材料分析方法智慧樹知到期末考試答案+章節答案2024年蘭州理工大學X射線為什么能在晶體中衍射的原因為（）

答案:X射線的波長（1~10埃）與晶體中原子在空間的排列間距相當，晶體結構為周期規則排列。;由于晶體中各原子呈周期排列，因而各原子散射波在某些方向上發生相長干涉，即形成了衍射波。;晶體可作為X-ray衍射的光柵;當X-ray照射晶體，同一原子內各電子相干散射波形成原子散射波。X射線物相分析中的定性分析實質上是兩件事（）。

答案:采集衍射花樣查找核對PDF卡片;信息的采集處理查找核對PDF卡片;采集衍射花樣查找核對標準花樣X射線產生要有三個基本條件：（）

答案:產生自由電子，使電子獲得高能量，在電子運動的路徑上設置靶材;產生自由電子,使電子作定向高速運動,在電子運動的路徑上設置使其突然減速的障礙物;產生自由電子，使電子作定向高速運動，電子撞擊靶材利用X射線衍射進行物相分析時，晶體結構信息的獲知是通過X射線衍射花樣中兩類信息得到的——衍射方向2θ角、衍射強度I（）

答案:對X射線物相分析中的定性分析實質上是兩件事：信息的采集處理查找核對PDF卡片。（）

答案:對結構因子表征了晶胞內原子種類、原子數量，與原子位置對晶胞衍射強度的影響。（）

答案:對粉末法是用單色的X射線照射多晶體試樣，利用晶粒的不同取向來改變θ角，以滿足布拉格方程。（）

答案:對透射電鏡的一個特點是景深大，焦長長，這是由于小孔徑角成像的結果。（）

答案:對電磁透鏡是變焦變倍率的透鏡。（）

答案:對在體心立方晶胞中，當晶面指數H、K、L同奇同偶時，該晶面衍射線存在；當晶面指數為H、K、L奇偶混雜時，該晶面衍射線不存在。（）

答案:錯在X射線定性分析中相對強度要比晶面間距問題d值重要（）

答案:對透射電鏡中樣品臺的作用是使樣品在極靴孔內平移、傾斜、旋轉，進行有效觀察和分析。（）

答案:對TEM中單晶和納米晶的電子衍射花樣分別為一系列的弧對，許多排列整齊的許多斑點。（）

答案:錯點陣常數的測量誤差是指測量的（）

答案:偶然誤差+系統誤差連續譜短波限只與（）有關。

答案:管電壓將X射線在晶體中的衍射看成晶面的反射并簡化了衍射方向的科學家是（）

答案:英國物理學家布拉格父子.已知晶面間距的分光晶體來衍射從晶體中發射出來的特征X射線，通過測定衍射角算得特征X射線的波長，再由莫塞萊定理獲得晶體的（）

答案:成分信息K層電子被擊出的過程和隨之電子越遷引起的輻射分別稱為（）。

答案:K系激發，K系輻射特征X射線的波長與（）有關。

答案:激發電壓在X射線管中，起發射電子功能的是：（）

答案:陰極粉末法中當晶粒尺寸細化時倒易球球面倒易點的致密性（）

答案:增加在選擇濾波片時，可以選擇濾波片的波長λk剛好位于輻射源Kα和Kβ（λβ答案:KβKαTEM的中間鏡是一個長焦距變倍透鏡，可在（）倍范圍調節，當放大倍數大于1時，用來進一步放大物鏡像。

答案:0~20倍X射線在晶體中產生衍射時，入射線與反射線的夾角為（）

答案:2θ角在X射線管中，受激發產生X射線的是：（）A．陰極

答案:陽極（靶）在電子顯微鏡中的電子衍射公式為R′=k′g中，k′為（）

答案:有效相機常數X射線衍射方法中的粉末法采用的試樣是（）

答案:多晶體測角儀中聚焦圓的作用（）

答案:可使晶面衍射后匯聚，減少衍射線的散射，提高衍射強度和分辨率。立方晶系中，{110}的多重性因子為（）

答案:12結構因子表征了晶胞內（）對衍射強度的影響。

答案:原子種類、原子數量，與原子位置欲測定淬火鋼中殘余奧氏體的質量分數，應選用（）

答案:X射線衍射下列關于質量吸收系數μm的描述正確的是（）。

答案:μm與物質原子序數Z和X射線波長有關在面心立方晶體，［001］晶帶的標準零層倒易截面圖上，可能出現的倒易點指數為（）

答案:220X射線衍射花樣（）

答案:反映晶體中的晶胞大小及形狀、點陣類型、原子種類、原子數目和原子排列等規律。第一位發現晶體結構周期規則排列的科學家是（）

答案:德國的物理學家勞埃非晶態物質具有（）

答案:結構均勻、各向同性利用莫塞萊公式能獲得材料的（）

答案:元素信息當Δθ一定時，θ角越小，晶格常數的測量誤差（）

答案:越大Kα射線是電子由（）越遷所引起的輻射。

答案:L→K利用X射線衍射進行物相分析時，晶體結構信息的獲知是通過X射線衍射花樣中以下兩類信息得到的（）

答案:衍射方向2θ角、衍射強度I簡單立方晶體中前8條衍射線面指數平方和的比值從小到大為（）

答案:1:2:3:4:5:6:8:9物相分析是指（）

答案:確定所研究的材料由哪些物相組成，和確定各組成物相的相對含量的分析過程。入射線和晶面之間滿足布拉格方程，其衍射強度（）

答案:是否不等于零，還與消光條件有關X射線測角儀的功能為（）

答案:聚焦和精確測量2θ角由于電磁透鏡的內孔不圓，材質不均勻等因素，使電磁透鏡不同徑向的磁場強度不同，因此各徑向聚焦能力不同造成的像差，稱為（）。

答案:像散在X射線的吸收中，線吸收系數是在X射線傳播的方向上單位（）物質對X射線的衰減程度，而質量吸收系數是單位（）物質對X射線的衰減量。

答案:長度質量納米顆粒的倒易陣點為（）

答案:倒易球粉末法是用（）的X射線照射（）試樣，利用晶粒的不同取向來改變θ角，以滿足布拉格方程。

答案:單色多晶體單電子對非偏振X射線的散射強度具（）

答案:具偏振性提高加速電壓的穩定性，可使色差（）

答案:減小甚至消除離子探針顯微分析，它的分析深度比較，可測量質量極限、濃度極限，可分析元素范圍，常被用于薄層表面微區成分分析。（）

答案:淺；高；大原子力顯微鏡除了觀測絕緣體表面形貌，還可以測量樣品表面的彈性、塑性、硬度、黏著力、摩擦力等性能。（）

答案:對俄歇電子能譜可分析金屬表面的輕元素污染，例如空氣中的氧、二氧化碳、氧化硫等。（）

答案:對下列那種表面分析技術不屬于表面形貌及結構分析技術。（）

答案:X射線光電子能譜低能電子衍射樣品需用離子轟擊凈化，并以液氮冷卻防止污染。（）

答案:對波譜儀通過分析特征X射線的（）進行定性分析。

答案:特征波長電子探針的原理是用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征X射線，分析特征能量或特征波長便可知樣品中的含元素的種類。（）

答案:對掃描電鏡與電子探針結合，可實現對試樣的以下分析形貌、成分和結構的綜合分析。（）

答案:錯欲分析鋼中存在的鈷元素，以及碳化物中的碳元素，最好分別采用下面哪種分析方法（）？

答案:波譜儀，波譜儀對固體表面元素定性分析和定量分析時，應選用（）

答案:電子探針影響掃描電鏡分辨率的因素是（）

答案:檢測信號類別、檢測部位原子序數、電子束束斑直徑掃描電鏡的分辨率指二次電子成像時的分辨率。（）

答案:對二次電子和背散射電子在顯示表面形貌襯度時不同之處為背散射電子分辨率低，襯度大失去細節。（）

答案:對在碳纖維增強鎳基復合材料的吸收電子、背散射電子原子序數襯度圖像中，碳纖維顯示出的襯度分別為（）。

答案:亮的襯度暗的襯度吸收電子信號和背散射電子信號在形成原子序數襯度像時的區別在于背散射電子的產額隨著原子序數的增大而減小，所以樣品表面原子序數大的區域形成的圖像比較亮；而吸收電子的的信號隨著原子序數的增大而增大，所以原子序數大的區域吸收電子的圖像比較暗，反之亦然。（）

答案:錯欲觀察鋼中的孿晶和位錯，應選用以下哪種分析方法（）

答案:透射電鏡電子穿過非晶體薄樣品時，受到樣品原子核的散射作用，樣品原子序數越大，散射角越大。（）

答案:對質厚襯度原理是建立在非晶體樣品中原子對入射電子的衍射和透射電鏡小孔徑角成像基礎上的成像原理。是解釋非晶電子顯微圖像襯度的理論依據。（）

答案:錯在透射電鏡中，形成高分辨晶格像利用下面哪種襯度原理（）

答案:相位襯度孿晶在透射電鏡下的圖像襯度特征為：黑白相間、寬度不等的平行條帶。若孿晶界為傾斜晶界，則出現等厚條紋。（）

答案:對透射電鏡電子衍射花樣斑點的強度最主要取決于（）。

答案:多重性因數在愛瓦爾德球上，若倒易陣點落在球上，球心與該倒易陣點的連線方向必為某一hkl晶面的衍射方向。（）

答案:對倒易點陣中的一個點代表正點陣中的一個晶面，倒易矢量的方向垂直于正點陣中相應的hkl晶面。（）

答案:對零層倒易截面（）于相應的晶帶軸，且包含該晶帶的（）。

答案:垂直所有共帶面的倒易矢量電子波的波長比X-ray短得多，在同樣滿足布拉格方程時電子衍射的衍射角θ很小，約為10-2rad，而X-ray衍射角θ最大可接近π/2。（）

答案:對TEM的中間鏡是一個長焦距變倍透鏡，可在0~40倍范圍調節，當放大倍數大于1時，用來進一步放大物鏡像。（）

答案:錯透射電鏡中實現明暗場成像操作轉換的光闌是物鏡光闌。（）

答案:錯在透射電鏡中，選區光闌位于（）

答案:物鏡的像平面透射電鏡有兩大功能，分別為（）

答案:微觀組織形貌觀察晶體結構同位分析透射電鏡中用來調節圖像襯度的光闌是（）。

答案:物鏡光闌電子束在電磁透鏡中的運動軌跡是螺旋向前近軸運動，這是由于受到洛倫茲力的作用而導致的。（）

答案:對由于電磁透鏡磁場中近軸區域對電子束的折射能力與遠軸區域不同而產生的像差，稱為（）。

答案:球差把透鏡物平面允許的軸向偏差定義為透鏡的（）。

答案:景深分辨本領是指成像物體上能分辨出來的兩個物點間的最小距離，不管是光學顯微鏡還是電子顯微鏡，分辨本領均取決于照明光源的波長（）。

答案:對電磁透鏡分辨率主要的制約因素是（）

答案:衍射效應+透鏡像差在X射線衍射儀中，樣品的轉動θ角從0度到90度，則衍射面間距的變化（）

答案:從最大降到最小非晶態物質XRD圖中的半高寬對應著相鄰分子或原子間的平均距離。（）

答案:對在XRD定量分析時，參比強度法采用的參比物質為（）

答案:a-Al2O3物相是指材料中成分和性質一致、結構相同并與其他部分與界面分開的部分。（）

答案:對內標法是將所需物相的純物質另外單獨標定，然后與多相混合物中的待測物相的相應衍射線強度相比較而進行的。（）

答案:錯面心立方晶胞，參與衍射的晶面應符合以下條件（）

答案:HKL為同性數凡是滿足布拉格方程的入射X射線或電子束在晶體中必然會產生衍射。（）

答案:錯在粉末法中影響X射線強度的因子有五項，分別為：原子散射因子、角因子、多重性因子、吸收因子、溫度因子。（）

答案:錯溫度越高，原子熱振動的振幅越大，偏離衍射條件越遠，衍射強度（）

答案:減小影響圓柱試樣吸收因數的因素是。（）

答案:與吸收系數、布拉格角、試樣尺寸都有關干涉指數與晶面指數的明顯差別是干涉指數中有公約數，當干涉指數為質數時，它就代表一組真實的晶面。（）

答案:對不在埃瓦爾德球上的倒易陣點所對應的晶面（）

答案:不滿足布拉格方程，該晶面不衍射相鄰兩個真實存在的晶面（hkl）反射線之間的波程差是λ，相鄰兩個干涉面（HKL）之間反射線的波程差是nλ。（）

答案:錯下列關于倒易點陣基矢和正點陣基矢正確的關系式是（）

答案:aж·ａ=1;aж·b=0用已知波長的X射線照射晶體，由測量得到的衍射角求得對應的晶面間距，可以獲得晶體的（）

答案:結構信息Kα射線比Kβ射線的波長短而強度高（）

答案