射線照相質量影響因素第一頁，共五十八頁，2022年，8月28日是非題1.影像顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小。（×

）2.像質計靈敏度1.5%，就×意味著尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被查出。（×）3.使用較低能量射線可得到較高的主因對比度。（√）第二頁，共五十八頁，2022年，8月28日4.射線照相時，若千伏值提高，將會使膠片對比度降低。（×）5.一般來說，對厚度差較大的工件，應使用較高能量射線透照，其目的是降低對比度，增大寬容度。（√）第三頁，共五十八頁，2022年，8月28日6.增大曝光量可提高主因對比度。（×）7.射線照相主因對比度與入射線的能量有關，與強度無關。（√）8.用增大射源到膠片距離的辦法可降低射線照相固有不清晰度。（×）第四頁，共五十八頁，2022年，8月28日9.減小幾何不清晰度的途徑之一，就是使膠片盡可能地靠近工件。（√）10.利用陽極側射線照相所得到的底片的幾何不清晰度比陰極側好。（√）第五頁，共五十八頁，2022年，8月28日11.膠片的顆粒越粗，則引起的幾何不清晰度就越大。（×）12.使用γ射線源可以消除幾何不清晰度。（×）13.增加源到膠片的距離可以減小幾何不清晰度，但同時會引起固有不清晰度增大。（×）第六頁，共五十八頁，2022年，8月28日14.膠片成像的顆粒性會隨著射線能量的提高而變差。（√）15.對比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個主要因素。（√）16.膠片對比度和主因對比度均與工件厚度變化引起的黑度差有關。（×）第七頁，共五十八頁，2022年，8月28日17.使用較低能量的射線可提高主因對比度，但同時會降低膠片對比度。（×）18.膠片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。（×）第八頁，共五十八頁，2022年，8月28日19.顯影不足或過度，會影響底片對比度，但不會影響顆粒度。（×

）20.可以采取增大焦距的辦法使尺寸較大的源的照相幾何不清晰度與尺寸較小的源完全一樣。（√）第九頁，共五十八頁，2022年，8月28日21.散射線只影響主因對比度，不影響膠片對比度。（√）22.底片黑度只影響膠片對比度，與主因對比度無關。（√）第十頁，共五十八頁，2022年，8月28日23.射線的能量同時影響照相的對比度、清晰度、顆粒度。（√）24.透照有余高的焊縫時，所選擇的“最佳黑度”就是指能保證焊縫部位和母材部位得到相同像質計靈敏度顯示的黑度值。（√）第十一頁，共五十八頁，2022年，8月28日25.底片黑度只影響對比度，不影響清晰度。（√）26.固有不清晰度是由于使溴化銀感光的電子在乳劑層中有一定的穿越行程而造成的。（√）27.底片能夠記錄的影像細節的最小尺寸取決于顆粒度。（√）第十二頁，共五十八頁，2022年，8月28日選擇題1.從可檢出最小缺陷的意義上說，射線照相靈敏度取決于（D）

A.底片成像顆粒度

B.底片上缺陷圖像不清晰度

C.底片上缺陷圖像對比度D.以上都是2.射線底片上兩個不同區域之間的黑度差叫做（B）

A.主因反差B.底片反差

C.清晰度D.膠片反差第十三頁，共五十八頁，2022年，8月28日3.影響主因對比度的是（D）A.射線的波長B.散射線C.工件的厚度差D.以上都是4.射線底片上缺陷輪廓鮮明的程度叫做（C

）

A.主因對比度B.顆粒度

C.清晰度D.膠片對比度第十四頁，共五十八頁，2022年，8月28日5.幾何不清晰度也可以稱為（D

）

A.固有不清晰度B幾何放大

C.照相失真D.半影6.射線透照的幾何不清晰度（C

）

A.與工件厚度成正比，與焦點尺寸成反比

B.與工件厚度成反比，與焦點尺寸成反比

C.與焦點尺寸成正比，與焦距成反比

D.與焦點尺寸成反比，與焦距成正比第十五頁，共五十八頁，2022年，8月28日7.決定細節在射線底片上可記錄最小尺寸的是（C）

A．對比度B.不清晰度

C.顆粒度D.以上都是8.射線底片的顆粒性是由什么因素造成的（D

）

A.影像顆?；蝾w粒團塊的不均與分布

B.底片單位面積上顆粒數的統計變化

C.顆粒團塊的重重疊疊

D.以上都是第十六頁，共五十八頁，2022年，8月28日9.下列四種因素中，不能減小幾何不清晰度的因素是（C）

A.射源到膠片的距離

B.膠片到工件的距離

C.射源的強度D.射源的尺寸10.減小幾何不清晰度的方法是（C）

A.選用焦點較大的射源

B.使用感光速度較快的膠片

C.增大射源到膠片的距離

D.增大工件到膠片的距離第十七頁，共五十八頁，2022年，8月28日11.固有不清晰度與下列哪一因素有關（D）

A.源尺寸B.膠片感光度C.膠片粒度D.射線能量12.為了提高透照底片的清晰度，選擇焦距時，應該考慮的因素是（D）

A.射源的尺寸，射源的強度，膠片類型

B.工件厚度，膠片類型，射源類型

C.射源強度，膠片類型，增感屏類型

D.射源尺寸，幾何不清晰度，工件厚度第十八頁，共五十八頁，2022年，8月28日13.下列四種因素中對底片的清晰度無任何影響的是（D

）

A.射源的焦點尺寸B.增感屏的類型

C.射線的能量D.底片的黑度14.在射線照相中，使缺陷影象發生畸變最重要的原因是（D）

A.射源尺寸B.射源到缺陷的距離

C.缺陷到膠片的距離

D.缺陷相對于射源和膠片的位置和方向第十九頁，共五十八頁，2022年，8月28日15.下面關于幾何修正系數σ的敘述，那一條是錯誤的（D）

A.當缺陷尺寸小于射源尺寸時，才需要引入σ對底片對比度進行修正

B.σ值越小，幾何條件對底片對比度的影響越大

C.為提高σ而改變透照位置，常用的方法是增大焦距

D.為提高底片對比度，應盡量采用σ>1的透射布置第二十頁，共五十八頁，2022年，8月28日16.透照有余高的焊縫時，為使像質計金屬絲在焊縫和母材部位得到相同顯示，應（A

）

A.根據焊縫的余高X選擇合適的射線能量

B.盡量選擇較高能量射線

C.盡量選擇較低能量射線

D.以上都不對第二十一頁，共五十八頁，2022年，8月28日17.以下哪一個參數不被認為是影響裂紋檢出的關鍵參數（A）

A.長度LB.開口寬度WC.自身高度dD.裂紋與射線角度θ18.透照板厚一定且有余高的焊縫，散射比隨有效能量的提高而（B）

A.增大B.減小

C.不變D.不一定第二十二頁，共五十八頁，2022年，8月28日19.用單壁外透法透照同一筒體時，如不考慮焦點投影尺寸的變化，焊縫Ug與環縫Ug的區別是：在一張底片的不同部位（A）A.縱縫Ug值各處都一樣，而環縫Ug值隨部位而變化B.環縫Ug值各處都一樣，而縱縫Ug值隨部位而變化C.無論縱縫、環縫，Ug值在任何部位都相同，不發生變化D.以上都不是。第二十三頁，共五十八頁，2022年，8月28日20.用置于透照區中心附近的鉑——鎢雙絲透度計可以從射線底片上測出一定管電壓下的（C）

A.吸收系數B.散射因子

C.固有不清晰度D.形狀修正系數21.下列哪一因素的變化不會改變射線照相的主因對比度（D

）

A.試件的材質B.射線的能譜

C.散射線的分布D.毫安分或居里分第二十四頁，共五十八頁，2022年，8月28日22.下列哪一因素對照相底片顆粒性無明顯影響？（

B）

A.顯影程度B.使用鉛增感屏

C.射線穿透力D.使用熒光增感屏23.工件中靠近射源一側的缺陷圖像，在下列哪種情況下清晰度最差？（

C）

A.焦距增大B.焦點尺寸減小

C.工件厚度增大D.膠片與工件距離減小第二十五頁，共五十八頁，2022年，8月28日24.下列哪一參數不是影響小缺陷射線照相清晰度和對比度的共同因素？（B）

A.焦點或射源尺寸B.黑度

C.焦距D.射線線質25.決定缺陷在射線透照方向上可檢出最小厚度差的因素是（A）

A.對比度B.不清晰度

C.顆粒度D.以上都不是第二十六頁，共五十八頁，2022年，8月28日26.膠片與增感屏貼合不緊，會明顯影響射線照相的（B

）

A.對比度B.不清晰度

C.顆粒度D.以上都不是第二十七頁，共五十八頁，2022年，8月28日問答題：1、什么是射線照相靈敏度？絕對靈敏度和相對靈敏度的概念又是什么？2、簡述像質計靈敏度和自然缺陷靈敏度的區別和聯系？第二十八頁，共五十八頁，2022年，8月28日3、什么是影響射線照相影像質量的三要素？4、什么叫主因對比度？什么叫膠片對比度？它們與射線照相對比度的關系如何？第二十九頁，共五十八頁，2022年，8月28日5、就像質計金屬絲的底片對比度公式討論提高對比度的主要途徑，并說明通過這些途徑提高對比度可能會帶來什么缺點？6、何謂固有不清晰度？7、固有不清晰度大小與哪些因素有關？8、何謂幾何不清晰度？其主要影響因素有哪些？第三十頁，共五十八頁，2022年，8月28日9、實際照相中，底片上各點的值是否變化？有何規律？10、試述和關系以及對照相質量的影響。11、試述底片影響顆粒度及影響因素。第三十一頁，共五十八頁，2022年，8月28日12、采用源在外的透照方式比源在內透照方式更有利于內壁表面裂紋的檢出，這一說法是否正確，為什么？13、在底片黑度，像質計靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會漏檢？第三十二頁，共五十八頁，2022年，8月28日參考答案：1、答：射線照相靈敏度是評價射線照相質量的最重要的指標，從定量方面來說，是指在射線底片上可以觀察到的最小缺陷尺寸或最小細節尺寸；從定性方面來說，是指發現和識別細小影像的難易程度。絕對靈敏度是指在射線照相底片上所能發現的沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸。相對靈敏度是指該最小缺陷尺寸與射線透照厚度的百分比。第三十三頁，共五十八頁，2022年，8月28日2、答：為便于定量評價射線照相靈敏度，常用與被檢工件或焊縫的厚度有一定百分比關系的人工結構，如金屬絲、孔、槽等組合所謂透度計，又稱為像質計，作為底片影像質量的監測工具，由此得到的靈敏度稱為像質計靈敏度。

第三十四頁，共五十八頁，2022年，8月28日自然缺陷靈敏度是指在射線照相底片上所能發現的工件中的最小缺陷尺寸。像質計靈敏度不等于自然缺陷靈敏度，因為自然缺陷靈敏度是缺陷的形狀系數、吸收系數和三維位置的函數；但像質計靈敏度的提高，表示底片像質水平也相應提高，因而也能間接地反映出射線照相相對最小自然缺陷檢出能力的提高。第三十五頁，共五十八頁，2022年，8月28日3、答：影響射線照相影像質量的三個要素是：對比度、清晰度、顆粒度。射線照相對比度定義為射線照相底片上某一小區域和相鄰區域的黑度差。射線照相清晰度定義為射線照相底片上的黑度變化過渡區域的寬度。用來定量描述清晰度的是“不清晰度”。射線照相顆粒度是根據測微光密度計測出的數據，按一定方法求出的所謂底片黑度漲落的客觀量值。第三十六頁，共五十八頁，2022年，8月28日4、答：由于不同區域射線強度存在差異所產生的對比度稱為主因對比度，其數學表達式為：

ΔI/I=μ(ΔT)/(1+n)

式中：I：透過試件到達膠片的射線強度；ΔI：局部區域射線強度增量；μ：射線的吸收系數；ΔT：局部區域透射厚度差；n：散射比。由上式可以看出，主因對比度取決于透照厚度差、射線的質以及散射比。第三十七頁，共五十八頁，2022年，8月28日

膠片對比度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數定量表示，數學式為：G=ΔD/ΔlgE式中：G：膠片平均反差系數；ΔD：底片黑度差；ΔlgE：曝光量對數值的增量。影響膠片對比度的因素有：膠片類型、底片黑度、顯影條件。射線照相底片對比度是主因對比度和膠片對比度的綜合結果，主因對比度是構成底片對比度的根本因素，膠片對比度可以看作是主因對比度的放大系數。第三十八頁，共五十八頁，2022年，8月28日5、答：像質計金屬絲底片對比度公式：

ΔD=0.434Gd(1+n)提高對比度主要途徑和由此帶來的缺點:1、增大v值。在保證穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，但這樣會使曝光時間增加。2、增大G值。可選用G值更高的微粒膠片；由于非增感型膠片G值和黑度成正比，也可通過提高底片黑度增大G值。但高G值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時間，提高黑度也需要增加曝光時間，此外，黑度的提高會增大最小可見對比度ΔD，對靈敏度產生不利影響。第三十九頁，共五十八頁，2022年，8月28日3、提高F值。可選擇焦點尺寸大小的射源，或增大焦距，這樣做也會使曝光時間延長。4、減小N值。要減小散射線，就要使用鉛窗口與鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光時間延長。第四十頁，共五十八頁，2022年，8月28日6、答：當射線穿過膠片時，會在乳劑層中激發出電子，這些電子具有一定動能，會向各個方向飛散，并能使途經的鹵化銀晶體感光，其結果使得試件輪廓或缺陷在底片上的影像產生一個黑度過渡區，造成影像模糊，這個過渡區稱為固有不清晰度Ui。第四十一頁，共五十八頁，2022年，8月28日7、答：固有不清晰度Ui值受以下因素影響：（1）射線的質。透照射線的光子能量越高，激發的電子在乳劑層中的行程就越長，固有不清晰度也就越大。（2）增感屏。據文獻報道：在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片；增感屏厚度增加也會引起固有不清晰度增大；在γ射線和高能量X射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。

第四十二頁，共五十八頁，2022年，8月28日（3）屏——片貼緊程度。透照時，如暗盒內增感屏和膠片貼合不緊，留有間隙，會使固有不清晰度增大。固有不清晰度與膠片的類型和粒度無關，與暗室處理條件無關。第四十三頁，共五十八頁，2022年，8月28日8、答：由于射線源具有一定尺寸，所以照相時工件表面輪廓或工件中的缺陷在底片上的影像邊緣會產生一定的寬度的半影；此半影寬度就是幾何不清晰度Ug，Ug的最大值Ug發生在遠離膠片的工件表面。

Ug的計算式:Ug=df×b/(F-b)；Ug=dfL2/L1式中：df：射源尺寸；F：焦距；b：缺陷至膠片距離；

L1：焦點至工件表面距離；L2：工件表面至膠片距離。由以上公式可知，Ug值與射源尺寸和缺陷位置或工件表面至膠片距離成正比，與射源至工件表面距離成反比。第四十四頁，共五十八頁，2022年，8月28日9、答：實際照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但為了簡化計算，便于應用，有關技術標準僅以透照中心部位的最大Ug值作為控制指標。對不同部位Ug值的變化忽略不計。底片上不同部位的Ug值變化規律如下：

第四十五頁，共五十八頁，2022年，8月28日（1）焦點尺寸變化引起Ug值變化：由于X射線管的結構原因，沿射線管軸向不同位置焦點投影尺寸是變化的。陽極側焦點小，陰極側焦點大。因此底片上偏向陽極一側的Ug值小，偏向陰極一側的Ug值大、（2）L2/L1變化引起Ug值變化：透照縱縫時，被檢區域各部位L2/L1不變，Ug值不變，而透照環縫時，被檢區域各部位的L/L值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也會增大。第四十六頁，共五十八頁，2022年，8月28日10、答：可簡要歸納為以下幾點：（1）射線照相中，通常主要考慮的事幾何不清晰度Ug值和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛的表達U、Ug、Ui的關系式是：

U2=Ug2+Ui2（2）由于U是Ug和Ui的綜合結果，提高清晰度效果顯著的方法是設法減小Ug和Ui中較大的一個，而不是較小的一個。例如，當Ui值遠小于Ug值時，再進一步減小Ui值，以期望減小U，其效果是不顯著的。

第四十七頁，共五十八頁，2022年，8月28日（3）在X射線照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug值。（4）在Co60，Cs137及Ir192γ射線照相中，Ui值較大，對照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過Ui值?？紤]提高對細小裂紋的檢出率宜選擇Ug=Ui的條件，必要時可取Ug=Ui/2的透照幾何條件。第四十八頁，共五十八頁，2022年，8月28日11、答：底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時在感覺上產生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測定由各影像不均勻引起的透射光強變化，其測定結果稱為顆粒度。由于顆粒大小事隨機分布的，目前較通過的方法是用直徑24微米的掃描孔測定顆粒度。肉眼所觀察到的顆粒團實際上是許多顆粒交互重跌生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念影像顆粒度大小取決于以下因素：膠片鹵化銀粒度、曝光光子能量和顯影條件。第四十九頁，共五十八頁，2022年，8月28日12、答：采用源在外的透照方式比源在內的透照方式更有利于內壁表面裂紋的檢出，這一說法是正確的，在試驗和實際工作中均已得到驗證，從理論上分析也是有道理的。當源在內透照時，膠片貼在工件表面，由幾何不清晰度公式Ug=b/(F-b)可知，裂紋影像存在一定的幾何不清晰度，此外，由于裂紋的開口尺寸W大大小于焦點尺寸，幾何修正系數大大小于1，照相幾何條件（焦距F、缺陷到膠片距離b）會對裂紋影像對比度產生影響，使對比度下降，從而使缺陷檢出率降低。而當源在外透照時，膠片貼在工件內表面，此時膠片與內表面裂紋的距離b值最小裂紋影像的幾何不清晰度最小，對比度也最高，所以缺陷檢出率高。第五十頁，共五十八頁，2022年，8月28日13、答：（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對比度小于最小可見對比度，便不能識別。因此對一定的透照條件，存在著一個可檢出缺陷臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如：小氣孔、夾雜、微裂紋、白點等。

第五十一頁，共五十八頁，2022年，8月28日（2）與照射方向不平行的平面型缺陷。平面型缺陷具有方向性，當缺陷平面與射線之間夾角過大，會使對比度減低，甚至在底片上不產生影像，從而造成漏檢。例如：坡口及層間未融合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當，θ角過大造成橫向裂紋漏檢屬此類情況。（3）閉合緊密的缺陷。對某些緊閉缺陷即使透照角度在允許范圍內，仍不能產生足夠的透照厚度差，從而造成