電鏡分析筆試題目及答案姓名：____________________

一、多項選擇題（每題2分，共10題）

1.下列關于透射電子顯微鏡（TEM）的描述，正確的是：

A.透射電子顯微鏡利用電子束進行成像

B.透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高

C.透射電子顯微鏡主要用于觀察生物樣品

D.透射電子顯微鏡的放大倍數通常在1000倍以下

2.下列關于掃描電子顯微鏡（SEM）的描述，正確的是：

A.掃描電子顯微鏡利用電子束進行成像

B.掃描電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高

C.掃描電子顯微鏡主要用于觀察生物樣品

D.掃描電子顯微鏡的放大倍數通常在1000倍以下

3.下列關于透射電子顯微鏡（TEM）的成像原理，正確的是：

A.電子束穿過樣品后，產生衍射和吸收

B.衍射和吸收后的電子被探測器接收

C.探測器將接收到的電子信號轉換為圖像

D.以上都是

4.下列關于掃描電子顯微鏡（SEM）的成像原理，正確的是：

A.電子束照射到樣品表面，產生二次電子

B.二次電子被探測器接收

C.探測器將接收到的電子信號轉換為圖像

D.以上都是

5.下列關于透射電子顯微鏡（TEM）的樣品制備，正確的是：

A.樣品需要經過切片、染色等步驟

B.樣品需要經過冷凍處理，以保持其超薄狀態

C.樣品需要經過特殊處理，以增加其導電性

D.以上都是

6.下列關于掃描電子顯微鏡（SEM）的樣品制備，正確的是：

A.樣品需要經過切片、染色等步驟

B.樣品需要經過特殊處理，以增加其導電性

C.樣品需要經過特殊處理，以增加其表面粗糙度

D.以上都是

7.下列關于透射電子顯微鏡（TEM）的分辨率，正確的是：

A.分辨率與電子束的波長有關

B.分辨率與樣品的厚度有關

C.分辨率與電子束的加速電壓有關

D.以上都是

8.下列關于掃描電子顯微鏡（SEM）的分辨率，正確的是：

A.分辨率與電子束的波長有關

B.分辨率與樣品的表面粗糙度有關

C.分辨率與電子束的加速電壓有關

D.以上都是

9.下列關于透射電子顯微鏡（TEM）的應用，正確的是：

A.用于觀察生物樣品的細胞結構

B.用于觀察材料的微觀結構

C.用于觀察納米材料的形貌

D.以上都是

10.下列關于掃描電子顯微鏡（SEM）的應用，正確的是：

A.用于觀察生物樣品的表面形貌

B.用于觀察材料的微觀結構

C.用于觀察納米材料的形貌

D.以上都是

二、判斷題（每題2分，共10題）

1.透射電子顯微鏡（TEM）的成像原理是基于電子束與樣品的相互作用。（）

2.掃描電子顯微鏡（SEM）的分辨率通常低于透射電子顯微鏡（TEM）。（）

3.在透射電子顯微鏡中，樣品的厚度對分辨率有顯著影響。（）

4.掃描電子顯微鏡（SEM）可以通過二次電子成像來觀察樣品的表面形貌。（）

5.透射電子顯微鏡（TEM）可以用于觀察活細胞的動態過程。（）

6.掃描電子顯微鏡（SEM）可以用來分析樣品的化學成分。（）

7.透射電子顯微鏡（TEM）的加速電壓越高，分辨率越好。（）

8.掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數越高，觀察到的細節越少。（）

9.透射電子顯微鏡（TEM）的樣品制備通常比掃描電子顯微鏡（SEM）的樣品制備簡單。（）

10.在透射電子顯微鏡中，電子束的束斑越小，分辨率越高。（）

三、簡答題（每題5分，共4題）

1.簡述透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）的主要區別。

2.解釋透射電子顯微鏡（TEM）中的“晶格選區電子衍射”（SelectedAreaElectronDiffraction,SAD）技術是如何工作的。

3.描述掃描電子顯微鏡（SEM）中二次電子成像的原理及其應用。

4.說明在透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備過程中，為什么要進行冷凍處理？

四、論述題（每題10分，共2題）

1.論述透射電子顯微鏡（TEM）在材料科學中的應用及其重要性。

2.分析掃描電子顯微鏡（SEM）在生物醫學研究中的優勢，并舉例說明其在具體研究中的應用。

五、單項選擇題（每題2分，共10題）

1.以下哪種類型的電子顯微鏡可以觀察到原子和分子的結構？

A.光學顯微鏡

B.掃描電子顯微鏡

C.透射電子顯微鏡

D.反射電子顯微鏡

2.在透射電子顯微鏡中，用于加速電子束的電壓通常是多少？

A.20kV

B.200kV

C.500kV

D.1000kV

3.掃描電子顯微鏡（SEM）的分辨率通常可以達到多少？

A.10nm

B.100nm

C.1μm

D.10μm

4.以下哪種樣品制備方法適用于透射電子顯微鏡（TEM）？

A.涂覆導電層

B.切片染色

C.低溫冷凍

D.以上都是

5.在透射電子顯微鏡中，用于觀察樣品的電子束是如何產生的？

A.通過加熱電子槍

B.通過加速電子束

C.通過電子束槍發射

D.通過電子槍的陰極發射

6.掃描電子顯微鏡（SEM）中，用于成像的電子束是如何掃描樣品表面的？

A.通過機械掃描

B.通過電子束自動掃描

C.通過光柵掃描

D.通過手動掃描

7.以下哪種類型的電子顯微鏡可以用來觀察生物樣品的細胞結構？

A.光學顯微鏡

B.掃描電子顯微鏡

C.透射電子顯微鏡

D.立體顯微鏡

8.在透射電子顯微鏡中，樣品的厚度對成像質量有什么影響？

A.厚度越大，分辨率越高

B.厚度越大，分辨率越低

C.厚度對分辨率沒有影響

D.厚度對分辨率影響不大

9.掃描電子顯微鏡（SEM）中，二次電子成像的優點是什么？

A.可以觀察樣品的表面形貌

B.可以觀察樣品的化學成分

C.可以觀察樣品的內部結構

D.以上都是

10.以下哪種方法可以用來提高透射電子顯微鏡（TEM）的分辨率？

A.使用更高能量的電子束

B.使用更薄的樣品

C.使用更小的束斑

D.以上都是

試卷答案如下

一、多項選擇題（每題2分，共10題）

1.A,B

2.A,B

3.A,B,C,D

4.A,B,C,D

5.A,B,C,D

6.A,B,C,D

7.A,B,C,D

8.A,B,C,D

9.A,B,C,D

10.A,B,C,D

二、判斷題（每題2分，共10題）

1.×

2.×

3.√

4.√

5.×

6.√

7.√

8.×

9.×

10.√

三、簡答題（每題5分，共4題）

1.透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）的主要區別在于成像原理和用途。TEM通過電子束穿過樣品后的衍射和吸收成像，主要用于觀察樣品的內部結構，如晶體結構。SEM則通過電子束照射樣品表面產生的二次電子成像，主要用于觀察樣品的表面形貌。

2.晶格選區電子衍射（SAD）是TEM中的一種技術，通過選擇樣品中的一個特定區域進行電子衍射，可以確定該區域的晶體結構。技術原理是利用電子束在特定晶格位置發生衍射，通過記錄衍射圖樣來分析樣品的晶體結構。

3.二次電子成像的原理是當電子束照射到樣品表面時，會激發出二次電子，這些二次電子被探測器接收并轉換為圖像。這種成像方式可以清晰地顯示樣品表面的細微結構和形貌。

4.在TEM樣品制備過程中進行冷凍處理是為了保持樣品在超薄狀態下的生物學活性，防止樣品在制備過程中發生脫水、固定等變化，從而影響觀察結果。

四、論述題（每題10分，共2題）

1.透射電子顯微鏡（TEM）在材料科學中的應用包括觀察材料的微觀結構、晶體結構、缺陷等，對于理解材料的性能和制備工藝具有重要意義。其重要性體現在可以提供高分辨率、高對比度的圖像，幫助