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晶體三極管晶體三極管一、結(jié)構(gòu)、符號(hào)和分類(lèi)NNP發(fā)射極E基極B集電極C發(fā)射結(jié)集電結(jié)—基區(qū)—發(fā)射區(qū)—集電區(qū)NPN型PPNEBCPNP型ECBECB分類(lèi):按材料分:硅管、鍺管按功率分:
小功率管<500mW按結(jié)構(gòu)分:NPN、PNP按使用頻率分:低頻管、高頻管大功率管>1W中功率管0.5
1W二、電流放大原理1.三極管放大的條件內(nèi)部條件發(fā)射區(qū)摻雜濃度高基區(qū)薄且摻雜濃度低集電結(jié)面積大外部條件發(fā)射結(jié)正偏集電結(jié)反偏2.滿足放大條件的三種電路uiuoCEBECBuiuoECBuiuo共發(fā)射極共集電極共基極三極管內(nèi)部載流子的傳輸過(guò)程1)
發(fā)射區(qū)向基區(qū)注入多子電子,形成發(fā)射極電流
IE。ICN多數(shù)向BC結(jié)方向擴(kuò)散形成ICN。IE少數(shù)與空穴復(fù)合,形成IBN。IBN基區(qū)空穴來(lái)源基極電源提供(IB)集電區(qū)少子漂移(ICBO)I
CBOIBIBN
IB+ICBO即:IB=IBN
–
ICBO2)電子到達(dá)基區(qū)后(基區(qū)空穴運(yùn)動(dòng)因濃度低而忽略)ICNIEIBNI
CBOIB
3)
集電區(qū)收集擴(kuò)散過(guò)來(lái)的載流子形成集電極電流ICICIC=ICN+ICBO三極管放大原理的動(dòng)畫(huà)演示4.三極管的電流分配關(guān)系當(dāng)管子制成后,發(fā)射區(qū)載流子濃度、基區(qū)寬度、集電結(jié)面積等確定,故電流的比例關(guān)系確定,即:IB=I
BN
ICBOIC=ICN+ICBO穿透電流IE=IC+IB晶體三極管的特性曲線一、輸入特性輸入回路輸出回路與二極管特性相似O特性基本重合(電流分配關(guān)系確定)特性右移(因集電結(jié)開(kāi)始吸引電子)導(dǎo)通電壓UBE(on)硅管:(0.6
0.8)V鍺管:
(0.2
0.3)V取0.7V取0.2V二、輸出特性iC
/mAuCE
/V50μA40μA30μA20μA10μAIB=0O24684321截止區(qū):
IB
0
IC=ICEO
0條件:兩個(gè)結(jié)反偏截止區(qū)ICEOiC
/mAuCE
/V50μA40μA30μA20μA10μAIB=0O246843212.放大區(qū):放大區(qū)截止區(qū)條件:
發(fā)射結(jié)正偏集電結(jié)反偏特點(diǎn):
水平、等間隔ICEOiC
/mAuCE
/V50μA40μA30μA20μA10μAIB=0O246843213.飽和區(qū):uCE
u
BEuCB=uCE
u
BE
0條件:兩個(gè)結(jié)正偏特點(diǎn):IC
IB臨界飽和時(shí):
uCE
=uBE深度飽和時(shí):0.3V(硅管)UCE(SAT)=0.1V(鍺管)放大區(qū)截止區(qū)飽和區(qū)ICEO三、溫度對(duì)特性曲線的影響1.溫度升高,輸入特性曲線向左移。溫度每升高1
C,UBE
(22.5)mV。溫度每升高10
C,ICBO
約增大1倍。OT2>T12.溫度升高,輸出特性曲線向上移。iCuCET1iB
=0T2>iB
=0iB
=0溫度每升高1
C,
(0.51)%。輸出特性曲線間距增大。O3
晶體三極管的主要參數(shù)一、電流放大系數(shù)1.共發(fā)射極電流放大系數(shù)iC
/mAuCE
/V50μA40μA30μA20μA10μAIB=0O24684321—直流電流放大系數(shù)
—交流電流放大系數(shù)一般為幾十
幾百Q(mào)iC
/mAuCE
/V50μA40μA30μA20μA10μAIB=0O246843212.共基極電流放大系數(shù)
1一般在0.98以上。
Q二、極間反向飽和電流CB極間反向飽和電流
ICBO,CE極間反向飽和電流ICEO。三、極限參數(shù)1.ICM
—集電極最大允許電流,超過(guò)時(shí)
值明顯降低。2.PCM—集電極最大允許功率損耗PC=iC
uCE。iCICMU(BR)CEOuCEPCMOICEO安全工作區(qū)4.二極管的分析方法圖解法微變等效電路法5.特殊二極管工作條件主要用途穩(wěn)壓二極管反偏穩(wěn)壓發(fā)光二極管正偏發(fā)光光敏二極管反偏光電轉(zhuǎn)換三、兩種半導(dǎo)體放大器件雙極型半導(dǎo)體三極管(晶體三極管
BJT)單極型半導(dǎo)體三極管(場(chǎng)效應(yīng)管
FET)兩種載流子導(dǎo)電多數(shù)載流子導(dǎo)電晶體三極管1.形式與結(jié)構(gòu)NPNPNP三區(qū)、三極、兩結(jié)2.特點(diǎn)基極電流控制集電極電流并實(shí)現(xiàn)放大放大條件內(nèi)因:發(fā)射區(qū)載流子濃度高、
基區(qū)薄、集電區(qū)面積大外因:發(fā)射結(jié)正偏、集電結(jié)反偏3.電流關(guān)系IE=IC+IBIC=
IB+ICEO
IE=(1+
)
IB+ICEOIE=IC+IBIC=
IB
IE=(1+)
IB
4.特性iC
/mAuCE
/V100μA80μA60μA40μA20μAIB=0O369124321O0.40.8iB
/
AuBE/V60402080死區(qū)電壓(Uth):0.5V(硅管)
0.1V(鍺管)工作電壓(UBE(on))
:0.6
0.8V取0.7V
(硅管)0.2
0.3V取0.3V
(鍺管)飽和區(qū)截止區(qū)iC
/mAuCE
/V100μA80μA60μA40μA20μAIB=0O369124321放大區(qū)飽和區(qū)截止區(qū)放大區(qū)特點(diǎn):1)iB決定
iC2)曲線水平表示恒流3)曲線間隔表示受控5.參數(shù)特性參數(shù)電流放大倍數(shù)
=
/(1
)
=
/(1+
)極間反向電流ICBOICEO極限參數(shù)ICMPCMU(BR)CEOuCEOICEOiCICMU(BR)CEOPCM安全工作區(qū)=(1+
)ICBO四、晶體管電路的基本問(wèn)題和分析方法三種工作狀態(tài)狀態(tài)電流關(guān)系條件放大I
C=
IB發(fā)射結(jié)正偏集電結(jié)反偏飽和
IC
IB兩個(gè)結(jié)正偏I(xiàn)CS=
IBS集電結(jié)零偏臨界截止IB<0,IC=0兩個(gè)結(jié)反偏判斷導(dǎo)通還是截止:UBE>U(th)
則導(dǎo)通以NPN為例:UBE<U(th)
則截止判斷飽和還是放大:1.電位判別法NPN管UC>UB>UE放大UE<UC
UB飽和PNP管UC<UB<UE放大UE>UC
U
B飽和2.電流判別法IB>IBS
則飽和IB<IBS則放大場(chǎng)效應(yīng)管(FET):
是另一種具有正向受控作用的半導(dǎo)體器件。它是一種依靠電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制電流大小的半導(dǎo)體器件。場(chǎng)效應(yīng)管的特點(diǎn):
1.場(chǎng)效應(yīng)管是一種單極性半導(dǎo)體器件(只有一種載流子多子參與導(dǎo)電)。
2.場(chǎng)效應(yīng)管是電壓控制器件。
3.體積小、重量輕、耗電少、壽命長(zhǎng)。
4.輸入阻抗高、噪聲低、熱穩(wěn)定性好。
5.制造方便,適合大規(guī)模集成。場(chǎng)效應(yīng)管與三極管主要區(qū)別:場(chǎng)效應(yīng)管輸入電阻遠(yuǎn)大于三極管輸入電阻。場(chǎng)效應(yīng)管是單極型器件(三極管是雙極型器件)。場(chǎng)效應(yīng)管的分類(lèi):2.結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管(JFET)1.金屬氧化物半導(dǎo)體型(絕緣柵)場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)增強(qiáng)型MOS管(EMOS)耗盡型MOS管(DMOS)N溝道(NMOS)P溝道(PMOS)增強(qiáng)型MOS管(EMOS)耗盡型MOS管(DMOS)N溝道JFETP溝道JFET它是靠半導(dǎo)體表面電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)控制的半導(dǎo)體器件。它是靠半導(dǎo)體體內(nèi)電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)控制的半導(dǎo)體器件。JFETMOSFETMOS場(chǎng)效應(yīng)管P溝道(PMOS)
N溝道(NMOS)
P溝道(PMOS)
N溝道(NMOS)
MOSFET增強(qiáng)型(EMOS)
耗盡型(DMOS)
N溝道MOS管與P溝道MOS管工作原理相似,不同之處僅在于它們形成電流的載流子性質(zhì)不同,因此導(dǎo)致加在各極上的電壓極性相反。N+N+P+P+PUSGD增強(qiáng)型MOS場(chǎng)效應(yīng)管N溝道EMOSFET結(jié)構(gòu)示意圖源極漏極襯底極SiO2絕緣層金屬柵極P型硅襯底SGUD電路符號(hào)l溝道長(zhǎng)度W溝道寬度
N溝道EMOS管外部工作條件VDS>0
(保證柵漏PN結(jié)反偏)。U接電路最低電位或與S極相連(保證源襯PN結(jié)反偏)。VGS>0(形成導(dǎo)電溝道)PP+N+N+SGDUVDS-+-+
VGS
N溝道EMOS管工作原理柵襯之間相當(dāng)于以SiO2為介質(zhì)的平板電容器。
N溝道EMOSFET溝道形成原理假設(shè)VDS=0,討論VGS作用PP+N+N+SGDUVDS=0-+VGS形成空間電荷區(qū)并與PN結(jié)相通VGS
襯底表面層中負(fù)離子、電子VGS開(kāi)啟電壓VGS(th)形成N型導(dǎo)電溝道表面層n>>pVGS越大,反型層中n越多,導(dǎo)電能力越強(qiáng)。反型層VGS對(duì)溝道的控制視頻演示VDS對(duì)溝道的控制(假設(shè)VGS>VGS(th)且保持不變)VDS很小時(shí)
→
VGD
VGS。此時(shí)W近似不變,即Ron不變。由圖
VGD=VGS-VDS因此VDS
→ID線性。
若VDS
→則VGD
→近漏端溝道寬度
→
Ron增大。此時(shí)Ron
→ID變慢。PP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+PP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+VDS對(duì)溝道的控制視頻演示當(dāng)VDS增加到使VGD=VGS(th)時(shí)→A點(diǎn)出現(xiàn)預(yù)夾斷(D極附近的反型層消失,此時(shí)A點(diǎn)電位VGA
=VGS(th))若VDS繼續(xù)→A點(diǎn)左移→出現(xiàn)夾斷區(qū)此時(shí)VAS=VAG+VGS=-VGS(th)+VGS(恒定)若忽略溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),則近似認(rèn)為l不變(即Ron不變)。因此預(yù)夾斷后:PP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+APP+N+N+SGDUVDS-+VGS-+AVDS→ID基本維持不變。(飽和)
若考慮溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng)則VDS
→溝道長(zhǎng)度l
→溝道電阻Ron略。因此
VDS
→ID略。由上述分析可描繪出ID隨VDS變化的關(guān)系曲線:IDVDS0VGS–VGS(th)VGS一定曲線形狀類(lèi)似三極管輸出特性。飽和區(qū)預(yù)夾斷點(diǎn)可變電阻區(qū)MOS管僅依靠一種載流子(多子)導(dǎo)電,故稱單極型器件。
三極管中多子、少子同時(shí)參與導(dǎo)電,故稱雙極型器件。
利用半導(dǎo)體表面的電場(chǎng)效應(yīng),通過(guò)柵源電壓VGS的變化,改變感生電荷的多少,從而改變感生溝道的寬窄,控制漏極電流ID。MOSFET工作原理:由于MOS管柵極電流為零,故不討論輸入特性曲線。共源組態(tài)特性曲線:ID=f
(VGS)VDS=常數(shù)轉(zhuǎn)移特性:ID=f
(VDS)VGS=常數(shù)輸出特性:
伏安特性+TVDSIG0VGSID+--轉(zhuǎn)移特性與輸出特性反映場(chǎng)效應(yīng)管同一物理過(guò)程,它們之間可以相互轉(zhuǎn)換。
NEMOS管輸出特性曲線非飽和區(qū)特點(diǎn):ID同時(shí)受VGS與VDS的控制。當(dāng)VGS為常數(shù)時(shí),VDS
ID近似線性
,表現(xiàn)為一種電阻特性;ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V當(dāng)VDS為常數(shù)時(shí),VGS
ID
,表現(xiàn)出一種壓控電阻的特性。溝道預(yù)夾斷前對(duì)應(yīng)的工作區(qū)。條件:VGS>VGS(th)V
DS<VGS–VGS(th)因此,非飽和區(qū)又稱為可變電阻區(qū)。
數(shù)學(xué)模型:此時(shí)MOS管可看成阻值受VGS控制的線性電阻器:VDS很小MOS管工作在非飽區(qū)時(shí),ID與VDS之間呈線性關(guān)系:其中:W、l為溝道的寬度和長(zhǎng)度。COX
(=/OX)為單位面積的柵極電容量。注意:NEMOS的非飽和區(qū)相當(dāng)于三極管的飽和區(qū)。飽和區(qū)特點(diǎn):
ID只受VGS控制,而與VDS近似無(wú)關(guān),表現(xiàn)出類(lèi)似三極管的正向受控作用。ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V溝道預(yù)夾斷后對(duì)應(yīng)的工作區(qū)。條件:VGS>VGS(th)V
DS>VGS–VGS(th)考慮到溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),輸出特性曲線隨VDS的增加略有上翹。注意:飽和區(qū)(又稱有源區(qū))對(duì)應(yīng)三極管的放大區(qū)。數(shù)學(xué)模型:若考慮溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),則ID的修正方程:工作在飽和區(qū)時(shí),MOS管的正向受控作用,服從平方律關(guān)系式:其中:稱溝道長(zhǎng)度調(diào)制系數(shù),其值與l有關(guān)。通常=(0.005~0.03)V-1截止區(qū)特點(diǎn):相當(dāng)于MOS管三個(gè)電極斷開(kāi)。ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V溝道未形成時(shí)的工作區(qū)條件:VGS<VGS(th)ID=0以下的工作區(qū)域。IG≈0,ID≈0
擊穿區(qū)VDS增大到一定值時(shí)
漏襯PN結(jié)雪崩擊穿
ID劇增。
VDS
溝道l
對(duì)于l較小的MOS管
擊穿。由于MOS管COX很小,因此當(dāng)帶電物體(或人)靠近金屬柵極時(shí),感生電荷在SiO2絕緣層中將產(chǎn)生很大的電壓VGS(=Q/COX),使絕緣層擊穿,造成MOS管永久性損壞。MOS管保護(hù)措施:分立的MOS管:各極引線短接、烙鐵外殼接地。MOS集成電路:TD2D1D1D2一方面限制VGS間最大電壓,同時(shí)對(duì)感生電荷起旁路作用。
襯底效應(yīng)集成電路中,許多MOS管做在同一襯底上,為保證U與S、D之間PN結(jié)反偏,襯底應(yīng)接電路最低電位(N溝道)或最高電位(P溝道)。若|VUS|
-+VUS耗盡層中負(fù)離子數(shù)
因VGS不變(G極正電荷量不變)
ID
VUS
=0ID/mAVGS/VO-2V-4V根據(jù)襯底電壓對(duì)ID的控制作用,又稱U極為背柵極。PP+N+N+SGDUVDSVGS-+-+阻擋層寬度
表面層中電子數(shù)
P溝道EMOS管+-VGSVDS+-NN+P+SGDUP+N溝道EMOS管與P溝道EMOS管工作原理相似。即VDS<0、VGS<0外加電壓極性相反、電流ID流向相反。不同之處:電路符號(hào)中的箭頭方向相反。IDGSD電路符號(hào)耗盡型MOS場(chǎng)效應(yīng)管SGUDIDSGUDIDPP+N+SGDUN+N溝道DMOSNN+P+SGDUP+P溝道DMOS
DMOS管結(jié)構(gòu)VGS=0時(shí),導(dǎo)電溝道已存在溝道線是實(shí)線
N溝道耗盡型MOSFET的結(jié)構(gòu)和符號(hào)如圖所示,它是在柵極下方的SiO2絕緣層中摻入了大量的金屬正離子。所以當(dāng)VGS=0時(shí),這些正離子已經(jīng)在感應(yīng)出反型層,在漏源之間形成了溝道。于是只要有漏源電壓,就有漏極電流存在。符號(hào)
當(dāng)VGS>0時(shí),將使ID進(jìn)一步增加。VGS<0時(shí),隨著VGS的減小漏極電流逐漸減小,直至ID=0。對(duì)應(yīng)ID=0的VGS稱為夾斷電壓,用符號(hào)VGS(th)表示,有時(shí)也用VP表示。N溝道耗盡型MOSFET的輸出特性曲線和轉(zhuǎn)移特性曲線如圖所示。
NDMOS管伏安特性ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=1V-1.5V-1V-0.5V0V0.5V-1.8VID/mAVGS/V0VGS(th)VDS>0,VGS正、負(fù)、零均可。外部工作條件:DMOS管在飽和區(qū)與非飽和區(qū)的ID表達(dá)式與EMOS管相同。PDMOS與NDMOS的差別僅在于電壓極性與電流方向相反。N溝道增強(qiáng)型MOS管N溝道耗盡型MOS管P溝道增強(qiáng)型MOS管P溝道耗盡型MOS管四種MOS場(chǎng)效應(yīng)管比較VGS(th)
飽和區(qū)(放大區(qū))外加電壓極性及數(shù)學(xué)模型VDS極性取決于溝道類(lèi)型N溝道:VDS>0,P溝道:VDS<0
VGS極性取決于工作方式及溝道類(lèi)型增強(qiáng)型MOS管:
VGS
與VDS
極性相同。耗盡型MOS管:
VGS
取值任意。飽和區(qū)數(shù)學(xué)模型與管子類(lèi)型無(wú)關(guān)
臨界飽和工作條件非飽和區(qū)(可變電阻區(qū))工作條件|VDS|=|VGS–VGS(th)||VGS|>|VGS(th)|,|VDS|>|VGS–VGS(th)||VGS|>|VGS(th)|,飽和區(qū)(放大區(qū))工作條件|VDS|<|VGS–VGS(th)||VGS|>|VGS(th)|,非飽和區(qū)(可變電阻區(qū))數(shù)學(xué)模型FET直流簡(jiǎn)化電路模型(與三極管相對(duì)照)
場(chǎng)效應(yīng)管G、S之間開(kāi)路,IG0。三極管發(fā)射結(jié)由于正偏而導(dǎo)通,等效為VBE(on)。
FET輸出端等效為壓控電流源,滿足平方律方程:
三極管輸出端等效為流控電流源,滿足IC=
IB
。SGDIDVGSSDGIDIG0ID(VGS)+-VBE(on)ECBICIBIB
+-小信號(hào)電路模型MOS管簡(jiǎn)化小信號(hào)電路模型(與三極管對(duì)照)
gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-
rds為場(chǎng)效應(yīng)管輸出電阻:
由于場(chǎng)效應(yīng)管IG0,所以輸入電阻rgs。而三極管發(fā)射結(jié)正偏,故輸入電阻rb
e較小。與三極管輸出電阻表達(dá)式相似。rb
ercebceibic+--+vbevcegmvbeMOS管跨導(dǎo)利用得三極管跨導(dǎo)
通常MOS管的跨導(dǎo)比三極管的跨導(dǎo)要小一個(gè)數(shù)量級(jí)以上,即MOS管放大能力比三極管弱。計(jì)及襯底效應(yīng)的MOS管簡(jiǎn)化電路模型考慮到襯底電壓vus對(duì)漏極電流id的控制作用,小信號(hào)等效電路中需增加一個(gè)壓控電流源gmuvus。gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-gmuvusgmu稱背柵跨導(dǎo),工程上
為常數(shù),一般
=0.1~0.2MOS管高頻小信號(hào)電路模型當(dāng)高頻應(yīng)用、需計(jì)及管子極間電容影響時(shí),應(yīng)采用如下高頻等效電路模型。gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-CdsCgdCgs柵源極間平板電容漏源極間電容(漏襯與源襯之間的勢(shì)壘電容)柵漏極間平板電容場(chǎng)效應(yīng)管電路分析方法與三極管電路分析方法相似,可以采用估算法分析電路直流工作點(diǎn);采用小信號(hào)等效電路法分析電路動(dòng)態(tài)指標(biāo)。MOS管電路分析方法場(chǎng)效應(yīng)管估算法分析思路與三極管相同,只是由于兩種管子工作原理不同,從而使外部工作條件有明顯差異。因此用估算法分析場(chǎng)效應(yīng)管電路時(shí),一定要注意自身特點(diǎn)。估算法
MOS管截止模式判斷方法假定MOS管工作在放大模式:飽和(放大)模式非飽和模式(需重新計(jì)算Q點(diǎn))N溝道管:VGS<VGS(th)P溝道管:VGS>VGS(th)截止條件非飽和與飽和(放大)模式判斷方法a)由直流通路寫(xiě)出管外電路VGS與ID之間關(guān)系式。c)聯(lián)立解上述方程,選出合理的一組解。d)判斷電路工作模式:若|VDS|>|VGS–VGS(th)|若|VDS|<|VGS–VGS(th)|b)利用飽和區(qū)數(shù)學(xué)模型:例1已知
nCOXW/(2l)=0.25mA/V2,VGS(th)=2V,求ID解:假設(shè)T工作在放大模式(飽和區(qū))
VDD(+20V)1.2M
4k
TSRG1RG2RDRS0.8M
10k
GID帶入已知條件解上述方程組得:ID=1mAVGS=4V及ID=2.25mAVGS=-1V(舍去)VDS=VDD-ID(RD+RS)=6V因此驗(yàn)證得知:VDS>VGS–VGS(th),VGS>VGS(th),假設(shè)成立。小信號(hào)等效電路法場(chǎng)效應(yīng)管小信號(hào)等效電路分析法與三極管相似。利用微變等效電路分析交流指標(biāo)。畫(huà)交流通路將FET用小信號(hào)電路模型代替計(jì)算微變參數(shù)gm、rds注:具體分析將在第四章中詳細(xì)介紹。結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管
JFET結(jié)構(gòu)示意圖及電路符號(hào)SGDSGDP+P+NGSDN溝道JFETP溝道JFETN+N+PGSD
N溝道JFET管外部工作條件VDS>0(保證柵漏PN結(jié)反偏)VGS<0(保證柵源PN結(jié)反偏)JFET管工作原理P+P+NGSD-+
VGSVDS+-
VGS對(duì)溝道寬度的影響|VGS|
阻擋層寬度
若|VGS|
繼續(xù)
溝道全夾斷使VGS=VGS(off)夾斷電壓若VDS=0NGSD-+
VGSP+P+N型溝道寬度
溝道電阻Ron
IDID=0VDS很小時(shí)
→
VGD
VGS由圖VGD=VGS-VDS因此VDS→ID線性
若VDS
→則VGD
→近漏端溝道寬度
→
Ron增大。此時(shí)Ron→ID變慢
VDS對(duì)溝道的控制(假設(shè)VGS一定)NGSD-+VGSP+P+VDS+-此時(shí)W近似不變即Ron不變當(dāng)VDS增加到使VGD=VGS(off)時(shí)→A點(diǎn)出現(xiàn)預(yù)夾斷若VDS繼續(xù)→A點(diǎn)下移→出現(xiàn)夾斷區(qū)此時(shí)VAS=VAG+VGS=-VGS(off)+VGS(恒定)若忽略溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),則近似認(rèn)為l不變(即Ron不變)。因此預(yù)夾斷后:VDS→ID基本維持不變。NGSD-+VGSP+P+VDS+-ANGSD-+VGSP+P+VDS+-A利用半導(dǎo)體內(nèi)的電場(chǎng)效應(yīng),通過(guò)柵源電壓VGS的變化,改變阻擋層的寬窄,從而改變導(dǎo)電溝道的寬窄,控制漏極電流ID。JFET工作原理:綜上所述,JFET與MOSFET工作原理相似,它們都是利用電場(chǎng)效應(yīng)控制電流,不同之處僅在于導(dǎo)電溝道形成的原理不同。
NJFET輸出特性非飽和區(qū)(可變電阻區(qū))特點(diǎn):ID同時(shí)受VGS與VDS的控制。條件:VGS>VGS(off)V
DS<VGS–VGS(off)伏安特性曲線線性電阻:ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5V飽和區(qū)(放大區(qū))特點(diǎn):ID只受VGS控制,而與VDS近似無(wú)關(guān)。ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5V數(shù)學(xué)模型:條件:VGS>VGS(off)V
DS>VGS–VGS(off)在飽和區(qū),JFET的ID與VGS之間也滿足平方律關(guān)系,但由于JFET與MOS管結(jié)構(gòu)不同,故方程不同。截止區(qū)特點(diǎn):溝道全夾斷的工作區(qū)條件:VGS<VGS(off)IG≈0,ID=0
擊穿區(qū)VDS增大到一定值時(shí)近漏極PN結(jié)雪崩擊穿ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5V造成
ID劇增。VGS越負(fù)則VGD越負(fù)相應(yīng)擊穿電壓V(BR)DS
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