標準解讀
GB/T 26332.1-2018《光學和光子學 光學薄膜 第1部分:定義》與GB/T 26332.1-2010版本相比,在多個方面進行了修訂和完善。主要變化體現在以下幾個方面:
一、標準名稱的調整,從“光學和光學儀器”變更為“光學和光子學”,這一變動反映了技術領域擴展的趨勢,更準確地涵蓋了當前該領域的研究范圍。
二、術語定義上有所更新。新版本中對一些關鍵概念進行了重新定義或補充說明,以更好地適應行業發展需求和技術進步。例如,對于某些特定類型的光學薄膜材料及其性能指標有了更加明確詳細的描述。
三、增加了新的內容。隨著科學技術的發展,出現了一些新技術、新材料以及新應用領域,因此2018版標準新增了若干相關條目,旨在為這些新興方向提供標準化指導和支持。
四、結構布局優化。為了使標準更具邏輯性和易讀性,2018年版本對原有章節進行了適當調整,并且通過增加示例等方式增強了其實用價值。
五、參考文獻更新。鑒于科學研究成果日新月異,新版標準也相應地更新了所引用的國內外標準及其他參考資料列表,確保信息的時效性和權威性。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經官方授權發布的權威標準文檔。
....
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文檔簡介
ICS17180
N30.
中華人民共和國國家標準
GB/T263321—2018/ISO9211-12010
.代替:
GB/T26332.1—2010
光學和光子學光學薄膜
第1部分定義
:
Opticsandphotonics—Opticalcoatings—
Part1Definitions
:
(ISO9211-1:2010,IDT)
2018-03-15發布2018-10-01實施
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局發布
中國國家標準化管理委員會
GB/T263321—2018/ISO9211-12010
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍
1………………………1
基本定義
2…………………1
按功能定義薄膜
3…………………………4
常見的薄膜缺陷定義
4……………………4
其他術語和定義
5…………………………6
附錄資料性附錄常見的薄膜缺陷的顯微照片
A()……………………7
參考文獻
……………………16
Ⅰ
GB/T263321—2018/ISO9211-12010
.:
前言
光學和光子學光學薄膜分為以下個部分
GB/T26332《》4:
第部分定義
———1:;
第部分光學特性
———2:;
第部分環境適應性
———3:;
第部分規定的試驗方法
———4:。
本部分為的第部分
GB/T263321。
本部分按照給出的規則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替光學和光學儀器光學薄膜第部分定義
GB/T26332.1—2010《1:》。
本部分與相比主要技術變化如下
GB/T26332.1—2010,:
更改了標準的名稱
———;
刪除了微劃痕大濺點大微粒和孔徑錐角個術語
———“”“”“”“”4;
刪除了術語通光孔徑的別名有用區域
———“”“”;
附錄中的手繪圖片均改為顯微照片
———A;
對部分文字表述進行了調整
———;
將術語細劃痕改為發狀劃痕
———“”“”;
將術語薄膜空隙改為薄膜空缺
———“”“”;
將術語相變改為相移
———“”“”;
將術語濺點改為噴濺點
———“”“”;
將術語裂紋改為斷裂
———“”“”;
將術語龜裂改為裂紋
———“”“”;
將術語污點改為色斑
———“”“”;
將術語剝離改為剝落
———“”“”。
本部分使用翻譯法等同采用光學和光子學光學薄膜第部分定義
ISO9211-1:2010《1:》。
本部分由中國機械工業聯合會提出并歸口
。
本部分起草單位沈陽儀表科學研究院有限公司浙江大學大連化學物理研究所同濟大學沈陽
:、、、、
匯博光學公司杭州科汀光學技術有限公司
、。
本部分主要起草人高鵬陰曉俊費書國孫龍章岳光王占山顧培夫程鑫彬鄧淞文王峰
:、、、、、、、、、、
趙帥鋒王瑞生王銀河徐秋玲殷波
、、、、。
本部分所替代標準的歷次版本發布情況為
:
———GB/T26332.1—2010。
Ⅲ
GB/T263321—2018/ISO9211-12010
.:
光學和光子學光學薄膜
第1部分定義
:
1范圍
規定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應用功能分類技術指標的標準
GB/T26332、
表述形式常規特性及試驗測量方法但不擬用于規定鍍制方法
、,。
不適用于眼科光學眼鏡的光學薄膜
GB/T26332()。
的本部分界定了光學薄膜的相關術語包括基本定義按功能定義薄膜常見的薄膜
GB/T26332,、、
缺陷定義其他術語和定義
、。
2基本定義
21鍍膜表面
.
211
..
元件和基片的表面鍍膜surfacetreatmentofcomponentsandsubstrates
使用一種或多種材料在元件表面鍍膜用以改變元件原表面的光學物理或化學性質
,,、。
注基片被視為是幾何完美和光學均質的在實際操作中將基片及其表面作為一個整體進行檢驗測量
:。,。
212
..
入射介質incidentmedium
光射入薄膜前經過的介質
。
213
..
出射介質emergentmedium
光射出薄膜后進入的介質
。
注基片除了作為薄膜的機械支撐基底也是薄膜的入射和或出射介質
:,()。
22鍍膜表面的光學特性
.
221概述
..
鍍膜表面的光學特性可以用分光光度值來描述這些特性與電磁波傳播的能量輻射或發光相關
,(),
并為波長入射角偏振態的函數另外散射也是影響鍍膜表面光學特性的因素
、、。,。
注1在表述與光譜相關的函數時通常將波長λ寫入圓括號內作為符號的一部分來表示
:,。
注2波長λ可用波數σ或光子能量hν來代替h普朗克常數ν頻率建議波長的單位為納米或微
:
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