射線檢測換證工藝部分講義第一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日12015年RT換證理論課程表日期時間理論授課理論課內容11日上午周繼光質量管理11日下午宋德超檢測工藝12日上午王國元檢測標準12日下午周繼光質量管理13日上午宋德超檢測工藝13日下午王國元檢測標準備注：1.以《射線檢測》為主；2.授課時間：上午8:30~12:00下午2:30~6:00第二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日授課老師介紹：

宋德超

（RT·UT·MT·PT-III級）

第三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日教材

本課程主要采用“全國考委會統編教材《射線檢測》和JB/T4730-2005標準，結合實際工作中工藝要求編制第四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日主要講解內容：本課程主要講解射線檢測工藝條件選擇，編制工藝的要求：質量影響因素、能量、射線源、焦距、透照方式、透照張數、長度計算、曝光曲線、曝光量選擇及修正、焊縫透照常規、暗室處理等。針對本次考試的重點、關鍵，按照考規的具體要求，進行有針對性的復習。課堂上主要針對培訓教材中的重點、要點、難點問題進行講解，并答疑。第五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日無損檢測工藝規程定義：是按照本單位的受檢對象，依據現行檢測標準，合理的選擇器材和方法，在滿足設計和法規、監察標準的情況下，正確完成檢測工作的書面文件，并作為質保手冊的支持性文件，是各單位檢測工作必須遵守的文件，只有這樣才能保證檢測工作的統一性和可靠性。第六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

無損檢測工藝的分類：1、通用工藝規程2、專用工藝（專用工藝規程和工藝卡）

第七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日通用工藝規程通用工藝規程應滿足相關法規、規范標準、有關的技術文件和單位的技術質量管理規定，根據本單位的特點、設備技術條件、檢測人員條件編制，應覆蓋本單位產品或檢測對象的范圍，其規定應明確、具有可操作性，內容應全面、詳細、有可選擇性。無損檢測通用工藝規程應符合相關法規、規范標準和本單位的技術質量管理規定。本單位無損檢測工作和所實施的技術工藝均應符合通用工藝規程要求。第八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日通用工藝規程應包括以下內容

a）適用范圍；b）引用標準、法規；c）檢測人員資格；d）檢測設備、器材和材料；e）檢測表面制備；f）檢測時機；g）檢測工藝和檢測技術；h）檢測結果的評定和質量等級分類；i）檢測記錄、報告和資料存檔。j）編制（級別）、審核（級別）和批準人；k）制定日期。第九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日專用工藝規程（工藝卡）針對本單位某一具體產品或產品上部件，根據產品標準、有關的技術文件、設計圖紙和檢測標準要求編制的技術規則，提出具體檢測參數和技術措施的工藝性文件，其檢測參數規定得更具體，它是通用工藝規程的補充。檢測人員在實施檢測時應按工藝卡進行操作。第十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日是在通用工藝規程和設計文件及檢測標準規定的基礎上編制針對射線透照工序提出具體參數和技術措施的規定性工藝文件。工藝卡適用對象可能是某一具體產品，或產品上的某一部件，或部件上的某一具體結構。檢測人員在實施檢測時應按工藝卡進行操作。

第十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日專用工藝規程（工藝卡）應包括以下內容

工藝卡編號；工件情況：名稱、編號、圖號、材質、規格、焊接種類、檢測比例、評定標準、方法等級、合格級別等；檢測設備與器材：設備種類、型號、規格尺寸、檢測附件和檢測材料；檢測工藝參數：設備種類型號、透照方式、檢測部位、焦距、焊縫編號、透照張數、管電壓、管電流、曝光時間、膠片種類、增感方式、像質計、黑度等檢測技術要求：執行標準和驗收級別；檢測程序；注意事項和輔助措施檢測部位示意圖；編制人（資格）和審核人（資格）、編制日期等；第十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日專用工藝規程和工藝卡的區別專用工藝規程：針對某一產品編制的，綜合檢測方法的檢測工藝，往往包括設計要求、檢測步驟、工藝控制措施、方法、工藝參數、技術要求等。如球形儲罐的無損檢測、工藝卡：針對某一產品編制的，單一檢測方法的檢測工藝，以卡片的形式存在，如某一壓力容器的焊縫射線檢測第十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日工藝的編制、審核及批準應符合相關法規或標準的規定

《特種設備無損檢測人員考核與監督管理規則》Ⅱ級人員可編制一般的無損檢測程序，按照無損檢測工藝規程或在Ⅲ級人員指導下編寫工藝卡，并按無損檢測工藝獨立進行檢測操作，評定檢測結果，簽發檢測報告。Ⅲ級人員可根據標準編制無損檢測工藝，審核或簽發檢測報告，協調Ⅱ級人員對檢測結論的技術爭議。第十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日1：射線檢測工藝射線照相工藝是：為達到一定要求對射線透照過程規定的方法、程序、技術參數和技術措施，也指說明上述方法、程序、參數和措施的書面文件。第十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日工藝卡參數包括的幾個方面：1、工件情況：名稱、圖號、材質、規格、坡口及焊接、探傷比例、法規標準、技術方法等級、合格級別。2、透照工藝條件（靈敏度、檢測設備、幾何條件、工藝參數等）3、注意事項及輔助措施（散射線屏蔽、補償、雙膠片技術等）4、示意圖（布片圖、透照方法示意圖）5、編制、審核簽名及資格、日期等第十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

工藝條件：在工藝過程是指工藝過程中的有關參變量及其組合

。透照工藝條件包括設備器材條件、透照幾何條件、工藝參數條件和工藝措施條件等。第十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日⑤像質計：用于評價射線照相靈敏度與被檢工件或焊縫厚度一定百分比關系的人工結構.如金屬絲、孔、槽等，又叫透度計。由此得到的靈敏度叫像質計靈敏度。注意：像質計靈敏度不等于自然缺陷靈敏度，但能間接反應射線照相對最小自然缺陷的檢出能力。第十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2、射線照相靈敏度的影響因素

①射線照相對比度D②射線照相不清晰度U③射線照相顆粒度σD

三大因素綜合結果

第十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日D、U和σD就是影像質量的基本因素，也就是說，射線照片上影像的質量由射線照相影像的對比度、不清晰度、顆粒度三大因素決定，將直接影響射線檢測靈敏度。第二十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日①射線照相對比度D取決于：1、厚度差T2、射線的能量3、散射比4、膠片類型5、顯影條件6、底片黑度第二十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日膠片對比度影響因素（1）不同類型的膠片具有不同的梯度（G）非增感型的G比增感型的G大非增感型中不同類型膠片的G也不一樣第二十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（2）膠片梯度隨黑度的增加而增加（黑度下限的限制和上限）（3）顯影條件的變化（配方、時間、溫度、活度）射線照相對比度影響因素=主因對比度影響因素+膠片對比度影響因素第二十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日對一個特定的缺陷，要得到高的射線照相對比度，綜合起來，主要是：1）選用適宜的透照布置，使得該缺陷在透照方向具有較大的厚度差T；2）選用可能的較低能量的射線透照—提高線衰減系數；3）采取各種措施，減少到達膠片的散射線強度—降低散射比；4）選用質量優良的膠片，采用良好的暗室處理技術—獲得較高的梯度。第二十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日②射線照相不清晰度在實際射線照相檢測中，構成不清晰度主要有兩個因素：1、由射線源幾何尺寸引起的幾何不清晰度。2、電子在膠片乳劑中散射引起的固有不清晰度。第二十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（1）射線照相不清晰度

（2）幾何不清晰度

Ug=df

×b/（F－b）或Ugmax=df×

L2/L1（3）固有不清晰度0.79

Ui=0.0013（KV）第二十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日幾何不清晰度：當透照一定厚度的物體時，按照幾何投影（射線直線傳播）成像原理，所成的像總要有一定的半影區，即邊界擴展區，這就是幾何不清晰度。主要通過改變焦距控制幾何不清晰度。

Ug=df

×b/（F－b）或Ugmax=df×L2/L1第二十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日幾何不清晰度形成示意圖

第二十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日通常在標準中規定的射線照相必須滿足的Ug，是指工件中可能產生的Ugmax，相當于射線源側表面缺陷或源側的像質計金屬絲產生的Ug。Ugmax=df

×

L2

/（F－L2

）或Ugmax=

df

×L2

/L1第二十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日幾何不清晰度取決于

(1)焦點尺寸df(2)焦點至工件表面距離L1(3)工件表面至膠片距離L2JB/T4730標準規定射線源至工件表面的距離應滿足以下要求：

2/31/3-A級射線檢測技術：f≥7.5d.b或Ug=2/15L22/31/3-AB級射線檢測技術：f≥10d.b

或Ug=1/10L22/31/3-B級射線檢測技術：f≥15d.b或Ug=1/15L2第三十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日為獲得較小的Ug值，則應增大焦距F，由于射線強度與距離的平方成反比，在保證底片黑度D不變時，增大焦距F的同時就必須增加曝光量mA.min或提高管電壓KV值，因此，在工藝編制中應綜合考慮。第三十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日③射線照相顆粒度σD顆粒性：指均勻曝光的射線底片上影像黑度分布不均勻的視角印象。隨射線能量的增加而增加，隨曝光量和底片黑度增加而減少。顆粒度：根據測微光密度計所測數據，按一定方法求得的底片黑度漲落客觀量值。限制了影像能夠記錄的細節最小尺寸，很小細節，在較大顆粒度影像中，將被掩蓋，不能形成自己的影像。第三十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日射線照相顆粒度取決于

1、膠片系統（型號、增感屏、沖洗條件）

2、射線的質（或λ、KV、MeV)3、曝光量（It）和底片黑度D第三十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3、射線源和能量的選擇射線源的選擇

選擇射線源的首要因素是射線源所發生的射線對被檢試件具有足夠的穿透力。a.對X射線來說穿透力取決于管電壓。b.對γ射線來說穿透力取決于放射源種類。第三十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日選擇射線源的注意事項X射線和γ射線的照相靈敏度差異

40mm以下鋼厚度用Ir192γ射線透照所得像質計靈敏度不如X射線所得像質計靈敏度。但對40mm以上鋼厚度，則兩者得像質計靈敏度大致相同。固有不清晰度和顆粒性（底片噪聲）

Ir192與≤400kVX射線比較：固有不清晰度和底片噪聲，γ射線均大于X射線。第三十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日X射線機的特點體積較大，以便攜式、移動式、固定式依次增大。基本費用和維修費用較大。能檢查40mm以上鋼厚度的大型X射線機成本很高，其發展傾向為移動式而非便攜式。X射線能量可改變，因此，對各種厚度的試件均可使用最適宜的能量。X射線機可用開關切斷，故較易實施射線防護。曝光試件一般為幾分鐘。所有X射線機均需電源，有些還需有水源。第三十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日γ射線源的特點射源曝光尺寸小，可用于X射線機管頭無法接近的現場。不需電源或水源。運行費用低。曝光時間長，通常需幾十分鐘，或者幾小時。對薄鋼試件（如5mm以下），只有選擇合適的放射性同位素（如Yb169，Tm170）才能獲得較高的探傷靈敏度。第三十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日工藝編制時選擇射線源的原則

對輕質合金和低密度材料，最常用是X射線。要透照厚度小于5mm的鋼，除非允許較低的探傷靈敏度，應選用X射線。如要對大批量的工件實施射線照相，選擇X射線為好，因為曝光時間較短。對厚度大于150mm的鋼，即使用最大的γ射源，曝光時間也是很長的，如工件批量大，宜用兆伏級高能X射線。第三十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日對厚度為50～150mm的鋼，用X射線和γ射線可得到幾乎相同的像質計靈敏度，但裂紋檢出率還是有差異的。對厚度為5～50mm的鋼，用X射線總可獲得較高的靈敏度，γ射線源的選用則應根據具體厚度和所要求的探傷靈敏度，選擇Ir192或Se75，并應考慮配合適當的膠片類別。對某些條件困難的現場透照工作，體積龐大的X射線機使用不方便，滿足標準條件要求時，可選擇γ射線源進行檢測。第三十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日只要直徑的焦距能滿足幾何不清晰度要求，環形焊縫的透照應盡量選用圓錐靶周向X射線機作內透中心法垂直周向曝光，以提高工效和影像質量。對直徑較小的鍋爐聯箱管或其他管道焊縫，也可選用小焦點（0.5mm）的棒陽極X射線管或小焦點（0.5～1mm）γ射線源作360°周向曝光。第四十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日選用平靶周向X射線機對環焊縫作內透中心法傾斜全周向曝光時，必須考慮射線傾斜角度對焊縫中縱向面狀缺陷的檢出影響。第四十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日射線能量的選擇

X射線能量：由施加于X射線管的高壓決定，既管電壓，一般稱它為透照電壓，能量可以根據需要調節。

射線能量：由射線源的種類決定，能量不可調節。

第四十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日選擇射線能量的首要條件：具有足夠的穿透力。射線能量：對射線照片的影像質量和射線照相靈敏度都具有重要影響。

第四十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日能量過高

X射線的平均波長變短，有效能量增大，線質變硬，衰減μ系數減小，對比度ΔD降低，固有不清晰度Ui增大，底片顆粒度也將增大，其結果是射線照相影像質量降低，靈敏度下降。

第四十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日能量過低

穿透力不夠，透過工件到達膠片的射線強度過小，造成底片黑度不足，曝光時間過分增加，顯影時間延長，灰霧增大，清晰度下降，以至底片報廢一系列現象。第四十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日能量的選擇的原則是：

選取的射線能量應與透照物體的材料和厚度相適應，在保證穿透力的前提下，選擇能量較低的射線。第四十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日選擇能量較低的射線可以獲得較高的對比度，但是對比度提高卻意味著透照厚度寬容度的下降。對比度過度提高則使很小的透照厚度差將產生很大的底片黑度差，使得底片黑度值超出允許范圍；或是厚度大的部位底片黑度太小，或是厚度小的部位底片黑度太大。因此，在有透照厚度差的情況下，選擇射線能量還必須考慮能夠得到合適的透照厚度寬容度。第四十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日在底片黑度不變的前提下，提高管電壓可以縮短曝光時間，從而可以提高工作效率，但其代價是靈敏度降低。為保證透照質量，標準對透照不同厚度允許使用的最高管電壓都有一定限制，并要求有適當的曝光量。下圖為一些材料的透照厚度所對應的允許使用的最高管電壓。第四十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日最高透照電壓與透照厚度的關系

第四十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日在具體確定射線能量時常還需要考慮其他一些情況，如一次透照厚度的變化范圍、要求的檢驗技術級別等，即使在只考慮射線照相靈敏度時，也要與選用的焦距同時考慮。例如，當一次透照厚度的變化范圍較大時，可能選用偏高一些的射線能量，當采用靈敏度高的技術時，由于選用細顆粒的膠片，也會選用偏高一些的射線能量等。第五十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日4、焦距的選擇焦距是射線源與膠片之間的距離，通常以F記號表示。焦距對射線照相靈敏度的影響主要表現在幾何不清晰度上。由Ug=dfL2/（F-L2）可知，焦距F越大，Ug值越小，底片上的影像越清晰。在實際透照中選擇焦距時，焦點尺寸也是需要考慮的相關因素。

第五十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日確定焦距時必須考慮的是：1）所選取的焦距必須滿足射線照相對幾何不清晰度的規定；2）所選取的焦距應給出射線強度比較均勻的適當大小的透照區。

前者限定了焦距的最小值，后者指導如何確定實際使用的焦距值。第五十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日為保證射線照相的清晰度，標準對透照距離的最小值有限制。在我國現行JB/T4730標準中，規定透照距離f（L1）與焦點尺寸df和透照厚度b（L2）應滿足以下關系：技術等級透照距離f（L1）Ug值

2/32/3A級：f≥7.5df·bUg≤(2/15)b

2/32/3AB級：f≥10df·bUg≤(1/10)b

2/32/3B級：f≥15df·bUg≤(1/15)b

由于焦距F=f+b（或L1+L2）,所以上述關系也就限制了F的最小值

第五十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日在實際工作中，焦距的最小值通常由諾模圖查出。諾模圖的使用方法如下：在df線和b（L2）線上分別找到焦點尺寸和透照厚度對應的點，用直線連接這兩個點，直線與f（L1）的交點即為透照距離f（L1）的最小值，而焦距最小值即為Fmin=f+b（或L1+L2）。第五十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日A和B級確定焦距最小值的諾模圖第五十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日AB級確定焦距最小值的諾模圖第五十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日焦距直接關系到射線照相的幾何不清晰度，并影響其他透照參數的確定，對射線照相靈敏度具有重要影響。在確定焦距時應同時考慮物體的透照厚度和幾何形狀、射線源的焦點尺寸、限定的幾何不清晰度。同時工件的幾何形狀與透照方式有關：如。為得到較大的一次透照長度和較小的橫向裂紋檢出角，在采用雙壁單影法透照環縫時，往往選擇較小的焦距，而當采用中心內照法時，焦距就是筒體的外半徑。在實際透照時所用的焦距比最小焦距要大得多。這是因為透照場的大小與焦距相關。焦距增大后，勻強透照范圍增大，這樣可以得到較大的有效透照長度，同時影像清晰度也進一步提高。第五十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日5、曝光量的選擇與修正1.曝光量的推薦值

曝光量是射線透照工藝中的重要參數。

定義：曝光量（E）為射線源發出的射線強度與照射時間的乘積。對于X射線來說，曝光量時指管電流i與照射時間t的乘積（E=it）；對于γ射線來說，曝光量是指放射源活度A與照射時間t的乘積（E=At）。第五十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日曝光量與黑度的關系：

1）底片的黑度取決于膠片感光乳劑吸收的射線量。

2）底片黑度與曝光量有很好的對應關系，可以通過改變曝光量來控制底片黑度。

3）曝光量不只影響影像的黑度，也影響影像的對比度、顆粒度以及信噪比，從而影響底片上可記錄的最小細節尺寸。

第五十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日JB/T4730.2-2005技術等級膠片類型曝光量（mA·min）

注：推薦值指焦距為700mm時的曝光量。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。B級T1或T220A級和AB級T3或更高15第六十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2.互易律、平方反比定律和曝光因子1）互易律：是光化學反映的一條基本定律，它指出：決定光化學反應產物質量的條件，只與總的曝光量相關，即取決于輻射強度和時間的乘積，而與這兩個因素的單獨作用無關。如果不考慮光解銀對感光乳劑顯影的引發作用的差異，互易律可引申為底片黑度只與總曝光量相關，而與輻射強度和時間分別作用無關。第六十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日在射線照相檢測中，采用鉛箔增感或無增感時，遵守互易定律，即曝光量不變時黑度不變。當采用熒光增感時，不遵守互易定律，即曝光量不變時黑度仍會改變，這種現象稱為互易律失效。第六十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2）平方反比定律：是物理光學的一條基本定律。它指出：從一點源發出的輻射，強度I與距離F的平方成反比，即存在以下關系：

其原理是：時間內通過的光量子總數是不變的，但由于截面積與到點源的距離平方成正比，所以單位面積的光量子密度，即輻射強度與距離平方成反比。第六十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日平方反比定律示意圖第六十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3）曝光因子：

互易定律給出了在底片黑度不變的前提下，射線強度與曝光時間相互變化的關系；平方反比定律給出了射線強度與距離之間的變化關系。將以上兩個定律結合起來得到曝光因子表達式。第六十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

設：i-管電流（A）

A-射線源的放射源活度

t——曝光時間（s）

F——焦距（mm）則X射線曝光因子為：則射線曝光因子為：

第六十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3.利用曝光因子的曝光量計算

（焦距不同時的修正）1）采用X射線機透照一工件，焦距為700mm、管電壓為180kV、管電流為8mA時曝光時間為3min，現改用1000mm的焦距，管電壓和原有黑度不變，管電流為12mA，求這時所需的曝光時間？第六十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日解：i0＝8mA；t0＝3min；F0＝700mm；

i＝12mA；F＝1000mm設t

為改變透照條件后的曝光時間按曝光因子概念，則應有： 所以：

得：

t＝4.1（min）答：所需的曝光時間為4.1min第六十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2）用192Ir射線源，透照直徑1.8m的環焊縫，曝光時間為30min，若透照直徑為2.4m的相同的環焊縫，問曝光時間應是多少?

解：記A

為射線源的放射性活度；

R0＝（1.8/2）m；t0＝30min；R＝（2.4/2）m

設：t

為透照第二焊縫的曝光時間則

所以

得：t＝53.3（min）答：所需的曝光時間為53.3min第六十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（放射性衰變規律和焦距不同時的修正）3）用I192射線源，透照直徑1.6m的環焊縫，曝光時間為32min。若在透照直徑1.6m的容器環焊縫后25天再透照直徑為1.8m的容器焊焊縫，問應選用多大的曝光時間?

解：已知F1=0.8m、t1=32min

F2=0.9mI192半衰期74天，則30天前（A0）后（A），源的放射強度比度為：

第七十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日得：n＝25/74＝0.3378A=0.7912A0因為：則得：

t＝51.2（min）

答：曝光時間應為51.2min第七十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日4.利用膠片特性曲線的曝光量修正計算底片黑度不同的曝光量修正膠片類型不同的曝光量修正第七十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（1、黑度改變時的曝光量修正）在其他條件保持不變的情況下，如需改變底片黑度，可根據膠片特性線上黑度的變化與曝光量的對應關系，對原曝光量進行修正。例：采X射線透照工件，曝光量為20mA·min時得到的底片黑度為1.8。現需將底片黑度提高到2.6，求這時所需的曝光量。（膠片特性曲線上，黑度為1.8對應的曝光量對數為2.1，黑度為2.6處對應的曝光量對數為2.4）第七十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日解：∵E0=20mA·min；D0=1.8；lgH0=2.1、D＝2.6；lgH＝2.4求：E＝？∵得：

≈40(mA·min）

答：這時所需曝光量為40mA·min20E=×100.3第七十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（2、膠片類型改變的曝光量修正）

當使用不同類型膠片進行透照而需達到與原膠片一樣的黑度時，可利用這兩種膠片的特性曲線按達到同一黑度時的曝光量之比來修正原曝光量。例：射線檢測透照某工件，原用天津Ⅲ型膠片，曝光量為20mA·min，現改用天津Ⅴ型膠片，求為獲得相同黑度（D0）所需的曝光量（設黑度為D0

時膠片特性曲線Ⅲ型片為lgHA=3.8,Ⅴ型片為lgHA=4.5）第七十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日解：∵黑度為D0時曝光量E0為:20mA·minlgHA=3.8；lgHA=4.5

當黑度同為D0時，Ⅲ型片和Ⅴ型片的曝光量之比為：得：

≈100（mA·min）

0.720E=×10第七十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日6、透照方式的選擇透照方式的選擇

對接焊縫射線照相的常用透照方式（布置）主要有10種：單壁透照、雙壁透照，外透法，中心法，偏心法，雙壁單影斜透法，雙壁單影直透法，雙壁雙影斜透法，雙壁雙影直透法。這些透照方式分別適用于不同的場合，其中單壁透照是最常用的透照方式，雙壁透照一般用在射源或膠片無法進入內部的小直徑容器和管道的焊縫透照，雙壁雙影法一般只用于直徑在100mm以下的管子的環焊縫透照，雙壁雙影直透法則多用于T（壁厚）＞8mm或g（焊縫寬度）＞D0/4的管子環焊縫透照。第七十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日常用的對接焊縫透照方式的分類

第七十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日直縫單壁透照方式布置第七十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日中心曝光透照方式布置第八十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日雙壁單影透照方式布置第八十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日雙壁雙影透照方式布置第八十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日垂直透照布置

第八十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

環焊縫的偏心透照布置a）F＜rb）F＞r第八十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

射線源在外單壁透照布置

第八十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

選擇透照方式時，應綜合考慮各方面的因素，權衡擇優。有關因素包括：1）透照靈敏度：透照方式存在靈敏度差異時，優選有利于提高靈敏度的方式。如：雙壁與單壁、環縫外照與內照、傾斜與垂直等。第八十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2）可能出現的缺陷類型和特點

：根據可能出現的缺陷類型和特點選擇適宜檢測透照方式，有些透照方式特別檢測某些類型的缺陷。如：容器表面裂紋、坡口未熔合、管道根部未焊透、管道單面焊鈍邊未熔合等。第八十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3）透照厚度差和橫向裂紋檢出角較小的透照厚度和橫向裂紋檢出角有利于提高底片質量和裂紋檢出率。如：環縫透照，焦距和透照長度相同，則內透法優于外透法，中心曝光優于偏心曝光。第八十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日4）一次透照長度

各種透照方式的一次透照長度各不相同，選擇一次透照長度大的可提高檢測速度和效率。如：球形容器的全景曝光、環縫的中心曝光、第八十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日5）操作方便性在進行檢測過程中應考慮操作的安全和方便性。如：容器檢測源在內或外、球形的容器X射線檢測上、下半球的檢測方法。第九十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日6）工件及探傷設備的具體情況透照方式的選擇也應考慮試件和探傷設備的具體情況。如：環縫內透時與幾何不清晰度的關系、在檢測時發揮移動式、便攜式、γ射線機各種設備的特點。第九十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日環焊縫檢測最佳透照方式：中心透照法特點：透照厚度相同、橫裂檢出角為0度、底片黑度和靈敏度具佳、缺陷檢出率高、一次透照整條焊縫，工作效率高。第九十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日7、透照長度的計算及查表確定一次透照長度：

焊縫射線照相一次透照的有效檢測長度，對透照質量和工作效率同時影響。一次透照長度的兩個影響因素：①射線源有效照射場范圍②透照厚度比K值的規定間接限制了一次透照長度的大小

。

第九十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日透照厚度比K＝T'/T第九十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日JB/T4730標準對K值的規定射線照相技術級別A級：AB級B級縱焊縫K≤1.03K≤1.01環焊縫K≤1.1*K≤1.06注：對100mm≤De≤400mm的容器或管子的環焊縫（包括曲率相同的曲面焊縫），A級、AB級允許采用K≤1.2第九十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日1.直縫透照直縫即平板對接焊縫或筒體縱縫對A級、AB級：K≤1.03，L3≤0.5L1對B級：K≤1.01，L3≤0.3L1搭接長度ΔL和有效評定長度Leff的計算：ΔL=L2L3/L1

當L3=0.5L1時，ΔL=0.5L2；

當L3=0.3L1時，ΔL=0.3L2。底片的有效評定長度Leff=L3+ΔL。第九十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

在實際透照時，如搭接標志在源側，底片上搭接標記之間長度即為有效評定長度。若在膠片側，則搭接標記以外還應加上搭接長度ΔL第九十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2.查圖表確定環焊縫透照次數通過查圖表（見教材附錄或JB/T4730）確定環縫100%檢測所需的最少透照次數N，然后計算出一次透照長度L3及其他相參數。①通過查表只能確定環向對接焊縫100%檢測的最少透照次數，但L3、ΔL、Leff仍需計算求出。查表確定透照次數的步驟：首先計算出T/D0和D0/f，然后在兩直線相交點確定透照次數。第九十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日源在外單壁透照對接環形焊接接頭，透照厚度比K=1.06時的透照次數圖

第九十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日其他方式透照對接環形焊接接頭，透照厚度比K=1.06時的透照次數

第一百頁，共一百五十頁，2022年，8月28日源在外單壁透照對接環形焊接接頭，透照厚度比K=1.1時的透照次數

第一百零一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日源在外單壁透照對接環形焊接接頭，透照厚度比K=1.2時的透照次數

第一百零二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日其他方式透照對接環形焊接接頭，透照厚度比K=1.1時的透照次數

第一百零三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日其他方式透照對接環形焊接接頭，透照厚度比K=1.2時的透照次數

第一百零四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日②L3、ΔL、Leff參數計算：根據查表所得的透照張數N可求得一次透照長度L3：L3=πD/N有效評定長度：Leff=L3+ΔL搭接長度：外透法ΔL最大。內透法F≥R時不考慮，F≤R時可計算或取外透法的值。外透時ΔL=2Ttanθ、θ=аrccos（1/K）

K=1.06時，θ=19.37°，ΔL≈0.7TK=1.1時，θ=24.62°，

ΔL≈1TK=1.06時，θ=33.56°，

ΔL≈1.4T第一百零五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日例題

外透法內徑Di=1800mm、T=30mm、檢測比例100%、K=1.1、F=600mm、求：ΔL、Leff

和確定膠片長度？解：D0=1800+60=1860；得T/D0=0.016f=600－30=570mm；得D0/f=3.26查表得：N=19張∵L3=πD0/N=（3.14×1860）/19=308mm∵L3′=πDi/N=（3.14×1800）/19=298mm∵K=1.1∴ΔL=1T=1×30=30mm∴Leff=L3′+ΔL=328mm膠片使用長度應大于Leff，宜選360mm的膠片第一百零六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3.計算法確定環縫單壁外透法一次透照長度及其有關參數采用外透法100%透照環焊縫時，滿足一定厚度比的最少曝光次數N可由下式確定:

式中：α=圓心角

θ=影像失真角

η=半輻射角

Κ=透照厚度比

Τ=工件厚度

D0=外直徑

注：當D0＞＞T時，第一百零七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

無論采用計算法或查表法求出環縫的最少透照張數后，即可采用下式求余其它參數：在透照時，若搭接標記放在射線源側，則搭接標記之間的長度即為有效評定長度Leff第一百零八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日環縫外照法幾何參數變化特點：當L1減小時，若L3不變，則K值、θ角增大；若K值、θ角不變，則L3減小。當L1增大時，則反之。當L1趨于無窮大時，則至少應照12張或10張。∵L1→∞，α→θ、N=180/α，

θ取15°或18°∴Nmin=12或Nmin=10第一百零九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日4.中心內透法射源或焦點位于容器或圓筒或管道中心，膠片整條或逐張連接覆蓋在整圈環縫外壁上，射線對焊縫做一次性的周向曝光。這種透照布置，透照厚度K=1，橫向裂紋檢出角θ≈0°，所得黑度和靈敏度均一，像質最佳，對橫裂的檢出率最高，一次透照長度為整條環縫長度。第一百一十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

a錐靶周向b平靶周向第一百一十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日③曝光曲線的使用1．曝光曲線的一般使用方法

從E-T曝光曲線上求取透照給定厚度所需要的曝光量，一般都采用所謂“一點法”，即按射線束中心穿透厚度確定與某一“kV”相對應的E。但需注意，對有余高的焊接接頭照相，射線穿透厚度有兩個值，①母材部位厚度②焊縫部位厚度。但標準規定的黑度值均有一定范圍，應綜合考慮，以保證所得黑度值太高或太底。第一百一十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日9、散射線的控制1、散射線的來源和分類射線在穿透物質過程中與物體相互作用中產生的次級射線，即散射線。與一次射線相比，散射線的能量減小，波長變長，方向改變，有時也稱它為二次射線，主要是由康普頓效應造成。散射源：散射線的物體稱作散射源，凡是被射線照射到的一切物體，例如，試件、暗盒、桌面、墻壁、地面，甚至連空氣都會稱為散射源。其中最大的散射源是試件本身。第一百一十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日按散射的方向對散射線分類：1）前散射：來自暗盒正面的散射；2）背散射：來自暗盒背面的散射；3）邊蝕散射：指試件周圍的射線向試件背后的膠片散射，或試件中的較薄部位的射線向較厚部位散射，這種散射會導致影像邊界模糊，產生低黑度區域的周邊被侵蝕，面積縮小的所謂“邊蝕”現象。第一百一十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日

散射線產生示意圖

1—射線源2—工件3—暗盒4—膠片5—地面第一百一十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3、散射線的控制措施散射線會使射線底片的灰霧黑度增大，影像對比度降低，由于一切物體都是散射源，所以散射是無法消除的，只能盡量減少。常采用降低散射線的措施有：1）選擇合適的射線能量2）使用鉛箔增感屏第一百一十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日控制散射線措施有：①背防護鉛板：防止背散射②鉛罩和光闌：減少照射場③厚度補償物：減少厚度差，減少散射比④濾板：提高有效能量，減少邊蝕⑤遮蔽物：減少邊蝕⑥修磨試件：減少厚度差，減少散射比第一百一十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日10、暗室處理技術（1）具有潛影的膠片經過一系列的加工處理變為可見影像的底片并可將其長期保存，這種底片反映了試件內部的質量。這一系列的加工處理是在暗室內進行的，所以稱為暗室處理。第一百一十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（2）暗室處理過程是射線照相檢驗的一個重要的基本技術過程，射線照片的質量不僅與透照過程相關，而且也密切相關于暗室處理過程，如果處理不當就會影響全部工作的效果，造成底片靈敏度不夠甚至報廢第一百一十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（3）暗室處理的基本過程：

一般都包括顯影、停顯（或中間水洗）、定影、水洗、干燥這五個基本過程。經過這些過程，使膠片潛在的圖像成為固定下來的可見圖像。

第一百二十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（4）暗室處理分類：

自動處理和手工處理兩類。①自動處理采用自動洗片機完成膠片暗室處理過程，它需要使用專用顯影液、定影液，一般是在高溫下進行處理，得到的射線照片質量好并且穩定。

②手工處理：目前多采用，洗片槽用不銹鋼或塑料制成，槽深應大于底片長度的20%，并將膠片完全浸入藥液中，不用時應蓋好，減少藥液氧化。第一百二十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日暗室的布置：（1）有足夠的空間（2）分為干區和濕區兩部分，干區用于擺放膠片、暗盒、增感屏等器材和切裝膠片。濕區進行顯影、停影、定影、水洗、干燥等。（3）暗室器材擺放位置適當以利操作第一百二十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日（4）暗室完全遮光設置過渡間和雙重門（5）附近有射線源，注意屏蔽（6）應有換氣設備和排水系統（7）應有溫度和濕度控制設施（8）地面和工作臺應干燥、清潔，墻壁、工作臺與地面應反光少和防水、防化學腐蝕

第一百二十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日膠片處理程序和操作要點（1）手工處理基本過程：顯影、停顯、定影、水洗、干燥這五個過程（2）暗室操作基本要求：

清潔：手、工作臺面、切刀、有關用具

有序：膠片、暗袋、增感屏等按序擺放

細心：安排好正確的工作流程，養成良好的習慣，避免錯裝、漏裝

熟練：按序布置好處理溶液和溫度控制，調整好計時設備。對手工處理，需要時應進行溶液有效性試驗，對自動洗片機，在預熱后必要時應進行系統穩定性試驗。第一百二十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日手工暗室處理的標準條件和操作要點

處理過程溫度/℃時間/min基本操作與要求顯影20±24～6預水洗、適當移動停顯16～24

0.5～1完全浸入停顯液中定影16～2410～15間斷適當移動膠片水洗常溫≥30流動水漂洗干燥≤40/脫水后干燥第一百二十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日注意事項：（1）溫度控制（2）顯影攪動（3）定影總時間與通透時間（4）水洗時間與溫度（5）脫水（6）干燥（自然與熱風）第一百二十六頁，共一百五十頁，2022年，8月28日暗室處理質量控制1）暗室紅燈安全性檢驗：測紅燈安全（2）膠片入廠復驗：測灰霧度等（3）顯影液有效性試驗：測顯影液性能（4）系統穩定性試驗：

測定射線機性能、暗室用藥液等系統性能第一百二十七頁，共一百五十頁，2022年，8月28日11、焊縫透照的基本操作

透照操作應嚴格遵守工藝規定，操作程序、內容及有關要求簡述如下：①試件檢查及清理：外檢合格②劃線：根據部位和比例，分段劃線③像質計和標記擺放：按標準和工藝規定擺放④貼片：緊密貼合，不留間歇⑤對焦：被檢中心，焦距滿足工藝規定⑥散射線防護：按工藝規定執行⑦曝光：人員撤離，按工藝規定曝光第一百二十八頁，共一百五十頁，2022年，8月28日12、射線透照技術和工藝研究大厚度比試件的透照技術：射線照相厚度寬容度：常規工藝允許工件存在一定的厚度差，在其底片上的黑度范圍符合標準規定的上下限。

大厚度比試件：KS=T厚/T薄=1.4在實際工作中主要有：小徑管環縫、角焊縫、余高較高的薄壁對接焊縫、鍛件、鑄件等第一百二十九頁，共一百五十頁，2022年，8月28日大厚度比透照的不利因素：①試件厚度比大導致底片黑度差大，而底片黑度過大或過小都將影響靈敏度。②試件厚度變化大導致散射比增大邊蝕效應增大。采取的措施：提高管電壓、雙膠片技術、補償技術第一百三十頁，共一百五十頁，2022年，8月28日1）適當提高管電壓技術適當提高管電壓是透照大厚度比常采用的技術措施。特點：管電壓上升，寬容度上降，對比度下降，散射比下降，邊蝕效應下降。對比度下降，靈敏度降低，因此，管電壓不能隨意提高，所以JB/T4730規定了不同厚度的最高管電壓。第一百三十一頁，共一百五十頁，2022年，8月28日2）雙膠片技術

雙膠片技術：對厚度差較大的工件，采用在同一暗盒中放置兩張感光度不同或感光度相同的膠片同時透照的技術。①異速雙片法：感光度較高的膠片適用于工件厚度較大部分的透照，感光度較低的膠片適用工件厚度較小部分的透照。選擇感光度不同的兩種膠片，應注意在有效黑度范圍內，兩種膠片的曝光量有足夠的重疊。第一百三十二頁，共一百五十頁，2022年，8月28日雙膠片技術選取膠片方法第一百三十三頁，共一百五十頁，2022年，8月28日②同速雙片法：在同一暗盒內放置兩張感光速度相同的膠片進行曝光，對黑度較小部位將雙片重疊觀察評定，黑度較大部分單片評定。注意：JB/T4730標準規定雙片疊加觀察僅限于射線照相技術等級的A級，且單片的黑度下線值不能低于1.3。第一百三十四頁，共一百五十頁，2022年，8月28日3）補償技術對截面厚度變化大或異形工件采用補償技術進行透照是比較有效的方法。補償是采用與被透照工件對射線吸收性質相同或相近的材料，制成的補償塊、補償粉（鐵或鉛）、補償液（醋酸鉛加硝酸鉛溶液）等，對工件的不同厚度部分進行填補，使工件的透照厚度轉化為同樣的厚度，這樣，就可以按照厚度均勻的工件進行透照。使用時主要應注意補償物體中應不含有影響評定或可能造成誤判的缺陷。第一百三十五頁，共一百五十頁，2022年，8月28日13、小直徑管對接接頭射線照相檢驗技術

外徑≤100mm的管稱為小直徑管，一般采用雙壁雙投影法進行透照檢測。小徑管檢測橢圓成像和重疊成像兩種方法。采用雙壁雙影透照布置，當同時滿足下列兩條件時應采用傾斜透照方式橢圓成像；即T（壁厚）≤8mmg（焊縫寬度）≤D0/4。橢圓成像時，應控制影像的開口寬度在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難再為滿足特殊要求（焊縫根部面狀缺陷）時可采用垂