(qiáng)有關(guān);(4)不同元素的熒光波長不同;(5)濃度很低時(shí),強(qiáng)度與蒸氣中該元素的密度成正比,定量依據(jù)(適用于微量或痕量分析)44第六節(jié)原子熒光光譜法一、基本原理45基本原理2.原子熒光的類型
原子熒光可分為共振熒光、非共振熒光與敏化熒光等三種類型。①.共振熒光氣態(tài)自由原子吸收共振線被激發(fā)后,再發(fā)射出與原激發(fā)輻射波長相同的輻射即為共振熒光。abcd45基本原理2.原子熒光的類型a46原子熒光的類型②.非共振熒光當(dāng)熒光與激發(fā)光的波長不相同時(shí),產(chǎn)生非共振熒光。a.直躍線熒光
激發(fā)態(tài)原子躍遷回至高于基態(tài)的亞穩(wěn)態(tài)時(shí)所發(fā)射的熒光。abcd46原子熒光的類型②.非共振熒光a47非共振熒光b.階躍線熒光
正常階躍線熒光為被光照激發(fā)的原子,以非輻射形式返回到較低能級(jí),再以輻射形式返回基態(tài)而發(fā)射的熒光(A)。其熒光波長大于激發(fā)線波長。
熱助階躍線熒光為被光致激發(fā)的原子,躍遷至中間能級(jí),又發(fā)生熱激發(fā)至高能級(jí),然后返回至低能級(jí)發(fā)射的熒光(B)。abcd47非共振熒光b.階躍線熒光a48非共振熒光c.a(chǎn)nti-Stokes熒光當(dāng)自由原子躍遷至某一能級(jí),其獲得的能量一部分是由光源激發(fā)能供給,另一部分是熱能供給,然后返回低能級(jí)所發(fā)射的熒光為anti-Stokes熒光。其熒光能大于激發(fā)能,熒光波長小于激發(fā)線波長。d.敏化熒光受光激發(fā)的原子與另一種原子碰撞時(shí),把激發(fā)能傳遞給另一個(gè)原子使其激發(fā),后者在以輻射形式去激發(fā)而發(fā)射熒光即為敏化熒光。abcd48非共振熒光c.a(chǎn)nti-Stokes熒光a49基本原理3.熒光強(qiáng)度熒光強(qiáng)度If正比于基態(tài)原子對(duì)某一頻率激發(fā)光的吸收強(qiáng)度Ia。If
=
Ia式中為熒光量子效率,即發(fā)射熒光光量子數(shù)與吸收激發(fā)光量子數(shù)之比。若激發(fā)光源是穩(wěn)定的,入射光是平行而均勻的光束,自吸可忽略不計(jì),則基態(tài)原子對(duì)光吸收強(qiáng)度Ia用吸收定律表示
Ia=I0(1-e-LN)式中I0為原子化器內(nèi)單位面積上接受的光源強(qiáng)度,L為吸收光程長,為峰值吸收系數(shù),N為單位體積內(nèi)的基態(tài)原子數(shù)。整理可得If=AI0
LNA為受光源照射在檢測(cè)器系統(tǒng)中觀察到的有效面積。當(dāng)儀器與操作條件一定時(shí),除N外,其它為常數(shù),N
與試樣中被測(cè)元素濃度C成正比If
=KC上式為原子熒光定量分析的基礎(chǔ)。
49基本原理3.熒光強(qiáng)度50基本原理4.量子效率與熒光猝滅熒光量子效率:
=
f
/
a
f發(fā)射熒光的光量子數(shù);
a吸收的光量子數(shù)之比.
受光激發(fā)的原子,可能發(fā)射共振熒光,也可能發(fā)射非共振熒光,還可能無輻射躍遷至低能級(jí),所以量子效率一般小于1。熒光猝滅:
受激原子和其它粒子碰撞,把一部分能量變成熱運(yùn)動(dòng)與其它形式的能量,因而發(fā)生無輻射的去激發(fā)過程,這種現(xiàn)象稱為熒光猝滅。50基本原理4.量子效率與熒光猝滅51原子熒光光譜法二、儀器單通道:每次分析一個(gè)元素;多通道:每次可分析多個(gè)元素;色散型:帶分光系統(tǒng);非色散型:采用濾光器分離分析線和鄰近線;
特點(diǎn):光源與檢測(cè)器成一定角度;51原子熒光光譜法二、儀器特點(diǎn):52儀器多道原子熒光儀:多個(gè)空心陰極燈同時(shí)照射,可同時(shí)分析多個(gè)元素。52儀器多道原子熒光儀:多個(gè)空心陰極燈同時(shí)照射,可同時(shí)分析多53儀器
1.光源①.高強(qiáng)度空心陰極燈
高強(qiáng)度空心陰極燈特點(diǎn)是在普通空心陰極燈中,加上一對(duì)輔助電極。輔助電極的作用是產(chǎn)生第二次放電,從而大大提高金屬元素的共振線強(qiáng)度(對(duì)其它譜線的強(qiáng)度增加不大)。②.無極放電燈
無極放電燈比高強(qiáng)度空心陰極燈的亮度高,自吸小,壽命長。特別適用于在短波區(qū)內(nèi)有共振線的易揮發(fā)元素的測(cè)定。2.光路
在原子熒光中,為了檢測(cè)熒光信號(hào),避免待測(cè)元素本身發(fā)射的譜線,要求光源、原子化器和檢測(cè)器三者處于直角狀態(tài)。而原子吸收光度計(jì)中,這三者是處于一條直線上。53儀器1.光源54第七章原子吸收和原子熒光光譜法AtomicAbsorptionSpectrometry,AAS&AtomicFluorescentSpectrometry,AFS1第七章原子吸收和原子熒光光譜法55第一節(jié)原子吸收光譜分析概述定義:原子吸收光譜法是一種基于在蒸氣狀態(tài)被測(cè)元素原子對(duì)其共振輻射吸收進(jìn)行定量分析的方法。1802年,英國科學(xué)家W.H.Wollaston在研究太陽連續(xù)光譜時(shí),發(fā)現(xiàn)太陽光譜的暗線。太陽光暗線1955年,澳大利亞物理學(xué)家Walsh和荷蘭科學(xué)家Alkemade發(fā)明了原子吸收光譜分析技術(shù),并用于化學(xué)物質(zhì)的定量分析。2第一節(jié)原子吸收光譜分析概述定義:原子吸收光譜法是一種基56原子吸收光譜分析的特點(diǎn)
優(yōu)點(diǎn):1.檢出限低,靈敏度高。其檢出限可達(dá)ng/mL;2.選擇性好:譜線簡單,因譜線重疊引起的光譜干擾較小,即抗干擾能力強(qiáng);3.具有較高的精密度和準(zhǔn)確度:因吸收線強(qiáng)度受原子化器溫度的影響比發(fā)射線小;4.分析速度快;5.光譜干擾少。原子吸收譜線少,一般沒有共存元素的光譜重疊,大部分情況下對(duì)被測(cè)元素不產(chǎn)生干擾;6.應(yīng)用范圍廣。可測(cè)定大多數(shù)的金屬和非金屬元素;7.儀器比較簡單,價(jià)格較低廉。缺點(diǎn):難熔元素、非金屬元素測(cè)定困難、不能多元素同時(shí)分析。3原子吸收光譜分析的特點(diǎn)
57原子吸收光譜分析的基本原理1.共振發(fā)射線:
電子從基態(tài)躍遷到能量最低的激發(fā)態(tài)時(shí)要吸收一定頻率的光,它再躍遷回基態(tài)時(shí),則發(fā)射出同樣頻率的光(譜線),這種譜線稱為共振發(fā)射線。2.共振吸收線:
電子從基態(tài)躍遷至第一激發(fā)態(tài)所產(chǎn)生的吸收譜線稱為共振吸收線。3.共振線:
共振發(fā)射線和共振吸收線都簡稱為共振線。對(duì)大多數(shù)元素來說,共振線也是元素最靈敏的譜線。E0E1E2E3ABA產(chǎn)生吸收光譜
B產(chǎn)生發(fā)射光譜
E0
基態(tài)能級(jí)
E1第一激發(fā)態(tài)能級(jí)
E2第二激發(fā)態(tài)能級(jí)
E3
第三激發(fā)態(tài)能級(jí)4原子吸收光譜分析的基本原理1.共振發(fā)射線:電子從基態(tài)躍遷58原子吸收光譜分析的基本原理基態(tài)原子數(shù)(N0)與待測(cè)元素原子總數(shù)(N)的關(guān)系
在一定溫度下,處于熱力學(xué)平衡時(shí),激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni與基態(tài)原子數(shù)N0
之比服從波爾茲曼分布定律:
Ni/N0=gi/g0e-(Ei-E0)/kT式中,g0
,gi分別為基態(tài)和激發(fā)態(tài)統(tǒng)計(jì)權(quán)重。
對(duì)共振線(E0=0),有
Ni/N0=gi/g0e-Ei/KT當(dāng)T<3000K時(shí),Ni/N0都很小,不超過1%,故
N0=N5原子吸收光譜分析的基本原理基態(tài)原子數(shù)(N0)與待測(cè)元素原子59原子吸收光譜分析的基本原理以Kv與作圖:表征吸收線輪廓(峰)的參數(shù):中心頻率0(峰值頻率):最大吸收系數(shù)對(duì)應(yīng)的頻率;
半寬度:Δ。Iv=I0e-KvL
譜線輪廓與譜線變寬原子蒸氣LI0IV比爾-朗伯定律(Beer-LambertLaw)Kv吸收系數(shù)6原子吸收光譜分析的基本原理以Kv與作圖:Iv=I0e60原子吸收光譜分析的基本原理1.自然寬度ΔvN
在無外界影響下,譜線仍有一定寬度,這種寬度稱為自然寬度。根據(jù)量子力學(xué)的Heisenberg測(cè)不準(zhǔn)原理,能級(jí)的能量有不確定性,ΔE由下式估算:
ΔE=h/(2πτ)τ-激發(fā)態(tài)原子的壽命;τ越小,寬度越寬。ΔvN約相當(dāng)于10-5nm數(shù)量級(jí)。2.多普勒寬度ΔνD
由于原子在空間作無規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)所導(dǎo)致的,故又稱為熱變寬。
當(dāng)處于熱力學(xué)平衡時(shí),Doppler變寬可用下式表示:
在原子吸收中,原子化溫度一般在2000~3000K,ΔνD一般在10-3~10-2nm,它是譜線變寬的主要因素。
譜線變寬7原子吸收光譜分析的基本原理1.自然寬度ΔvN2.多普勒613.壓力變寬
由于吸光原子與蒸氣中原子或分子相互碰撞而引起的能級(jí)稍微變化,使發(fā)射或吸收光量子頻率改變而導(dǎo)致的譜線變寬。根據(jù)與之碰撞的粒子不同,可分為兩類: 共振變寬或赫魯茲馬克(Holtzmark)變寬:因和同種原子碰撞而產(chǎn)生的變寬—共振變寬或赫魯茲馬克變寬。 勞倫茲變寬ΔvL
:因和其它粒子(如待測(cè)元素的原子與火焰氣體粒子)碰撞而產(chǎn)生的變寬-勞倫茲變寬)。4.自吸變寬
光源空心陰極燈發(fā)射的共振線被燈內(nèi)同種基態(tài)原子所吸收產(chǎn)生自吸現(xiàn)象。燈電流越大,自吸現(xiàn)象越嚴(yán)重。5.場(chǎng)致變寬
外界電場(chǎng)、帶電粒子、離子形成的電場(chǎng)及磁場(chǎng)的作用使譜線變寬的現(xiàn)象;影響較小。譜線變寬原子吸收光譜分析的基本原理83.壓力變寬譜線變寬原子吸收光譜分析的基本原理62原子吸收光譜分析的基本原理積分吸收
在吸收線輪廓內(nèi),吸收系數(shù)的積分稱為積分吸收系數(shù),簡稱為積分吸收,它表示吸收的全部能量。根據(jù)經(jīng)典的愛因斯坦理論,積分吸收與基態(tài)原子數(shù)目的關(guān)系,由下式給出:
公式表明:積分吸收值與單位原子蒸氣中吸收輻射的基態(tài)原子數(shù)呈簡單的線性關(guān)系,這是原子吸收光譜分析法的重要理論依據(jù)。這是一種絕對(duì)測(cè)量方法,現(xiàn)在的分光裝置無法實(shí)現(xiàn)。(△λ=10-3nm,若λ取500nm,單色器分辨率R=λ/△λ=5×105)長期以來無法解決的難題!e為元電荷;m為電子質(zhì)量;c為光速;N0為單位體積內(nèi)基態(tài)原子數(shù);f為振子強(qiáng)度,表示吸收躍遷的概率。9原子吸收光譜分析的基本原理積分吸收在吸63原子吸收光譜分析的基本原理峰值吸收1955年WalshA提出,在溫度不太高的穩(wěn)定火焰條件下,峰值吸收系數(shù)與火焰中被測(cè)量元素的原子濃度也成正比。銳線光源
—發(fā)射線的半寬度比吸收線的半寬度窄的多的光源。銳線光源需要滿足的條件:
a.光源的發(fā)射線與吸收線的ν0一致。
b.發(fā)射線的Δν小于吸收線的Δν。理想的銳線光源——空心陰極燈:用一個(gè)與待測(cè)元素相同的純金屬制成。由于燈內(nèi)是低電壓,壓力變寬基本消除;燈電流僅幾毫安,溫度很低,熱變寬也很小。10原子吸收光譜分析的基本原理峰值吸收1955年Walsh64原子吸收光譜分析的基本原理
采用銳線光源進(jìn)行測(cè)量,則Δνe<Δνa
,由圖可見,在輻射線寬度范圍內(nèi),Kν可近似認(rèn)為不變,并近似等于峰值時(shí)的吸收系數(shù)K0。將Iv=I0ve-KvL代入上式:則:峰值吸收測(cè)量
由Lambert-Beer定律:
11原子吸收光譜分析的基本原理采用銳線光源進(jìn)行測(cè)量,65
在原子吸收中,譜線變寬主要受多普勒效應(yīng)影響,則:在實(shí)驗(yàn)條件一定的情況下,被測(cè)元素的濃度c與原子蒸氣中基態(tài)原子的總數(shù)保持一定的比例關(guān)系:
N0=a
c所以在實(shí)驗(yàn)條件一定,各有關(guān)參數(shù)都是常數(shù)的情況下,吸光度為:
A=Kc上式就是原子吸收分光光度分析的理論基礎(chǔ)12在原子吸收中,譜線變寬主要受多普勒效應(yīng)影響,則:在實(shí)驗(yàn)
第二節(jié)原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀又稱原子吸收分光光度計(jì),由光源(radiationsource)、原子化器(atomizer)、單色器(monochromator)、檢測(cè)器(detector)、信號(hào)處理(signalprocessor)與顯示記錄等部件組成。 第二節(jié)原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀又稱原子吸收分光光度67原子吸收光譜儀一、光源作用:
發(fā)射被測(cè)元素的共振輻射。光源應(yīng)滿足如下要求:(1)能發(fā)射待測(cè)元素的共振線;(2)能發(fā)射銳線;(3)輻射光強(qiáng)度大,穩(wěn)定性好。應(yīng)用最廣泛的光源:空心陰極燈
(hollowcathodelamp,HCL)無極放電燈(electrodelessdischargelamp,EDL)空心陰極燈無極放電燈14原子吸收光譜儀一、光源光源應(yīng)滿足如下要求:應(yīng)用最廣泛的光68光源空心陰極燈工作原理施加適當(dāng)電壓時(shí),電子將從空心陰極內(nèi)壁流向陽極;與充入的惰性氣體碰撞而使之電離,產(chǎn)生正電荷,其在電場(chǎng)作用下,向陰極內(nèi)壁猛烈轟擊;使陰極表面的金屬原子濺射出來,濺射出來的金屬原子再與電子、惰性氣體原子及離子發(fā)生撞碰而被激發(fā),于是陰極內(nèi)輝光中便出現(xiàn)了陰極物質(zhì)和內(nèi)充惰性氣體的光譜。
用不同待測(cè)元素作陰極材料,可制成相應(yīng)空心陰極燈。空心陰極燈的輻射強(qiáng)度與燈的工作電流有關(guān)。
優(yōu)缺點(diǎn):(1)輻射光強(qiáng)度大,穩(wěn)定,譜線窄,燈容易更換。(2)每測(cè)一種元素需更換相應(yīng)的燈。15光源空心陰極燈工作原理優(yōu)缺點(diǎn):
二、原子化器火焰原子化法中,常用的是預(yù)混合型原子化器它是由霧化器(nebulizer)、霧化室(spraychamber)和燃燒器(burner)三部分組成。用火焰使試樣原子化是目前廣泛應(yīng)用的一種方式。它是將液體試樣經(jīng)噴霧器形成霧粒,這些霧粒在霧化室中與氣體(燃?xì)馀c助燃?xì)猓┚鶆蚧旌希ゴ笠旱魏螅龠M(jìn)入燃燒器形成火焰。此時(shí),試液在火焰中產(chǎn)生原子蒸氣。(一)火焰原子化器(Flameatomizer) 二、原子化器火焰原子化法中,常用的是預(yù)混合型原子化器它是由70火焰原子化器試樣霧滴在火焰中,經(jīng)蒸發(fā),干燥,離解(還原)等過程產(chǎn)生大量基態(tài)原子。
火焰溫度的選擇:
a.保證待測(cè)元素充分離解為基態(tài)原子的前提下,盡量采用低溫火焰;
b.火焰溫度越高,產(chǎn)生的熱激發(fā)態(tài)原子越多;
c.火焰溫度取決于燃?xì)馀c助燃?xì)忸愋停S每諝狻胰沧罡邷囟?600K能測(cè)35種元素。17火焰原子化器試樣霧滴在火焰中,經(jīng)蒸發(fā),干燥,離解(還原)71火焰原子化器火焰的類型
:
按照燃?xì)夂椭細(xì)獗壤煌蓪⒒鹧娣譃槿悾篴.化學(xué)計(jì)量火焰:溫度高,干擾少,穩(wěn)定,背景低,適用于測(cè)定許多元素。b.富燃火焰:還原性火焰,燃燒不完全,測(cè)定較易形成難熔氧化物的元素Mo、Cr稀土等。c.貧燃火焰:火焰溫度低,氧化性氣氛,適用于堿金屬測(cè)定。18火焰原子化器火焰的類型:721973火焰原子化器空氣---乙炔火焰:空氣—乙炔火焰最為常用。其最高溫度2300℃,能測(cè)35種元素。但不適宜測(cè)定已形成難離解氧化物的元素,如Al,Ta,Zr,Ha等。
貧燃性空氣—乙炔火焰:其燃助比小于1:6,火焰燃燒高度較低,燃燒充分,溫度較高,適用于不易氧化的元素。
富燃性空氣—乙炔火焰:其燃助比大于1:3,溫度較貧然性火焰低,噪聲較大。由于燃燒不完全,火焰成強(qiáng)還原性氣氛(如CN,CH,C等),有利于金屬氧化物的離解:MO+C→M+COMO+CN→M+N+COMO+CH→M+C+OH故適用于測(cè)定較易形成難熔氧化物的元素。
(中性火焰),其燃助比為1:4。這種火焰穩(wěn)定、溫度較高、背景低、噪聲小,適用于測(cè)定許多元素。20火焰原子化器空氣---乙炔火焰:空氣—乙炔火焰最為常用。74原子化器(二)非火焰原子化裝置
利用電熱、陰極濺射、等離子體或激光等方法使試樣中待測(cè)元素形成基態(tài)自由原子。目前廣泛使用的是電熱高溫石墨爐原子化法。①.結(jié)構(gòu)
由石墨爐電源、爐體和石墨管三部分組成。
21原子化器(二)非火焰原子化裝置75石墨爐原子化裝置②.石墨爐原子化過程一般需要經(jīng)四步程序升溫完成
a.
干燥;b.
灰化;c.
高溫原子化;d.
凈化(高溫除殘)。22石墨爐原子化裝置②.石墨爐原子化過程一般需要經(jīng)四步程序升76石墨爐原子化裝置
③.石墨爐原子化法的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn):a.
檢出限絕對(duì)值低,可達(dá)10-12至10-14g,比火焰原子化法低3個(gè)數(shù)量級(jí);
b.
原子化是在強(qiáng)還原性介質(zhì)與惰性氣體中進(jìn)行的,有利于破壞難熔氧化物和保護(hù)已原子化的自由原子不重新被氧化;c.
可直接以溶液、固體進(jìn)樣,進(jìn)樣量少;d.
可在真空紫外區(qū)進(jìn)行原子吸收光譜測(cè)定;f.
可分析元素范圍廣。缺點(diǎn):a.
基體效應(yīng)、化學(xué)干擾較多;b.
有背景吸收(共存化合物分子吸收),往往需要扣背景;c.測(cè)量的重現(xiàn)性比較差。23石墨爐原子化裝置③.石墨爐原子化法的特點(diǎn)77其它原子化法低溫原子化法又稱化學(xué)原子化法,其原子化溫度為室溫至攝氏數(shù)百度。常用的有汞低溫原子化法及氫化法。一般在電加熱石英管原子化器中進(jìn)行。
汞低溫原子化法
汞在室溫下,有一定的蒸氣壓,沸點(diǎn)為357C。只要對(duì)試樣進(jìn)行化學(xué)預(yù)處理還原出汞原子,由載氣(Ar或N2)將汞蒸氣送入吸收池內(nèi)測(cè)定。
氫化物原子化法
適用于Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se和Te等元素。在一定的酸度下,將被測(cè)元素還原成極易揮發(fā)與分解的氫化物,如AsH3
、SnH4
、BiH3等。這些氫化物經(jīng)載氣送入石英管后,進(jìn)行原子化與測(cè)定。24其它原子化法
三、光學(xué)系統(tǒng)1.外光路系統(tǒng)(或稱照明系統(tǒng)):作用是使共振線能正確地通過原子蒸汽,并投射在單色器入射狹縫上。2.分光系統(tǒng)(單色器):是將被測(cè)元素吸收的特征譜線與鄰近譜線分開。四、檢測(cè)系統(tǒng)主要由檢測(cè)器、放大器、對(duì)數(shù)變換器、顯示記錄裝置組成。1.檢測(cè)器將單色器分出的光信號(hào)轉(zhuǎn)變成電信號(hào)。如:光電倍增管等。2.放大器
將光電倍增管輸出的較弱信號(hào),經(jīng)電子線路進(jìn)一步放大。3.對(duì)數(shù)變換器
光強(qiáng)度與吸光度之間的轉(zhuǎn)換。4.顯示記錄配置原子吸收計(jì)算機(jī)工作站。 三、光學(xué)系統(tǒng)
第三節(jié)原子吸收分析中的干擾效應(yīng)及抑制方法原子吸收光譜法的主要干擾有物理干擾、化學(xué)干擾、電離干擾、光譜干擾、和背景干擾等。一、物理干擾
物理干擾是指試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液物理性質(zhì)有差異而產(chǎn)生的干擾。如粘度、表面張力或溶液的密度等的變化,影響樣品的霧化和氣溶膠到達(dá)火焰?zhèn)魉偷纫鹪游諒?qiáng)度的變化而引起的干擾。
消除辦法:配制與被測(cè)試樣組成相近的標(biāo)準(zhǔn)溶液或采用標(biāo)準(zhǔn)加入法。若試樣溶液的濃度高,還可采用稀釋法。 第三節(jié)原子吸收分析中的干擾效應(yīng)及抑制方法
二、化學(xué)干擾化學(xué)干擾是由于被測(cè)元素原子與共存組份發(fā)生化學(xué)反應(yīng)生成穩(wěn)定的化合物,影響被測(cè)元素的原子化,而引起的干擾。消除化學(xué)干擾的方法:(1)選擇合適的原子化方法
提高原子化溫度,減小化學(xué)干擾。使用高溫火焰或提高石墨爐原子化溫度,可使難離解的化合物分解。采用還原性強(qiáng)的火焰與石墨爐原子化法,可使難離解的氧化物還原、分解。
(2)加入釋放劑
釋放劑的作用是釋放劑與干擾物質(zhì)能生成比被測(cè)元素更穩(wěn)定的化合物,使被測(cè)元素釋放出來。例如,磷酸根干擾鈣的測(cè)定,可在試液中加入鑭、鍶鹽,鑭、鍶與磷酸根首先生成比鈣更穩(wěn)定的磷酸鹽,就相當(dāng)于把鈣釋放出來。 二、化學(xué)干擾81(3)加入保護(hù)劑
保護(hù)劑作用是它可與被測(cè)元素生成易分解的或更穩(wěn)定的配合物,防止被測(cè)元素與干擾組份生成難離解的化合物。保護(hù)劑一般是有機(jī)配合劑。例如,EDTA、8-羥基喹啉。(4)加入基體改進(jìn)劑
對(duì)于石墨爐原子化法,在試樣中加入基體改進(jìn)劑,使其在干燥或灰化階段與試樣發(fā)生化學(xué)變化,其結(jié)果可以增加基體的揮發(fā)性或改變被測(cè)元素的揮發(fā)性,以消除干擾。28(3)加入保護(hù)劑82三、電離干擾在高溫條件下,原子會(huì)電離,使基態(tài)原子減少,吸光度值下降,這種干擾稱為電離干擾。消除電離干擾的方法:最有效的方法是加入過量的消電離劑
消電離劑是比被測(cè)元素電離電位低的元素,相同條件下消電離劑首先電離,產(chǎn)生大量的電子,抑制被測(cè)元素的電離。例如,測(cè)鈣時(shí)可加入過量的KCl溶液消除電離干擾。鈣的電離電位為6.1eV,鉀的電離電位為4.3eV。由于K電離使鈣離子得到電子而生成原子。29三、電離干擾83四、光譜干擾光譜干擾有以下幾種: (1)吸收線重疊共存元素吸收線與被測(cè)元素分析線波長很接近時(shí),兩譜線重疊或部分重疊,會(huì)使分析結(jié)果偏高。 消除辦法是另選分析線。 (2)光譜通帶內(nèi)存在非吸收線這些非吸收線可能是被測(cè)元素的其他共振線與非共振線,也可能是光源中雜質(zhì)的譜線燈干擾。 消除辦法是減少狹縫寬度與燈電流,或另選譜線。
(3)與原子化器有關(guān)的干擾。30四、光譜干擾光譜干擾有以下幾種:84五、背景干擾背景干擾也是一種光譜干擾。分子吸收與光散射是形成光譜背景的主要因素。a.火焰成分對(duì)光的吸收。b.金屬的鹵化物、氧化物、氫氧化物以及部分硫酸鹽和磷酸鹽分子對(duì)光的吸收。c.
固體微粒對(duì)光的散射:原子化過程中形成的固體微粒,在光通過原子化器時(shí),對(duì)光產(chǎn)生散射,被散射的光偏離光路,不能被檢測(cè)器檢測(cè),導(dǎo)致測(cè)得的吸收偏高(假吸收)。31五、背景干擾背景干擾也是一種光譜干擾。分子吸收與光散射是
背景校正方法
1、氘燈校正法(190-350nm)
如圖所示,切光器可使銳線光源與氘燈連續(xù)光源交替進(jìn)入原子化器。銳線光源測(cè)定的吸光度值為原子吸收與背景吸收的總吸光度。連續(xù)光源所測(cè)吸光度為背景吸收。將銳線光源吸光度值減去連續(xù)光譜的吸光值,即為校正背景后的被測(cè)元素的吸光值。 背景校正方法如圖所示,切光器可使銳線光源與氘燈連續(xù)光源Zeeman效應(yīng)背景校正法分為以下兩大類:
光源調(diào)制法
吸收線調(diào)制法(使用更為廣泛)
A)恒定磁場(chǎng)調(diào)制方式
B)可變磁場(chǎng)調(diào)制方式
2、塞曼效應(yīng)校正法Zeeman效應(yīng)是指在磁場(chǎng)作用下簡并的譜線發(fā)生分裂的現(xiàn)象。Zeeman效應(yīng)背景校正法是磁場(chǎng)將吸收線分裂為具有不同偏振方向的組分,利于這些分裂的偏振成分來區(qū)別背景和元素的吸收。Zeeman效應(yīng)背景校正法分為以下兩大類:
光源調(diào)制法
87恒磁場(chǎng)調(diào)制方式
塞曼效應(yīng)校正在原子化器上施加一個(gè)永久磁場(chǎng),其方向與光束垂直,使吸收線分裂為、+和-組分,組分平行于磁場(chǎng)方向,波長不變,組分垂直于磁場(chǎng)方向,波長分別向長波與短波方向移動(dòng)。當(dāng)偏振器旋轉(zhuǎn)式,p‖和p交替通過原子蒸氣,在某一時(shí)刻,若p‖光束通過原子化器,就會(huì)被吸收線和背景吸收,即
A‖=A背景吸收+A原子吸收
若p光束通過原子化器,因與線的偏振方向不一致,線不能被吸收,線的偏振方向雖一致,但波長不同,亦不能被吸收,測(cè)得的僅為背景吸收,因?yàn)楸尘拔张c發(fā)射線偏振方向無關(guān)。即
A=A背景吸收
二者之差,
A‖-A=A原子吸收因此,以p‖為測(cè)量光束,p為參比光束,所測(cè)得信號(hào)差,則為經(jīng)過背景校正后的“凈吸光度”。34恒磁場(chǎng)調(diào)制方式883589交變磁場(chǎng)調(diào)制方式將交變磁場(chǎng)(方向與光束垂直)置于原子化器,用磁場(chǎng)對(duì)原子化過程中的原子吸收線進(jìn)行調(diào)制。無磁場(chǎng)(H=0)時(shí),原子吸收線不發(fā)生Zeeman分裂,有磁場(chǎng)(H=HMAX)時(shí),原子吸收線分裂為和組分。在光路中放置一個(gè)偏光元件,只允許光源輻射光中與磁場(chǎng)方向垂直的偏振光成分通過。在H=0時(shí),與通常原子吸收一樣,測(cè)量原子吸收和背景吸收;即
A背景吸收+原子吸收在H=HMAX時(shí),原子吸收線發(fā)生Zeeman分裂,其組分與光源輻射的偏振光波長一致,但偏振方向正交,故不發(fā)生吸收,此時(shí)測(cè)量的為背景吸收。A背景吸收兩者之差為校正了背景的凈吸收信號(hào),即
A背景吸收+原子吸收-A背景吸收=
A原子吸收
36交變磁場(chǎng)調(diào)制方式90第四節(jié)原子吸收光譜的分析方法1.分析線一般選待測(cè)元素的共振線作為分析線,測(cè)量高濃度時(shí),也可選次靈敏線。2.狹縫寬度
無鄰近干擾線(如測(cè)堿及堿土金屬)時(shí),選較大的通帶,反之(如測(cè)過渡及稀土金屬),宜選較小通帶。3.空心陰極燈電流在保證有穩(wěn)定和足夠的輻射光通量的情況下,盡量選較低的電流。4.原子化條件可選用火焰原子化法或石墨爐原子化法。5.進(jìn)樣量根據(jù)實(shí)際情況選用合適的進(jìn)樣量。一、測(cè)量條件的選擇37第四節(jié)原子吸收光譜的分析方法1.分析線一、測(cè)量條件913892第四節(jié)原子吸收分析的分析方法二、分析方法標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)加入法,內(nèi)標(biāo)法首先配制與試樣溶液相同或相近基體的含有不同濃度的待測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液,分別測(cè)定A值,作A-c
曲線,測(cè)定試樣溶液的Ax,從標(biāo)準(zhǔn)曲線上查得
cx樣。標(biāo)準(zhǔn)曲線法導(dǎo)致其彎曲的因素主要有:①.壓力變寬。②.非吸收光的影響。③.電離效應(yīng)。39第四節(jié)原子吸收分析的分析方法標(biāo)準(zhǔn)曲線法,標(biāo)準(zhǔn)加入法,93標(biāo)準(zhǔn)加入法分取幾份相同量的被測(cè)試液,分別加入不同量的被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液,其中一份不加被測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)溶液,最后稀釋至相同體積,使加入的標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度為0,CS、2CS、3CS…,然后分別測(cè)定它們的吸光度,繪制吸光度對(duì)濃度的校準(zhǔn)曲線,再將該曲線外推至與濃度軸相交。交點(diǎn)至坐標(biāo)原點(diǎn)的距離Cx即是被測(cè)元素經(jīng)稀釋后的濃度。40標(biāo)準(zhǔn)加入法
1.靈敏度及特征濃度
1975年IUPAC規(guī)定,靈敏度S(sensitivity)的定義是分析標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)的一次導(dǎo)數(shù)。分析標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)為
x=f(c)式中:x為測(cè)量值,c為被測(cè)元素或組分的濃度或含量。則靈敏度 S=dx/dc
S越大,靈敏度越高。特征靈敏度或特征濃度:產(chǎn)生1%的吸收或0.0044吸光度值時(shí)溶液中待測(cè)元素的質(zhì)量濃度或質(zhì)量分?jǐn)?shù)。在火焰原子吸收方法中,特征靈敏度以特征濃度c0(單位:mg/mL)表示
c0=
0.0044cx/Acx為某待測(cè)元素濃度,A為多次測(cè)量吸光度平均值。在非火焰原子吸收方法中,特征靈敏度以特征質(zhì)量m0(單位:ng或pg)表示
m0=
0.0044mx/Amx為某待測(cè)元素濃度,A為多次測(cè)量吸光度平均值。特征濃度或特征質(zhì)量與靈敏度的關(guān)系為:
c0=
0.0044/S或m0=
0.0044/S特征濃度或特征質(zhì)量越小,方法越靈敏。第五節(jié)靈敏度、特征濃度及檢出限 第五節(jié)靈敏度、特征濃度及檢出限
2.檢出限(detectionlimit,D.L.)以特定的分析方法,以適當(dāng)?shù)闹眯潘奖粰z出的最低濃度或最小量。檢出限比靈敏度具有更明確的意義,它考慮到了噪聲的影響,并明確地指出了測(cè)定的可靠程度。由此可見,降低噪聲,提高測(cè)定精密度是改善檢測(cè)極限的有效途徑。
D.L.=(xmin-x0)/S=ksB/Sxmin是可測(cè)量的最小分析信號(hào),x0是空白溶液多次測(cè)量的平均值,k是由置信水平?jīng)Q定的系數(shù),一般k=3,sB為空白溶液多次測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)差
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