匯報(bào)人：XXX后摩爾時(shí)代，十大EDA驗(yàn)證技術(shù)趨勢展望20XX-03-10目錄引言第一大趨勢：智能化驗(yàn)證第二大趨勢：云原生驗(yàn)證第三大趨勢：基于AI的自動(dòng)化驗(yàn)證第四大趨勢：形式化驗(yàn)證方法第五大趨勢：混合信號(hào)仿真技術(shù)目錄第六大趨勢：硬件仿真加速技術(shù)第七大趨勢：多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證第八大趨勢：安全可靠性驗(yàn)證技術(shù)第九大趨勢：低功耗設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù)第十大趨勢：跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證技術(shù)結(jié)論與展望01引言Chapter隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，摩爾定律逐漸接近物理極限，后摩爾時(shí)代成為業(yè)界關(guān)注焦點(diǎn)。在后摩爾時(shí)代，集成電路設(shè)計(jì)面臨前所未有的挑戰(zhàn)，EDA驗(yàn)證技術(shù)的重要性愈發(fā)凸顯。EDA驗(yàn)證技術(shù)能夠確保集成電路設(shè)計(jì)的正確性、可靠性和高效性，對于推動(dòng)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展具有重要意義。背景與意義EDA（ElectronicDesignAutomation）即電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化，是指利用計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)工具進(jìn)行集成電路設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和優(yōu)化的過程。EDA驗(yàn)證技術(shù)是EDA領(lǐng)域的重要組成部分，主要包括功能驗(yàn)證、時(shí)序驗(yàn)證、功耗驗(yàn)證等多個(gè)方面。隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜性的增加，EDA驗(yàn)證技術(shù)也在不斷發(fā)展和創(chuàng)新，以適應(yīng)新的設(shè)計(jì)需求和挑戰(zhàn)。EDA驗(yàn)證技術(shù)概述123本文將介紹后摩爾時(shí)代EDA驗(yàn)證技術(shù)的十大趨勢，包括新技術(shù)應(yīng)用、方法學(xué)創(chuàng)新、工具平臺(tái)發(fā)展等多個(gè)方面。這些趨勢將深刻影響未來集成電路設(shè)計(jì)的方法和流程，為產(chǎn)業(yè)發(fā)展帶來新的機(jī)遇和挑戰(zhàn)。了解并把握這些趨勢，對于從事集成電路設(shè)計(jì)和EDA驗(yàn)證工作的專業(yè)人士具有重要意義。十大趨勢展望概述02第一大趨勢：智能化驗(yàn)證Chapter智能化驗(yàn)證是指利用人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)等技術(shù)，對EDA設(shè)計(jì)進(jìn)行自動(dòng)化驗(yàn)證，以提高驗(yàn)證效率和準(zhǔn)確性。智能化驗(yàn)證可以大幅減少人工干預(yù)，縮短驗(yàn)證周期，同時(shí)提高設(shè)計(jì)的可靠性和穩(wěn)定性。智能化驗(yàn)證還可以對設(shè)計(jì)進(jìn)行全方位、多角度的驗(yàn)證，發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)驗(yàn)證方法難以發(fā)現(xiàn)的問題。智能化驗(yàn)證概念及優(yōu)勢

關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景關(guān)鍵技術(shù)包括深度學(xué)習(xí)、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、自然語言處理等，這些技術(shù)可以應(yīng)用于EDA驗(yàn)證的各個(gè)環(huán)節(jié)。應(yīng)用場景包括芯片設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、系統(tǒng)級設(shè)計(jì)等，這些領(lǐng)域都可以通過智能化驗(yàn)證提高設(shè)計(jì)質(zhì)量和效率。智能化驗(yàn)證還可以應(yīng)用于各種復(fù)雜場景，如多芯片協(xié)同設(shè)計(jì)、高速接口設(shè)計(jì)等，以提高設(shè)計(jì)的可靠性和穩(wěn)定性。解決方案包括提高數(shù)據(jù)質(zhì)量、優(yōu)化算法、利用云計(jì)算等分布式計(jì)算資源等。此外，還需要加強(qiáng)人才培養(yǎng)和技術(shù)創(chuàng)新，推動(dòng)智能化驗(yàn)證技術(shù)的不斷發(fā)展和完善。智能化驗(yàn)證面臨的挑戰(zhàn)包括數(shù)據(jù)質(zhì)量、算法準(zhǔn)確性、計(jì)算資源等。挑戰(zhàn)與解決方案03第二大趨勢：云原生驗(yàn)證Chapter云原生驗(yàn)證是指基于云原生技術(shù)構(gòu)建的EDA驗(yàn)證環(huán)境，通過容器化、微服務(wù)化等技術(shù)實(shí)現(xiàn)高效、靈活、可擴(kuò)展的驗(yàn)證流程。云原生驗(yàn)證可以充分利用云計(jì)算的彈性資源，實(shí)現(xiàn)快速部署、按需使用、動(dòng)態(tài)擴(kuò)展等功能，同時(shí)可以提高驗(yàn)證效率、降低驗(yàn)證成本、提升團(tuán)隊(duì)協(xié)作效率。概念優(yōu)勢云原生驗(yàn)證概念及優(yōu)勢關(guān)鍵技術(shù)云原生驗(yàn)證的關(guān)鍵技術(shù)包括容器化技術(shù)、微服務(wù)架構(gòu)、DevOps等，這些技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證環(huán)境的快速構(gòu)建、部署和管理，提高驗(yàn)證的可靠性和穩(wěn)定性。應(yīng)用場景云原生驗(yàn)證適用于大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證、復(fù)雜系統(tǒng)級驗(yàn)證等場景，可以滿足高性能計(jì)算、大數(shù)據(jù)處理等需求，提高驗(yàn)證的效率和準(zhǔn)確性。關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)云原生驗(yàn)證面臨著安全性、性能優(yōu)化、數(shù)據(jù)一致性等挑戰(zhàn)，需要采取有效的措施來保障驗(yàn)證的穩(wěn)定性和可靠性。解決方案針對安全性挑戰(zhàn)，可以采取訪問控制、加密傳輸?shù)却胧﹣肀Ｕ蠑?shù)據(jù)安全；針對性能優(yōu)化挑戰(zhàn)，可以采取分布式計(jì)算、并行處理等技術(shù)來提高驗(yàn)證性能；針對數(shù)據(jù)一致性挑戰(zhàn)，可以采取數(shù)據(jù)備份、恢復(fù)等技術(shù)來保障數(shù)據(jù)的一致性。挑戰(zhàn)與解決方案04第三大趨勢：基于AI的自動(dòng)化驗(yàn)證Chapter利用人工智能技術(shù)，對EDA設(shè)計(jì)進(jìn)行自動(dòng)化驗(yàn)證，以提高驗(yàn)證效率和準(zhǔn)確性。相比傳統(tǒng)驗(yàn)證方法，基于AI的自動(dòng)化驗(yàn)證能夠處理更大規(guī)模的設(shè)計(jì)，更快速地找出設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤，同時(shí)減少人工干預(yù)，降低驗(yàn)證成本?；贏I的自動(dòng)化驗(yàn)證概念及優(yōu)勢優(yōu)勢概念包括深度學(xué)習(xí)、機(jī)器學(xué)習(xí)、自然語言處理等，用于構(gòu)建智能化驗(yàn)證模型和算法。關(guān)鍵技術(shù)適用于復(fù)雜集成電路設(shè)計(jì)的驗(yàn)證，如處理器、存儲(chǔ)器等，可應(yīng)用于芯片設(shè)計(jì)、制造、封裝測試等各個(gè)環(huán)節(jié)。應(yīng)用場景關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景AI技術(shù)的可解釋性和魯棒性仍需提高，同時(shí)需要解決如何將AI技術(shù)與傳統(tǒng)驗(yàn)證方法有效結(jié)合的問題。挑戰(zhàn)研究更加先進(jìn)的AI算法和模型，提高驗(yàn)證的準(zhǔn)確性和效率；同時(shí)加強(qiáng)與傳統(tǒng)驗(yàn)證方法的融合，形成優(yōu)勢互補(bǔ)的驗(yàn)證體系。此外，還需要加強(qiáng)AI技術(shù)在EDA驗(yàn)證領(lǐng)域的應(yīng)用研究，探索更多創(chuàng)新性的應(yīng)用場景和解決方案。解決方案挑戰(zhàn)與解決方案05第四大趨勢：形式化驗(yàn)證方法Chapter形式化驗(yàn)證方法概念及優(yōu)勢概念形式化驗(yàn)證方法是一種基于數(shù)學(xué)邏輯和形式化語言的驗(yàn)證技術(shù)，用于在設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)階段檢測系統(tǒng)中的錯(cuò)誤和缺陷。優(yōu)勢相比傳統(tǒng)的測試方法，形式化驗(yàn)證方法能夠更全面地覆蓋系統(tǒng)狀態(tài)空間，更精確地檢測潛在問題，并提供嚴(yán)格的數(shù)學(xué)證明。形式化驗(yàn)證方法的關(guān)鍵技術(shù)包括形式化規(guī)約語言、模型檢查、定理證明等，這些技術(shù)能夠支持對系統(tǒng)行為的精確描述和驗(yàn)證。關(guān)鍵技術(shù)形式化驗(yàn)證方法廣泛應(yīng)用于硬件設(shè)計(jì)、軟件開發(fā)、網(wǎng)絡(luò)通信等領(lǐng)域，特別是在安全關(guān)鍵系統(tǒng)中發(fā)揮著重要作用。應(yīng)用場景關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)與解決方案形式化驗(yàn)證方法面臨著可伸縮性、自動(dòng)化程度、易用性等方面的挑戰(zhàn)，這些挑戰(zhàn)限制了其在更廣泛領(lǐng)域的應(yīng)用。挑戰(zhàn)針對這些挑戰(zhàn)，研究者們正在探索新的算法、工具和方法，以提高形式化驗(yàn)證方法的效率和易用性，推動(dòng)其在更多領(lǐng)域的應(yīng)用和發(fā)展。例如，采用分層驗(yàn)證、組合驗(yàn)證等技術(shù)來提高可伸縮性；利用機(jī)器學(xué)習(xí)、自動(dòng)化推理等技術(shù)來提高自動(dòng)化程度；開發(fā)更友好的用戶界面和工具來提高易用性等。解決方案06第五大趨勢：混合信號(hào)仿真技術(shù)Chapter概念混合信號(hào)仿真技術(shù)是一種同時(shí)模擬數(shù)字電路和模擬電路行為的方法，能夠準(zhǔn)確反映數(shù)字與模擬電路之間的交互作用。優(yōu)勢提供更高的仿真精度，幫助設(shè)計(jì)師更好地理解電路行為，并優(yōu)化設(shè)計(jì)方案；縮短產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期，降低開發(fā)成本。混合信號(hào)仿真技術(shù)概念及優(yōu)勢關(guān)鍵技術(shù)高精度數(shù)值計(jì)算方法、高效的仿真算法、混合信號(hào)仿真器等。0102應(yīng)用場景混合信號(hào)集成電路設(shè)計(jì)、傳感器接口電路設(shè)計(jì)、電源管理電路設(shè)計(jì)等。關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景VS數(shù)字與模擬電路之間的交互作用復(fù)雜，仿真難度大；對計(jì)算資源和仿真時(shí)間的要求高。解決方案采用更高效的數(shù)值計(jì)算方法和仿真算法，提高仿真速度和精度；開發(fā)更智能的混合信號(hào)仿真器，簡化仿真流程；利用云計(jì)算等分布式計(jì)算資源，提高仿真能力。挑戰(zhàn)挑戰(zhàn)與解決方案07第六大趨勢：硬件仿真加速技術(shù)Chapter硬件仿真加速技術(shù)是一種利用專用硬件來模擬電路行為的方法，可大幅提高仿真速度。相比軟件仿真，硬件仿真加速技術(shù)能夠提供更接近實(shí)際硬件的仿真環(huán)境，同時(shí)支持更大規(guī)模的電路設(shè)計(jì)，減少仿真時(shí)間，提高設(shè)計(jì)效率。概念優(yōu)勢硬件仿真加速技術(shù)概念及優(yōu)勢關(guān)鍵技術(shù)硬件仿真加速器的設(shè)計(jì)、高性能計(jì)算技術(shù)的應(yīng)用、電路劃分與映射技術(shù)等。應(yīng)用場景復(fù)雜SoC設(shè)計(jì)驗(yàn)證、大規(guī)模FPGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證、硬件安全漏洞檢測等。關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)硬件仿真加速器的成本較高、與現(xiàn)有EDA工具的集成難度較大、仿真精度與速度的平衡等。解決方案發(fā)展低成本、高性能的硬件仿真加速器；加強(qiáng)與EDA廠商的合作，推動(dòng)工具集成與標(biāo)準(zhǔn)化；優(yōu)化仿真算法，提高仿真精度與速度的綜合性能。挑戰(zhàn)與解決方案08第七大趨勢：多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證Chapter多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證是指將來自不同數(shù)據(jù)源、格式和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)進(jìn)行有效整合和驗(yàn)證，以提供更全面、準(zhǔn)確的信息。概念通過融合多個(gè)數(shù)據(jù)源的信息，可以彌補(bǔ)單一數(shù)據(jù)源的不足，提高驗(yàn)證的準(zhǔn)確性和可靠性；同時(shí)，利用不同數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)性，可以發(fā)現(xiàn)更多的潛在問題和優(yōu)化空間。優(yōu)勢多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證概念及優(yōu)勢關(guān)鍵技術(shù)多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證的關(guān)鍵技術(shù)包括數(shù)據(jù)清洗、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)整合和數(shù)據(jù)分析等。其中，數(shù)據(jù)清洗用于去除重復(fù)、錯(cuò)誤和無效數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換用于將不同格式和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)統(tǒng)一為可比較的格式；數(shù)據(jù)整合用于將清洗和轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)進(jìn)行有效整合；數(shù)據(jù)分析則用于挖掘數(shù)據(jù)中的潛在信息和規(guī)律。應(yīng)用場景多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證在芯片設(shè)計(jì)、智能制造、智慧城市等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如，在芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域，可以利用多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證技術(shù)對芯片的性能、功耗和可靠性進(jìn)行全面驗(yàn)證，以提高芯片的設(shè)計(jì)質(zhì)量和市場競爭力。關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)與解決方案多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證面臨著數(shù)據(jù)來源復(fù)雜、數(shù)據(jù)質(zhì)量參差不齊、數(shù)據(jù)處理難度大等挑戰(zhàn)。同時(shí)，隨著數(shù)據(jù)量的不斷增加和數(shù)據(jù)類型的多樣化，對數(shù)據(jù)處理和分析能力的要求也越來越高。挑戰(zhàn)為了解決這些挑戰(zhàn)，可以采取以下措施：一是建立完善的數(shù)據(jù)質(zhì)量管理體系，對數(shù)據(jù)來源進(jìn)行嚴(yán)格控制和管理；二是加強(qiáng)數(shù)據(jù)清洗和轉(zhuǎn)換技術(shù)的研究和應(yīng)用，提高數(shù)據(jù)的質(zhì)量和可用性；三是采用分布式存儲(chǔ)和計(jì)算技術(shù)，提高數(shù)據(jù)處理和分析的效率；四是加強(qiáng)人才培養(yǎng)和技術(shù)創(chuàng)新，推動(dòng)多源異構(gòu)數(shù)據(jù)融合驗(yàn)證技術(shù)的不斷發(fā)展和完善。解決方案09第八大趨勢：安全可靠性驗(yàn)證技術(shù)Chapter安全可靠性驗(yàn)證技術(shù)是指在EDA工具中，通過一系列的技術(shù)手段和方法，對設(shè)計(jì)的電路系統(tǒng)進(jìn)行全面的安全性和可靠性驗(yàn)證，以確保其在各種復(fù)雜環(huán)境下都能正常工作。該技術(shù)能夠有效地提高電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性，減少因設(shè)計(jì)缺陷而導(dǎo)致的故障和風(fēng)險(xiǎn)，從而提升產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭力。概念優(yōu)勢安全可靠性驗(yàn)證技術(shù)概念及優(yōu)勢關(guān)鍵技術(shù)包括故障模擬、可靠性分析、安全性檢查等，這些技術(shù)能夠模擬電路在各種異常情況下的行為，分析電路的可靠性指標(biāo)，并檢查電路是否存在安全隱患。應(yīng)用場景該技術(shù)廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域，這些領(lǐng)域?qū)﹄娐废到y(tǒng)的安全性和可靠性要求極高，需要通過嚴(yán)格的驗(yàn)證和測試來確保產(chǎn)品的質(zhì)量和安全性。關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)隨著電路系統(tǒng)的復(fù)雜性和集成度不斷提高，安全可靠性驗(yàn)證的難度也在不斷增加，需要更加高效和精確的驗(yàn)證方法和工具來應(yīng)對。解決方案針對這些挑戰(zhàn)，可以采取多種解決方案，如開發(fā)更加智能化的驗(yàn)證算法、優(yōu)化驗(yàn)證流程、提高驗(yàn)證工具的精度和效率等，以更好地滿足復(fù)雜電路系統(tǒng)的安全可靠性驗(yàn)證需求。挑戰(zhàn)與解決方案10第九大趨勢：低功耗設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù)Chapter低功耗設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù)是指在集成電路設(shè)計(jì)過程中，通過采用一系列驗(yàn)證手段和方法，確保設(shè)計(jì)在滿足功能需求的同時(shí)，具有較低的功耗性能。該技術(shù)能夠有效降低芯片的能耗，提高系統(tǒng)的續(xù)航能力和穩(wěn)定性，滿足移動(dòng)設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)等應(yīng)用領(lǐng)域?qū)Φ凸男阅艿男枨?。低功耗設(shè)計(jì)驗(yàn)證技術(shù)概念及優(yōu)勢優(yōu)勢概念包括功耗建模、功耗仿真、功耗優(yōu)化等，這些技術(shù)能夠在設(shè)計(jì)階段對芯片的功耗進(jìn)行準(zhǔn)確預(yù)測和優(yōu)化。關(guān)鍵技術(shù)廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)、平板電腦、可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)傳感器等需要長時(shí)間運(yùn)行且對功耗要求較高的領(lǐng)域。應(yīng)用場景關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)與解決方案挑戰(zhàn)低功耗設(shè)計(jì)驗(yàn)證面臨著功耗與性能的平衡、復(fù)雜度與驗(yàn)證成本的矛盾等挑戰(zhàn)。解決方案通過采用先進(jìn)的功耗建模方法、提高仿真精度和效率、發(fā)展自動(dòng)化功耗優(yōu)化工具等手段，可以有效應(yīng)對這些挑戰(zhàn)，實(shí)現(xiàn)低功耗設(shè)計(jì)驗(yàn)證的目標(biāo)。11第十大趨勢：跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證技術(shù)Chapter跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證技術(shù)是指在不同操作系統(tǒng)、硬件平臺(tái)或軟件環(huán)境之間，對EDA工具進(jìn)行功能和性能驗(yàn)證，確保其能夠在各種環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行并達(dá)到預(yù)期效果。概念提高EDA工具的通用性和可擴(kuò)展性，降低用戶在不同平臺(tái)間遷移的成本和風(fēng)險(xiǎn)，促進(jìn)EDA行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化。優(yōu)勢跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證技術(shù)概念及優(yōu)勢關(guān)鍵技術(shù)包括平臺(tái)抽象層設(shè)計(jì)、接口標(biāo)準(zhǔn)化、自動(dòng)化測試框架等，以實(shí)現(xiàn)跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證的高效和準(zhǔn)確。應(yīng)用場景廣泛應(yīng)用于集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝測試等各個(gè)環(huán)節(jié)，確保EDA工具在各種工藝、器件和電路類型下都能發(fā)揮出最佳性能。關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用場景挑戰(zhàn)不同平臺(tái)間存在差異，如操作系統(tǒng)、硬件架構(gòu)、軟件環(huán)境等，導(dǎo)致兼容性驗(yàn)證難度增加；同時(shí)，隨著EDA工具復(fù)雜度的提高，驗(yàn)證的廣度和深度也不斷增加。0102解決方案建立統(tǒng)一的跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，推動(dòng)行業(yè)內(nèi)的協(xié)作和交流；采用先進(jìn)的自動(dòng)化測試技術(shù)和工具，提高驗(yàn)證效率和準(zhǔn)確性；加強(qiáng)人才培養(yǎng)和團(tuán)隊(duì)建設(shè)，提升跨平臺(tái)兼容性驗(yàn)證能力。挑戰(zhàn)與解決方案12結(jié)論與展望Chapter基于仿真的驗(yàn)證（Simulation-basedVerification）隨著電路規(guī)模的擴(kuò)大和復(fù)雜性的增加，基于仿真的驗(yàn)證仍然是主流方法，但面臨著效率挑戰(zhàn)。形式驗(yàn)證（FormalVerification）形式驗(yàn)證通過數(shù)學(xué)方法來證明或反駁系統(tǒng)某些方面的正確性，對于檢測一些難以通過仿真觸發(fā)的缺陷非常有效。等價(jià)性檢查（EquivalenceChecking）等價(jià)性檢查用于確認(rèn)兩個(gè)設(shè)計(jì)在功能上是否等價(jià)，是確保設(shè)計(jì)在修改或優(yōu)化后功能保持一致性的重要手段。十大趨勢總結(jié)靜態(tài)時(shí)序分析（StaticTimingAnalysis）靜態(tài)時(shí)序分析在不進(jìn)行仿真的情況下分析設(shè)計(jì)的時(shí)序，對于確保設(shè)計(jì)的時(shí)序正確性至關(guān)重要。功耗和熱分析（PowerandThermalAnalysis）隨著芯片功耗和散熱問題的日益突出，功耗和熱分析成為EDA驗(yàn)證中不可或缺的一部分?；旌闲盘?hào)仿真（Mixed-SignalSimulation）混合信號(hào)仿真能夠同時(shí)模擬數(shù)字和