1、國際回歸測試所有項目，測試( C )個工作日需要輸出結果1.A2B3C4D6國際回歸測試，做完整個流程需要（B ）臺樣機？2.A10B14C15D20國際A高溫溫回歸測試中，關于環境測試：（ABEF）3.B溫度沖擊C高溫運行D低溫運行E高溫F低國際 MMX 回歸測試中，關于環境測試：ABCDEF4.A高溫溫B溫度沖擊C高溫運行D低溫運行E高溫F低國際 LAVA 回歸測試中，關于環境測試：ABEF5.A高溫溫B溫度沖擊C高溫運行D低溫運行E高溫F低國際回歸測試，ESD 測試條件：空氣放電:（C ）不能硬失效。6.A7.5KVB8.5KVC10KVD12KV下面關于國際溫度沖擊測試描述正確的有：A

2、C7.A.40（30min），75（30min）B. 40（1H），75（1H）C. 循環 24 次D.循環 48 次有關振動砂塵試驗，以下描述正確的是：D8.A.稱量 1.5g 重的玉米淀粉放入密封袋B.設置振動臺為隨機振動C.測試總時間為60 分鐘D.LCD 朝上、朝下各 2 臺同時測試有關金屬粉末測試，以下描述正確的是：ABD9.A.400 目到200 目的鐵粉10g測試總時間為 60 分鐘B.直徑小于400 目的鐵粉10gC. 進行隨機振動D.手上有一個高度是：B屏幕尺寸為 4.5 寸的項目，按照國際回歸測試標準，跌落跌10.A.1 米B.0.8 米C0.6 米D.0.7 米國際題報（

3、回歸測試，B）類 BUG跌落測試，如遇 TP 裂、屏裂等明顯客戶使用不當造成的問11.C.CD.不報A.AB.B有關國際回歸測試中 10cm 跌落描述正確的是：A12.A.A/B 面各跌 4000 次,其他 4 個面各 250 次B.處于關機狀態C.不用裝上SIM卡/T 卡D.A/B 面總共允許出現掉電、掉卡、重啟 5 次，其他面不允許。國際回歸測試，滾筒跌落條件：ACD13.A開機狀態B高度 1 米C跌落 200 次D滾筒轉速：5 轉/min下面有關滾筒跌落測試判斷依據描述正確的是：BCD14.A允許出現裝配件脫落B不允許殼體有明顯裂紋、斷裂現象CLCD 不允許出現碎裂、黑屏、花屏、白屏、嚴

4、重白點、亮線等不良現象許出現碎裂、無功能等不良現象DTP/CTP 不允下面有關跌落描述正確的是：ACD15.A.普通 LENS：130g 質量，32mm 直徑，高度 5cm，跌落 5 次B. CTP、RTP：130g質量，32mm 直徑，高度 10cm，跌落 5 次C.lens 上選擇 LCD 中心和四角共五個地方各跌 1 次D.LENS、CTP、RTP 不能破裂,失效國際回歸測試中，軟壓測試項壓力是多16.A. 20KGB. 25KGC.30KGD.35KG國際回歸測試中，下面有關軟壓測試描述正確的是：BCD17.A.樣機、T 卡、關機狀態B.壓力 25KgC.A、B 面各 1000 次D.

5、保持每分鐘 1530 次（保持兩秒）國際回歸測試中，擠壓測試需要測試屏幕（ C）個點？18.A.6B.8C.9D.12國際回歸測試中，擠壓測試用到的金屬棒直徑是：C19.A.5mmB.6mmC.8mmD.10mm國際回歸測試有一個項目需要測試印需要磨（B ）次？摩擦測試，殼體的油漆是 PU 漆，那么絲20.A.30B50C.100D.150下面有關百格測試描述正確的是：ABCA.在測試樣本表面劃 1010 個 1mm1mm 小網格21.B.用毛刷將測試區域的碎片刷干凈試驗C.靜置 1 分鐘后在垂直方向 90 度迅速扯下膠紙D.同一位置進行 3 次相同國際回歸測試有一個項目需要做表面處理層硬度測

6、試，外殼是 UV,PU 漆，需要用（A ）H 硬度的鉛筆？22.A.1B.2C.3D.7國際 RCA 紙帶耐磨測試，橡膠漆的殼體要磨（B ）圈：23.A.30B.50C.100D.150國際電性能測試中，天線性能測試要求靈敏度（ C）dBm？24.A.-100B.-102C.-104D.-106電性能測試中，藍牙通話距離，將掛斷，通話與耳機保持（B）米的距離，要求能正常接聽25.A.1B.4C.10D.15計算機程序設計語言發展過程經歷的主要階段是: C26.A.C 語言、C+語言和 VC+語言B.機器語言、匯編語言和 Java 語言C.機器語言、匯編語言和高級語言D.機器語言、面向過程的語言

7、和面象的語言下面有關大功率通話描述正確的是：ABCD27.機需要用 META 工具把調成大功率參數B.通話前需要鎖頻段A.MTKC.要求在正常模式、耳機模式、免提模式下分別測試通話電流聲/回聲/失真/雜音D.要求通話質量:無 TDD/有關功耗測試中，智能機待機底電流要求（C ）mA ？28.A.1B.2.5C.3.5D.5有關功耗測試中，智能機關機漏電流要求（D）uA ？29.A.100B.150C.250D.300有關功耗測試中，3G 項目的智能機實網待機功耗（C ）mA ？30.A.7B.8C.9D.10有關功耗測試能機實網待機功耗（B ）mA ？D.831.A.5B.6C.7有關功耗測試

8、中，下面有關智能機 MP3功耗描述正確的是：ACD32.A.滅屏、設置最大音量，循環外放 take me to your heart 兩遍B.單喇叭140mA確認是否合格C.雙喇叭200mAD.超過以上預設標準的，與電性能有關功耗測試能機 MP3功耗測試，要求單喇叭（B）mA？33.A.100B.150C.200D.250電性能測試中，電池過放測試，放電至保護狀態（輸出為 0v),充電器，充電34.至能顯示充電圖標的時間（B）分鐘A.5B.10C.15D.20電性能測試中，開機狀態下充電電流測試，要求充電時間（B）臺36.A.4.B.5C.6D.7揚聲器響度測試時，要求聲壓測試儀距SPK （C

9、）cm？37.A.5B.8C.10D.15電性能測試喇叭音效時，使用“靜音”音源最大音量離人耳（B）cm 距離，無明顯底噪。38.A.3B.5C.7D.10電性能測試中，有關照相測試描述正確的是：ABCDA.設置 LCM 背光最亮狀態，CAM 最大像素，其余設置默認B.在室外拍遠處的景物39.和人物C.在室內拍近處的名片和遠處的人物和日光燈D.預覽和不能有噪點、不能模糊不清、不能偏色、拍日光燈不能大塊的暈染、鬼影、變色等異常；電性能專項測試中，CTP 水波紋測試，用（B）g 的力按壓 CTP 各區域40.A.100B.200C.250D.500電性能專項測試中，GPS 冷溫啟動時間要求（C）S

10、？41.A.5B.10C.60D.90電性能專項測試中，2G 與 3G 的切換，要求每次切換正常，測試（B）次？42.A.3B.5C.10D.15電性能專項測試中，CTP 實現接近傳感器，全屏或者半屏實現感應，實現距離 5（D） mm43.A.7B.8C.9D.10電性能長期穩定性測試中，FLASH 反復開關機測試（C）次？44.A.1000B.2000C.3000D.4000耳機抗拉測試，新物料導入前：插頭位置與咪殼并線掛（C）KG，靜拉 1min,咪殼分線與耳殼位置掛 1KG，靜拉 1min45.A.1B.1.5C.2D.2.5耳機搖擺測試，新物料導入前，每個點搖擺（B）次？46.A.50

11、0B.1000C.1500D.2000國際回歸測試，充電器跌落高度是（C）米？47.A.0.6B.0.8C.1D.1.2國際回歸測試，充電器基本電特性測試，短路電流要求（D）mA ？48.A.350B.450C.550D.650國際回歸測試，充電器基本電特性測試，對于出貨到（D）V？的充電器，該項測試電壓為49.A.90B.220C.264D.330國際回歸測試，充電器 V-I 曲線測試，需要將模擬電子負載設為（C）模式？50.A.小電流靜態B.定電流C.定電壓D.定功率國際回歸測試中，下面有個充電器安全測試描述正確的是：ABCD51.A.將AC 插頭和DC 插頭分別各自短路B.將黑色鱷魚夾D

12、C 側或AC 側C.紅色高壓探棒加在 AC 插頭或外殼上試D.只有絕緣電阻測試通過后，才能進行高壓耐壓測國際回歸測試中，新物料導入前，數據線線體抗拉測試的重量（B）KG？52.A.1B.2C.3.5D.5國際回歸測試，電池內阻測試，如果規格書沒有要求以小于（B）m為標準。53.A.100B.150C.180D.200國際回歸測試，電池短路保護測試，電池充滿電后，將正負極用 0.1的導線短路（B） h？54.A.0.5B.1C.1.5D.2國際回歸測試，下面有關電池過充電保護測試描述錯誤的是：A55.A.電池不需要充滿電B.用恒流恒壓源持續給電池加載 8hC.2 倍標準電壓，電流設定為 2C 的

13、外接電流D.電池不得出現、冒煙及起火或漏液等現象國際回歸測試，電池過放電保護需要外接（C）歐姆負載放電 24h。56.A.10B.20C.30D.100國際回歸測試，有一塊 1900mAh 的電池需要做 0.2C 容量測試，設置充放電電流（B）mA ？57.A.190B.380C.950D.1900國際回歸測試，電池 1C 充放電容量測試，滿足放電時間（B）min,充電時間8h；58.A.30B.51C.100D.120國際回歸測試，包裝跌落高度（B）米？59.A.0.6B.0.8C.1D.1.2國際 LAVA 溫度沖擊測試（C）循環？60.A.16B.24C.48D.100國際 MMX 溫度

14、沖擊測試（D）循環？61.A.16B.24C.48D.100國際 LAVA 標準中，跌落測試 LCD 大于等于 3.0 英吋的跌落高度（C）米？D.162.A.0.6B.0.7C.0.8國際 LAVA 標準中，10cm 跌落的高度（A）CM63.A.7B.8C.9D.10國際回歸測試，做完高溫后，樣機 LCD 出現褶皺現象，問題報給誰？C D.裝配64.A.硬件B.結構C.物料關于 ESD 測試，以下現象描述中，屬于硬失效的是：BD65.A.LCD 閃屏B.LCD 花屏C.重啟D.TP 失效國際回歸測試，低溫試驗要進行（C）H 后回溫 2H。66.A.16B.20C.24D.48國際回歸測試，

15、MMX 高溫條件是：85C、（A）%RH？67.A.50B.55C.60D.95國際回歸測試，MMX 高溫運行的測試條件：60C（C）H，70C 1H。68.A.1B.1.5C.2D.3國際回歸測試，MMX跌落測試，如果 LCD 尺寸介于 4 和 5 英寸之間：跌落試驗高度為（C）M69.A.0.6B.0.8C.1D.1.2國際回歸測試，長期高溫完整實驗，（D）H 輸出結果作為出貨判定依據，120H 輸出70.A.24B.36C.48D.72ESD 測試，每個放電點放電（C）槍？71.A.1B.5C.10D.20國際測試，金屬粉末測試后，需要進行老化（C）H？72.A.24B.48C.72D.

16、120國際測試，滾筒跌落測試，每跌落（B）次檢查一次？73.A.50B.100C.150D.200國際測試，百格測試的判定標準：附著力附著力（B）B？74.A.3B.4C.5D.6國際測試，RCA 紙帶耐磨絲印磨（C）圈？75.A.10B.20C.30D.50國際電性能測試，干擾測試關于 CTP描述錯誤的是：C76.A./滅，CTP 朝下貼于銅皮上/離開銅皮，各頻段大功率來電 30s 后翻轉觀察無死機、自動接聽等現象（試驗 5 次）各頻段大功率來電，能準確接聽B.，分別置于桌面/銅皮上，CTP 朝上，C.使用虛擬數字鍵，每個鍵點擊 10 次，icon絲印鍵每個點擊 5 次，準確響應、無誤觸發、死機現象應用，便于觀測D.檢測時打開內置的報點77. 國際回歸測試跌落