電子機器用□礻ク夕一品質(zhì)要求事項一第1部：品目別通則日本産業(yè)標準調(diào)查會審議C62197-1:2020(IEC621日本産業(yè)標準調(diào)査會標準第二部會構(gòu)成表氏名青柳惠美子所屬一般社団法人情報処理學(xué)會情報規(guī)格調(diào)査會(國立研一般社団法人電子情報技術(shù)産業(yè)協(xié)會IEC/SMB日本代表委員(ソ二一株式會社)一般財団法人電気安全環(huán)境研究所一般社団法人日本電機工業(yè)會IEC/CAB日本代表委員(富士ぜロックス株式會社)一般社団法人電気學(xué)會主務(wù)大臣:経濟産業(yè)大臣制定：令和2.3.23官報揭裁日:合和2.3.23原案作成者:一般社団法人電子情報技術(shù)産業(yè)協(xié)會審議部會:日本産業(yè)標準調(diào)査會標準第二部會(部會長大崎博之)議に付され,速やかに,確認,改正又は廃止されます。●●序文 1 1 1 1 2 32技術(shù)情報 32.1用語及び定義 3 4 4 5 52.6Cp及びCrkの定義 62.7Crkと不適合(不良)品數(shù)との関係 ?2.8Cp及びCrkの代表的な最小値 7 83品質(zhì)評価手順 83.1品質(zhì)評価の定義 83.2品質(zhì)認証(QA,QualificationApproval) 93.3能力認証(CA,CapabilityApproval) 93.4技術(shù)認証(TA,TechnologyApproval) 9 附屬書A(參考)工程の測定指標に関する詳細情報及び実踐的數(shù)値 附屬書B(規(guī)定)品質(zhì)評価手順 ●著作権法により無斷での復(fù)型,転截等は禁止されております。C62197-1:2020(IE●●●日本産業(yè)規(guī)格JIS電子機器用コネクター品質(zhì)要求事項一IEC62197-1:2006,ConnectorsforGenericspecification(この規(guī)格は,コネクタの検査に関する用語,定義,記號,試験方法及び情報を含むか,又はこれらに対2JISC5401-1:2015電子機器用注記対応國際規(guī)格:IEC60512(allparts),Connectorsforelectronicequipment—Testsand注記1対応國際規(guī)格:IEC60068-1:1988,Environmentaltesting-Part1:Generalandguidance(IDT)IEC60050-581:1978,InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)-Part581IECQC001002-2:2004Procedure-Part3:Appr3動作環(huán)境などの性能特性の詳細は,JISC5401-1の1.4(性能特性)による。性)による。一互換性互換性の詳細は,JISC5401-1の1.4.5(互換性)による。2.1用語及び定義製品又はサービスに施されたアウトプットを?qū)g現(xiàn)するために相互に作用する人,裝置,材料,方法及び注記工程の運営管理に用いる重要な手段は,統(tǒng)計的工程管理である。注記1工程特性は,例えば,溫度又はサイクル時間である。注記2重要な特性が目標値から大きく外れないように,工程への措置を講じる必要がある。工程の最も生産的な操業(yè)に起因し,監(jiān)視される特性値。管理図(controlchart)工程の特性から集めた統(tǒng)計量のプロット値,中心線及び1本又は2本の管理限界線で構(gòu)成する図式表示。注記二つの基本的な利用法は,工程が統(tǒng)計的管理の下で運用していることを判定するとき及び統(tǒng)計注記この用語は,測定値の母集団內(nèi)のばらつきの尺度である。注記!…工程能力指數(shù)は,初期(Cy及びCnk),生産前(Pp及びPpk)及び量産段階(4経時的に安定して繰り返し性のある分布をもつ,工程內(nèi)の多くの変動要因(例えば,抜き型の摩耗)。注記変動の偶然原因だけが存在し,その偶然原因が変化しない場合,工程のアウトプットは,予測可能である。工程能力は,偶然原因による変動によって求められる。注記!.…変動要因は斷続的であり,多くの場合,予測できず不安定である。変動要因が生じるとき,工程全體の分布が変化する。例えば,原材料の変更。注記2変動の異常原因が存在する場合,工程のアウトプットは,経時的に不安定である。弊害をもたらす場合は,原因を特定して取り除く必要がある。有益である場合も,それを特定してエ工程広がり(processspread)注記工程の平均に標準偏差(o)の倍數(shù)を加算又は減算して示す性能水準は,コネクタを試験する環(huán)境及び機械的ストレスの群分けを示し,並びに電気的特性の長期安定性のような特徴も示す。これらの水準には,番號を付與し,通常最も小さい番號(1)が最高の性能を示2.2.2互換性水準互換性は,異なる製造業(yè)者のコネクタの互換性を,標準化の程度に応じて,JISC5準1一取付けの互換性),(水準2一結(jié)合の互換性),(水準3一結(jié)合及び取付けの互換性)及び(水準4一性能の互換性)による四つの水準に分類する。異なる互換性水準のコネクタ同士を結(jié)2.3統(tǒng)計的工程管理[SPC(St継続的な品質(zhì)改善並びに優(yōu)れた製造及び生産管理の達成は,全ての製造業(yè)者が目指している総合的品質(zhì)SPCは,定期的に補正を行うことが望ましく,SPCシステムの狀況を記することが望ましい。統(tǒng)計的手法は,重要な工程特性及びそれらの変動性を決定することを可能にし,変動性を低減するための措置を講じることを可能にする(不良検知に代わる未然防止の戦略)。SPCは,不良予防に第一の焦點を合わせる継続的工程改善の経営理念を包含する。経営陣は,人材に責(zé)任及び権限を與え,SPCシステムを?qū)毪?維持するために十分なリソースを提供する。SPCシステムは,定期的に見直すことが望ましく,SPCシステムの狀況を記録することが5C62197-1:2020(IEC622.4出荷不適合値のppm評価生産技術(shù)の向上は,コネクタなどの部品の品質(zhì)改善をもたらしている。このため,百分率による不適合品の平均品質(zhì)水準は,百萬分率(以下,ppmという。)に置き換える必要がある。ppmの考え方は,ロット受入れ方式に適用するのでなく,製品の平均品質(zhì)水準の推定に適用する。部品に対するppmでの不適合水準の推定は,次式で算出する。表1に,その例を示す。ここに,D:ppm不適合水準u:不適合品數(shù)n:検査した製品の総數(shù)表1ー不適合水準の代表値不適合品數(shù)(個)検查試料數(shù)(個)012345例不適合水準の計算例不適合品數(shù)：0検查した製品の総數(shù):10000ppmに対する不適合の対象には,機能的欠陥,電気的不適合,外観及び機械的欠陥を含む。例えば,次の事象が點る。…電気的不適合:コンタクトの欠落又はハウジング內(nèi)部への移動機械的欠陥:コネクタの結(jié)合機構(gòu)の欠陥注記この細分簡條の全ての方程式に係數(shù)0.7が含まれているが,これは電子機構(gòu)部品分野でのppm不適合水準の算出における業(yè)界の実質(zhì)的経験に十分な安全率を加味して設(shè)定している。2.5工程能力工程能力は,偶然原因から生じる変動によって決定される。一般に,工程能力は,工程自體の最高性能 [すなわち最小の広がり(変動)]を表す。使用者は,より一般的に,工程の全體的なアウトプット及びそのアウトプットが,工程の変動に関係なく,いかに使用者の要求事項(仕様書として規(guī)定する。)に関連しているかに関心がある。全ての工程は,工程能力及び工程管理に基づき分類される。工程は,次の四つの場合のいずれかに分類ーケース1は,理想的な狀況であり,工程は管理され,要求事項を満たす能力が得られる。ーケース2は,工程は管理されているが,低減する偶然原因に過度の変動がある。6ーケース3は,要求事項を満たす能力は得られるが,管理されていない。変動の異常原因を特定して対ーケース4は,工程は管理されておらず,受け入れることが不可能である。偶然原因及び異常原因の変管理狀態(tài)非管理狀態(tài)XX測定値ばらつきN測定値ばらつきN測定値ばらつき N測定值ばらつき記號の説明工程の測定指標の定義は,次による。C,:公差の範囲を工程広がりで除したしたものとして定義する工程能力指數(shù)であり,工程の中心値と合致しているかは無関係である。一般的に,次式で表す。Cpu:上側(cè)規(guī)格限界に対応した工程能力指數(shù)であり,上側(cè)の公差の広がりを?qū)g際の上側(cè)の工程広がりで除したしたものとして定義する。一般的に,次式で表す。Cμ:下側(cè)規(guī)格限界に対応した工程能力指數(shù)であり,下側(cè)の公差の広がりを?qū)g際の下側(cè)の工程広がりで除したものとして定義する。一般的に,次式で表す。7●Ck:工程の平均値に対する偏りの度合いを説明する工程能力指數(shù)であり,Cu又はCnの最小値として定義される。工程の平均値及びそこから近い方の規(guī)格限界との間隔を,全體の工程広がりの半分に関して表す。一般的に,次式で表す(詳細は,附屬書A參照)。その他の定義は,表2による。重要特性は,十分に確認し,使用者及び製造業(yè)者の雙方に受け入れられなければならない[表3及び表2.7Crkと不適合(不良)品數(shù)との関係Cpkと不適合(不良)品數(shù)との関係は,表3を參照。良品の割合%0Cp及TCPkの代表的な最小值は,表4及び附屬書Aを參照。●著作権法により無斷での複製,転截等は禁止されております。8工程広がりは規(guī)格限界を外れる可能性がある。工程平均は規(guī)格限界に近づ工程広がりは規(guī)格限界を外れる可能性がある。工程能力は規(guī)格限界を外れる可能性がある。×づけることで改善可能。9一試験計畫3.2品質(zhì)認証(QA,Qualificatio3.4技術(shù)認証(TA,TechnologyC62197-1:2020(IEC621附屬書A工程の測定指標に関する詳細情報及び実踐的數(shù)値1)A.1一般事項図A.1の例では,6シグマ(6σ)=4及び設(shè)計公差E=USL-LSL=18-10=8という値である。NX2X2NNX2LSLNX2XX2NX図A.1ー工程能力指數(shù)の実踐的數(shù)値(続き)●附屬書B品質(zhì)評価手順條3を參照。詳細は,簡條3を參照。B.2.5組織認証組織認証は,自身の組織で生産し,自身の手でそれぞれ保管,配送及び供●B.3.5組織認証技術(shù)認証スケジュール(TAS)に定義されている工程管理方法[例えば,統(tǒng)計的工程管理(SPC)]並詳細は,IECQC001002-3の6.1(定義)を參照。詳細は,簡條3を參照。B.4.5組織認証要な全ての技術(shù)プロセス(設(shè)計,工程実現(xiàn),製品製造,試験,工程管理を含む管理方法及び出荷)を自身詳細は,IECQC001002-3の6.2(一般的施行)を參照。詳細は,IECQC001002-3の6.4.1(TADD)及び6.4.2(TADDの要求事項)を參照。B.4.6.6技術(shù)及び製造工程の記述との合意である。ュネクタを用いる製品及び裝置において,コネクタの完全性に影響する可能性のある主要特性は,記述置の品質(zhì)を確保するために使用者と協(xié)力してコネクタ製造業(yè)者によって明示されなければならない。B.製造工程の主要特性コネク夕技術(shù)を用いる製造工程は,仕様書の要求事項を満たしたコネクタの生産能力をもっていなければならない。コネクタ製造業(yè)者は,組立,試験,出荷,取扱い及び保管,修理,並びに再加工といったエで示す。それらの定義,他の工程パラメータと代表的な最小値との関係は2.3～2.9による。TADDには,及び主要工程の特性を示す細分簡條を含まなければならない。參考文獻IEC.Guide.102:1996.…Electronic…components一Specification.structuresfor…qualityassessment電子機器用コネクター品質(zhì)要求事項一第1部:品目別通則づいて,JISC5401(電子機器用コネク夕通則)が,1968年に制定された。IEC62197-1:2006(ConnectorsfoIEC61076-1:2006に基づく,JISC5401-1:2015(電子機器用コネク夕一丸形コネクタ角形コネクタ電子機器用コネクター製品要求事項-JISC5401-1規(guī)定事項:製品要求事項性能特性,技術(shù)情報,寸法情報,試験及び試験計畫製品要求事項品質(zhì)要求事項品質(zhì)要求事項規(guī)定事項:技術(shù)情報,品質(zhì)評価手順,試験及び試験計畫規(guī)定事項:品質(zhì)認証(B.2),能力認証(B.3),技術(shù)認証(B.4)品種別品質(zhì)通則品種別品質(zhì)通則は存在せず,c)引用規(guī)格(1.3)注記追記及び削除した事項は,次のとおりである。細分簡條を引用した。このため,引用規(guī)格(1.3)に次の注記2を設(shè)けた。“注記2この規(guī)格の対応國際規(guī)格での引用は1988年版であるが,既に,2013年版が発行されて2)JISZ9015-1の引用について,この規(guī)格の対応國際規(guī)格IEC62197-1では,試料のサンプリングに最新のJISZ9015-1では,ISO2859-1を基にしている実態(tài)がある。しかも,この規(guī)格で引用する簡びIEC62225の引用がなくとも用語の理解に支障のないことから,この規(guī)格の用語及び定義(2.1)かC62197-1:2020(IEC62197-1:b)工程能力(2.5)の表2(工程能力の事例)において,対応國際規(guī)格IEC62197-1では,測定値のばら1Scope(適用範囲)●電子部品及び実裝分野JIS原案作成委員會構(gòu)成表杉尾成新朝杉尾成新朝岡小小山大根佐齋中氏名本巖井衛(wèi)秀浩幸人章人章人孝人孝弘弘O雄O雄寬健隆志和浩晴英寬健隆志和浩晴英株式會社NTTファシリティーズ正正剛剛光富士通アドバンストテクノロ剛剛光弘波多野太弘波多野太O一春介O一春介充樹士垣小玉趣垣小玉趣矢西村池反杉內(nèi)池木訪口岡田上保本重正慎貴昌KOA株式會社一一博博己美介綾綾注記○印は,分科會委員を示す。著作権法により無斷での復(fù)製,転載等は禁止されております。(主查)佐藤賢