ICS3122010

L23..

中華人民共和國國家標準

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

電子設備用機電元件

基本試驗規程及測量方法

第25-9部分信號完整性試驗

:

試驗25i外來串擾

:

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-9Sinalinterittests—

:ggy

Test25iAliencrosstalk

:

(IEC60512-25-9:2008,Connectorsforelectronicequipment—

Testsandmeasurements—Part25-9:Signalintegritytests—

Test25i:Aliencrosstalk,IDT)

2020-04-28發布2020-11-01實施

國家市場監督管理總局發布

國家標準化管理委員會

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍和目的

1………………1

規范性引用文件

2…………………………1

術語和定義

3………………1

概述

4………………………2

程序

4.1…………………2

試驗條件

4.2……………3

總體試驗配置

5……………3

總則

5.1…………………3

終端

5.2…………………4

試驗連接器線對

5.3……………………4

自一個連接器至另一連接器的外來串擾試驗程序

6……………………5

校準

6.1…………………5

測量噪聲最低標準

6.2()………………6

外來串擾測量

6.3………………………6

外來串擾顯著性確定程序

7………………7

相關詳細規范應規定的細則

8……………7

功率和計算報告和試驗記錄文件

9、………………………7

附錄資料性附錄獲取外來串擾性能數據的流程圖

A()………………8

附錄資料性附錄外來串擾試驗采用的同軸開關實例

B()……………9

參考文獻

……………………13

Ⅰ

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

前言

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法按試驗方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號完整性試驗已經發布或計劃發布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗串擾比

———25-1:25a:;

第部分試驗衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗上升時間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗傳輸時延

———25-4:25d:;

第部分試驗回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗眼圖和抖動

———25-6:25f:;

第部分試驗阻抗反射系數和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號完整性試驗試驗外來串擾

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-9。

本部分按照給出的規則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設備用連接器試驗和測量第部

IEC60512-25-9:2008《25-9

分信號完整性試驗試驗外來串擾

:25i:》。

與本部分中規范性引用的國際文件有一致性對應關系的我國文件如下

:

電工術語電子設備用機電元件

———GB/T4210—2015[IEC60050-581:2008,IDT];

所有部分數字通信用對絞或星絞多芯對稱電纜所有部分

———GB/T18015()[IEC61156()];

頻率低于的印制板連接器第部分有質量評定的具有通

———GB/T15157.7—20023MHz7:

用插合特性的位固定和自由連接器詳細規范

8[IEC60603-7:1996,IDT]。

本部分做了下列編輯性修改

:

標準名稱由電子設備用連接器試驗和測量第部分信號完整性試驗試驗外

———《25-9:25i:

來串擾修改為電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第部分信號完整性

》《25-9:

試驗試驗外來串擾

25i:》。

請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發布機構不承擔識別這些專利的責任

。。

本部分由中華人民共和國工業和信息化部提出

。

本部分由全國電子設備用機電元件標準化技術委員會歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業集團有限公司中國電子技術標準化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅲ

GB/T50952509—2020/IEC60512-25-92008

.:

電子設備用機電元件

基本試驗規程及測量方法

第25-9部分信號完整性試驗

:

試驗25i外來串擾

:

1范圍和目的

的本部分規定的試驗方法是用于評定安裝在其安裝系統內緊靠著的連接器之間的近

GB/T5095

端外來串擾和遠端外來串擾組合式連接器和多端口面板連接器均可采用本方

(ANEXT)(AFEXT)。

法進行試驗本方法提供了試驗任何兩端口之間外來外源的串擾的方式以及評定來自所有其他端

。(),

口的全部外來串擾本試驗規程廣泛地適用于機電元件中所有電連接器尤其適用于系

。,IEC60603-7

列和中所敘述的連接器以及用于數據傳輸的其他類型連接器

IEC61076-3-104,。

2規范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

國際電工詞匯第章電子設備用機電元件

IEC60050-581(IEV)581:[InternationalElectro-

technicalVocabulary(IEV)—Chapter581:Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment]

電子設備用連接器試驗和測量第部分符合連接器

IEC60512-26-10026-100:IEC60603-7

的測量裝置試驗和標準配置及測量試驗

、(26a~26g)[Connectorsforelectronicequipment—Testsand

measurement—Part26-100:Measurementsetup,testandreferencearrangementsandmeasurements

forconnectorsaccordingtoIEC60603-7(tests26ato26g)]

電子設備用連接器第部分頻率達數據傳輸用通道非屏

IEC60603-7-4:20057-4:250MHz8

蔽自由和固定連接器詳細規范

(Connectorsforelectronicequipment—Part7-4:Detailspecificationfor

8-way,unshielded,freeandfixedconnectors,fordatatransmissionswithfrequenciesupto250MHz)