光電子能譜儀成員:劉明，馬睿，孫瑩，宮智超，張新月光電子能譜儀一.工作原理二.相關公司簡介三.主要品牌四.儀器功能五.應用領域一.工作原理1、設備組成光電子能譜儀主要由激發源、電子能量分析器、探測電子的監測器和真空系統等幾個部分組成。PHI5800ESCA系統能量分析器真空泵組X射線光源計算機處理樣品腔工作原理2、基本原理EK=hν-Eb-Φsp

（Eb：電子結合能;Φsp：譜儀的功函數，一般為常數;EK：電子動能，可實驗測得;hν：X射線能量）

2、基本原理可見，當入射X射線能量一定，測出功函數和電子的動能，即可求出電子的結合能。由于每種元素的電子結構是獨特的，計算出Eb就可以判定元素的類型,由于只有表面處的光電子才能從固體中逸出，因而測得的電子結合能必然反應表面化學成份的情況。

由激發源發出的具有一定能量的X射線，電子束，紫外光，離子束或中子束作用于樣品表面時，可將樣品表面原子中不同能級的電子激發出來，產生光電子或俄歇電子等．這些自由電子帶有樣品表面信息，并具有特征動能．通過能量分析器收集和研究它們的能量分布，經檢測紀錄電子信號強度與電子能量的關系曲線．即為光電子能譜．

光源（X-ray）樣品電離放出光電子能量分析器檢測器工作原理掃描和記錄系統3、工作流程二.公司簡介1.賽默飛世爾科技公司2.島津公司3.鉑悅儀器（上海）有限公司1.賽默飛世爾科技公司

賽默飛世爾科技公司

賽默飛世爾科技進入中國已30年，在上海設立中國區總部，并在北京、廣州、香港、臺灣、成都、沈陽、西安、南京、武漢等地設立了分公司，員工人數3800名。賽默飛在北京和上海共設立了6個應用開發中心，將世界級的前沿技術和產品帶給國內客戶，并提供應用開發與培訓等多項服務；位于上海的中國創新中心結合國內市場的需求和國外先進技術，研發適合中國的技術和產品；賽默飛擁有遍布全國的維修服務網點和特別成立的中國技術培訓團隊，在全國有2000名工程師提供售后服務。賽默飛的企業精神是建立更健康、更清潔、更安全的世界。2.島津公司AXIS-ULTRADLDx射線光電子能譜儀島津公司

島津公司在1956年參加了在中國北京和上海舉辦的日本商品展覽會，自此開始了與中國的交往。1980年，島津公司在中國北京正式設立第一個辦事處。在接下來的二十年間，島津在中國迅速發展業務，在各大主要城市均設立了辦事處并且業務廣泛地深入到了各個相關領域和行業。至今，島津公司在中國已經走過了半個世紀的歷程，并且在中國共設立了八個有獨立法人的公司。3.鉑悅儀器（上海）有限公司

ESCALAB250XiXPS光電子能譜儀鉑悅儀器（上海）有限公司

鉑悅儀器自2004年成立以來，憑借與世界各大知名儀器品牌的戰略合作關系，以及不斷優化公司自身經營管理，提高服務質量，成為中國國內知名的儀器供應商。其所提供的產品均屬于高科技行業，產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產儀器，以及成套的耗材和配件，這些產品廣泛應用于工業、半導體、太陽能、醫藥、醫療器械、生物、能源、電子、石化等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質的產品，更培養了專業的銷售、技術和售后服務團隊，本著客戶至上的原則，從客戶的實際需求出發，鉑悅儀器為每一位客戶量身訂制最適合的綜合解決方案，并提供持續而良好的售后服務，由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。賽默飛世爾科技公司ThermoScientificK-AlphaAppliedBiosystemsInvitrogenGibcoIonTorrent三.主要品牌島津公司AXIS-ULTRADLD光電子能譜儀kratos-ultraDLD鉑悅儀器（上海）有限公司ESCALAB250XiXPS光電子能譜儀供應X-Supreme8000X射線熒光光譜儀四.功能模塊

ThermoScientificK-Alpha，一體化結構的X射線光電子能譜儀（XPS），是一款完全集成的單色化小光斑X射線光電子能譜（XPS）系統。它性能卓越，易用性提高和尺寸緊湊使得K-Alpha成為許多現有以及新研發的表面分析應用領域理想解決方案。K-Alpha是專為多用戶環境推出的第一款XPS工具，從樣品進入到報告生成完全實現自動化工作流程。最新版K-Alpha平臺特征光譜性能顯著提高，提供更高計數率和更快分析時間，改善化學探測能力。分析選配件包括一個角分辨XPS傾斜模塊和一個循環惰性氣體手套箱，用于轉移空氣敏感樣品。強大的性能①可選區域光譜②深度剖析刻蝕③微聚集單色器④快照采集⑤高分辯率化學態光⑥絕緣樣品分析⑦定量化學成像

儀器主要功能

利用光電效應的原理，測量輻射源（光子、電子、離子等）從樣品上打出來的光電子的動能、強度及其角分布，從而研究原子、分子、聚集相，尤其是固體表面的電子結構等。主要功能1．

常規XPS，鑒別樣品表面的元素種類、化學價態以及相對含量。雙陽極XPS，更適合用于不同的特殊過渡金屬元素的研究，如催化領域。2．

深度剖析XPS，結合離子刻蝕技術對樣品（如薄膜等）進行成分深度分布分析。通過角分辨XPS還可以進行非損傷成分深度分布分析。3．

XPS成像，可以對元素或化學態進行表面分布分析，使一些分析結果更直觀。4．

離子能量損失譜ISS，可實現樣品表面元素信息的檢測5．

紫外光電子能譜（UPS），可以獲得樣品價帶譜信息，對導體、半導體的能帶、帶隙等分析提供主要數據。還可以分析樣品逸出功等。五、應用領域ThermoScientificK-Alpha氧化石墨烯的物理化學變化測控、半導體晶片上的超薄薄膜結構分析、分層太陽能電池、觸摸屏復合涂層的檢測評估、等離子表面改性、鋼鐵表面鈍化工藝.

主要用于各種有機和無機固體材料的表面元素和其價態的定性、定量分析，表面元素的化學成像及深度剖析?？捎糜诟g、摩擦、浸潤、粘接、催化、包覆、氧化等表面和界面過程的研究。AXIS-ULTRADLDx射線光電子能譜儀ESCALAB250XiXPS光電子能譜儀

它可以用于研究各種固體材料樣品表面